Continuacin

Interaccin Fotn-Slido

Radiacin Electromagntica
RADIOESPECTRO
ELECTROMAGNTICO FRECUENCIA

ENERGA (eV)
LONGITUD DE ONDA

10

MICROONDAS

-5

1 cm

IR

10

-3

100 m

1
1 m

RAYOS
GAMMA

RAYOS
X

UV

10

10 nm

10

100 p m

Transicin
TRANSICIN
CUNTICA que
Cuntica
origina en el
slido

Dentro de los fenmenos que ocurren cuando la radiacin

electromagntica interacciona con un material podemos destacar el
proceso de la Dispersin:
Radiacin Incidente,

Material

Dispersin Raman
= Dispersin Rayleigh

Dipolos Inducidos:
FOTONES - ONDA ELECTROMAGNTICA
Radiacin
Electromagntica

Materia

,v,

Dipolo Oscilante
p = Eext

Direccin de propagacin
(ExB)

= cte = Polarizabilidad

Eext= Eo cos(2ext t)

p = Eo cos(2ext t)
Molculas Vibrando

osc

= o + sen (2osc t)
= Cambio de la Polarizabilidad con la vibracin

p = Eo cos(2ext t) = [o + sen (2osc t)] [Eo cos(2ext t)]

p = o Eocos(2ext t) +

Dispersin Rayleigh

+ Eo/2 { cos [2( ext - osc)t ] + cos[ 2(ext + osc)t ] }

Dispersin Raman

Stokes
Anti-Stokes

Espectroscopa RAMAN

(cm-1)
Espectro completo
A diferencia de la Espectroscopa Infrarroja, en la Espectroscopa RAMAN no es
indispensable que la molcula que se pretende detectar sea polar. As estas dos
tcnicas se complementan muy bien.

Como ya hemos visto en los temas anteriores, existen diferentes

fenmenos que ocurren cuando la radiacin electromagntica
interacciona con un material:
Absorcin de la radiacin
Procesos de Emisin,
Transmisin ,
Dispersin y tambin:
Reflexin de la onda electromagntica

isi
m
E
Radiacin Incidente,

Material
Absorcin

in
x
e
fl
Re

Trasmisin
Dis
pe
rsi

FOTONES
ONDA
ELECTROMAGNTICA
Polarizacin
de -las
ondas
electromagnticas
y

,v,

Polarizacin Lineal

Ez

Ey

Polarizacin Circular

Direccin de propagacin
(ExB)

Ez

t
Ey

Polarizacin Elptica

N=njk

Reflexin y Transmisin de ondas planas

Ley de Snell No sen o = N1 sen 1

No
N1

rII = RII/EII =

1
r = R/E =

rII = |rII | ejII

N1 cos o No cos 1
N1 cos o + No cos 1
No cos o N1 cos 1
No cos o + N1 cos 1

r = |r | ej

Coeficiente de reflexin complejo = rII / r = tan ei

ngulos de
polarizacin

= f ( o , , No, N1 )
= f ( o , , No, N1 )

Elipsometra

Elipsometra espectroscpica y cintica

El coeficiente de reflexin complejo est ligado a las propiedades pticas
de los materiales que dependen, a su vez, de la longitud de onda.
Puesto que la polarizacin es una propiedad fundamental de la radiacin
electromagntica independiente de la frecuencia, la elipsometra puede ser
utilizada, en principio, en cualquier regin del espectro electromagntico.

La medida espectroscpica del coeficiente de reflexin complejo

permite, en el rango UV-visible, determinar las propiedades pticas
de los materiales en volumen, realizar perfiles en profundidad de
estructuras de multicapas y caracterizar la estructura del material.
La elipsometra cintica tambin llamada elipsometra en tiempo
real, consiste en la medida del coeficiente de reflexin complejo en
el curso del tiempo, generalmente a una longitud de onda fija. Esta
tcnica permite estudiar procesos dinmicos de crecimiento de
capas, ataques y fenmenos de superficies.

Tipos de elipsmetros de Reflexin

Elipsmetros de anulacin: utilizan un polarizador y un compensador o
una lmina cuarto de onda para producir un desfase opuesto al introducido por
la reflexin en la muestra. Este desplazamiento se consigue variando el azimuth
(ngulo del eje ptico con respecto al plano de incidencia establecido por el
ngulo incidente y reflejado) del polarizador respecto al del compensador.
As la onda electromagntica reflejada por la muestra es linealmente polarizada
y puede ser distinguida por completo ajustando el azimuth del analizador

Elipsmetros Fotomtricos:

determinan directamente el estado de

polarizacin del haz reflejado en la muestra, mediante la medida de su

intensidad. Estos elipsmetros permiten su total automatizacin lo que conduce
a una mayor rapidez de funcionamiento.

Lser
Polarizador

Fotodetector
Analizador
Muestra
Soporte

Compensador

En el caso particular de un AutoEL (elipsmetro de anulacin) se emplea un lser

el cual produce un haz colimado de luz polarizada linealmente monocromtica
(632.8 nm).
1.- Este haz se convierte en luz polarizada circularmente por un depolarizador y
a un haz polarizado linealmente por un polarizador rotatorio, y finalmente a luz
polarizada elpticamente por un compensador cuarto de onda.
2.- La luz polarizada elpticamente incide en la superficie de la muestra a un
ngulo determinado y es reflejada al mismo ngulo a travs del analizador
rotatorio y de un filtro de 632.8 nm, y finalmente va al fotodetector.

Las propiedades pticas de la superficie de la muestra origina el estado de

polarizacin del haz reflejado que ser diferente del haz incidente.
El haz reflejado (con su estado de polarizacin alterado por las propiedades
pticas de la muestra) entra en el analizador pasando por un filtro el cual
bloquea todas las longitudes de onda excepto la del haz lser y de all al
detector.
La seal elctrica que sale del detector, proporcional a la intensidad del haz
que llega a el, es llevada a un microprocesador. La intensidad del haz que
procede del detector es una funcin de los ngulos azimuth del polrizador y
analizador y de las propiedades pticas de la muestra.
El microprocesador est programado para reducir la intensidad del haz al
mnimo rotando alternativamente el polarizador y el analizador hasta obtener
esa mnima intensidad.
Este mnimo valor el cual corresponde al punto de nulidad o extincin (de aqu
el nombre de este elipsmetro) existe para las dos siguientes condiciones:

a.- El azimuth del polarizador (P) en ese punto origina la polarizacin del
haz incidente (por ejemplo elpticamente) de tal forma que el haz reflejado por
la superficie de la muestra esta polarizado linealmente.
b.- El azimuth del analizador (A) en dicho punto de nulidad sea 90
lejos del azimuth del haz reflejado polarizado linealmente, causando la extincin
del haz.

Los azimuths P y A de la condicin de nulidad se pueden convertir

directamente , mediante una simple ecuacin lineal, en parmetros o
ngulos de polarizacin y .