Programacin para el clculo de la amplitud y la frecuencia
de una onda mecnica debida a la desviacin de un haz luminoso
Proyecto de residencia profesional que presenta Alan Antonio Gutirrez Torres (08110651)
Ingeniera electromecnica Ciudad Jurez, Chih., a 06 de Agosto del 2014 SEP SNEST DGEST
AGRADECIMIENTOS
En el presente documento de residencia profesional, me es grato agradecer a las siguientes personas, que incondicional y desmesuradamente, apoyaron en conocimiento terico y prctico del uso de software de diseo y programacin. Al Ing. Hctor Domnguez, por su disposicin de facilitar el laboratorio de mecatrnica y equipo de trabajo del Instituto Tecnolgico de Ciudad Jurez (ITCJ) en horas no hbiles, as tambin por su considerable y apreciable soporte en la explicacin del funcionamiento y programacin en Labview y la plataforma de cdigo abierto Arduino. Al Ing. Hctor Lujan Garza, por su aplacible disposicin de facilitarnos el laboratorio de electrnica y equipo de trabajo del ITCJ, por brindar su conocimiento en el uso y el anlisis de Matlab respecto a la trasformada rpida de Fourier (FFT por sus siglas en ingls). Al Ing. Rosendo Alcantar, por su considerable y notable apoyo al inicio de este proyecto, quien nos orient en la programacin en la plataforma Labview con su forma particular de ser. Al Ing. Alejandro Garza Senz, quien fue el catalizador de impulsar este proyecto. Desde un inicio fue una persona motivadora y siempre con actitud positiva para llevar a cabo la realizacin de este proyecto. Gracias a Dios por cada una de estas personas.
RESUMEN
La naturaleza de partcula de la luz, permite que sistemas como el planteado puedan funcionar, de tal manera que la amplitud y frecuencia estarn relacionadas de forma directa o inversamente proporcional a las magnitudes de vibracin. El dispositivo detectar paquetes de fotones provenientes del lser, se tomar una magnitud como referencia. Cuando se aplique una vibracin al sistema, el lser comenzar a desviar su recorrido, por lo tanto, entrar una menor cantidad de fotones al detector, lo que nos proporcionar la medida de la amplitud de seal la cual ser inversamente proporcional a la cantidad de fotones faltantes, mientras que las veces en las que se repite sta caracterstica nos permitir conocer el valor de la frecuencia del fenmeno de vibracin, mediante el diseo de un programa, en Labview y Arduino, que interprete tales variaciones de cantidad de fotones donde la frecuencia ser directamente proporcional al nmero de veces por segundo que se repite la entrada de paquetes de fotones en el detector donde a mayor nmero de veces que se repiten las mismas condiciones, mayor ser en valor de la frecuencia que se medir.
NDICE
1. INTRODUCCIN .................................................................................................................................................... 1 1.1 Antecedentes ............................................................................................................................................................. 1 1.2 Planteamiento del problema ................................................................................................................................ 4 1.3 Justificacin .............................................................................................................................................................. 4 1.4 Objeti vo ..................................................................................................................................................................... 4 1.4.1 Objeti vo general ................................................................................................................................................... 4 1.4.2 Objeti vo es pecfico............................................................................................................................................... 5 1.5 Supuesto..................................................................................................................................................................... 5
2. FUNDAMENTOS TERICOS ............................................................................................................................. 6 2.1 Fundamento terico................................................................................................................................................ 6 2.1.1 La naturaleza de la l uz ....................................................................................................................................... 6 2.1.1.1 Duali dad onda-partcula................................................................................................................................. 6 2.1.2 Efecto Doppler para la l uz................................................................................................................................. 9 2.1.2.1 Fuente y observador se alejan....................................................................................................................... 9 2.1.2.2 Fuente y observador se acercan.................................................................................................................. 10 2.1.3 Caractersticas de la luz ................................................................................................................................... 11 2.1.4 Interfermetro de Michelson - Morley ........................................................................................................ 12 2.1.5 Transformada rpi da de Fourier (FFT) ...................................................................................................... 13 2.2 Fundamento contextual ....................................................................................................................................... 16
3. METODOLOGA ................................................................................................................................................... 17 3.1 Construccin del banco experi mental ............................................................................................................. 17 3.1. Arreglo experi mental propuesto ...................................................................................................................... 18 3.2 Arreglo del banco experimental ........................................................................................................................ 23 3.3 Arreglo elctrico de los componentes para l a adquisicin de datos ........................................................ 24 3.4 Programa de arduino ........................................................................................................................................... 24 3.5 Programa de Labview........................................................................................................................................... 25
4. PRUEBAS Y ANLISIS DE LOS RESULTADOS ...................................................................................... 27 4.1 Configuracin de l a ventana de prueba .......................................................................................................... 27 4.2 Conograma.............................................................................................................................................................. 34 4.2 Resultado de las mediciones ............................................................................................................................... 29
7. FUENTES DE CONSULTA................................................................................................................................. 37
8. ANEXOS.................................................................................................................................................................... 39 8.1 Fotorresistencia ..................................................................................................................................................... 39 8.2 Fuente de poder CC GPS-3030DD ................................................................................................................... 43 8.3 Generador de funciones FG601......................................................................................................................... 44
INDICE DE FIGURAS
Figura 2.1 Propagacin de de ondas E y B. ............................................................................................................ 6 Figura 2.2 Arreglo elctrico de emisin de electrones al inci dir radi acin electromagntica. ................. 8 Figura 2.3 Diagrama es paci o-tiempo y esquema para el alejamiento del receptor de l a fuente. ........... 10 Figura 2.4 a Es pejo cncavo. .................................................................................................................................... 11 Figura 2.4 b Horno solar. .......................................................................................................................................... 11 Figura 2.5 Lentes ......................................................................................................................................................... 11 Figura 2.6 Interfermetro de Michelson. .............................................................................................................. 12 Figura 2.7a Silbato A .................................................................................................................................................. 14 Figura 2.7b Sil bato B .................................................................................................................................................. 15 Figura 2.8 Frecuencia de silbatos A y silbato B................................................................................................... 15 Figura 3.10 Arreglo del vi brmetro l ser. ............................................................................................................ 23 Figura 3.10: Panel frontal de l a interfaz visual de Labview. ............................................................................ 22 Figura 3.11 Di agrama electrico de conexion elementos que componen l a adquisicion de datos ........... 24 Figura 3.12 Comunicacin con arduino y escritura del archi vo de texto..................................................... 25 Figura 3.13 Lectura de archi vo de texto................................................................................................................ 26 Figura 3.2 Bases de delrin ......................................................................................................................................... 19 Figura 3.2 Tablero de lexan ...................................................................................................................................... 18 Figura 3.3 Bocina con espejo para generar la desvi acin del haz del lser ................................................. 19 Figura 3.4 Fotorresistencia sobre base de delrin en banco experi mental .................................................... 20 Figura 3.5 Potenci metro montado en tablilla de prueba ................................................................................ 20 Figura 3.6 Tarjeta de adquisicin de datos Arduino Mega 2560.................................................................... 21 Figura 3.7 Circuito del lser montado en el arreglo del tablero. .................................................................... 21 Figura 3.8 Generador de funci ones FEEDBACK model o FG601 .................................................................. 21 Figura 3.9 Fuente de poder variable CC GW Instek modelo GPS 3030DD. 29 ......................................... 22 Figura 4.10 Lser someti do a 110 Hz ..................................................................................................................... 32 Figura 4.3 Grfica de amplitud respecto al tiempo ............................................................................................ 28 Figura 4.4 Grfica de muestreo respecto a l a frecuencia.................................................................................. 28 Figura 4.5 Botones de control iniciar, leer y paro. ............................................................................................. 29 Figura 4.6 Lser apagado .......................................................................................................................................... 29 Figura 4.7 Lser encendi do a 0 Hz.......................................................................................................................... 30 Figura 4.8 Lser encendi do someti do a 90 Hz ..................................................................................................... 31 Figura 4.9 Lser someti do a 100 Hz ....................................................................................................................... 32
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1. INTRODUCCIN
El trabajo propuesto explica de forma resumida cmo elaborar un medidor de amplitud y frecuencia de una onda de vibracin mecnica por medio de la desviacin de un haz luminoso. Para comprender dicho trabajo son necesarios conceptos tales como propagacin rectilnea, reflexin y refraccin de la luz, amplitud de onda y frecuencia de onda.
1.1 Antecedentes
Un rayo de luz es una onda electromagntica de campos elctricos (E) y magnticos (B) variables [2]. Cuando dos rayos de luz se encuentran, los campos se superponen, y en cada punto del espacio el vector E o B ser la suma vectorial de los campos de los rayos individuales.
Si los dos haces de luz provienen de fuentes distintas, en general no hay relacin constante entre los campos de cada haz, de manera que cuando estos se superponen el campo resultante oscila con el tiempo, y el ojo humano percibe una intensidad promedio uniforme. Nuestros ojos solamente reaccionan a las ondas electromagnticas que ocupan un rango de longitud de onda que va de los 380 m (ultravioleta) a los 780 m (infrarrojo): entre 3.800 y 7.800 Angstrm () [7].
Si los dos haces proceden de la misma fuente, estarn correlacionados en frecuencia y fase. De esta forma, cuando los rayos se superponen (interfieren) se producir una interferencia constructiva si el estado de fase es el mismo, y se tendr un mximo en intensidad. Si, por el contrario, los campos se encuentran en oposicin de fase, la 2
superposicin supondr la anulacin del campo total, y se produce un mnimo (cero) en la intensidad. Thomas Young [1] [8] fue el primero en disear un mtodo para producir y visualizar los Mximos y mnimos de intensidad descritos anteriormente. La luz que procedente de una misma fuente llega a una pantalla tras haber atravesado dos rendijas estrechas y juntas, forma un patrn regular de bandas brillantes y oscuras. Este patrn de interferencia constituy una evidencia concluyente de la naturaleza ondulatoria de la luz.
El efecto de realimentacin ptica en un lser diodo ocurre cuando una porcin de la luz emitida re- ingresa a la cavidad ptica. Y sta al interactuar con la luz existente en la cavidad causa fluctuaciones de la potencia y frecuencia del lser. Las fluctuaciones de potencia pueden ser medidas usando el fotodiodo. Este censa la luz emitida en la parte posterior de la cavidad lser.
La realimentacin ptica hoy en da est bien establecida y es reconocido como una tcnica viable para aplicaciones de censado remoto, tales como medidas de desplazamiento, velocidad por mencionar algunas [1].
En enero del 2000 se public en la revista Science Direct el artculo llamado Fotodetectores adaptivos: enfoque novedoso para mediciones de vibraciones (Adaptive photodetectors: novel approach for vibration measurements) [9] menciona que por medio de la aplicacin de una tcnica interferomtrica simple de detectar vibraciones y caractersticas del vibrmetro laser usando fotodetectores basados en el efecto de estado no estable del efecto fotoelctrico, permite la conversin directa de modulacin de fase de alta frecuencia de pequeas cantidades de ondas ptica reflejadas desde un objeto de la vibracin en una seal elctrica de salida con el consiguiente ajuste de funcionamiento ptimo del interfermetro y supresin de la amplitud del ruido del lser. Los resultados de las mediciones de amplitudes de pequeas vibraciones del espejo y objetos se 3
presentan mostraron que es posible detectar vibraciones ultrasnicas con la amplitud de 0,2 con una potencia de la seal de 20 mW y un ancho de banda de 15.5 MHz.
En marzo de 2006 en la misma revista el articulo llamado Estudio experimental de vibrometro Doppler laser y ambiente de vibracin de deteccin de daos (Experimental study of laser Doppler vibrometer [LDV] and ambient vibration for vibration-based damage detection) [10] que abarca tres cuestiones importantes a saber, la adquisicin de datos, identificacin del sistema y deteccin de daos estructurales los cuales abren paso para alcanzar los objetivos de este trabajo propuesto.
En 2012 Chelghoum [11] se enfoc en realizar pruebas no destructivas a base de LDV que es un instrumento ptico que usa la tecnologa lser para medir el campo de velocidad de un punto genrico situado en un elemento estructural sujeto a vibracin. De los datos de velocidad, las frecuencias locales y globales as como el movimiento de la estructura son evaluados y por lo tanto ejercer un control de su masa y rigidez sin problemas. Cualquier cambio en la frecuencia afecta tanto a la masa como la rigidez de la estructura y por ende su integridad global. La investigacin de Chelghoum es un caso real de una prueba no destructiva (PND) aplicada en el puente de pilotes y el tanque de Gas Natural Licuado (GNL) localizados en el distrito de Corso y Arzew ( Argelia) respectivamente. La validacin de las frecuencias obtenidas est hecha usando resultados de procesos numricos como el anlisis de elemento finito el cual muestra claramente la precisin de la metodologa del LDV. Esta velocidad de datos, frecuencia y desercin de cualquier parte de la estructura puede extraerse fcilmente para comprobar integridad material.
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1.2 Planteamiento del problema
En la actualidad los equipos de medicin de vibracin son de costos elevados, de difcil acceso y se enfocan en pruebas destructivas lo que aumenta el costo de las pruebas realizadas en estos equipos.
1.3 Justificacin
Generar otra una alternativa barata y de fcil adquisicin para realizar pruebas no destructivas que han sido un rea de continuo movimiento por razones como la seguridad de los productos, diagnsticos en lnea, control de calidad, tal es el caso de un objeto sometido vibracin, que por medio del desarrollo de un programa grafique los datos de amplitud y frecuencia de las mediciones hechas por una tarjeta de interfaz. Es una alternativa al vibrmetro de Michelson [4] pero ms barato y sencillo.
1.4 Objetivo
1.4.1 Objetivo general
Disear una interfaz a travs de Labview que grafique la amplitud y la frecuencia adquirida usando el mtodo del vibrmetro Doppler lser (LDV) a travs de una tarjeta de adquisicin de datos y por medio de un banco experimental.
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1.4.2 Objetivo especfico
A travs de la interfaz de programacin se medir e interpretarn los datos adquiridos por un banco experimental tales como la amplitud y frecuencia, y visualizar grficamente la variacin de estos fenmenos sobre un objeto sometido bajo vibracin.
1.5 Supuesto
Con la interfaz del programa como la visualizacin grfica y anlisis de datos adquiridos se pueden realizar mediciones de amplitud y frecuencia de las vibraciones que sufre un objeto o equipo sin llegar a daar o alterarlo fsicamente dado que estas pruebas no son destructivas.
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2. FUNDAMENTOS TERICOS
2.1 Fundamento terico
2.1.1 La naturaleza de la luz
2.1.1.1 Dualidad onda-partcula
La luz se considera una radiacin electromagntica capaz de afectar el sentido de la visin. La luz, no es fundamentalmente distinta a otras radiaciones electromagnticas, como el calor o las ondas de radio, la caracterstica que la distingue de otras radiaciones es su cantidad de energa [6].
La investigacin sobre la naturaleza de la luz an contina, pero los experimentos muestran que algunas veces se comporta como partculas y otras como ondas.
I. La luz como una onda. La teora ondulatoria establece que la energa de una onda electromagntica se reparte de igual manera entre campos elctricos y magnticos mutuamente perpendiculares, y que ambos campos (E y B), oscilan perpendicularmente a la direccin de propagacin de la onda [2], como se muestra en la Figura 2.1.
Figura 2.1 Propagacin de de ondas E y B. 7
La primera demostracin convincente de la naturaleza ondulatoria de la luz la dio en 1801 Thomas Young [2], quien mostr que en condiciones apropiadas, la luz exhiba un comportamiento de interferencia. Esto es en ciertos puntos de dos fuentes luminosas, las ondas de luz se pueden combinar y cancelar entre s debido a la interferencia destructiva.
El suceso ms importante relacionado con la teora ondulatoria de la luz fue el trabajo de James Clerk Maxwell [2], quien en 1873 demostr que la luz era una forma de onda electromagntica de alta frecuencia y su teora predice que estas ondas deben tener una rapidez aproximada de 3x10 8 m/s en el vaco. Tiempo despus en 1887 Hertz [2] confirm experimentalmente la teora de Maxwell al producir y detectar ondas electromagnticas. Adems, tambin mostr que las ondas electromagnticas se reflejan, se refractan y que poseen todas las caractersticas de las ondas.
II. La luz como partcula. Aunque la teora ondulatoria permite explicar la mayor parte de las propiedades de la luz conocidas hasta ese momento, algunos experimentos posteriores no pudieron explicarse con la suposicin de que la luz es una onda. El ms sorprendente de stos fue el efecto fotoelctrico, tambin descubierto por Hertz [6] a finales del siglo XIX. El efecto fotoelctrico es una emisin de electrones desde una superficie metlica expuesta a la luz. Hoy en da, se observa la aplicacin de dicho experimento en las fotoceldas.
Colocando un arreglo elctrico como el de la figura 2.2 es posible que los electrones emitidos pasen a formar parte de un circuito elctrico pudiendo as medir la intensidad de corriente mediante un ampermetro.
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Figura 2.2 Arreglo elctrico de emisin de electrones al incidir radiacin electromagntica.
En 1905 Albert Einstein [2] [6] desarrollo un concepto que dice que los tomos absorben y emiten cantidades de energa discretas denominados fotones, cada elemento que encontremos en la naturaleza absorber y emitir la energa de esta manera, es decir, en paquetes a la nueva teora de la luz fue haber supuesto que la energa de las ondas electromagnticas tambin viaja en paquetes, llamados cuantos o fotones. De esta manera pudo darle explicacin a todos los resultados del experimento fotoelctrico realizado aos atrs por Hertz [6] en 1877.
La contribucin de Planck - Einstein [2] sobre la energa de la luz y de cualquier onda electromagntica se establece en la siguiente ecuacin: (Ec. 2.1) Donde E= Es la energa del fotn (Joules) v = Es la frecuencia de la onda (Hz) h = Es la constante de Planck, cuyo valor es de (6.62610-34 Joules/Hz) = longitud de onda c = velocidad de la luz 299 792 458 m/s o 3x10 8 m/s
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2.1.2 Efecto Doppler para la luz
En el caso de la luz en el vaco solo importa la velocidad relativa entre la fuente y el observador. Consideraremos en primer lugar los casos en los que fuente y observador se mueven sobre la lnea recta que los separa, alejndose o acercndose. Despus trataremos el caso general, que incluye a estos dos como casos particulares as como el denominado efecto Doppler transverso.
2.1.2.1 Fuente y observador se alejan
De nuevo podemos imaginarnos la seal como una sucesin de pulsos separados por un intervalo de tiempo constante , segn la fuente. Supongamos que el observador (receptor) se aleja con velocidad v respecto a la fuente. En la figura 2.3 se muestra el diagrama espacio-tiempo correspondiente [3].
Es entonces directo deducir a partir de las lneas de universo de dos pulsos consecutivos que (Ec.2.2)
y a partir de la lnea de universo del receptor que (Ec. 2.3) 10
Figura 2.3 Diagrama espacio-tiempo y esquema para el alejamiento del receptor de la fuente.
Por tanto, podemos despejar t = t2 t1 y x = x2 x1, (Ec. 2.4) Finalmente, aplicando las transformaciones de Lorentz obtenemos ( = v/c):
(Ec. 2.5) Y por tanto (Ec. 2.6)
2.1.2.2 Fuente y observador se acercan Cambiando el signo de se obtiene:
(Ec. 2.7)
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2.1.3 Caractersticas de la luz
Las tres principales son: 1.- Propagacin rectilnea. 2.-Reflexin: Cuando la luz incide sobre una superficie lisa aquella retorna al medio original. Este comportamiento se puede observar en los espejos y superficies reflejantes, como en el espejo cncavo mostrado en la figura 2.4 a, el cual concentra los rayos reflejados frente a l en un punto llamado foco. Una utilidad prctica que el hombre ha encontrado a la reflexin se puede ver en los hornos solares (figura 2.4 b) los cuales no son sino simples superficies parablicas reflejantes que concentran los rayos del sol en el foco, lugar donde se coloca una olla para cocinar alimentos.
Figura 2.4 a Espejo cncavo. Figura 2.4 b Horno solar.
3.-Refraccin: La trayectoria de la luz cambia cuando sale de un medio para entrar a otro distinto. En los ejemplos mostrados en la figura 2.5 la luz sufre dos refracciones, una cuando pasa del aire a la lente de cristal y otra cuando sale del cristal hacia el aire [2].
Figura 2.5 Lentes.
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2.1.4 Interfermetro de Michelson - Morley
El arreglo experimental ya existente con el que se mide la vibracin por medio de lser, es el llamado Interfermetro de Michelson, propuesto en una investigacin realizada por Michelson y Morley [4] [5]. Este principio trabaja con la superposicin de ondas de luz como se muestra en la siguiente figura.
Figura 2.6 Interfermetro de Michelson.
Cuando dos ondas de luz se superponen, la intensidad resultante en cualquier punto, depende de si se refuerzan o se anulan entre s. Como se ve observa en la figura 2.6, en el interfermetro de Michelson [4], el haz de luz que produce la fuente se divide por medio de un divisor de haz. Cada uno de los haces de luz se dirigen hacia dos espejos, uno fijo y otro que puede tener un desplazamiento dependiendo del estudio que se realizar con este arreglo. El mismo divisor de haz es utilizado para recombinar los haces reflejados de los espejos mencionados anteriormente, estos llegan a un fotodetector, cuya seal llega a un adquiridor de seales, que posteriormente mandar la informacin a una computadora [4] [5].
Este arreglo entonces, usa como principio la naturaleza ondulatoria de la luz. Para el arreglo propuesto en este proyecto, se utilizar como principio, la naturaleza de partcula de la luz. En la siguiente figura se muestra el principio de este experimento.
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2.1.5 Transformada rpida de Fourier (FFT)
El anlisis de Fourier de una funcin peridica se refiere a la extraccin de series de senos y cosenos que cuando se superponen, reproducen la funcin original. Este anlisis se puede expresar como series de Fourier.
La Transformada Rpida de Fourier (Fast Fourier Transform por sus siglas en ingles) es una herramienta fundamental en el procesado digital de seales. Su origen es relativamente reciente puesto que fueron J.W. Cooley y J.W. Tukey [12], quienes hacia 1965 abordaron por primera vez el problema de la programacin de un algoritmo para el clculo de series complejas. La transformada rpida de Fourier (FFT) es un mtodo matemtico para la transformacin de una funcin del tiempo en una funcin de la frecuencia. A veces se describe como la transformacin del dominio del tiempo al dominio de frecuencia. Es muy til para el anlisis de los fenmenos dependientes del tiempo.
Ante todo debe quedar claro que la FFT no es una nueva transformada sino que se trata de un algoritmo para el clculo de la Transformada Discreta de Fourier (DFT, por sus siglas en ingles de Discrete Fourier Transform). Su importancia radica en el hecho que elimina una gran parte de los clculos repetitivos a que est sometida la DFT, por lo tanto se logra un clculo ms rpido. Adems, la FFT generalmente permite una mayor precisin en el clculo de la DFT disminuyendo los errores de redondeo.
Una aplicacin importante se da en el anlisis del sonido. Es importante evaluar la distribucin de frecuencias de la energa que transmite un sonido, porque el odo humano ejerce tal capacidad en el proceso de audicin. La siguiente ilustracin describe el sonido de un silbato de la polica en ambos dominios, del tiempo y de la frecuencia por medio de la FFT. 14
Llamando a cada silbato como silbato A y silbato B, la figura 2.7a nos muestra el sonido del silbato A solo. El grfico superior, representa la muestra ordinaria de la seal de voltaje respecto del tiempo, proporcionada por un micrfono. El grfico inferior es la FFT de esa seal. Muestra que la mayor parte de la potencia se da solo a una frecuencia, aproximndose con ello a una onda pura sinusoidal. El hecho de que el pico que muestra la mayor parte de la potencia est en la posicin cuatro, slo refleja el hecho de que fueron seleccionados cuatro perodos para la muestra FFT.
Figura 2.7a Silbato A.
Esta es la misma clase de muestra con el silbato B solamente. Esta vez se escogieron tres periodos para la FFT, resultando en un pico principal en la posicin 3 (figura 2.7b).
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Figura 2.7b Silbato B.
Cuando se hacen sonar simultneamente los silbatos A y B, la grfica del tiempo muestra el caracterstico patrn de frecuencia de batimiento. Los batidos son originados por la interferencia de dos ondas en el mismo punto del espacio. La figura 2.8 muestra las dos frecuencias distintas de los silbatos individuales.
Figura 2.8 Frecuencia de silbatos A y silbato B. 16
Estas ilustraciones, muestran la naturaleza esencial de las FFT. Para una onda sinusoidal de una frecuencia simple, la FFT consiste en un solo pico. La combinacin de dos ondas de sonido, produce un patrn complejo en el dominio del tiempo, pero la FFT muestra claramente que consiste casi enteramente en dos frecuencias.
2.2 Fundamento contextual
La implementacin del algoritmo de la FFT puede realizarse de dos formas distintas:
1. Mediante un programa que pueda ejecutarse tanto en un PC como en una tarjeta que posea un microprocesador especfico para este tipo de operaciones (DSP).
2. Mediante el desarrollo de una tarjeta (HARDWARE) en la cual se emplean circuitos integrados especficos. Tal es el caso de los modernos analizadores de espectro.
En este proyecto se toma partido de la primera forma. Se utiliz un programa elaborado en arduino para la adquisicin de datos, y se hace uso del programa Labview para el procesamiento de los datos obtenidos anteriormente por la tarjeta arduino. Utilizando recursos materiales, instrumentacin y equipo de medicin de los laboratorios de electrnica, mecatrnica y metal- mecnica del ITCJ.
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3. METODOLOGA
3.1 Construccin del banco experimental
En la figura 3.1 se muestra el arreglo experimental propuesto para este proyecto, funciona de la siguiente manera:
1) El haz de luz emitido por el lser, cruza por una pieza que cuenta con una perforacin cuya rea es menor al rea de deteccin del fotodetector. 2) El haz de luz est direccionado hacia la superficie reflejante que se encuentra montada a una bocina. 3) La bocina se encuentra conectada a un generador de funciones, con la finalidad de controlar la amplitud y frecuencia de esta. 4) El haz de luz reflejado en la superficie, est direccionado hacia el fotodetector, pero antes cruza por una pieza igual a la descrita en el primer punto. 5) El fotodetector se conecta a una tarjeta de adquisicin de datos, en este caso una tarjeta Arduino Atmega 2560. 6) La tarjeta de adquisicin de datos se conecta a una computadora que utilice una herramienta programada con Labview, para poder registrar las seales en un archivo. 18
3.1. Arreglo experimental propuesto.
Los elementos empleados para la construccin del vibrmetro lser consisten en los siguientes dispositivos:
Tablero de lexan de 26.5 x 27 mm (figura 3.2). El tablero cuneta con perforaciones con 10 mm de distancia de separacin entre ellas formando una cuadrcula en todo el tablero. La finalidad de la cuadrcula fue para tener la facilidad de realizar el acomodo de los componentes en diferentes configuraciones para lograr el mejor arreglo para el vibrmetro.
Figura 3.2 Tablero de lexan.
Tres bases de resina de acetal Delrin de 25 mm de dimetro por 60 mm de altura, para montaje para montaje del lser, fotorresistencia y bocina. 19
Figura 3.2 Bases de delrin.
Bocina de altavoces para PC de 3 W, 4 (figura 3.3). La bocina emite vibracin por medio de la aplicacin de una seal senoidal, proporcionada por el generador de funciones. La bocina tiene en su cono un espejo que ser el encargado de dirigir el haz de lser hacia la fotorresistencia.
Figura 3.3 Bocina con espejo para generar la desviacin del haz del lser.
Fotorresistencia (figura 3.4) 9P5-1L de 60 K mximos bajo la luz, 2 M en la obscuridad, 100 VCA, 200 mW, dimetro 4.8 mm. La fotorresistencia es empleada para medir la variacin de voltaje que provocar el lser incidente sobre la superficie de la misma. La seal es enviada al circuito Arduino para su almacenaje.
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Figura 3.4 Fotorresistencia sobre base de delrin en banco experimental.
Potencimetro miniatura de 101 - 5 K, 0.2 W, 150 V sin interruptor. El potencimetro es utilizado para realizar ajustes al offset de voltaje que se mostrar en la grfica del software Labview, la cual se encargar de mostrar los valores de la medicin de voltaje durante la toma de las muestras.
Figura 3.5 Potencimetro montado en tablilla de prueba.
Tarjeta de adquisicin de datos Arduino Mega 2650 (figura 3.6). La tarjeta Arduino es la encargada de tomar las muestras y almacenarlas temporalmente. Tambin funciona como la interface para el software Labview.
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Figura 3.6 Tarjeta de adquisicin de datos Arduino Mega 2560.
Lser rojo. Se seleccion este tipo de lser, el cual se puede obtener de manera sencilla, para demostrar que este tipo de arreglos se pueden hacer funcionar con elementos comunes, el cual es uno de los objetivos secundarios de la construccin de este vibrmetro lser.
Figura 3.7 Circuito del lser montado en el arreglo del tablero.
Generador de funciones. El generador de funciones proporciona los diferentes valores de frecuencia y amplitud que sirven para las pruebas del vibrmetro lser.
Figura 3.8 Generador de funciones FEEDBACK modelo FG601. 22
Fuente variable de CC. La fuente variable se utiliza como suministro de energa para el lser. Tiene la facilidad de controlar la intensidad del mismo segn para la realizacin de las pruebas.
Figura 3.9 Fuente de poder variable CC GW Instek modelo GPS 3030DD.
Equipo de cmputo con software Arduino y LabVIEW. El software Arduino permite la programacin del circuito Arduino mientras el software LabVIEW proporcionar los resultados e interpretaciones de las pruebas del vibrmetro.
Figura 3.10: Panel frontal de la interfaz visual de Labview.
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3.2 Arreglo del banco experimental
El arreglo del proyecto se hace como se muestra en la figura 3.10.
Figura 3.10 Arreglo del vibrmetro lser.
El banco experimental consta de una fuente de voltaje que alimenta el lser que a su vez emite el haz de luz. El haz de luz es reflejado por el espejo que se encuentra pegado en el cono de la bocina que est sometida a vibracin por la seal, comprendida desde 0 Hz hasta 110 Hz, que recibe del generador de funciones. El haz que es reflejado se hace incidir en la fotorresistencia que se encuentra dentro de una carcasa para disminuir a lo sumo la luz ambiental. Conectada en serie a la fotorresistencia hay un potencimetro que se encarga de regular la magnitud del voltaje sumistrado por la fuente y que se visualizar en la grfica de amplitud de Labview. La seal de voltaje que es adquirida por el Arduino se toma del nodo donde se conectan la fotorresistencia y el potencimetro. Esta seal adquirida se leer a travs del programa diseado en Labview en donde se muestran los valores obtenidos de la adquisicin de datos; como resultado se obtienen las magnitudes de amplitud, frecuencia de muestreo en valores RMS (por sus siglas en ingles Root Mean Square).
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3.3 Arreglo elctrico de los componentes para la adquisicin de datos
Figura 3.11 Diagrama elctrico de conexin elementos que componen la adquisicin de datos.
3.4 Programa de arduino
Con este programa adquirimos el muestreo de datos recibidos a partir de la variacin de voltaje que suministra la fotorresistencia al arduino. En el que adquirimos 1000 muestras en un periodo de 1 segundo.
int d[1000]; //indica el total de muestras que deseamos leer void setup(){ Serial.begin(115200); } void loop(){ if(Serial.available()){ //indica una condicin de comunicacin entre arduino y el delay(10); // programa de Labview y espera 10 ms para la respuesta de la PC if(Serial.read()=='1'){ //S arduino enva un 1 entonces inicia la adquisicin de datos for(int i=0;i<1000;i++){ //De las 1000 muestras y las guarda en i datos[i]=analogRead(A1); // Aqu indicamos que los datos se adquieren del delayMicroseconds(2000); //puerto anlogo A, en un tiempo de 2s 25
} delay(20); //este retardo de 20 ms es para que se estabilice la comunicacin for(int i=0;i<1000;i++){ //entre arduino y la PC y a continuacin Labview inicia char text[3]; //la lectura de las muestras Serial.print(text); // y las enva por el puerto serial como texto delay(50); // esperando 50 ms en enviar cada dato, as que se tarda 50 //segundos en mostrarse los datos grficamente en Labview. Esta es la //optima velocidad a la que Labview puede leer las 1000 muestras. Si es //mayor la velocidad, entonces no las procesa adecuadamente por tanto no //las lee. } } } }
3.5 Programa de Labview
El programa de Labview est constituido por dos partes. La primera (figura 3.12) que est diseada para la comunicacin con arduino y la escritura de los datos procedentes de arduino a un archivo de extensin txt.
Figura 3.12 Comunicacin con arduino y escritura del archivo de texto. 26
La segunda parte (figura 3.13) est diseada para la lectura de los datos guardados anteriormente en el archivo de texto. A su vez se visualizarn por medio de grficas la amplitud, y su indicacin RMS, y la frecuencia de muestreo de la prueba.
Figura 3.13 Lectura de archivo de texto.
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4. PRUEBAS Y ANLISIS DE LOS RESULTADOS
4.1 Configuracin de la ventana de prueba
Se muestra el panel frontal de la ventana principal de Labview en la figura 4.1 en reposo, es decir, sin lectura de ningn dato. En donde se encuentran dos generadores de grficas de los cuales el del lado izquierdo muestra la amplitud medida de los datos del muestreo respecto al tiempo (figura 4.2). Consta de un rango de tiempo (eje x) de cero a mil milisegundos, que se defini en la programacin de arduino (ver seccin 3.4). El valor de la amplitud (eje y) es medido en volts en un rango de 0 V a 5 V, que es el rango de voltaje total con el que cuenta la tarjeta arduino para trabajar.
Figura 4.1 Panel frontal de la ventana principal de Labview. 28
Figura 4.3 Grfica de amplitud respecto al tiempo.
A la derecha se sita la grfica para visualizar el valor de la frecuencia en Hz (figura 4.4) a la que el banco experimental fue sometido.
Figura 4.4 Grfica de muestreo respecto a la frecuencia.
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En la parte superior de la ventana por encima de la grfica de amplitud se muestran los botones iniciar, leer y parar, y enseguida el indicador de la amplitud en su valor RMS (figura 4.5).
Figura 4.5 Botones de control iniciar, leer y paro.
4.2 Resultado de las mediciones
La primera medicin que se obtuvo con el lser apagado (figura 4.6) se puede apreciar, el valor RMS de la amplitud corresponde a 0 V, sin embargo, el grafico de frecuencia muestra algunos componentes que pertenecen al ruido generado por luz ambiental que oscilan en los 394 Hz. De igual manera, el ruido que se aprecia se debe a la luz ambienta y a los elementos utilizados para la fabricacin del banco experimental.
Figura 4.6 Lser apagado.
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La figura 4.7 muestra los valores que se obtienen con el lser encendido pero con el generador de funciones ajustado a 0 Hz. Se puede apreciar que el valor de la amplitud indica 1.68 V RMS, mientras en el grafico de la frecuencia es visible un pico dominador ubicado 0 Hz si bien se interpreta como ruido en del sistema.
Figura 4.7 Lser encendido a 0 Hz.
La grfica de la figura 4.8 muestra la prueba realizada a 90 Hz. Ajustando la escala en el eje y se aprecia que efectivamente el valor de la frecuencia medido es de 90 Hz. En cuanto a la amplitud se puede apreciar un valor de 1.76 V RMS, menor que el mostrado en la prueba de 0 Hz. Esto es porque a esta frecuencia el lser no incide con la misma intensidad en la fotorresistencia a como lo haca en la prueba de 0 Hz (figura 4.8). 31
Figura 4.8 Lser encendido sometido a 90 Hz.
Los resultados obtenidos de la siguiente grfica con el generador de funciones ajustado a 100 Hz se observan en la figura 4.9. En esta ocasin, la grfica de frecuencia muestra los 100 Hz a los que se realiz la prueba, sin embargo en la grfica de la amplitud, se puede apreciar un incremento a 1.77 V RMS, esto se interpreta que el lser incide de manera ms intensa sobre la fotorresistencia, esto sugiere que la intensidad, y por lo tanto la amplitud, estn relacionadas con la frecuencia a la que se le aplica al sistema. Es necesario que se realicen estudios posteriores a este para comprobar dicho supuesto. Se sugiere el estudio de sta relacin para futuras mejoras al sistema.
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Figura 4.9 Lser sometido a 100 Hz.
Como medicin final, se efecta una prueba con el generador de funciones a 110 Hz, como se puede apreciar en la figura 4.10, el valor de la amplitud disminuy a 1.74 V RMS a comparacin del caso de 100 Hz en el que se aprecia un valor RMS de 1.77 V. Teniendo esto en consideracin se puede decir que el valor de la amplitud no cambi en el salto de 100 Hz a 110 Hz.
Figura 4.10 Lser sometido a 110 Hz. 33
Acertadamente se comprueba el correcto funcionamiento del banco experimental as como el programa diseado, sin embargo hay frecuencias parsitas al inicio de cada muestreo que se eliminan con los filtros tambin llamados acondicionadores de seal fsicos adecuados.
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4.3 Cronograma Act ividad Semanas 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 0 1 1 1 2 1 3 1 4 1 5 1 6 1 7 1 8 1 9 2 0 2 1 2 2 2 3 2 4 Planeacin P R Conjunci n de elementos mecnicos P R Diseo de soft ware P R Int egraci n de elementos P R Realizaci n de pruebas de funcionam iento del sist ema P R Puest a en marcha del funcionam iento del sist ema P R Document acin P R 35
5. CONCLUSIONES
Los resultados obtenidos en las distintas pruebas realizadas con el programa diseado indican en general que tiene un funcionamiento estable y confiable para obtener la frecuencia que presentan fuentes de vibracin. Es menester una interpretacin de la amplitud como una magnitud que se relaciona directamente con la frecuencia con la que est trabajando. Ya que las frecuencias fueron inducidas por un generador de seales se encuentra relacionada a un valor de referencia y que se debe analizar y continuar con el estudio dependiendo de la aplicacin en campo abierto, es decir, pruebas reales de medicin de frecuencia. Sern necesarios estudios posteriores para comprobar este supuesto y definir correctamente el fenmeno adems de los resultados que se obtendrn.
En cuanto al banco experimental, los valores medidos indican que los componentes utilizados son ptimos mas no ideales para su uso extendido. En el caso planteado en este documento, el rango de trabajo funcional es de 0 Hz hasta 110 Hz aproximadamente donde las frecuencias parsitas son mnimas. Dependiendo estrechamente de los elementos empleados para la construccin del banco, considerando la fotorresistencia y la bocina como principales aportadores de frecuencias parsitas y limitadores de mediciones ideales.
Con esto se cumple el objetivo del diseo de un programa para la medicin de la amplitud y frecuencia de una onda mecnica por medio de la desviacin de un haz luminoso, en este caso, un haz de lser. Este banco experimental fue construido con elementos de fcil acceso, lo cual representa un costo de fabricacin relativamente bajo con un desempeo confiable, logrando as cumplir con el objetivo secundario de fabricar un vibrmetro lser que sea accesible, eficiente y eficaz. 36
6. POSIBLES MEJORAS
Como principal propuesta de mejora para la construccin de un vibrmetro lser con mejores prestaciones, se recomienda emplear elementos de mejor calidad y precisin, tales como una bocina con ms potencia, una fotorresistencia con ms sensibilidad y tiempo de repuesta, o inclusive reemplazar la fotorresistencia con una celda fotovoltaica. Con esto se lograra que el rango de frecuencia de trabajo sea ms amplio y se pueda utilizar para diferentes fines. Para mejorar la precisin del vibrmetro es necesario realizar las pruebas sobre una mesa de granito, la cual garantiza que el banco experimental estar libre de vibraciones externas que puedan causar ruido en la seal. A continuacin se mencionan las posibles mejoras en cuanto a equipo se refiere: bocina y fotorresistencia con mejores prestaciones, reemplazar la fotorresistencia por una celda fotovoltaica, realizar las pruebas sobre una mesa de granito.
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7. FUENTES DE CONSULTA
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