Centro de Microscopa Electrnica

La Universidad Nacional de San Agustn de Arequipa, a travs de su Centro de Microscopa

Electrnica, pone a disposicin el ms moderno Microscopio Electrnico de Barrido del Pas, el
SEM XL20 de Philips, equipado con Detector de Electrones Retrodispersados y Microanalizador
EDAX DX-41.

El microscopio electrnico de barrido (SEM) es un instrumento capaz de ofrecer un variado
rango de informaciones procedentes de la superficie de la muestra. Su funcionamiento se
basa en barrer un haz de electrones sobre un rea del tamao que deseemos (aumentos)
mientras en un monitor se visualiza la informacin que hayamos seleccionado en funcin
de los detectores que hayan disponibles. En el Servicio de Microscopa de la U.P.V. existen
los siguientes:
Detector de electrones secundarios (SE): es el que ofrece la tpica imagen en blanco y
negro de la topografa de la superficie examinada. Es la seal ms adecuada para la
observacin de la muestra por ser la de mayor resolucin.
Detector de electrones retrodispersados (BSE): tambin ofrece una imagen de superficie
aunque de menor resolucin. Su ventaja consiste en que es sensible a las variaciones en el
nmero atmico de los elementos presentes en la superficie. Si tenemos una superficie
totalmente lisa observaremos distintos tonos de gris en funcin de que existan varias fases
con distintos elementos.
Detector de rayos X (EDS): es el que recibe los rayos X procedentes de cada uno de los
puntos de la superficie sobre los que pasa el haz de electrones. Como la energa de cada
rayo X es caracterstica de cada elemento, podemos obtener informacin analtica
cualitativa y cuantitativa de reas del tamao que deseemos de la superficie. Por ello se
conoce esta tcnica como Microanlisis por EDS.
Detector de rayos X (WDS): similar al anterior, pero en vez de recibir y procesar la
energa de todos los rayos X a la vez, nicamente se mide la seal que genera un solo
elemento. Esto hace que esta tcnica, aunque ms lenta, sea mucho ms sensible y precisa
que la de EDS. Realmente son complementarias, pues el EDS ofrece una buena
informacin de todos los elementos presentes en la superficie de la muestra y el WDS es
capaz de resolver los picos de elementos cuyas energas de emisin estn muy cercanas, as
como detectar concentraciones mucho ms pequeas de cualquier elemento y, sobre todo,
de los ligeros.
Detector de electrones retrodispersados difractados (BSED): en este caso slo se
reciben aquellos electrones difractados por la superficie de la muestra que cumplen la ley
de Bragg en el punto que son generados, es decir, se trata de una seal que nos aporta
informacin de la estructura cristalina de la muestra. Si conocemos previamente la o las
fases cristalinas presentes en nuestra muestra, el sistema es capaz de procesar la seal que
recibe en forma de lneas de Kikuchi y ofrecer una variada informacin cristalogrfica:
orientacin de granos, orientaciones relativas entre ellos, textura, identificacin de fases,
evaluacin de tensin, fronteras de grano, tamao de grano
http://www.ecured.cu/index.php/Microscopio_electr%C3%B3nico_de_barrido
Caractersticas

Amplificacin de la imagen: 400,000x
Resolucin: 6 nm a 30 Kv
Obtencin de imgenes: Videoprinter, archivo de imagen. fotografa 35mm y 120 mm.
Deteccin analtica: 84 elementos, de Boro a Uranio.
El Microscopio Electrnico de Barrido es un instrumento que permite la observacin y el anlisis
de superficies, por medio de imgenes que se obtienen mediante un sistema ptico electrnico.
Tiene como accesorio un Micro Analizador EDAX Dx 41 que permite analizar cualitativamente y
cuanti-tativamente desde el elemento Boro al Uranio.



Servicios

Muestras rgidas: Granos de polen, esporas, madera, estructuras de insectos, conchas
marinas, restos vegetales fsiles (Diatomeas), etc.
Muestras delicadas: Organismos unicelulares, tejidos y rganos de animales o vegetales,
larvas, hongos, micro-organismos, etc.
Muestras de aleaciones: Fases metlicas en los aceros, bronces, latones. Inclusiones en
aleaciones ferrosas y no ferrosas.
Muestras de materiales: Cristalizacin y fases en materiales cermicos y cementos.
Estructuras de materiales compsitos y polmeros. Muestras mineralgicas.
Fractografa: Anlisis de fallas en componentes mecnicos y corrosin, y todo esto
ampliado ms de 300,000 veces. Adems, podr realizar micro-anlisis y obtener la composicin
elemental de su muestra en forma cualitativa y cuantitativa al instante mediante el analizador de
Energa Dispersa EDAX.




Bibliografia
http://www.unsa.edu.pe/index.php/produccion-servicios/laboratorios/centro-de-
microscopia-electronica?showall=&start=2