Arreglos atmicos en la materia

Sin orden

Orden de corto alcance

Orden de largo alcance
Sin orden:
Xenn
Ordenamiento de corto alcance: Ejemplo: agua en estado vapor, vidrios
cermicos (slice), polmeros

Vapor de agua
Ordenamiento de largo alcance:
Grafeno (compuesto de
carbono densamente
empaquetados)
Red cristalina
Un slido cristalino es un conjunto
de tomos estticos que ocupan
una posicin determinada
Estructura cristalina
Orden de largo alcance (cristal)
Sin orden (amorfo)
Ordenamiento en su estructura
Los materiales slidos se pueden clasificar de acuerdo a la
regularidad con que los tomos o iones estn ordenados uno con
respecto al otro.
Un material cristalino es aquel en que los tomos se encuentran
situados en un arreglo repetitivo o peridico dentro de grandes
distancias atmicas; tal como las estructuras solidificadas, los tomos
se posicionarn de una manera repetitiva tridimensional en el cual
cada tomo est enlazado al tomo vecino ms cercano.
Todos los metales, muchos cermicos y algunos polmeros forman
estructuras cristalinas bajo condiciones normales de solidificacin.
Cristal
Estructura cristalina
Vidrio
Cristal: conjunto de tomos ordenados segn un arreglo
peridico en tres dimensiones
Modelo de las esferas rgidas: se consideran los tomos (o iones) como
esferas slidas con dimetros muy bien definidos. Las esferas
representan tomos macizos en contacto
Celda unitaria:
Definicin.
Estructura cristalina cbica de cara centrada:
(a) representacin de la celda unidad mediante esferas rgida
(b) celda unidad representada mediante esferas reducidas
Los parmetros de red que describen el tamao y la forma de la celda
unitaria, incluyen las dimensiones de las aristas de la celda unitaria y los
ngulos entre estas.
En funcin de los parmetros de la celda unitaria: longitudes de sus
lados y ngulos que forman, se distinguen 7 sistemas cristalinos que
definen la forma geomtrica de la red:
Las unidades de la longitud se expresan en nanmetros (nm) o en
angstrom (A) donde:

1 nanmetro (nm) = 10
-9
m = 10
-7
cm = 10 A
1 angstrom (A) =0.1 nm = 10
-10
m = 10
-8
cm
Sistemas
cristalinos
Para identificar un cristal se debe contar con algn sistema de notacin de direcciones y
planos cristalogrficos. Cualquier punto dentro del espacio reticular puede sealarse
mediante coordenadas, las cuales son fracciones o mltiplos de las translaciones unitarias en
cada uno de los ejes.

ndices del plano:

Un plano que interseca las coordenadas x, y, z y a las distancias u, v y w, esta
representado por la ecuacin:

=

Adems, cualquier plano puede identificarse por los tres ndices de Miller (h,k,l) que
describen cada cara del cristal. Estos son:
=

; =

; =

Por tanto los ndices del plano matemticamente se expresan como:

+ + =

Estos indices se basan en la seleccin arbitraria del origen, por tanto pueden ser
multiplicados por cualquier constante.


En sntesis, para determinar los ndices de Miller de un plano se deben realizar los
siguientes pasos:
1). Se determinan los puntos de interseccin del plano con los ejes cristalogrficos que se
deseen escoger, los cuales deben ser diferentes al origen.
2). Se calculan los nmeros inversos de estos puntos de interseccin.
3). Se convierten dichos nmeros inversos a la serie ms pequea de nmeros enteros.


EJEMPLO:
Las coordenadas de un plano en los ejes x, y y z son
u=1/3, v=2/3, w=1.
Sus nmeros inversos sern 3, 3/2 y 1.
Al convertir estos nmeros a la serie menor de
nmeros enteros, se debe multiplicar por el comn
denominador, por tanto tendramos 6,3,y 2.

As, los ndices de Miller se representan como (632).
Si un plano interseca cualquier eje en el
lado negativo del origen, entonces los
ndices de Miller son negativos, y el signo
menos se coloca encima del dgito; por
ejemplo 1

, 1,1 .

ndices de direcciones:

La direccin cristalogrfica se define como una lnea que une dos puntos cualesquiera
del retculo. Todas las dems lneas paralelas a esta direccin son llamadas ndices, por
tanto los ndices de direccin son simplemente, los componentes vectoriales de las
direcciones en cada uno de los ejes.
EJEMPLO:
La direccin OT es la lnea que sale del origen y a traviesa un punto T que esta a una unidad de
distancia de su origen. Esto se designa como [111].
El vector OM tiene su punto trasero, con coordenadas 0,0,0 y su punto delantero con ,0,0, la
diferencia entre los dos puntos es [,0,0]. Eliminando fracciones, la direccin resultante es [100]

De igual manera, el origen se puede trasladar a cualquier posicin del octante
representado por el sistema cbico.
Coordenadas Reticulares:

Describen la posicin de un punto encima o dentro de la celda unitaria. Por lo general
su origen est en el extremo de la celdilla.
EJEMPLO: Coordenadas (, , ) del punto central de una celda unitaria
Las estructuras cristalinas pueden definirse convenientemente por
medio de procedimientos de difraccin de rayos X.
El descubrimiento de los rayos X se dio en 1895, por el fsico alemn
Wilhelm Conrad Rntgen.

Experimento de Rntgen : Trabajando con tubos de rayos catdicos, descubri que
por medio del uso de un voltaje poda calentar un filamento en el extremo de un tubo
de vidro, en el cual los electrones del material del filamento podan saltar al vaco
atrados por el nodo (o electrodo positivo), generando as emanaciones de rayos X,
a los cuales llamo as debido a que no conoca su naturaleza. Con el cuarto a oscuras
y el tubo envuelto con cartn negro,
Rntgen noto que en un papel pintado
con Platino-cianuro de Bario se
produca una luz verdosa.




Rntgen llego a las siguientes conclusiones:
1). Los rayos X son imperceptibles a la vista del hombre.

2). Al hacer llegar rayos a sustancias, estos atraviesas a la gran mayora de ellas.

3). Adems del platinocianuro de bario, otras sustancias, al quedar expuesta a los rayos x,
tambin emiten radiacin luminosa. Como el calcio, el vidrio de uranio y el cuarzo.

4). Las emulsiones fotogrficas resultan ser muy sensibles a los rayos X. Una placa
fotogrfica expuesta a un haz de rayos X se ennegrece.

5). Los rayos X se propagan en lnea recta.

6). Cuanto ms pesado sea el elemento que desempea el papel del nodo, producir rayos
X de manera ms eficiente.

Condiciones para la difraccin en un cristal:
La longitud de onda del rayo incidente debe ser del mismo orden que las distancias
entre planos cristalogrficos y tomos especficos.
El tamao promedio de un tomo es alrededor de 1 a 2

, y las
distancias interplanares en los cristales son similares. Por esta razn la longitud de
onda de los rayos X incidentes es de 0,5 a 3,0

.
Planos paralelos de tomos separados por
una distancia interplanar d, a la cual llega
un haz de rayos X monocromticos.
La diferencia direccional entre los rayos
incidentes y difractados es el rayo MPN.
Pero MP = PN = 2dsen.

As las condiciones estn dadas por la
ecuacin de Bragg:

= 2
Al combinar la ecuacin de Bragg con: =

2
+
2
+
2
, se obtiene:
=
2
0

2
+
2
+
2

Si se conoce la longitud de onda de la radiacin, se pueden
calcular los valores de los ndices de Miller para cada reflexin.


Tcnicas de difraccin:
En Electrones:
Los rayos X solo interaccionan con los electrones del tomo, por tanto solo se puede
determinar estructuras de sustancias con tomos de muchos electrones, ejemplo el
cloro (Cl) que contiene 35.
La intensidad del haz difractado por los rayos X es proporcional al cuadrado del
nmero de electrones.
En Neutrones:
Un neutrn interacciona solamente con el ncleo de los tomos, y dicha interaccin
depende de cuantos protones y neutrones se encuentren dentro del ncleo, o tambin
del isotopo que se trate.
Los neutrones y los fotones muestran un comportamiento ondulatorio y por tanto,
cuanto mayor sea la energa de la partcula, menor ser su longitud de onda y
viceversa. Este principio posibilita que puedan difractarse al incidir sobre un cristal,
ms sin embargo dicho fenmeno solo ocurre con entes que tienen propiedades
ondulatorias.
El valor de la energa de un fotn de rayos X es alrededor de un milln de veces ms
grande que la de los tomos de un cristal, por tanto al incidir sobre l la nica
informacin que puede proporcionar es sobre la posicin media en la red del tomo .