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INTRODUCCION
Un microscopio es, bsicamente, un sistema ptico que transforma un objeto en una
imagen, la cual amplifica (magnifica) detalles caractersticos del objeto.
Con el microscopio de luz se resuelven detalles del orden del micrn, mientras que
con el microscopio electrnico se alcanzan a resolver objetos del orden de los
angstrom.
En el microscopio electrnico, un haz de electrones incide sobre una muestra y de la
interaccin de estos electrones con los tomos de la misma, surgen seales que son
captadas por algn detector o bien, proyectadas directamente sobre una pantalla.
Dentro de la familia de microscopios electrnicos, se encuentran el microscopio
electrnico de transmisin (TEM) y el microscopio electrnico de barrido (SEM). Cada
uno de ellos, permite el estudio de diferentes caractersticas de una muestra. El SEM
provee informacin sobre morfologa y caractersticas de la superficie, mientras que
con el TEM podemos observar la estructura interna y detalles ultraestructurales.
Un gran avance se ha alcanzado con la incorporacin de tcnicas de procesamiento
de imgenes para revelar detalles especficos de inters, algunos de ellos ligados a la
ultraestructura de la muestra.
MICROSCOPIO ELECTRONICO DE TRANSMISION
EL INSTRUMENTO
El sistema ptico-electrnico del microscopio electrnico de transmisin est
constitudo por las siguientes partes:
1. Can de electrones
2. Sistema de lentes
3. Pantalla fluorescente
Estos componentes estn ensamblados en una columna vertical la cual se encuentra
en alto vaco.
El can de electrones, es la fuente emisora del haz de electrones. Se encuentra
ubicado en la parte superior de la columna. Est constitudo por un filamento
(ctodo), un cilindro con una apertura central, llamado cilindro de Wehnelt que rodea
al filamento y tiene un potencial ligeramente ms negativo que ste. El nodo se
encuentra por debajo del cilindro de Wehnelt.
El filamento es calentado por el pasaje de corriente (alrededor de 2800 K). Los
electrones emitidos termoinicamente por el ctodo son acelerados hacia el nodo,
pasan por la apertura circular central de ste y un haz de alta energa es emitido
hacia la columna del microscopio.
El sistema de lentes est formado por lentes condensadores objetivo, intermedia y
proyectora. Las lentes condensadoras, en los microscopios, ms modernos son dos.
La primera, proyecta la imagen punto de entrecruzamiento demagnificada (spot
size), mientras que la segunda controla su dimetro y el ngulo de convergencia en
que incide sobre la muestra. limita al haz que incide sobre la muestra.
La lente objetivo forma la primera imagen, localizada debajo del especmen. Es
considerada el componente ms importante del microscopio electrnico. Cualquier
defecto en sta, ser magnificado y transmitido al resto del sistema ptico. Por lo
tanto, de ella dependen, en gran medida, la resolucin final y la correccin de las
aberraciones.
Las lentes intermedia y proyectora son las encargadas de amplificar la imagen dada
por la lente objetivo y proyectarla sobre la pantalla fluorescente.
La pantalla del microscopio electrnico de transmisin est recubierta por una
pintura de fluoruros de Zn y Cd, que fluoresce cuando es bombardeada por
electrones, generando una imagen en el rango de las longitudes de onda del visible.

Mediante el microscopio electrnico de transmisin podemos estudiar la
ultraestruacura de un material orgnico oinorgnico. Para esto, existen diferentes
formas de operacin que posibilitan el estudio de una caracterstica en particular.
Entre las aplicaciones del TEM para el estudio de materiales no- biolgicos y
biolgicos podemos nombrar :
1. Determinacin de estructura cristalina en minerales, metales, etc.
2. Estudio de catalizadores.
3. Determinacin de impurezas, precipitados,etc.
4. Identificacin de bordes de grano e interfaces en metales.
5. Estudio de fases y zonas cristalinas en polmeros.
6. Determinacin de tamao de partcula en catalizadores, minerales,etc.
7. Identificacin de planos cristalinos.
8. Cambios estructurales de materiales sometidos a diferentes
tratamientos trmicos.
9. Realizacin de estudios de histoqumica para identificxar compuestos
especficos.
10. Estudios de ultraestructura de tejidos vegetales y animales.
11. Reconocimiento de virus.
12. Estudios de citoqumica.
13. Estudios de estructuras moleculares.
MICROSCOPIA ELECTRONICA DE BARRIDO (SEM).
El microscopio electrnico de barrido (SEM) es similar al microscopio electrnico de
transmisin. Ambos tienen ciertas caractersticas comunes tales como un can de
electrones donde se genera el haz de electrones, lentes condensadoras y objetivo,
sistema de vaco. La diferencia principal entre ellos es la manera en que forman y
magnifican la imagen. Esto hace que la informacin que se obtenga de cada uno sea
distinta. Mientras el TEM permite el estudio de la ultraestructura de muestras
delgadas, el SEM posibilita conocer la morfologa superficial.
En el microscopio electrnico de barrido, el haz electrnico, atraviesa la columna y
llega a la muestra. Un generador de barrido es el responsable de producir el
movimiento del haz , de manera que barra la muestra punto a punto. De la
interaccin entre los electrones incidentes con los tomos que componen la muestra
se generan seales, las cuales pueden ser captadas con detectores adecuados para
cada una de ellas. El detector capta una seal y las convierte en una seal
electrnica que es proyectada en un tubo de rayos catdicos (CRT).
El barrido del haz est sincronizado con el barrido del CRT y produce una relacin
uno a uno entre puntos de la muestra y puntos en el CRT.
Un esquema del SEM se muestra en la siguiente figura.

Mediante el SEM se estudian:
1. Morfologa superficial de minerales, catalizadores, etc.
2. Electrodepsitos
3. Adherencia fibra-matrz en polmeros.
4. Cambios morfolgicos de materiales sometidos a tratamientos qumicos.
5. Formas de cristalizacin de minerales.
6. Control de calidad de catalizadores industriales.
7. Morfologa superficial interna de partculas polimricas.
8. Morfologa de tejidos u rgano animales y vegetales.
9. Estudio de molculas
10. Reconocimiento de fsiles.
INTERACCION HAZ INCIDENTE - MUESTRA EN EL SEM.
Naturaleza de la interaccin: Cuando el haz de electrones choca contra la muestra,
ocurren interacciones entre dichos electrones y los tomos que componen la
muestra. De all surgen seales tales como: electrones secundarios, electrones
retrodifundidos, rayos x caractersticos, electrones Auger, catodoluminiscencia.
Todas estas seales se producen simultneamente pero cada una de ellas son
captadas por detectores diferentes.
Uno de los detectores ms comunes es el de electrones secundarios. Los mismos
son emitidos desde la muestra como consecuencia de las ionizaciones surgidas de
las interacciones inelsticas. Por esta razn, poseen baja energa (50 ev). Ellos
brindan una imagen de la morfologa superficial de la muestra.
UNIDADES DE MEDIDA EN MICROSCOPIA
La unidad que se usa en microscopa de luz es el micrn () que es la milsima parte
del milmetro.
En microscopa electrnica la unidad ms conocida es el angstrom (), definido como
la diez millonsima parte del milmetro. Tambin se emplea el nanometro (nm), que
es la millonsima parte del micrn.
1 mm = 10
3
= 10
6
nm = 10
7

As, por ejemplo, la resolucin de un microscopio de luz es 0.25 2500 ; y la de
un microscopio electrnico de 2.5
Sandy Nuez xito en tu primer da como universitaria