DIFRACCIN DE RAYOS X

Los rayos x fueron descubiertos por Wilhelm Rntgen (1845-1923) en 1895, y los primeros
experimentos sugeran que se trataba de ondas electromagnticas con longitudes de onda del
orden de 10
-10
m. Por esa misma poca, comenz a surgir la idea de que en un slido cristalino
los tomos estn dispuestos en un patrn que se repite de forma regular, con una separacin
entre tomos adyacentes tambin del orden de 10
-10
m. Combinando estas dos ideas, en 1912
Max von Laue (1879-1960) propuso que un cristal podra servir como una especie de rejilla de
difraccin tridimensional para los rayos x. Es decir, los tomos individuales de un cristal podran
dispersar (esto es, absorber y emitir de nuevo) un haz de rayos x, y las ondas dispersadas
podran interferir del mismo modo que las ondas provenientes de una rejilla de difraccin.
Los primeros experimentos de difraccin de rayos x fueron realizados en 1912 por
Friederich, Knipping y Von Laue, empleando el sistema experimental que aparece bosquejado
en la siguiente figura (a). Los rayos x dispersados formaron un patrn de interferencia, el cual
se registr en pelcula fotogrfica. La figura (b) es una fotografa de un patrn de este tipo.


















Con estos experimentos se comprob que los
rayos x son ondas, o al menos tienen
propiedades ondulatorias, y tambin que los
tomos estn dispuestos conforme a una
distribucin regular (figura 3).
A partir de entonces, la difraccin de rayos x
ha probado ser una valiossima herramienta
de investigacin, tanto para medir longitudes
de onda de rayos x como para estudiar la
estructura de cristales y molculas complejas.

Modelo simple de difraccin de rayos x
Para entender mejor la difraccin de rayos x,
consideremos en primer trmino una
situacin de dispersin bidimensional, como
se muestra en la figura (1.a), donde una onda
plana incide sobre una formacin rectangular
de centros de dispersin. La situacin podra
ser un tanque de ondas con una serie de pequeos postes, microondas de 3cm que chocan
con una formacin de pequeas esferas conductoras, o rayos x que inciden en una formacin
de tomos. En el caso de las ondas electromagnticas, la onda induce un momento dipolar
elctrico oscilante en cada elemento dispersor. Estos dipolos actan como pequeas antenas
que emiten ondas dispersadas. El patrn de interferencia resultante es la superposicin de
todas estas ondas dispersadas.
La situacin no es la misma que
la de una rejilla de difraccin,
donde las ondas provenientes de
todas las rejillas son emitidas en
fase (en el caso de una onda
plana que incide en direccin
normal). En el caso que nos
ocupa, las ondas dispersadas no
estn todas en fase porque sus
distancias con respecto a la
fuente son diferentes. Para
calcular el patrn de interferencia, es necesario considerar las diferencias de trayecto totales de
las ondas dispersadas, incluso las distancias de la fuente al elemento dispersor y de ste al
observador.
Como se observa en la figura (1.b), la
longitud de trayecto de la fuente al
observador es la misma con respecto a
todos los elementos dispersores de una
sola fila, si los dos ngulos

son
iguales. La radiacin dispersada de las
adyacentes tambin est en fase, si la
diferencia de trayecto correspondiente a
filas adyacentes es un nmero entero de
longitudes de onda. La figura (1.c) muestra
que esta diferencia de trayecto es ,
donde es el valor comn de

.
Por lo tanto, las condiciones para
que la radiacin proveniente de la
formacin completa lleguen al
observador en fase son:
1) El ngulo de incidencia debe ser
igual al ngulo de dispersin y
2) la diferencia de trayecto
correspondiente a filas adyacentes
debe ser igual a m, donde m es un
entero.

Podemos expresar la segunda condicin como




CUIDADO: Dispersin desde una formacin
En la ecuacin (1) el ngulo se mide con respecto a la superficie del cristal, no con respecto
a la normal al plano de una serie de ranuras o de una rejilla. Asimismo, advierta que la
diferencia de trayecto de la ecuacin (1) es , no como en otra ecuacin
referente a una rejilla de difraccin.

(Condicin de Bragg para que
haya interferencia constructiva
desde una formacin)
(1)
Fig. 2 Cristal cbico y dos familias diferentes de planos cristalinos. Hay adems tres
conjuntos de planos paralelos a las caras del cubo, con separacin a.
En las direcciones con respecto a las cuales se satisface la ecuacin (1), vemos un mximo
intenso en el patrn de interferencia. Podemos describir esta interferencia en trminos de
reflexiones de la onda en las filas horizontales de elementos dispersores de la figura 1.a. Hay
reflexin intensa (interferencia constructiva) en los ngulos en los que los ngulos incidente y
de dispersin son iguales y se satisface la ecuacin (1). Como nunca puede ser mayor
que 1, la ecuacin (1) indica que para tener interferencia constructiva, la cantidad m debe ser
menor que 2d y as debe ser menor que 2d/m. Por ejemplo, el valor de d en un cristal de
NaCl (figura 3) es slo de 0.282 nm. Por ello, para tener el mximo orden m-simo presente en
el patrn de difraccin, debe ser menor que 2 (0.282 nm)/m; esto es, < 0.564 nm para m =
1, < 0.282 nm para m = 2, < 0.188 nm para m = 3, y as sucesivamente. Todas stas son
longitudes de onda de rayos x, que es la causa de que los rayos x se usen al estudiar la
estructura del cristal.
Podemos extender este anlisis a una formacin tridimensional considerando planos de
elementos dispersores en vez de filas. La figura (2) muestra dos conjuntos diferentes de planos
paralelos que pasan por todos los elementos dispersores. Las ondas provenientes de todos los
elementos dispersores de un plano determinado interfieren constructivamente, si son iguales
los ngulos de incidencia y de dispersin. Tambin hay interferencia constructiva entre planos
cuando se satisface la ecuacin (1), donde d es ahora la distancia entre planos adyacentes.
Debido a que existen muchos conjuntos distintos de planos paralelos, tambin son muchos los
valores de d y los conjuntos de ngulos que producen interferencia constructiva en toda la red
cristalina.
Este fenmeno se conoce como reflexin de Bragg, y la ecuacin (1) recibe el nombre de
condicin de Bragg, en honor de Sir William Bragg y su hijo Laurence Bragg, dos pioneros del
anlisis con rayos x.









CUIDADO: La reflexin de Bragg es en realidad interferencia de Bragg
Aunque empleamos el trmino reflexin, recuerde que se trata de un efecto de interferencia. De
hecho, las reflexiones en diversos planos presentan una estrecha analoga con los efectos de
interferencia en pelculas delgadas (seccin 35.4).

Como se ve en la gura (b), en la difraccin de rayos x hay una cancelacin casi total en casi
todas direcciones, salvo algunas en las que hay interferencia constructiva y se forman manchas
brillantes. Los patrones de este tipo se conocen habitualmente como patrones de difraccin de
rayos x, aunque sera ms adecuado llamarlos patrones de interferencia.