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* CEPEL - ACET, Caixa Postal 68007, CEP 21944-970, Rio de Janeiro, RJ, Brasil.

ALTAE 1997








MTODO MODIFICADO DE CALIBRAO DE DESCARGAS PARCIAIS EM EQUIPAMENTOS DE ALTA
TENSO



Alain Franois S. Levy
Marta M. A. Olivieri
Orsino B. de Oliveira Filho
Jos A. P. Rodrigues

Centro de Pesquisas de Energia Eltrica - CEPEL*



RESUMO

A medio de descargas parciais primordial na avaliao
de desempenho dos sistemas isolantes utilizados na
construo dos equipamentos de alta tenso. A exatido na
quantificao dessa grandeza funo direta da calibrao
efetuada, a qual muitas vezes problemtica, sobretudo para
equipamentos no blindados ou que tenham elevada
capacitncia em relao ao capacitor utilizado para
acoplamento. Nesse artigo apresentado um mtodo de
calibrao alternativo que visa minimizar erros nesses casos.
So utilizados os princpios convencionais normalizados de
carga aparente e instrumentos de medio com banda larga.
Foram injetadas descargas parciais em vrios circuitos de
ensaio e foram simuladas descargas em computador para fins
comparativos.
As descargas parciais so classificadas em dois tipos
diferentes conforme a circulao dos pulsos de corrente no
circuito de ensaio. Em cada condio classifica-se a
calibrao como sendo do tipo srie ou em paralelo.

PALAVRAS-CHAVE: descargas parciais; medio em alta
tenso; calibrao de descargas parciais
1. INTRODUO

Diversas medies de descargas parciais (DP) em
laboratrio, efetuadas em equipamentos dos mais diversos,
tm apresentado algumas dificuldades de interpretao
referente ao comportamento do dieltrico. Essas dificuldades
so observadas tanto na utilizao das normas atuais, as
quais, por simplificar a matria, podem gerar procedimentos
inadequados em alguns casos, quanto na confrontao com
outras medies similares.
A medio de DP em laboratrio prev a realizao de uma
calibrao do circuito de ensaio que consiste na aplicao de
uma carga conhecida nos terminais do equipamento sob
ensaio. Conforme as caractersticas do equipamento a
ensaiar e suas descargas internas geradas, o procedimento de
calibrao pode no ser compatvel com a carga aparente
efetivamente gerada. Essa afirmativa foi analisada e
verificada modelando-se o circuito de ensaio, injetando-se
artificialmente descargas no equipamento e alterando-se os
procedimentos de calibrao. Foi utilizado um sistema de
calibrao alimentado a bateria e foi montado um dispositivo
que gerasse descargas em srie com o equipamento sob
ensaio.
2. ANLISE DAS DP NOS CIRCUITOS DE ENSAIO

So trs os circuitos de ensaio utilizveis para medio de
descargas parciais em laboratrio, conforme a norma [1]
(figura 1). Nesses circuitos, apenas na figura 1-a o
equipamento C
i
est diretamente aterrado; nas figuras 1-b e
1-c, C
i
aterrado via impedncia de medio Z
m
ou Z
m2
.
Os sinais de corrente correspondentes s DP podem ter
retorno por terra ou no em funo das caractersticas do
equipamento sob ensaio e do circuito de ensaio.
Equipamentos tais como transformadores e cabos de alta
tenso so considerados como tendo seus dieltricos
praticamente blindados podendo ser simplificadamente
representados como capacitores de placas paralelas (figura
2-a). Nessas condies, as regies de campo eltrico mais
intenso se encontram confinadas entre os eletrodos de alta
tenso do equipamento e suas blindagens. Outros
equipamentos tais como colunas e buchas possuem boa parte
de suas linhas de campo se fechando diretamente para
pontos de terra, os quais no fazem necessariamente parte do
equipamento, conforme figura 2-b.
Essas diferentes caractersticas dos equipamentos podem
causar erros de medio e/ou calibrao de DP conforme o
circuito de ensaio utilizado. Imaginando-se uma regio de
campo eltrico crtico adjacente ao eletrodo de alta tenso,
conforme visto na figura 2, possvel gerar pulsos de
corrente de alta frequncia que tm por retorno os pontos de
terra locais. Ao dispor um capacitor de acoplamento (C
k
) em


2
paralelo com o equipamento, foramos um caminho
preferencial para os pulsos de corrente i(t) (figura 2). A
partir da pode-se registrar essa corrente por meio de
impedncias de medio dispostas conforme as opes da
figura 1. Caso se opte pelo circuito da figura 1-(a), dispondo
a impedncia de medio em srie com C
k
, os sinais de
corrente que circulam por C
k
no sero influenciados pelas
diferentes caractersticas dos equipamentos representados
pela figura 2. Por outro lado, os circuitos de ensaio
conforme as figura 1-b e 1-c nas quais se tem uma
impedncia de medio entre os pontos A e B, geram sinais
de corrente diferentes sobre a impedncia de medio, se o
mesmo defeito for gerado em dieltrico blindadoou em
dieltrico em aberto. Isto ocorre porqu, no caso de
dieltrico em aberto, conforme a figura 2-b, uma parcela
da corrente i(t) circula diretamente para a terra, desviando-se
da impedncia de medio Z
m
. A mesma linha de raciocnio
leva a concluir que a localizao do ponto de ocorrncia das
DP ao longo do dieltrico do equipamento, influenciar no
montante de corrente que se desvia de Z
m
.

Campo
Crtico
Z
m
A
B
C
k
i(t)
Calib.
C
i
C
k
Z
m
A
B
Calib.
C
i
Campo
Crtico
i(t)

(a) dieltrico blindado (b) dieltrico em aberto

Figura 2 - Representao esquemtica de equipamentos
segundo o confinamento de seu dieltrico em meio a seus
eletrodos.

Assim, uma mesma intensidade de corrente gerada se traduz
por diferentes correntes sobre a impedncia de medio,
conforme o circuito de ensaio utilizado e a localizao das
descargas no interior do dieltrico.
3. ARRANJOS EXPERIMENTAIS

A maior dificuldade inicialmente encontrada, a fim de se
dispor de informaes experimentais precisas que pudessem
confirmar os desvios nas medies convencionais alm de
permitir proposies alternativas, foi a necessidade de se ter
algum dispositivo que gerasse nveis de descargas internas
controlveis tanto para equipamentos em aberto quanto
blindados. Para representar equipamentos em aberto
foram simplesmente utilizadas colunas capacitivas com
opes de 0,5 e 2,5 nF sendo acrescentada uma ponta
metlica no lado de alta tenso para fins de gerao de
corona. Esta situao eletricamente equivalente quela de
gerao de DP na interface do dieltrico com o eletrodo de
alta tenso. Como as descargas desse tipo possuem retorno
pelo universo de pontos de terra local, ns a chamaremos
aqui de DP em paralelo. No caso, o nvel de DP gerado foi
da ordem de 80 pC.
Para se representar o comportamento de DP em
equipamentos blindados foi utilizado um artifcio que
permitiu a manuteno, no circuito, os mesmos capacitores
acima citados, em srie com os quais foi introduzido um
circuito capaz de fazer circular uma corrente impulsiva
fornecida pelo disparo de um centelhador a gs. As
descargas desse tipo, as quais sempre circulam pelos
terminais do equipamento, foram aqui batizadas de
descargas srie.
Trs condies bsicas foram os pontos de partida na
elaborao deste gerador de DP: 1) Escolher um dispositivo
de disparo que fornecesse descargas cujos parmetros de
amplitude, forma e taxa de repetio sejam praticamente
invariveis, influenciando assim as leituras do instrumento
de medio; 2) Obter amplitudes de DP de mesma ordem de
grandeza daquelas mais comumente encontradas em
equipamentos e ; 3) Fazer o dispositivo de disparo operar
com a aplicao de alta tenso nas colunas capacitivas, sem
alterar significativamente os parmetros originais do circuito
de ensaio.
Chegou-se enfim ao circuito apresentado na figura 3. A
capacitncia C
2
tem que ser muito elevada em relao a C
i
e
C
k
de tal forma a apresentar pequena impedncia para os
sinais de DP, alm de fornecer uma diferena de tenso entre
os pontos A e B suficiente para o centelhamento do gap G,
quando aplicada alta tenso no ponto A. Esta condio
permite tambm, que a calibrao convencional possa ser
feita indistintamente nos pontos A ou B do circuito. O
capacitor C
1
usado para o controle da carga a ser liberada
no centelhamento do gap G. Da mesma forma, os resistores
R
1
e R
2
ajudam a controlar as intensidades de corrente
atravs da impedncia de medio. Uma vez estabelecidos
os valores de C
1
e C
2
, verifica-se que a intensidade das
descargas aumentam com o aumento da relao R
2
/ R
1
. Com
os parmetros assinalados na figura 3, o centelhador a gs
fornece pulsos de corrente de amplitude constante em torno
de 30 pC com taxa de repetio de 120 a 240 s-1, quando se
alcana uma diferena de potencial em torno de 130 V entre
os pontos A e B. Para se evitarem quaisquer possibilidades
de fuga para a terra devido ao centelhamento do gap, o
gerador foi montado dentro de uma caixa metlica.

R
1
R
2
C
2
C
1 G
B A
C
k
C
i


Figura 3 - Circuito eltrico do gerador de descargas
parciais srie
4. RESULTADOS DE MEDIO E SIMULAES.

A parte experimental desse trabalho foi dividida em trs
etapas: 1) medio de DP nas condies de calibrao
convencionais [2] para capacitores de acoplamento C
k
de
0,6; 1,0 e 2,0 nF e equipamentos sob ensaio C
i
de 0,5 e 2,5
nF. Foram realizadas medies com a impedncia de
medio Z
m
em srie com C
k
e com C
i
. So apresentados
tambm os resultados obtidos com fatores de calibrao


3
calculados. 2) Simulao computacional do circuito de
ensaio com os mesmos parmetros acima descritos e
aplicao de chaveamentos ora em paralelo e ora em srie
com o equipamento C
i
. 3) Calibrao alternativa em srie
com o circuito de ensaio.
Foi considerada, no circuito de ensaio, uma fuga capacitiva
sobre C
f
estimada em 50 pF.
4.1 Medio de DP com calibrao convencional

O mtodo de calibrao convencional de carga aparente foi
utilizado nessa etapa. Na tabela 1 esto apresentados os
valores medidos para as condies de descargas em paralelo
e descargas srie. Em cada caso, o valor de descarga gerado
foi praticamente constante sendo que o valor de tenso,
assinalado corresponde tenso de incio de descarga. Desta
tabela conclui-se que:

- No caso de descargas em paralelo, os resultados obtidos
com Z
m
em srie com C
k
se mostraram mais realistas,
variando pouco ao se alterar o valor da capacitncia de
acoplamento. No entanto, para equipamentos com
capacitnicia mais elevada, o nvel de DP atenuado.
- Para a ocorrncia de descargas srie, o valor de C
i
e a
posio de Z
m
alteram substancialmente os resultados. Os
valores obtidos apenas so realistas para C
i
pequeno e Z
m

em srie com C
k
.
- Nenhuma medio, com Z
m
em srie com C
i
se mostrou
coerente.

Logo, os mtodos de calibrao convencionais so apenas
aplicados na condio de se ter Z
m
em srie com C
k
, sendo
C
k
bem maior do que C
i
e sendo C
i
no muito elevado.

Tabela 1 - DP medidas via calibrao convencional em
paralelo.
Z
m
em srie com C
k
Z
m
em srie com C
i

C
k
C
i
(nF) C
i
(nF)
(nF) 0,5 2,5 0,5 2,5
0,6 83 64 45 215
(a) 1,0 77 61 31 156
2,0 78 69 13 86
0,6 29 152 18 84
(b) 1,0 30 151 17 98
2,0 31 148 18 83
(a) Descarga corona em relao ao terra (em paralelo)
(b) Micro-descarga srie
Obs.: V = 13 kV para C
i
= 0,5 nF e V = 3 kV para C
i
=
2,5 nF
4.2 DP obtidas via clculo dos fatores de calibrao e
por simulao computacional

Todos os resultados experimentais foram quantificados em
nmero de divises do instrumento, sem alteraes de seu
amplificador, o que permitiu a reutilizao de resultados
parametricamente, conforme as diversas condies de
calibrao, sejam essas medidas ou calculadas por meio de
transferncia de cargas no circuito. Para tanto, as simulaes
computacionais e os fatores de calibrao por meio de
clculo, para poderem ser comparados aos demais
resultados, requerem a considerao de uma descarga parcial
de referncia. A condio de referncia foi escolhida como
sendo a DP medida (q
r
) para C
k
= 2 nF e C
i
= 0,5 nF
estando Z
m
em srie com C
k
, ou seja, q
r
= 78 pC para
descargas em paralelo e q
r
= 31 pC para descargas srie. A
partir dessa referncia, determina-se por proporcionalidade
os nveis de descarga que se esperaria registrar para as
demais condies de circuitos de ensaio, sabendo-se
evidentemente, que o nvel de descarga que est sendo
gerado, invarivel.
4.2.1 Clculo dos fatores de calibrao em paralelo,
conforme metodologia convencional

Uma vez que o circuito de ensaio no foi muito grande,
pode-se estimar os nveis de descarga medidos por meios
convencionais, calculando-se os fatores de calibrao de
cada circuito de ensaio. Na figura 4 esto apresentados os
circuitos equivalentes representativos das calibraes
convencionais em paralelo. Nesse circuito, C
f
uma
capacitncia parasita da ordem de 50 pF; C
c
a capacitncia
do dispositivo de calibrao; V
a
um degrau de tenso
chaveado que carrega C
c
; q
a
a carga aparente convencional
de calibrao e q
ra
a parcela da carga aparente que
registrada sobre a impedncia de medio R. Essas cargas
esto relacionadas pela equao:

q
ra
=
a
. V
a
. C
c
=
a
. q
a


sendo um parmetro simplificado de atenuao do
circuito, dado por

a = C
k
/ (C
k
+ C
i
+ C
f
) (figura 4-a)

a = (C
k
+ C
f
) / (C
k
+ C
i
+ C
f
) (figura 4-b)

C
k
Calib.
C
f
C
i
C
c
q
a
=q
r
q
ra V
a
R
50
C
k
Calib.
C
f
C
i
C
c
q
a
=q
r
q
ra
V
a
R
50

(a) (b)
Figura 4 - Circuito equivalente representativo da calibrao
convencional. (a) Impedncia de medio em
srie com C
k
; (b) Impedncia de medio em
srie com C
i


Na prtica, o processo de medio no requer o
conhecimento de a uma vez que, para cada circuito
diferente, a carga q
ra
alterada pelos amplificadores do
instrumento de medio de tal forma a se criar um fator de
escala conveniente. Se os amplificadores no forem
alterados para cada diferente circuito de ensaio, ou seja, se
apenas registrarmos o nmero de divises D no instrumento,
a parcela de carga q
ra
ser varivel e a carga aparente q
r
que
se pretende medir dever ser corrigida em funo de a e D.
Seja agora q
a
uma DP real e constante que se pretende
quantificar atravs do clculo das atenuaes a do circuito.
No se fazendo calibraes, preciso utilizar as quantidades


4
q
r
anteriormente citadas, como referncias. Logo, ao se fazer
q
a
= q
r
, obtm-se q
ra
= a . q
r
. Por outro lado, q
ra
pode ser
relacionada com o nmero de divises Da lido, atravs de
uma carga de calibrao qca em pC/div a qual, por
definio, seria um fator de escala a ser calculado, ou seja,
q
ra
= D
a
. q
ca
. A carga de calibrao qc guarda
proporcionalidade com C
c
e V
a
(figura 4) os quais so os
parmetros constantes para quaisquer condies de C
i
, C
k
ou
posio da impedncia de medio. Para cada um dos
valores q
r
escolhidos, calcula-se q
ca
pela expresso q
ca
= q
r
.

a
/ D
a
. Em seguida, para os demais circuitos de ensaio, a
carga que seria medida pode ser quantificada por q
r
= q
ca
.
Da / a onde a relao q
ca
/
a
um fator equivalente de
calibrao do circuito considerado. Os resultados numricos
desse processo esto apresentados no caso A da tabela 2. A
similaridade desses resultados comparativamente com
aqueles da tabela 1, permite verificar que a calibrao
convencional foi corretamente executada e que o circuito
simplificado de calibrao se mostrou adequado. Todas as
concluses obtidas no item 4.1 so tambem vlidas para os
resultados dos casos A da tabela 2.

Tabela 2-a - Descarga corona em relao ao terra
Z
m
em srie com C
k
Z
m
em srie com C
i

C
k
C
i
(nF) C
i
(nF)
(nF) 0,5 2,5 0,5 2,5
0,6 81 71 56 301
A 1,0 74 59 36 183
2,0 78 63 14 88
0,6 81 71 68 74
B 1,0 74 59 71 73
2,0 78 63 57 70
0,6 79 66 79 78
C 1,0 79 66 69 70
2,0 78 65 68 68
A Fator de calibrao calculado conforme mtodo
convencional em paralelo
B Fator de calibrao calculado conforme descarga real em
paralelo
C DP simulada com calibrao conforme B

Tabela 2-b - Micro-descarga srie
Z
m
em srie com C
k
Z
m
em srie com C
i

C
k
C
i
(nF) C
i
(nF)
(nF) 0,5 2,5 0,5 2,5
0,6 28 167 22 110
A 1,0 29 147 20 109
2,0 31 134 20 82
0,6 28 33 20 22
B 1,0 29 29 19 22
2,0 31 27 19 16
0,6 28 28 28 28
C 1,0 31 28 28 28
2,0 31 28 28 28
B Fator de calibrao calculado conforme DP real srie
C DP simulada com calibrao conforme B
4.2.2 Clculo dos fatores de calibrao conforme o
comportamento real das DP

Em seguida apresentada uma tentativa de clculo dos
fatores de calibrao que considerem com maior grau de
realidade, o comportamento das descargas parciais no
circuito de ensaio.
Os circuitos de ensaio simplificados que representam o
comportamento real das DP, so diferentes conforme o caso
de se ter descargas em paralelo ou descargas srie. No
primeiro caso, o retorno das descargas se d pelo somatrio
dos pontos de terra do circuito de ensaio, ou seja, sobre C
f
.
No caso das descargas srie, o retorno das descargas feito
pelo prprio equipamento C
i
. Nas figuras 5 e 6 so
mostrados os circuitos simplificados equivalentes para fins
de clculo dos fatores de calibrao, conforme cada tipo de
descarga. Adotando-se raciocnio similar quele para o item
anterior tem-se:

C
k
C
f
C
i
q
p
=q
r
R
q
p
=q
r
q
rp
C
k
C
f
C
i
q
p
=q
r
R
q
p
=q
r
q
rp

(a) (b)
Figura 5 - Circuito equivalente representativo das
descargas em paralelo. (a) Impedncia de
medio em srie com C
k
; (b) Impedncia de
medio em srie com C
i


C
k
C
f
C
i
q
s
=q
r
V
s
R
q
rs
q
s
=q
r
50
C
k
C
f
C
i
q
s
=q
r
V
s
R
q
s
=q
r
50

(a) (b)
Figura 6 - Circuito equivalente representativo das
descargas srie. (a) Impedncia de medio em
srie com C
k
; (b) Impedncia de medio em
srie com C
i



q
rp
=
p
. q
r
= D
ap
. q
cp
(descargas em paralelo)
q
rs
=
s
. q
r
= D
as
. q
cs
(descargas srie)

sendo
p
=
s
(figura 5-a)

p
= C
i
/ (C
k
+ C
i
+ C
f
) (figura 5-b)

e
s
=
a
figura 6-a

s
=
a
figura 6-b

Em condies reais de calibrao, os fatores de escala qcp e
q
cs
, que correspondem s cargas de calibrao, so diferentes
entre si. No caso, q
cp
um parmetro fixo, similar ao que
ocorre com q
ca
. No entanto, a carga de calibrao q
cs

funo de um degru de tenso V
s
e C
i
, o que deve ser


5
considerado nos diversos circuitos de ensaio analisados.
Fazendo-se qcs = V
s
. C
i
e substituindo-se nas relaes de
q
rs
obtm-se V
s
=
s
. q
r
/ (D
as
. C
i
). Nesse caso ento, para
cada valor de q
r
, calcula-se a tenso V
s
correspondente e
nos casos subsequentes, a carga medida quantificada por q
r

= V
s
. C
i
. D
as
/
s
, onde a grandeza V
s
. C
i
/
s
um fator
equivalente de calibrao. Os resultados numricos
correspondentes se encontram nos casos B da tabela 3.
Embora se tenham encontradas dispersses da ordem de 30
% para descargas em paralelo e 50 % para descargas srie,
os resultados obtidos nessas condies simplificadas de
clculo, se mostraram satisfatrios. Foi verificado que os
casos A e B de descargas srie vistos na tabela 3 -b
apresentam erros de medio quando Z
m
est em srie com
C
i
, visto que os nmeros de divises registrados no esto
compatveis, quando um mesmo sinal de calibrao
injetado no circuito de ensaio.

4.2.3 DP obtidas por simulao computacional

A simulao computacional uma maneira alternativa de se
verificar o comportamento das DP no circuito de ensaio. Foi
utilizado para tal, um programa comercial de analise de
transitrios em circuito eltrico. Considerando-se as mesmas
referncias de carga adotatas no item 4.2, foi possvel obter
os resultados apresentados nos casos C da tabela 3. Com
esses resultados computacionais, algumas concluses, agora
j naturais, podem ser citadas:

- Para quaisquer valores de C
k
e C
i
, as simulaes
computacionais fornecem valores em pC muito prximos
entre si, para cada tipo de descarga.
- As simulaes validam com timo grau de aproximao,
os fatores de calibrao calculados, aplicados nos casos B
da tabela 2.
- Descargas corona referenciadas ao terra e micro-descargas
internas apresentam realmente diferenas no momento de
serem medidas por acoplamento capacitivo.
4.3 4.3. Medio de DP via calibrao tipo srie

A calibrao convencional no fornece resultado satisfatrio
para diversas condies de DP e, em particular, quando se
tem descargas srie ocorrendo. Objetivando-se melhorar as
condies de calibrao, procurou-se um sistema no qual se
pudesse injetar um sinal conhecido o qual apresentasse
proporcionalidade entre a grandeza medida sobre a
impedncia de medio e o nvel de descarga refletido nos
terminais do equipamento sob ensaio C
i
, em condies de
descarga srie.
No caso da calibrao convencional em paralelo (figura 4),
desconsiderando-se a capacitncia parasita, a parcela q
cp
da
carga de calibrao, sobre a impedncia de medio, dada
por:

q
cp
= V
a
. C
c
. C
k
/ (C
k
+ C
i
+ C
c
)

No caso de se executar na prtica uma calibrao tipo srie,
conforme a figura 6, a parcela q
cs
da carga de calibrao,
sobre a impedncia de medio ser:

q
cs
= V
s
. C
i
. C
k
/ (C
k
+ C
i
)

Relacionando as duas parcelas tem-se:

q
q
V C
V C
C C C
C C
cs
cp
s i
a c
k i c
k i
=

+ +
+

Normalmente, C
c
muito pequena em relao s
capacitncias dos equipamentos envolvidos no circuito, o
que faculta simplificar da forma:

q
q
V C
V C
cs
cp
s i
a c
=

Logo, a calibrao tipo srie guarda coerncia em relao
calibrao convencional e pode ser obtida por
proporcionalidade, sem a necessidade de se considerar o
valor de C
i
, o qual nem sempre conhecido com preciso
suficiente. Para tanto, faz-se a calibrao em paralelo em
condies propcias, ou seja, com C
k
bem maior do que C
i
e
C
i
no muito elevado. Dessa forma estaremos aplicando uma
carga aparente q
a
igual a V
a
. C
c
que corresponder a um
certo nmero de divises Dp. Em seguida, sem mais alterar
o amplificador do instrumento de medio, aplica-se em
srie um mesmo sinal de tenso V
s
= V
a
e se registra o
nmero de divises D
s
correspondente. Assim, a carga srie
q
s
calibrada para um determinado circuito ser dada por q
a
.
D
s
/ D
p
. Essa carga srie aplicada no circuito fixa. Se, a
partir da, alterarmos os valores de C
k
ou C
i
, tem-se que
recalibrar o circuito, considerando-se fixa a carga srie qs
injetada e reavaliando-se o valor de D
s
correspondente.
Quando C
i
for muito elevado verifica-se que q
cp
reduz-se
substancialmente, e q
cs
, ao contrrio, aumenta. Dessa forma
torna-se incorreto comparar q
cp
com q
cs
pois, conforme
visto, a calibrao paralela no ser mais representativa para
descargas tipo srie. A maneira mais adequada de se fazer a
calibrao srie nessas condies acrescentar um capacitor
auxiliar C
aux
em srie com C
i
de tal forma a se poder fazer a
calibrao paralela de forma representativa.
Executa-se ento o procedimento acima descrito e aps
retira-se C
aux
e calibra-se em srie o circuito real de ensaio.
Para se obterem os resultados experimentais, foi considerado
na calibrao srie, o circuito de ensaio com C
k
= 2 nF, C
i
=
0,5 nF e Z
m
em srie com C
k
. Os demais parmetros foram
C
c
= 150 pF e V
a
= V
s
= 0,987 V Tem-se ento q
a
= 148
pC. Na calibrao em paralelo registrou-se D
p
= 6,3
divises. Na calibrao em srie registrou-se D
s
= 23
divises. Logo, a carga de calibrao em srie q
s
= 540 pC.
Por meio de clculo, considerando inclusive a capacitncia
C
c
, encontramos q
s
= 530 pC o que um resultado
satisfatrio.
O conjunto das medies realizadas via calibrao srie se
encontram na tabela 4, da qual pode-se concluir que:

- A calibrao em srie no vlida para a ocorrncia de
descargas corona em relao terra, sendo no entanto
aplicvel quando C
i
for muito pequeno e estando a
impedncia de medio em srie com C
k
.


6

- As medies de micro-descargas srie foram adequadas, e
acompanharam de forma excelente os resultados obtidos
por meio de calibrao calculada (tabela 3-b).

- As diferenas devido ao posicionamento de Z
m
se deve aos
mesmos motivos descritos no item 5.1., visto que a
medio com base em nmero de divises foi a mesma em
ambos os casos.

Tabela 4 - DP medidas por meio de calibrao srie
Z
m
em srie com C
k
Z
m
em srie com C
i

C
k
C
i
(nF) C
i
(nF)
(nF) 0,5 2,5 0,5 2,5
0,6 83 15 54 64
(a) 1,0 83 14 38 42
2,0 83 16 14 22
0,6 27 33 21 23
(b) 1,0 30 32 21 24
2,0 31 31 19 19
(a) Descarga corona em relao ao terra (em paralelo)
(b) Micro-descarga srie


Em resumo, o mtodo de calibrao em srie apresenta
resultados realistas para o caso de descargas srie, podendo
ser aplicado para quaisquer valores de capacitncia do
equipamento sob ensaio.
5. COMENTRIOS E CONCLUSES

O circuito eltrico bsico que representa uma DP pode ser
considerado sob o ponto de vista apenas conceitual, ou seja,
para fins de entendimento do que seja uma DP, das
grandezas medidas, das energias envolvidas, das definies
normativas, etc. Esse circuito s representa adequadamente
o comportamento de uma DP que ocorre no interior de um
material dieltrico singelo que esteja submetido a um campo
eltrico uniforme.
Os equipamentos, na grande maioria dos casos possuem seus
dieltricos imersos em campos eltricos no uniformes o que
inviabiliza o uso direto, para fins de anlise das DP, do
circuito eltrico bsico.
Nesse caso pode-se elaborar um circuito eltrico mais
representativo acrescentando um resistor R em paralelo com
a cavidade (ou bolha) e obter uma funo C
c
(x) que
caracterize uma capacitncia equivalente dessa cavidade
relacionada a uma capacidade de carga varivel, nos
diversos pontos do dieltrico.
Tem-se verificado em muitos casos, que a medio de Dp
por processos convencionais normalizados, no apresenta
resultados compatveis com a realidade em casos nos quais a
impedncia de medio est em srie com o equipamento
sob ensaio ou quando este ltimo apresenta valores de
capacitncia significativos. Surgiram ento os
questionamentos sobre os mtodos de calibrao e as
caractersticas das DP geradas; Foi visto que essas descargas
podem circular em paralelo ou em srie com o equipamento
sob ensaio, e que, para cada uma dessas condies, os
procedimentos de calibrao devem ser adequados.
As denominaes de descargas em paralelo e descargas srie
devem ser consideradas de forma cautelosa uma vez que, em
condies reais, o retorno dos pulsos de corrente devido s
DP pode se dar em parte diretamente para os pontos de terra
locais. O que se ressalta a importncia de se saber os
provveis locais de ocorrncia das descargas e seu
comportamento tpico nos circuitos de ensaio para fins de se
fazer a calibrao convenientemente.
As DP (tanto em paralelo quanto srie) somente podem ser
medidas corretamente na metodologia convencional se a
impedncia de medio estiver em srie com o capacitor de
acoplamento C
k
e tendo-se as condies C
k
>> C
i
e C
c
<< C
i

+ C
k
. Alm disso, C
i
no pode ter valores muito elevados.
O fato de no se poder quantificar DP em paralelo quando
tem-se a impedncia de medio em srie com C
i
, explica-se
at mesmo pela prpria definio de carga aparente que
funo de uma queda de tenso nos terminais do objeto sob
ensaio; Ora, qualquer condio de calibrao em paralelo a
C
i
no conseguir representar descargas de retorno pelo
terra, visto serem situaes diferentes. Na verdade, nessas
condies, a prpria definio de carga aparente no
aplicvel.
Os problemas de medio so minimizados em muitos casos
porque a grande maioria das amostras e equipamentos
possuem capacitncia pequena e, na maioria das vezes,
mais comum utilizar-se a impedncia de medio em srie
com C
k
. No mais, os nveis de DP normalmente exigidos por
norma so muito pequenos ( < 10 pC) e no esto
diretamente relacionados com uma eventual falha do
equipamento a curto prazo.
Por definio, os circuitos de medio balanceados no
convm para medio de DP tipicamente em paralelo, se
essas provierem do lado de alta tenso.
As DP internas a um equipamento blindado so sempre do
tipo srie e, para tais equipamentos, deve ser realizado um
processo de calibrao experimental diferente do mtodo
convencional. O procedimento de calibrao elaborado para
descargas tipo srie foi eficiente para quaisquer circuitos de
ensaio (inclusive balanceado) e quaisquer valores de C
k
ou
C
i
, tendo sido comprovado pelo clculo dos fatores de
atenuao dos circuitos e simulaes computacionais
variadas.
A atual tendncia de se fazer o registro de padres de DP ,
mapa etc, justifica.........

6. BIBLIOGRAFIA

[1] IEC 270, Partial Discharge Measurements; Draft Sep/96.
[2] Mole, G.; Basic Characteristics of Corona Detector
Calibrators; IEEE Trans on PAS; Vol 89, No 2, Feb/1970