MONTOYA MARTINEZ MARCO LEOPOLDO

PRACTICA DE INTERPRETACION DE RAYOS X

LABORATORIO DE ESTADO SOLIDO

- INTRODUCCIN Y FUNDAMENTOS

La difraccin de rayos-X de polvos es una de las tcnicas ms verstiles y tiles
para el anlisis de materiales slidos, especficamente, slidos cristalinos. Basada
en la
Ley de Bragg de interferencia de ondas, permite encontrar la distancia interplanar
en muestras cristalinas, y con ello, deducir su estructura interna. Es un mtodo
estadstico, en el cul se cuentan las interferencias constructivas dadas por las
interacciones de los rayos-X con la muestra, entre ms cuentas se tengan, se
tiene una mayor cantidad de datos representativos y estadsticamente vlidos.

La ley de Bragg enuncia que para un sistema donde pueda existir interferencia
constructiva de ondas, la diferencia de fase entre stas debe ser mltiplo de 2. La
diferencia de camino ptico (la distancia interplanar) da el ngulo en el cual se
detecta esta interferencia constructiva (figura 1). Con esto, se tiene la siguiente
ecuacin que resume esta ley:


Cuando se detecta una interferencia constructiva, se obtiene en el instrumento
(llamado comnmente difractmetro) un pico queindica a qu ngulo se tiene
dicha interferencia, y la intensidad relativa de la misma. Dichas seales en forma
de picos se leen en un difractograma donde de grafica en las abscisas a 2 (se
grafica el doble debido al arreglo geomtrico del instrumento) y en las ordenadas a
la intensidad de la seal (altura relativa del pico). En la figura 2 hay un ejemplo.
Para la interpretacin del difractograma y posterior identificacin de la muestra,
se utiliza el mtodo de Hanawalt:se mide la altura del pico caracterstico (o ms
alto), se mide elngulo (que usualmente se reporta como 2, el cual seconvierte a
) en el que se est la punta de dicho pico, posteriormente, se hace lo mismo con
los dems picos, a loscuales se le calcula una intensidad relativa (siendo 100 % la
altura del pico caracterstico). Posteriormente, utilizando la ley de Bragg,
determina la distancia interplanar. Con stos valores de distancias interplanares
de cada pico, se buscan entablas de Hanawalt, donde vienen reportados los seis a
ocho primeros picos ms intensos para un determinado compuesto o estructura
cristalina y el nmero respectivo de cartacristalogrfica, y se buscan los que
mejor coincidan. Si los picostienen intensidades similares, estos pueden permutar,
MONTOYA MARTINEZ MARCO LEOPOLDO
PRACTICA DE INTERPRETACION DE RAYOS X
LABORATORIO DE ESTADO SOLIDO
ya que usualmente se tiene un pequeo error de desplazamiento al graficar el
difractograma usando polgrafo y papel reticulado.
En la carta cristalogrfica, se reportan todos los datos acerca de la estructura:
ngulos de difraccin, distancias interplanares, los respectivos ndices de Miller
donde difracta la estructura, intensidad de los picos, parmetros de red, densidad,
tipo de red de Bravais, polimorfo especfico del material, grupo puntual de simetra,
frmula, unidades frmula por celda unitaria (z) y masa molar, por lo general,
aunque puede contener an ms datos. Dichas cartas, se encuentran ya
indexadas en bases de datos, donde se les asigna un nmero de 6 a 7 dgitos
para identificarlas. Existen las obtenidas experimentalmente que son las ms
utilizadas, y las calculadas, utilizando clculos tericos.
Los planos cristalogrficos donde difracta el rayo, se designan con ndices de
Miller, en cada tipo de plano (hkl) se tiene una distancia interplanar distinta; no
obstante, al ser el mismo material, se debe tener haces coherentes, y por tanto, no
importando el plano en que se haya difractado dado por el ndice (hkl) y para
cada plano se tiene un ngulo distinto, los parmetros de la red deben ser los
mismos, sin importar el plano.
Sabiendo la secuencia de los planos que difractan, es posible determinar la
estructura (celdas tipo: P, I o F) (tabla 1), y con stos, los parmetros de red.


De igual forma, empricamente, se sabe que si el cociente de dos ndices de Miller
(en forma de suma: (h2 + k2 + l2), siempre el de menor suma entre el de mayor
suma) es de alrededor de 0.5, se trata de una celda tipo I, si se encuentra cercano
a 0.75, se tratar entonces de una celda tipo F.
Con las siguientes ecuaciones, se pueden obtener los parmetros de red,
dependiendo del sistema cristalino del que se trate:

MONTOYA MARTINEZ MARCO LEOPOLDO
PRACTICA DE INTERPRETACION DE RAYOS X
LABORATORIO DE ESTADO SOLIDO

Para el sistema triclnico, se suele resolver o analizar de forma numrica.
Durante sta prctica, adems de la lectura del difractograma e interpretacin por
mtodo de Hanawalt, se realiz una visita al departamento de estructuras de
rayos-X del Instituto de Investigacin en Materiales (IIM-UNAM) para conocer los
distintos equipos que se utilizan para el trabajo rutinario de anlisis de slidos
cristalinos y su funcionamiento.