PTICA NO LINEAL FOTORREFRACTIVA EN EL

RECONOCIMIENTO DE PATRONES
Jorge Enrique Rueda Parada
Grupo de Investigacin ptica Moderna
Universidad de Pamplona, Pamplona, Colombia, A.A.1046 Vicerrectora de Investigaciones
jruedap2003@unipamplona.edu.co
Resumen. La ptica no lineal estudia la interaccin de la luz y la materia, cuando el material responde no
linealmente a la amplitud de un campo elctrico. La propagacin de los haces de luz en un medio se determina
por el ndice de refraccin. Si el ndice de refraccin del medio se puede controlar con la iluminacin de un haz
de luz, entonces la propagacin de un haz de luz se puede manipular con otro haz de luz. Esto lleva a una gran
variedad de innovacin tecnolgica basada en control de luz por la misma luz. De otro lado, en ptica lineal el
ndice de refraccin n es una constante dependiendo de la frecuencia de la luz; luego slo en este caso, la
reflexin y refraccin son independientes de la intensidad del haz de luz. El efecto fotorrefractivo es un
fenmeno ptico no lineal, pero los fenmenos no lineales por efecto fotorrefractivo no son causados
directamente por el campo electromagntico de la luz que perturba el material, como si sucede en los materiales
no lineales puros, esta especial caracterstica de los materiales fotorrefractivos permite generar efectos de orden
superior con intensidades de la radiacin electromagntica relativamente bajas, p.e. 1mW/cm
2
.
A la par con el descubrimiento del fenmeno fotorrefractivo, ao 1966 por Ashkin et al, quienes estudiaban las
propiedades electro-pticas de cristales ferroelctricos, tambin se han venido estudiando sus potenciales
aplicaciones, entre ellas, registro de hologramas dinmicos; en esta aplicacin ocurre acoplamiento de energa
entre los haces de registro, como tambin entre el haz de lectura y el haz difractado; ello se conoce como mezcla
de ondas. El efecto de acoplamiento entre haces, ha permitido el desarrollo de aplicaciones en ptica
computacional, almacenamiento de informacin, procesado de imgenes, interconexin ptica, redes neuronales,
generacin de armnicos, dispersin Raman y Brillouin, auto-enfoque, amplificacin ptica, conjugacin de
fase, sntesis ptica de circuitos lgicos, acopladores, multiplexado de informacin, modulares ptico-
electrnicos, metrologa ptica de alta resolucin y correladores para reconocimiento de patrones, tema central
de la discusin, entre otras aplicaciones. Algunas de las ventajas de los medios fotorrefractivos, respecto a los
medios convencionales, que amerita resaltar son la alta capacidad de almacenamiento, en teora, un cristal de
LiNbO
3
de 1 cm
3
puede almacenar 1.55x10
15
hologramas, permiten el borrado o fijado de la informacin, y
presentan alta sensibilidad, hacindolos apropiados para aplicaciones en tiempo real.
Palabras Claves. Optica no lineal Fotorrefractiva; Correlacion Optica; Efecto Talbot; Transformada de Fourier
Fraccionaria.
1. INTRODUCCION
La linealidad o no linealidad es una propiedad del
medio a travs del cual viaja la luz. La no linealidad
es un comportamiento no exhibido cuando la luz
viaja en el espacio libre, as que, la Luz interacta
con luz debido a un medio material. La presencia
de un campo ptico modifica las propiedades del
medio, el cual a su vez, modifica otro campo ptico
o el mismo campo original. La relacin entre el
vector densidad de polarizacin P(r, t) y el vector
campo elctrico E(r, t) define fsicamente el
sistema y se gobierna por las caractersticas del
medio; el medio se dice ser no-lineal si esta
relacin es no lineal.
En la teora electromagntica, la respuesta del
material a la iluminacin de luz es descrita por la
ecuacin siguiente:
, ) , ) , )
...
3
0
2
0
1
0
+ + + EEE EE E P
(1)
donde P es la polarizacin inducida del medio,
0
es
la constante dielctrica del vaco. E es el campo
elctrico de la luz y
(1)
,
(2)
y
(3)
son constantes.
La ptica lineal esta descrita por
(1)
la cual est
relacionada con el ndice de refraccin:
, ) 1 2
1 + n (2)
La respuesta ptica no lineal del medio
caracterizado por los parmetros
(2)
y
(3)
da lugar
a numerosos fenmenos y aplicaciones interesantes.
El trmino de segundo orden
(2)
EE es responsable
del doblado de frecuencia de una onda
monocromtica (generacin del segundo
armnico), el mezclado de dos ondas
monocromticas genera una tercera onda cuya
frecuencia es la suma o diferencia de frecuencias de
las ondas originales (conversin de frecuencia), el
uso de dos ondas para amplificar una tercera onda
(amplificacin), y la adicin de retroalimentacin
de un amplificador paramtrico para crear un
oscilador. El trmino de tercer orden
(3)
EEE es
responsable de fenmenos diversos como
generacin de tercer armnico, mezclado de cuatro
ondas, dispersin Raman y Brillouin, auto-enfoque,
amplificacin ptica y conjugacin de fase.
Para intensidades bajas de luz, los trminos de
orden superior son muy pequeos, as la ptica se
describe adecuadamente solo por el primer trmino

(1)
E. El segundo trmino se puede considerar
como una modificacin del primer trmino por:
, ) , )
E
2 1
(3)
Para un medio ptico tpico,
(1)
es del orden de 1.
Para luz de intensidad ordinaria similar a la luz
solar a nivel del mar, el campo elctrico de la luz es
del orden de 10V/cm y
(1)
es del orden de 10
-8
-
10
-10
. Para haces lser con potencia moderada, el
campo elctrico asociado es comparable a un
campo elctrico interatmico de cerca de 10x10
6
V/cm. La iluminacin de materiales apropiados por
tal haz lser induce un cambio significante del
ndice de refraccin lo que puede afectar la
propagacin del haz de luz.
Antes de 1961, muchas propiedades pticas no
lineales en la materia no fueron descubiertos. Las
investigaciones mostraban que la transmisin,
reflexin, y refraccin de luz en materiales
transparentes no eran afectadas por la intensidad de
la luz ni por la presencia de otro haz. Este es el
rgimen de la ptica lineal y se aplica el principio
de superposicin. As en el rgimen de la ptica
lineal, la intensidad de salida de la luz es siempre
proporcional a la intensidad de entrada y la
frecuencia de salida es siempre igual a la luz de
entrada en al base de la estructura del material. El
fenmeno de ptica no lineal refuta las anteriores
conclusiones, dando las herramientas para
manipular u controlar la frecuencia e intensidad de
un haz lser, y por lo tanto abre un nuevo y amplio
dominio de aplicaciones pticas.
La razn para las interpretaciones lineales de la luz
fue que antes de crear un haz de luz coherente no
poda obtenerse un efecto no lineal razonable: slo
con el primer lser fue posible detectar evidencia
significativa del fenmeno no lineal. En 1961, un
experimento de generacin del segundo armnico
da la primera confirmacin experimental de la
teora no lineal. Un lser de rub con una longitud
de onda de 0.6943 m fue enfocado frente a una
superficie de una lmina cristalina de cuarzo. La
radiacin emergente fue examinada con el
espectrmetro y se encontr que contena radiacin
de dos veces la frecuencia de entrada (es decir,
longitud de onda igual a 0.34715 m).
Por otro lado, en 1966 se descubre el efecto
fotorrefractivo, y con l la ptica no lineal con
bajas intensidades de luz, este es un fenmeno en el
cual el ndice local de refraccin se cambia por la
variacin espacial de la intensidad de luz. Cuando
el cristal se ilumina con radiacin electromagntica
espacialmente no homognea, existe la
probabilidad de que algunos electrones sufran
transiciones a la banda de conduccin. As, se crea
una distribucin de carga espacial y por ende un
campo de carga espacial. Tal campo induce un
cambio de ndice de refraccin por efecto Pockels.
Entonces es posible registrar un holograma por la
interferencia de dos haces en el medio
fotorrefractivo; el holograma o red de ndices se
puede borrar iluminando el holograma con luz. Los
materiales tales como LiNbO
3
, BaTiO
3
, SBN, BSO,
son medios muy eficientes para la generacin de
conjugacin de fase y holografa en tiempo real
usando niveles de intensidad relativamente bajos
(1W/cm
2
). Los siguientes cinco grupos de
materiales tienen tales caractersticas
fotorrefractivas: Ferroelctricos (LiNbO
3
, LiTa O
3
,
BaTiO
3
, KNbO
3
, SBN), Silenitas (Bi
12
SiO
20
(BSO),
Bi
12
GeO
20
(BGO), Bi
12
TiO
20
(BTO)),
Semiconductores (GaAs:Cr, InP:Fe, CdTe), y
Cermicas piezoelctricas (tipo PLZT), Orgnicos
(poly(N-vinylcarbazole) o PVK, poly(silane)).
El acoplamiento de haces, conocido como mezcla
de ondas, ocurre naturalmente en un medio
fotorrefractivo, haciendo de estos materiales
potencialmente importantes para holografa en
tiempo real. Cuando se superponen dos haces de
radiacin coherente en un medio fotorrefractivo, se
forma una red de ndices estacionaria. Esta red de
ndices est corrida espacialmente /2 respecto al
patrn de intensidad resultado de la superposicin
de los haces. Tal corrimiento espacial de fase, que
tambin se puede manipular, permite una
transferencia de energa no reciproca cuando se
propagan estos dos haces a travs del medio. La
propiedad nica de transferencia de energa no
reciproca se puede utilizar en aplicaciones tales
como resonadores fotorrefractivos, ventana de
transmisin no recproca, elementos influyentes
para giroscopio lser, conjugadores de fase,
interconexin ptica, redes neuronales,
interferometra de fase conjugada, etc. La respuesta
de un material fotorrefractivo, del grupo silenitas,
tiene la siguiente forma(Mills, 1998):

+
jk
k j ijk
j
j ij i
E E E P
~
! 2
1 ~ ) 2 ( ) 1 ( ; (4)
donde, P
j
es la polarizacin elctrica del material,
E
k
es una componente de campo de carga elctrica
aplicado o interno (E
sc
: campo de carga espacial,
generado por la radiacin electromagntica que
perturba el material) y E
j
la componente elctrica
del campo ptico;
) 1 (

y
) 2 (

son la susceptibilidad
elctrica lineal y no lineal, respectivamente. As, el
fenmeno responsable de la no-linealidad del
material es el efecto electro-ptico Pockels; en cuyo
caso, la contribucin a la no-linealidad se debe a la
presencia de componentes de campo de carga
elctrica E
k
. Por otro lado, el efecto electro-ptico,
asociado al fenmeno fotorrefractivo, es causado
por el campo elctrico de carga espacial, el cual se
genera por interaccin de la radiacin
electromagntica con el material.
De otro lado, la respuesta local de un material
fotorrefractivo est relacionada con el
comportamiento del campo de carga espacial y
ndice de modulacin m(x,y) de la distribucin de
intensidad sobre el material fotorrefractivo. El
mtodo ms usado para el estudio del efecto
fotorrefractivo es la tcnica hologrfica, aunque
experimentalmente puede ser el ms complicado.
Consiste en iluminar el material activo con un
sistema de franjas de interferencia producido por
dos haces coherentes.
La tcnica hologrfica considera dos posibles
configuraciones: la geometra de transmisin y la
de reflexin. En la primera ambos haces inciden por
la misma cara del cristal fotorrefractivo, mientras
que en el segundo caso, cada haz incide por una de
las caras opuestas entre s. En algunos resultados
que se muestran en este artculo, se aplica la
configuracin por transmisin.
A continuacin, se describen las condiciones
geomtricas para el registro y la lectura de una red
elemental, y las expresiones para la eficiencia de
difraccin.
En este sentido, existen dos modelos tericos sobre
el efecto fotorrefractivo, un primer modelo fue
presentado por Kukhtarev et al.; este modelo
predice que la respuesta del campo de carga
espacial a la modulacin de la distribucin de
intensidad es lineal. El otro modelo fotorrefractivo
es el modelo de Moharam et al., este modelo
permite demostrar que el modelo lineal de Kuktarev
solo es vlido para modulaciones dentro del
intervalo 4 . 0 m . El modelo de Moharam
muestra tambin, que para valores del ndice de
modulacin dentro del intervalo 1 4 . 0 < m la
respuesta del campo de carga espacial es no lineal.
1.1 Formulacin del efecto fotorrefractivo
El modelo consiste, bsicamente, de cuatro
ecuaciones, las cuales representan:
, ) j [ x K m z I z x I
w
w
o
+

,
_

cos 1
cos
exp ) , (
, (5)
la intensidad del patrn de luz, donde son
parmetros del material el coeficiente de absorcin

w
, el espesor z atravesado por la luz y el ancho del
cristal x; m es la modulacin espacial, K es el
mdulo del vector de onda del patrn de
interferencia en el interior del material, e I
o
es la
intensidad mxima del patrn I(x,y); 2
w
es el
ngulo que forman entre s los haces que generan
tal patrn de interferencia. La accin del patrn de
intensidad sobre las propiedades fsicas del medio
fotorrefractivo, est representada en las
denominadas ecuaciones del material o modelo de
Kukhtarev:
1
]
1

+ +

Lx
V
t x E t x n e
x
t x n
D e t x J
sc
) , ( ) , (
) , (
) , (
; (6)
Esta primera representa la densidad de corriente,
donde D es la constante de difusin; V el voltaje
aplicado; L
x
el ancho del cristal; n(x,t)= n
D
+ n
L
(x,t),
siendo n
D
la concentracin de portadores libres en
la oscuridad y n
L
la concentracin portadores libres
por foto-excitacin. El primer trmino de la Ec.(6),
es la densidad de corriente por difusin y el
segundo es la contribucin por drift. La generacin
de portadores,
x
t x J
e
n t x n
x g
t
t x n
e
D

) , ( 1
) , (
) (
) , (
; (7)
donde
o
o
I
x I
g x g
) (
) (
es la rata de generacin de
portadores libres, siendo
e
o
o
I
g

h
, el
coeficiente de absorcin, h la energa de un
fotn y
e
la eficiencia cuntica de generacin de
un electrn por foto-excitacin. Finalmente, el
campo elctrico de carga espacial es,
) ( ) , (
1
) , (
0
t G dt t x J t x E
t
s
sc
+

; (8)
donde G(x) se determina usando la condicin de
frontera
V dx t x E
Lx
V
Lx
sc

,
_

0
) , (
; la solucin de las
Ec.(6)-Ec.(8) se puede obtener, aplicando dicha
condicin de frontera y la condicin inicial
E
sc
(x,0)=0. En la prctica, es de inters conocer la
solucin del modelo para el estado saturado del
campo elctrico de carga total; esta solucin se
obtiene teniendo en cuenta que en el estado
saturado la densidad de corriente es constante, es
decir que
0

t
n , entonces, s se aplica esta
condicin en la Ec.(7), se obtiene que la densidad
de portadores generados es
) ( ) ( x g n x n
e
D
+
; se
reemplaza la densidad de portadores en la ecuacin
Ec.(6) para obtener la densidad de corriente, y con
ella, mediante la Ec.(8) y la condicin de frontera
dada para el E
sc
, finalmente el resultado es la
expresin para el campo de carga espacial en el
estado estacionario, cuyo valor efectivo viene dado
por la siguiente expresin:
m
m
M E E M E
D o
e
sc
1 1
;
2
2 2

+
; (9)
donde M se conoce como la modulacin reducida.
Siempre la solucin del modelo debe conducir a la
determinacin del campo de carga espacial, pues
mediante este el la respuesta del material
fotorrefractivo queda definido.
Desde el punto de vista fsico, reducir las
ecuaciones del material a su forma lineal, implica
despreciar los armnicos de orden superior de la
red fotoinducida; experimentalmente, la respuesta
lineal se logra manipulando la modulacin del
patrn de intensidad, tal que m<0.4; en estas
condiciones la red fotorrefractiva ser de perfil
sinusoidal puro y por lo tanto no existirn
componentes armnicas de la red. Por otro lado,
cuando la modulacin es tal que m>0.4, las
ecuaciones del material son no-lineales; entonces
las componentes armnicas no son despreciables.
En la prctica, la red de ndice generada en un
medio fotorrefractivo por el patrn sinusoidal que
representa la Ec.(5), no es sinusoidal pura, como
consecuencia, en parte, de las dimensiones finitas
del medio; fsicamente esto implica que las
variables fsicas involucradas en el modelo, p.e. el
campo E, no siguen la variacin del patrn de luz;
entonces la respuesta del material es no-lineal;
dicho de otra forma, en el proceso de lectura de la
red se observar componentes armnicas de
difraccin de orden superior, donde cada
componente se produce en un ngulo de incidencia
regido por la ley de conservacin del momentum-
Bragg. En la correlacin ptica basada en medios
fotorrefractivos, esta no linealidad es de inters
tcnico, pues con la manipulacin de la misma se
puede controlar el desempeo del correlador.
1.2 Tcnica hologrfica fotorrefractiva
Antes de entrar en detalle en la implementacin de
correladores, es necesario abordar la tcnica
hologrfica fotorrefractiva. En este sentido, a
continuacin se presenta un estudio sobre la
holografa por transmisin, en la aproximacin
estado estable del registro; adems, se asume un
acople dbil entre los haces que interactan durante
el proceso de registro y lectura del holograma, en
otras palabras se desprecia la transferencia de
energa entre los haces pticos externos, es decir se
considera que la respuesta del medio fotorrefractivo
es lineal.
En la Fig.1 se muestra el arreglo clsico de la
tcnica hologrfica por transmisin, y el cual se usa
para registrar una red de volumen:
Figura 1. Arreglo hologrfico por transmisin. CD:
cubo divisor; M
1,2,3
: espejos; L
w
: fuente lser de
escritura; L
R
: fuente lser de lectura.
En el estado estable y con efectos de acople dbil,
las amplitudes de las ondas planas
r
y
o

, que
provienen del lser de registro L
w
de longitud de
onda
w
, interfieren en el material fotorrefractivo
para producir una red de fase, cuyo ndice de
modulacin complejo viene dado por la siguiente
expresin
[9]
,
, )
j [ , ) , ) j [
Rw z R R w o r
w o r
z L I z I I
z
z y x m
+ +

exp exp
exp 2
) , , (
*
;
(9)
donde I
r
e I
o
son las intensidades de las ondas
r
y
o

, respectivamente. El parmetro I
R
representa
la intensidad de la onda plana
R

, la cual proviene
del lser de lectura L
R
de longitud de onda
R
;
w

y
R

son los coeficientes de absorcin del

material de registro para
w

y
R
,
respectivamente. El parmetro L
z
es el espesor del
material y
Rw
es la eficiencia cuntica relativa de
foto-generacin de portadores de carga del haz de
lectura, con respecto a la eficiencia cuntica de la
radicacin de registro; para el caso particular de un
cristal de BSO,
Rw
=0.0625, para
w

=514 nm y
R
=633 nm. La red de fase o red de ndices foto-
inducida en el material, se puede representar de la
siguiente forma:
. . ) exp( ) exp(
2
c c x iK i
n
n
g
+

, (10)
donde
w
w o
g
n
K

sin 4
, siendo n
o
el ndice de
refraccin correspondiente a la radiacin que
induce la red; n es la birrefringencia inducida por
efecto electro-ptico lineal, la cual depende de la
configuracin del corte cristalogrfico de medio
fotorrefractivo; p.e. para la configuracin
transversal, caras del cristal paralelas a los planos
cristalogrficos
, ) 10 1
,
, ) 110
y
, ) 100
; y con la luz
propagndose en la direccin
j [ 10 1
, entonces la
birrefringencia inducida viene dada por:
e
sc e o
E n n
3
2
1
; (11)
donde
e
es el coeficiente electro-ptico efectivo;
E
sc
es el campo de carga espacial efectivo y tiene la
forma dada a partir de los modelos de Kukhtarev y
Moharam, analizados anteriormente. El parmetro
es el corrimiento de fase entre el patrn de
interferencia y la red foto-inducida; este trmino de
fase, para el caso de materiales fotorrefractivos
para-elctricos viene dado por:
1
]
1

o
D
E
E
1
tan
; (12)
de esta expresin podemos inferir, por un lado, que
el corrimiento se puede manipular con el campo
aplicado al cristal y por el otro lado, que cuando la
red se genera, exclusivamente, bajo el mecanismo
de difusin, entonces el corrimiento es de /2. Este
comportamiento del fenmeno fotorrefractivo cobra
real importancia en el amplificador de seales
pticas, especficamente en el problema de
optimizacin de la eficiencia de dicho proceso.
1.3 Reconstruccin de los haces de registro
De acuerdo con la Fig.1, la lectura del holograma se
realiza mediante la onda
R
, la cual puede, o no,
tener la misma longitud de onda que la radiacin
del lser de escritura. Por otro lado, debido a que la
red es de volumen, la reconstruccin de alguno de
los haces de registro est sujeta a la condicin de
Bragg ( ver Fig.2.a) ), la cual exige la conservacin
del momentum; una forma de representar esta ley es
la siguiente:
g
i
R
i
d
K k k
r r r
+
*
; (13)
donde
i
R
i
R
i
d
k k / 2 , siendo i
d
k
r
el vector de
onda del haz difractado o haz reconstruido y
i
R
k
r
es
el vector de onda del haz de lectura. Esta ley
establece, que el haz difractado se observar,
nicamente, si el ngulo de incidencia del haz de
lectura es igual al ngulo de Bragg,

,
_

g
i
R
B
K
2
sin
1
; (14)
*
i : interior del material.
a). Reconstruccin on-
Bragg.
b). Reconstruccin off-
Bragg.
Figura 2. Condicin de Bragg en la esfera de
Edwald, para la geometra de transmisin.
Cabe recordar, que esta ley se formul para una red
de longitud infinita. Sin embargo, en la situacin
real esta ley se viola, pues la red es de longitud
finita; entonces la difraccin se produce dentro de
un intervalo angular
B
, denominado off-Bragg.
Este caso, tiene la particularidad de que la
eficiencia de difraccin se hace mxima en
R
=
B
y
se apantalla en la medida que el ngulo del haz de
lectura se desve de
B
. La condicin de Bragg se
esquematiza en la Fig.2.a) usando el diagrama de la
esfera de Edwald. Tal comportamiento de las redes
de volumen, de extensin finita, fue establecido por
Kogelnik en 1969, mediante el modelo de ondas
acopladas.
Cuando la longitud de onda del haz de lectura es
diferente a la de los haces de registro, entonces el
ngulo de lectura tambin se puede calcular
mediante la siguiente relacin:
w
R
w
R

sin
sin
(15)
Puestas las condiciones, propias del registro de
volumen para la reconstruccin de uno de los haces
de escritura, entonces la amplitud total que emerge
del cristal, debida a la onda de lectura
R
, se
puede representar mediante la siguiente ecuacin:

'

,
_

,
_

,
_

R R
z
R
R R
z
R
R
z R
Cos
L n
i
Cos
L n
Cos
L
sin cos
2
exp
;
(16)
donde el trmino real representa la onda de lectura
despus de atravesar la red y el trmino imaginario
es el haz generado fuera del cristal por efecto de la
difraccin del haz de lectura, el cual es la
reconstruccin de uno de los haces de escritura;
segn la Fig.1, el haz difractado corresponde a la
reconstruccin de
o

.
1.4 Eficiencia de difraccin on-Bragg
Del trmino imaginario de la anterior ecuacin se
puede definir la eficiencia de difraccin
considerando que
R
=
B
, una interaccin dbil del
haz de lectura sobre el medio fotorrefractivo y una
eficiencia de difraccin muy baja, entonces:
2 2
2
exp

,
_

,
_

R R
z
R
z R
R
d
Cos
L n
Cos
L
I
I
;
(17)
donde I
d
es la intensidad del haz difractado
d

.
1.5 Eficiencia de difraccin off-Bragg
La teora de ondas acopladas proporciona la
siguiente expresin para la eficiencia de difraccin
de una red finita:

,
_

4
sin
4
2
2 2
2
2
2
B
z
B
k
L
k
;
n
n
n
B R R
R

2 2
sin
(18)- (19)
donde es la constante de acoplamiento; siendo n
R
y
B
el ndice de refraccin y el ngulo de Bragg,
respectivamente, para la longitud de onda
R
. La
magnitud del parmetro off-Bragg viene dado por la
siguiente ecuacin:
, )
B
B R R
B
B
n
k



2 2
sin
2 sin 2 ; (20)
2. CORRELADORES OPTICOS
FOTORREFRACTIVOS
El procesamiento de seales mediante la
correlacin ptica y/o digital, aun hoy ocupa un
nivel importante como propuesta solucin al
problema de reconocimiento de formas, de
verificacin de identidad, localizacin o como
herramienta de control de posicin. El problema se
idealiza bajo los parmetros: fidelidad del 100% en
la identificacin, respuesta en tiempo real, cero
requerimientos de estabilidad del sistema,
inmunidad del 100% a los cambios de contraste de
la escena donde se encuentra el objetivo, varianza
controlable (invariante-variante) a los cambios de
escala, los cambios de posicin angular y/o
traslaciones del objetivo; factores que son
inherentes a los objetos reales.
La implementacin ptica del correlador est ligada
a las propiedades de la transformada de Fourier; el
principio del proceso es un filtrado ptico a nivel
del plano espectral, seguido de una transformacin
de Fourier. La industria, la medicina, la seguridad
y el campo militar, son algunas reas de accin del
procesamiento de seales mediante el uso del
correlador. En tales reas, algunas aplicaciones
exigen tratar grandes volmenes de informacin en
tiempo real; es aqu, donde el paralelismo del
procesado de seales cobra real importancia y
donde los materiales fotorrefractivos son una
alternativa interesante.
Hoy por hoy, el fenmeno fotorrefractivo contina
en vigencia, deducible de los continuos aportes
registrados en los diferentes medios de
comunicaciones cientficas. Entre los tantos
trabajos, que involucran materiales fotorrefractivos,
se encuentra la implementacin de correladores
pticos. En este sentido, se muestran los resultados
de investigacin correspondientes a la
implementacin de arreglos de correlacin y la
caracterizacin de los mismos. El contexto
conceptual, base de la investigacin, utilizado para
la implementacin e interpretacin de la correlacin
ptica es el efecto fotorrefractivo y la transformada
de Fourier fraccionaria.
Un vistazo minucioso y retrospectivo, sobre los
registros relacionados con la correlacin ptica
basada en materiales fotorrefractivos, nos conduce
al primer informe publicado en la revista Applied
Optics/1975 por Peter Nisenson y Robert A.
Sprague. Este es un trabajo experimental en el cual
se diserta sobre las caractersticas entre un Joint
Transform Correlator (JTC) y un Vander Lugt
Correlator (VLC), en las dos configuraciones se
utiliza un cristal fotorrefractivo de BSO como
medio de registro ubicado sobre el plano espectral.
Sin quitarle mrito alguno, a ninguno de los
trabajos que aqu se omita mencionar, los
referenciados contienen los aspectos revelantes que
sirven de ilustracin y de base para abordar la
correlacin ptica en el ambiente de la ptica no
lineal fotorrefractiva.
M. Pepper, J. Au Yeung, D. Fakete y Yariv (1978)
proponen un correlador ptico basado en un
mezclado de cuatro ondas degenerado. Mas tarde
Jeffrey O. White y Amnon Yariv (1980) son los
primeros en reportar la construccin de un
procesador ptico no lineal basado en el mezclado
de cuatro ondas usando un cristal de BSO,
demuestran que ste puede operar como correlador
ptico.
Un correlador JTC basado en un BSO y trabajando
en rgimen no degenerado fue presentado por
L. Pichon y J. P. Huignard (1981). La novedad del
arreglo es el bajo nivel energtico de trabajo
(potencia de la radiacin de escritura 200mW).
Consideran que la varianza a la traslacin del
objetivo, observada en sus resultados
experimentales, es un efecto secundario debido a la
violacin de la ley Bragg, tambin investigaron los
efectos del volumen versus el enfoque del plano de
Fourier.
M. G. Nicholson et al. (1987) proponen un
correlador ptico basado en el mezclado de cuatro
ondas no degenerado y muestran que la salida del
correlador se puede ajustar mediante control sobre
el ndice de modulacin del plano espectral. La
manipulacin conveniente de la intensidad de los
haces de entrada al cristal se traduce en un
mecanismo para mejorar la relacin seal ruido
sobre el plano de correlacin. Un complemento a
este trabajo fue publicado por O. Daniel et al.
(1995), los resultados son tericos, la configuracin
del correlador es un JTC y el medio de registro es
un cristal de BSO ubicado en el plano de Fourier.
Los resultados muestran una correlacin no lineal
como consecuencia de la variacin del ndice de
modulacin del plano espectral. J. Khoury, G.
Asimellis y C. Woods (1995) presentaron
resultados numricos sobre la respuesta no lineal de
un JTC basado en una configuracin incoherente-
coherente con mezclado de cuatro ondas.
La sntesis del filtro espacial en un medio
fotorrefractivo, ha dado pie a dirigir esfuerzos hacia
el estudio de los efectos secundarios sobre las
propiedades de la correlacin (traslacin, rotacin y
cambio de escala); al respecto, a continuacin se
citan algunos trabajos.
C. Chang et al. (1992) proponen el correlador
hbrido, invariante a la rotacin, basado en el filtro
armnico circular generado por computador; la
funcin de transferencia ptica de este filtro se
registra en un cristal fotorrefractivo de BaTiO
3
.
Un correlador compacto (dimensiones
60cmx30cmx30cm) fue propuesto por Rajbenbach
et al. (1992), el dispositivo utiliza un BSO y opera
a una rata de 100ms por cuadro. Un sistema para el
reconocimiento de rostros lo propuso Li et al.
(1993); en un cristal de LiNbO
3
almacenaron
cuarenta hologramas de rostros de referencia, donde
cada holograma es una combinacin de varias
imgenes y cada combinacin corresponde a la
historia de una misma persona con diferentes
condiciones de iluminacin, escalas, posiciones
angulares y expresiones faciales.
Los materiales fotorrefractivos han permitido la
construccin de correladores que operan en el
visible o en el infrarrojo. Con respuesta en el
visible estn el BSO, el BTO, el BGO, el BaTiO
3
,
el LiNbO
3
, entre otros. El GaAs trabaja en el
infrarrojo, este cristal es potencialmente importante
debido a su alta rata de operacin; Duncan et al.
(1992) reportaron un correlador basado en un
GaAs, trabajando a 1000 cuadros/segundo.
Neifeld y Psaltis (1993) presentaron la construccin
de un correlador invariante a la traslacin, usando
un disco compacto ptico y un cristal
fotorrefractivo. Sobre el disco se almacena un gran
nmero de imgenes de referencia y con la imagen
objetivo se construye el filtro espacial en un
material fotorrefractivo. Sin embargo, la varianza
a la traslacin deja de ser un problema no deseado,
si la aplicacin de inters es controlar la posicin
del objetivo.
En la dcada de los noventa, la correlacin tom
una forma ms amplia gracias a la generalizacin
de la transformada de Fourier, hoy conocida como
la Transformada Fourier Fraccional (Fractional
Fourier Transform (FRFT) ). La FRFT de una
imagen contiene informacin espacio-espectral;
esta caracterstica de la FRFT redefine las
propiedades de la operacin de correlacin. La
correlacin clsica y la correlacin fraccional
difieren principalmente en sus propiedades; una de
esas diferencias es la varianza a la traslacin, propia
de la correlacin fraccional. Con respecto a este
tpico, Grannieri et al (1996) proponen un
correlador fotorrefractivo sensible a la traslacin de
los objetos en la escena de entrada.
Otras contribuciones apuntan hacia la sntesis de
filtros invariantes a la escala y a la rotacin. Los
mtodos propuestos consisten en usar mltiples
imgenes de referencia del mismo objeto, con
diferentes tamaos y posiciones angulares; las
memorias fotorrefractivas son apropiadas para la
construccin de este tipo de filtros, gracias a que
permiten el multiplexado de imgenes.
Entre algunos de los aportes ms recientes, est la
implementacin de un JTC binario (Cook N. J. et
al. 1998) usando un BSO en el plano de Fourier; se
estudia la resistencia al ruido aditivo Gaussiano.
En el ao 2000 Wenyi Feng et al y A. Zhang et al
introdujeron el concepto de filtros basados en la
transformada Wavelet. El grupo de Wenyi enfoc
su aplicacin al reconocimiento de rostros.
Estudiaron la distorsin al corrimiento, rotacin,
escala y presencia de ruido en la escena. A. Zhang
et al implementaron un JTC, estudiaron el
desempeo del correlador en cuanto a
discriminacin y tolerancia al ruido. J. Rueda et al
presentan en el 2001 los resultados experimentales
de la implementacin de un correlador
fotorrefractivo de transformacin conjunta
fraccionario, en el 2002 la implementacion de
correlador fotorrefractivo basado en un fake zoom
lens y la transformada de Fourier fraccional, y en el
2004 los resultados sobre la implementacin de un
correlador basado en el efecto Talbot, correlador
que tiene como novedad la deteccin del sentido de
rotacin del objetivo.
En trminos prcticos, el teorema de correlacin es
un mecanismo "simple" para calcular una operacin
de correlacin; en la Fig.3 se ilustra el diagrama de
flujo de un correlador de imgenes. Un dispositivo
ptico basado en el esquema de esta figura es
conocido con el nombre de correlador ptico por
transformada de Fourier, donde las funciones a
comparar son ) , ( y x f , la cual representa la escena
que contiene la letra J y ) , ( y x g la cual
representa la escena que contiene la letra E.
Figura 3. Principio de un correlador de imgenes
por transformada de Fourier; G y H: mdulos de los
espectros de g y f, respectivamente; OP: operador
de superposicin multiplicacin; C: plano de
correlacin.
El procedimiento inicia con el clculo de los
espectros de Fourier G(u,v)=F
q
{g(x,y)} y
H(u,v)=F
r
{f(x,y)}. Luego, sobre el plano espectral
se multiplica la transformada G(u,v) por el
conjugado de la transformada H(u,v). Finalmente,
se calcula la transformada de Fourier
F
p
{H
*
(u,v).G(u,v)} y de esta forma se genera la
correlacin entre las dos funciones, sobre el plano
de salida. En el lenguaje tcnico de procesamiento
de imgenes, f(x,y) representa la imagen objetivo,
h(x,y) = F
-r
{H (u,v)} la respuesta impulso del filtro
y H(u,v) el filtro funcin de transferencia ptica
del filtro. La siguiente figura muestra los resultados
numricos del modelado de un correlador clsico.
Figura 4. Resultado numrico.
El desempeo de un correlador se evala en
funcin de los parmetros energa de entrada y
salida, ancho y alto del pico de correlacin,
presencia de ruido en la escena de entrada,
aparicin de picos de correlacin indeseables;
adems del grado de tolerancia a la rotacin,
traslacin y cambios de escala del objetivo. Se
aceptan como criterios de desempeo, la relacin
entre la Energa mxima del Pico y la Energa total
en la salida del Correlador (PCE, Peak-to-
Correlation Energy), esto es el cociente debido a la
intensidad mxima del pico de correlacin dividido
entre la energa total del plano de correlacin; se
asume que la escena de entrada corresponde al
objetivo y que est ubicado en el origen. El
parmetro PCE permite establecer un criterio sobre
el ancho del pico de correlacin y a su vez es una
medida del nivel de similitud entre dos imgenes.
Un filtro ideal se caracteriza por un PCE=1, esto
significa que toda la energa del plano de
correlacin est concentrada en un punto, es decir,
que el pico de correlacin se aproxima a un Delta
Dirac.
Otro criterio es la Eficiencia Optica (OE, Optical
Efficiency); la OE se interpreta como la medida de
atenuacin energtica ejercida por el filtro, sobre la
energa ptica utilizada para iluminar la escena de
entrada. Un filtro ideal se caracteriza por un valor
OE=1, esto indica que la atenuacin es nula, es
decir, que la energa total en el plano de correlacin
es idntica a la energa que entra al filtro. Para el
caso de filtros pasivos, la OE toma valores entre 0 y
1. Los filtros construidos sobre materiales
fotorrefractivos son un ejemplo de filtros activos,
esto implica que puede ocurrir algn efecto de
amplificacin; sin embargo, este fenmeno se
puede controlar.
La Relacin Seal a Ruido (SNR, Signal to Noise
Ratio), define el cociente entre el valor esperado
para la intensidad del pico de correlacin en el
origen y la varianza del mismo, suponiendo objetos
centrados. Este parmetro de calidad se puede
utilizar para controlar falsas detecciones, las cuales
son factibles cuando la correlacin presenta
fluctuaciones por efecto de la presencia de ruido en
la escena de entrada; en otras palabras, este criterio
es una medida de la tolerancia del correlador al
ruido. Un filtro ideal se caracteriza por una SNR
.
2.1 Teorema de correlacin generalizado
La correlacin, entre las funciones f y g, en su
forma general se define de la siguiente manera:
{ ] { ] ] {
*
) , ( ) , (
o o
r
o o
q p r q, p,
y x f F y x g F F y) (x, C
(21) .
donde p, q y r son los rdenes de la transformacin
de Fourier. Cuando C
-1,1,1
(x,y), este es el caso que
corresponde a la correlacin clsica. La Ec.(21) es
una funcin de correlacin si y solo si la operacin
satisface el criterio de Sharpness:
0
2
tan
1
2
tan
1
2
tan
1

,
_

,
_

,
_

r q p
. (22)
Cuando el criterio de Sharpness no se cumple, la
consecuencia es la distorsin del pico de
correlacin; en este caso, un factor de fase
cuadrtico aparece, siendo este el responsable de tal
distorsin.
Por otro lado, se debe anotar, que a diferencia de la
correlacin clsica, la correlacin fraccional es
variante a la traslacin del objetivo, esto ocurre
para C
p,q,r
(x,y) C
-1,1,1
(x,y). Esta propiedad de la
correlacin fraccional, resulta atractiva para su
aplicacin dentro de un sistema de control de
posicionamiento de una pieza o herramienta. Un
correlador fraccional es un instrumento que
permite, en paralelo, discriminar objetos en una
escena y detectar la posicin de los mismos con
diferente grado de sensibilidad.
El primer correlador ptico fue construido por
VanderLugt (VLC), tambin conocido como
correlador 4f; los resultados se publicaron en el ao
Objetivo Escena Correlacin
1964. Dos aos despus, Tejedor y Goodman
propusieron otra arquitectura ptica para calcular
operaciones de correlacin, el arreglo se conoce
como JTC. Estas dos arquitecturas son la base de
las diferentes configuraciones de correladores
pticos. Por otro lado, un correlador requiere del
uso de soportes para almacenar imgenes; en sus
inicios la emulsin fotogrfica era el medio de
almacenamiento disponible, as la operatividad del
correlador ptico estaba limitada a funcionar en
tiempo diferido.
La ptica y la electrnica se acoplan a travs de
moduladores espaciales de luz (moduladores de
cristal lquido, moduladores acusto-pticos,
moduladores magneto-pticos, espejos
deformables, moduladores electro-pticos
fotorrefractivos, entre otros) y cmaras de video
CCD; esto represent un paso importante para el
desarrollo de correladores pticos flexibles a las
condiciones impuestas por la aplicacin. As, las
ventajas de las tcnicas pticas (rapidez y
capacidad de procesamiento en paralelo) y la
versatilidad de los mtodos digitales permiten
realizar procesos de correlacin en tiempo real.
La discusin presentada en los anteriores
pargrafos permite afirmar, que la informacin
ptica codificada en un medio fotorrefractivo se
puede almacenar de forma temporal permanente;
que mediante la tcnica hologrfica basada en la
mezcla de cuatro ondas, se puede registrar la
amplitud compleja de una onda en un medio
fotorrefractivo y que la lectura o borrado de la
informacin almacenada en tal medio es posible.
En este sentido, los materiales fotorrefractivos se
pueden usar para sintetizar filtros espaciales para el
reconocimiento de patrones mediante un arreglo
ptico. Antes de abordar la discusin relativa a la
correlacin ptica, usando materiales
fotorrefractivos, es importante dar un vistazo a los
arreglos clsicos VLC y JTC; la diferencia
fundamental de estos arreglos y los correladores
basados en medios fotorrefractivos, es el medio de
soporte del filtro espacial; en tales casos, el filtro se
sintetiza en medios no activos, por ejemplo, en
emulsin fotogrfica en moduladores espaciales
de cristal lquido previa composicin digital del
mismo.
2.2 Arquitectura clsica no fotorrefractiva VLC
Consiste en la sntesis de un filtro complejo -filtro
adaptado-, ubicado sobre el plano espectral de un
procesador 4f, constituye lo que hoy se conoce
como correlador de Vander Lugt. La Fig.5 es el
arreglo de un procesador 4f; una onda plana
monocromtica ilumina el plano (x
o
,y
o
), el cual
contiene la escena a filtrar, compuesta por las letras
Q, R, R. Sobre el plano espectral (u,v) se ubica
el filtro y en el plano (x,y) se observa la
correlacin. Las lentes L1 y L2 son lentes positivas
de longitud focal f; la primera lente permite
obtener la transformada de Fourier de la escena de
entrada sobre el plano espectral y la segunda lente
genera la transformacin de Fourier, sobre el plano
(x,y), de la distribucin de amplitud que emerge del
filtro, as el resultado de este filtrado es la
correlacin entre la escena de referencia y la escena
de entrada.
El filtro adaptado es un registro hologrfico de la
distribucin espectral del objetivo, el soporte fsico
de este holograma es un medio de alta resolucin,
el cual puede ser emulsin fotogrfica o un
modulador espacial. Una desventaja del arreglo 4f
es el posicionamiento del filtro, accin que est
sujeta a una fina precisin en la ubicacin del
mismo; este es un problema particular del filtro
registrado en emulsin de haluros de plata, en cuyo
caso el medio de registro se debe remover una vez
que ha sido expuesto, para efectuar el proceso de
revelado del mismo; aun si el revelado se hace in-
situ, estos medios no pueden competir con los
materiales fotorrefractivos si tenemos en cuenta que
los medios fotorrefractivos permiten la
actualizacin del filtro y no requieren del
procedimiento de revelado utilizado sobre las
placas de haluros de plata.
Figura 5. Arreglo VLC. L1 y L2 son lentes de
longitud focal +f. La iluminacin es una onda plana
monocromtica. (x
o
,y
o
) es el plano de entrada, (u,v)
es el plano de Fourier y (x,y) es el plano de
correlacin.
2.3 Arquitectura no fotorrefractiva J TC
Para un mejor entendimiento del funcionamiento
del correlador, es conveniente describirlo en dos
pasos, tal como se muestra en la Fig.6.. Obsrvese
en la Fig.6.a), que el objetivo y la referencia estn
sobre el mismo plano de entrada, de tal forma que
sus respectivas transformadas de Fourier se
superponen sobre el medio de registro.
2.3.1 Registro del filtro
Sobre el plano focal de la lente L positiva, se
obtiene la interferencia entre el espectro de Fourier
del objetivo y el espectro de Fourier de la
referencia; segn la Fig.6.a), tanto el objetivo
como la referencia es la letra R. Un detector
cuadrtico, ubicado a nivel del plano espectral
(u,v), almacena la distribucin de intensidad de
este plano, as el filtro es sintetizado fsicamente en
dicho dispositivo.
a). Registro del filtro.
b). Lectura del filtro.
Figura 6. JTC. L lente de focal +f; DEC densidad
espectral conjunta; PC es el plano de correlacin.
2.3.2 Lectura del filtro
Esta es la etapa de filtrado en la cual se obtiene la
correlacin. Observando la Fig.6.b), el filtro es
iluminado por una onda plana monocromtica, esta
radiacin se difracta en el filtro y a travs de la
lente L se genera su transformada de Fourier sobre
el plano (x,y); el resultado sobre este plano es la
generacin de un pico de energa DC centrado con
respecto a dos picos de menor energa, los cuales
corresponden a los trminos de correlacin cruzada
R R y R R .
2.4 Correladores clsicos fotorrefractivos
En este caso, la funcin de transferencia de un filtro
espacial registrado en un medio fotorrefractivo, es
un holograma de volumen; entonces la funcin de
transferencia del filtro se puede expresar de la
siguiente forma:

,
_

R R
d n
i H
cos
exp
, (23)
2.4.1 Arquitectura PVLC
Por simplicidad, el funcionamiento de este arreglo
de correlacin se discute en dos etapas; la primera
corresponde a la fase de registro del filtro, la cual
esquematiza la Fig.7.a), y la segunda es la etapa de
filtrado u obtencin de la correlacin segn la
Fig.7.b). Este correlador est constituido por un
cristal fotorrefractivo ubicado a nivel del plano
espectral (X,Y), dos lentes convergentes L1 y L2
de longitud focal f, el objeto de referencia
) , ( y x r y el objeto a filtrar o reconocer
) , ( y x o . En la Fig.7.a) la distancia cristal-objeto
de referencia es 2f y el arreglo de la Fig.7.b) es un
4f.
2.4.1.1 Construccin del filtro
Segn la Fig.7.a)., un holograma de Fourier del
objeto de referencia se almacena en el cristal
fotorrefractivo. En este proceso, por una parte, una
onda plana monocromtica ilumina el objeto
referencia, de transmitancia ) , ( y x r ; luego sobre
el plano focal de la lente L1, el cual coincide con el
plano del cristal, se produce la distribucin
espectral de Fourier de dicho objeto, campo que se
puede simbolizar de la siguiente forma:
{ ] , ) j [
z x r
k Z k X i y x r F + exp ) , (
1
, (24)
donde
x
k y
z
k
son las componentes del vector de
onda
) , 0 , (
z x r
k k k
r
en el interior del material.
Por otro lado, el campo
r
interfiere con la onda
plana
p

, cuyo vector de onda es

) , 0 , (
z x p
k k k
r
;
por simplicidad, se considera una onda plana de
amplitud unidad, es decir:
, ) j [
z x p
k Z k X i + exp
. (25)
a). Construccin del filtro.
b). Etapa de filtrado
Figura 7. Arreglo PVLC. DH es un divisor de haz;
CD es un cubo divisor de haz; CCD es una cmara
de video; M1 y M2 son espejos; L1 y L2 son lentes
positivas de igual longitud focal. El filtro es un
cristal fotorrefractivo sobre el cual, en paso a),
qued registrado el holograma del objeto de
referencia (r); o es el objeto de prueba.
El cristal es sensible a la intensidad del patrn de
interferencia generado por las ondas
r
y
p

, esta
distribucin de intensidad foto-induce una red de
ndices proporcional a dicho patrn, va efecto
electro-ptico de primer orden. De esta forma, la
funcin de transferencia ptica del filtro de
correlacin H(X,Y) queda sintetizado como un
holograma de volumen de solo fase. Si se asume
una baja eficiencia de difraccin del filtro,
entonces, de la Ec.(23), se puede considerar la
siguiente expresin:
*
cos
r p r p
R R
d n
H + +

. (26)
2.4.1.2 Etapa de filtrado
De acuerdo con la Fig.7.b), el campo difractado del
objeto ) , ( y x o y generado sobre el plano focal
de la lente L2,
{ ] , ) j [
z x o
k Z k X i y x o F exp ) , (
1
, (27)
se difracta en el volumen del filtro H(X,Y)
(difraccin que satisface la condicin de Bragg);
la amplitud compleja de esta difraccin se
materializa en la siguiente expresin:
{ ] , ) j [
z x d
k Z k X i y x o F Y X H exp ) , ( ) , (
1
. (28)
Si se tiene en cuenta la Ec.(26), entonces el campo
de la Ec.(28) toma la siguiente forma:
j [ { ] , ) j [
, )
{ ] { ] , ) j [
, )
{ ] { ] , ) j [

'

+
+ +
+ +

z x
z x
z x r p
d
k Z k X i y x o F y x r F
k Z k X i y x o F y x r F
k Z k X i y x o F
3 exp ) , ( ) , (
exp ) , ( ) , (
exp ) , (
1 1
1 * 1
1
2 2
; (29)
entonces el resultado es la generacin de tres haces,
claramente determinados por los tres trminos de la
Ec.(29); la interpretacin fsica de estos trminos
es la siguiente:
a) Primer trmino = Haz transmitido, con vector
de onda
p o
k k
r r

.
b) Segundo trmino = Armnico de difraccin,
con vector de onda
r
k k
r r

+
.
c) Tercer trmino = Armnico de difraccin,
con vector de onda
) , 0 , 3 (
z x
k k k

r
.
Si cada haz se observa en el plano focal de una
lente convergente, en su orden, el resultado ser: la
imagen del objeto de transmitancia ) , ( y x o , la
correlacin ) , ( ) , ( y x r y x o y la convolucin
) , ( ) , ( y x r y x o , respectivamente. De acuerdo
con la discusin previa sobre la difraccin de
hologramas de volumen, el armnico

k
r
no se
observar, para la direccin de lectura mostrada en
la Fig.7.b) ; esto implica que para observar la
convolucin, es necesario orientar el haz de lectura
de tal forma que
r o
k k
r r

, en tal situacin el
armnico
+
k
r
no se genera. Finalmente, eligiendo
el segundo trmino de la Ec.(29) y aplicado el
operador transformador de Fourier de orden p = 1,
que de acuerdo con el esquema de lectura se
obtiene a travs de la lente L1, se obtiene entonces
la funcin de correlacin:
j [ ) , ( ) , ( ) , ( ) , ( y x y x r y x o y x C . (30)
2.4.2 Arquitectura PJ TC
La formulacin matemtica de las configuraciones
PVLC y PJTC tienen bases similares, ellas difieren
en la velocidad de respuesta. En el PVLC, la
escena en el haz de lectura puede renovarse
rpidamente debido a que este haz no interviene
en la formacin del filtro. La Fig.8 muestra un
arreglo PJTC; en este caso, la sntesis del filtro
depende tanto del objeto de referencia como del
objeto a identificar. Lo anterior implica, que el
tiempo de respuesta del correlador estar
condicionado por el tiempo de respuesta del
material; el tiempo de respuesta de los materiales
fotorrefractivos del grupo silenitas es del orden de
10ms.
2.4.2.1 Construccin del filtro
Las escenas ) , ( y x o y ) , ( y x r son iluminadas
por dos ondas planas monocromticas. En la
Fig.8.a), a travs de las lentes L1 y L2, las
transformadas de Fourier
{ ] ) , (
1
y x r F y
{ ] ) , (
1
y x o F interfieren en el volumen del cristal, de
tal forma que la distribucin de amplitud compleja
sobre el material fotorrefractivo es,
{ ] , ) j [ { ] , ) j [
z x z x o r
k Z k X i r F k Z k X i o F + + + exp exp
1 1
,
;
(31)
la intensidad de esta distribucin de amplitud,
genera un holograma de volumen; en otras
palabras, la funcin de transferencia ptica del
filtro se materializ en el cristal. Este holograma
tambin se ajusta a la Ec.(26), entonces H(X,Y)
toma la siguiente forma,
{ ] { ] { ] { ] , ) j [
{ ] { ] , ) j [

'

+
+ +
1
]
1

x
x
k X i o F r F
k X i o F r F r F o F
Y X H
2 exp
2 exp
) , (
1 1
1 * 1
2
1
2
1
.
(32)
2.4.2.2 Etapa de lectura
Siguiendo la Fig.8.b), la onda plana -
p

- de
amplitud unidad y con vector de propagacin
o p
k k
r r

se difracta del filtro; entonces la
distribucin de amplitud emergente tiene la
siguiente forma,
, ) j [
{ ] { ] , ) j [
{ ] { ] , ) j [

'

+
+ +
+
1
]
1

z x
z x
z x r p
d
k Z k X i o F r F
k Z k X i o F r F
k Z k X i
3 exp
exp
exp
1 1
1 * 1
2
2
; (33)
este resultado muestra la generacin de tres haces,
un haz transmitido DC y dos rdenes de difraccin,
+
k
r
y

k
r
. De la discusin sobre el PVLC podemos
inferir, que para la configuracin mostrada en la
Fig.8.b), el segundo trmino de la Ec.(33) en la
prctica no se genera.
a). Construccin del filtro.
b). Etapa de filtrado
Figura 8. Arreglo PJTC. DH es un divisor de haz;
CD es un cubo divisor de haz; CCD es una cmara
de video; M1 y M2 son espejos; L1 y L2 son lentes
positivas de igual longitud focal.
Por otro lado, la onda
, )
z x
k k k
+
, 0 ,
r
se transforma
a travs de la lente L1 y sobre su plano focal se
observar el trmino de correlacin
) , ( ) , ( y x r y x o . Un resultado similar se obtendr
si el haz de lectura
p
se propaga en la direccin
r p
k k
r r

. Es importante resaltar, que en un PJTC
la deteccin de la seal de correlacin est
favorecida por una alta relacin Seal/Ruido; ello
es la consecuencia de la ausencia del orden DC
sobre el plano de salida (x,y). En un JTC son
necesarios procedimientos adicionales para filtrar
del plano de salida el trmino de fondo continuo.
2.5 Resultados de la implementacin ptica de
correladores fotorrefractivos
La siguiente discusin es sobre los resultados de la
implementacin ptica de correladores
fotorrefractivos est basada en la transformada de
Fourier Fraccionaria ( FRFT) ptica. Se presentan
los resultados de la implementacin de dos PVLC
fraccionarios; en uno de ellos la FRFT se obtiene
mediante el arreglo ptico denominado de
Lohmann Tipo II modificado Fake Zoom Lens
(FZL), mediante este arreglo se estudi la
influencia del espesor del cristal fotorrefractivo
sobre la varianza espacial del correlador; en el
segundo arreglo PVLC fraccionario, la FRFT se
obtiene por propagacin libre.
Finalmente se presentan los resultados de la
implementacin de un PJTC fraccional; este
correlador est basado en el arreglo Tipo I de
Lohmann para obtener la FRFT, y se estudia el
comportamiento de la varianza del correlador a la
rotacin del objeto de prueba, versus el orden
fraccional del filtro. Se concluye la discusin con la
presentacin de los resultados de la implementacin
de un correlador basado en el efecto Talbot.
2.5.1 Correlador basado en la FRFT obtenida
mediante un FZL
A continuacin, se muestran los resultados de la
implementacin de un correlador fotorrefractivo,
cuya sensibilidad a las traslaciones del objeto de
prueba se debe a la propiedad de varianza espacial
de la correlacin fraccionaria y/o al espesor del
cristal utilizado en la sntesis del filtro. En esta
aplicacin, se tiene en cuenta el arreglo ptico FZL,
propuestos por Lohmann, para obtener la FRFT; a
diferencia del tipo I y II, el arreglo FZL permite
obtener una serie fraccionaria de la funcin de
entrada, sin necesidad de cambiar las lentes para
cada orden fraccionario, a razn de conservar
constante el parmetro de escala Q sobre toda la
serie. En la Fig.9 se muestra el arreglo FZL, donde
la amplitud de la iluminacin sobre la transparencia
u(x
o
) es uniforme. La focal efectiva del arreglo se
modifica ajustando, convenientemente, las
distancias d y D; es decir, que a cada focal efectiva
del arreglo, corresponde una FRFT dentro del
intervalo fraccionario [-1,1], y donde las FRFT
tienen en comn el mismo factor de escala Q. Las
distancias de propagacin d, D y la focal efectiva f
e
del arreglo ptico vienen definidas por la siguiente
expresin
[36]
:

'

,
_

+
4
tan 1 p f d
o
;

'

,
_

+
2
sin 2 p f D
o
;

,
_

2
sin p
o
f
e
f
(34)
Figura 9. Arreglo FRFT Fake Zoom Lens. fo es la
longitud focal de la lente; u(x
o
) es la transparencia;
u
p
(x) es la FRFT de orden p de u(x
o
).
La Fig.10 esquematiza el funcionamiento del
correlador implementado, cada lente identificada
con f
e
representa un FZL; el correlador
representado por el diagrama de flujo, corresponde
a un PVLC fraccionario. Las funciones de entrada
h(x
q
) y g(x
q
) representan el objeto de referencia y el
objeto de prueba, respectivamente; igualmente,
, ) { ]
r
r
x h F
y
, ) { ]
q
q
x g F
sus correspondientes FRFT de
orden r y q. Para conservar la escala relativa entre
las transformadas de h y g es necesario establecer
q=r, consecuentemente, se debe establecer p=-1
para que la condicin de correlacin, dada por la
Ec.(22), se cumpla.
Figura 10. Diagrama de flujo de funcionamiento del
PVLC fraccional.
La Fig.11 muestra el esquema del arreglo del
correlador ptico implementado. En un cristal
fotorrefractivo de BSO se almacena el patrn de
interferencia debido a la superposicin del haz de
referencia y la FRFT de orden r, de la transparencia
ubicada sobre el plano objeto; la FRFT de esta
transparencia sobre el plano del cristal, se produce a
travs del arreglo ptico FZL; arreglo constituido
por las lentes L1 y L2 de distancias focales +10cm;
de esta forma se sintetiza el filtro en el BSO. Se
estableci un tiempo de registro de 2min y tiempos
de exposicin en la lectura de 700ms. Por sencillez
tcnica operacional del correlador, el objeto de
prueba es la transparencia utilizada para la sntesis
del filtro; la transparencia es binaria y contiene la
letra E (tipo arial) de tamao 2mmx1mm, y se
dispuso sobre un sistema de desplazamiento
micromtrico. Posterior al registro del filtro se
cierra la ventana de bloqueo VB y a travs de la
lente L3 (f=+20cm), se produce sobre el plano de la
cmara CCD la distribucin de intensidad de la
correlacin fraccionaria, entre el objeto de prueba y
el objeto de referencia; el objeto de prueba se
desplaz en la direccin del eje y
o
.
Figura 11. Vista superior del arreglo experimental.
E: espejo; VB: ventana de bloqueo del haz de
referencia; BS: cubo divisor de haz. L1 y L2:
lentes de longitud focal +10cm; L3: lente de
longitud focal f=+20cm.
La Tab.1 contiene los valores de los parmetros d y
D, utilizados para la obtencin de los resultados de
las Figs.12-13, la incertidumbre indicada en estos
valores se refiere al error en la ubicacin de los
elementos por corte de la componente decimal, de
cada valor calculado.
Tabla 1. Valores utilizados en la valoracin
experimental del correlador
La fuente de iluminacin es un lser de Ar
+
,
sintonizado en la longitud de onda de 514 nm y
potencia nominal de 55 mW; la distribucin de
amplitud del haz de referencia y del haz objeto
sobre la transparencia es uniforme y el ngulo entre
estos haces es de 16, aproximadamente. Por otro
lado, en este estudio se utilizaron tres cristales de
BSO, cuyos espesores L
z
son 1mm, 3mm y 6mm, y
la cara del cristal paralela al plano (X,Y) es
cuadrada (dimensiones: 10mmx10mm); la
configuracin cristalogrfica es , ) 110 ,
, ) 0 1 1
y
, ) 001
; la cara , ) 110 se orient paralelamente al
plano (X,Y), y para mejorar la eficiencia de
difraccin se aplic un voltaje de 7kV,
perpendicular a la cara
, ) 0 1 1
.
Los resultados muestran, por un lado que la
sensibilidad del correlador a la traslacin aumenta
.q=r d[cm] D[cm]
1.0 20.0t0.00 30.0t0.00
0.9 18.5t0.04 29.8t0.07
0.8 17.2t0.06 29.5t0.01
0.7 16.1t0.02 28.9t0.01
0.6 15.0t0.09 28.0t0.09
en la medida que se disminuye el orden fraccional,
y por el otro, que existe una dependencia
importante a tal sensibilidad, debido al espesor del
cristal utilizado. Obsrvese en cada resultado de las
Figs.12-13, exhiben sensibilidad diferente bajo el
mismo orden fraccional, resultado que no es el
esperado segn las propiedades de la correlacin
fraccional, y es en este sentido que la conclusin
apunta a tener en cuenta una sensibilidad adicional
debida al espesor del filtro.
a). b).
c).
Figura 12. Intensidad normalizada del pico de
correlacin versus el desplazamiento vertical del
objeto de prueba para tres cristales BSO de
espesores: a) 1mm, b) 3mm y c) 6mm.
a). b).
Figura 13. Comparacin de la sensibilidad del
correlador a la traslacin del objetivo, entre los
cristales de menor y mayor espesor, y los ordenes
fraccionales: En a) q=1.0, se observa un
apantallamiento relativo al espesor del cristal,
aproximado, del 20% y en b) q=0.6, se produce un
apantallamiento relativo al espesor del cristal,
aproximado, del 5% .
2.5.2 Correlador basado en la FRFT por
propagacin libre
Esta implementacin es una aplicacin del modelo
de propagacin libre para la obtencin ptica de la
FRFT. Igual que en el caso anterior, est
implementacin es un PVLC fraccional, pero la
FRFT se obtiene mediante el uso del arreglo de la
Fig.14. Se utiliz las Ecs.(35) para calcular el radio
de curvatura R
q
de la onda esfrica que ilumina el
plano objeto y el parmetro Z
q
, respectivamente, en
la Tab.2 se muestran los valores utilizados en el
experimento.
Figura 14. Arreglo para obtener la FRFT sin lentes
2 / tan

Q
R
q
; Q z
q
sin ; 2 / q (35)
La Fig.15 es el esquema del correlador
implementado; la lente L1, de longitud focal
+100cm, tiene la funcin de emisor esfrico para el
plano objeto; se eligi un parmetro Q=40cm para
los tres ordenes fraccionales de prueba. La forma de
ejecutar una secuencia de correlaciones versus
traslacin por cada orden fraccional, es similar al
procedimiento descrito para funcionar el correlador
anterior. Se utiliz un cristal de BSO, de espesor
Lz=4.73 mm y corte cristalogrfico , ) 110 ,
, ) 10 1
y
, ) 100 . Adicionalmente, el cristal se perturb
mediante un campo elctrico externo Eo=0.743
kV/mm; el campo se aplic perpendicular al plano
, ) 110 y la luz incide sobre la cara
, ) 10 1
.
Figura 15. Vista superior del arreglo experimental.
E:espejo; VB: ventana de bloqueo del haz de
referencia; BS: cubo divisor de haz. L1: lente de
longitud focal +100cm; L2: lente de longitud focal
f=+30cm.
Tabla 2. Valores utilizados en la valoracin
experimental del correlador de la Fig.15
.
q=r Z
q
[cm] R
q
[cm]
1.0 40.0t0.00 40.0t0.00
0.9 39.5t0.01 46.8t0.03
0.8 38.0t0.04 55.0t0.05
La fuente ptica del correlador es un lser de He-
Ne de emisin en la longitud de onda 543 nm, y
una potencia de salida de 4 mW. El haz que incide
sobre el divisor de haz BS, fue convenientemente
expandido y colimado; el haz objeto y el haz de
referencia forman un ngulo de 16 entre s. La
transparencia, ubicada sobre el plano (x
o
,y
o
),
contiene la letra E (arial), de tamao 2mmx1mm.
La lente L2, de distancia focal +30 cm, permite
obtener una FRFT de orden 1, sobre el plano de la
CCD. Los resultados de esta implementacin se
muestran en la Fig.16; se representa en forma
grfica el valor del pico de correlacin versus el
desplazamiento del objeto de prueba, para tres
ordenes fraccionales. En general, tanto ste
correlador como el basado en el FZL para obtener
la FRFT, exhiben varianza espacial. Mas que dar un
juicio comparativo, sobre las diferencias relativas a
la sensibilidad a la traslacin exhibida por cada uno
de estos dos arreglos (se recuerda que en cada caso
los cristales utilizados son de diferente espesor) es
importante resaltar, que desde el punto de vista de
construccin y funcionamiento, el caso de
propagacin libre ofrece mayor flexibilidad tanto
en el alineamiento del sistema hologrfico como en
el funcionamiento del correlador mismo. En este
caso, cambiar de orden fraccional, con lo que se
modifica la sensibilidad a la traslacin, tan solo
requiere mover el plano objeto y el cristal el
plano objeto y la lente; por razones obvias mover el
cristal no es un procedimiento recomendable.
Figura 16. Intensidad del pico de correlacin versus
desplazamiento vertical del objeto de prueba.
Desviacin estndar: 0.06; o 0.04; l 0.03.
2.5.3 Correlador PJ TC fraccional
La implementacin de este correlador es una
aplicacin del arreglo Tipo I propuesto por
Lohmann; la valoracin del correlador se centr en
el estudio de la varianza a la rotacin versus el
orden fraccional de las dos transformadas de
Fourier que componen el filtro conjunto. Este es un
correlador basado en el mezclado de cuatro ondas
degenerado, disposicin que permite el procesado
de la seal de entrada en tiempo casi real; el tiempo
de respuesta del correlador, por cada correlacin,
depende del tiempo de formacin del filtro
conjunto, tiempo que se puede manipular mediante
el campo aplicado y mediante la intensidad de los
haces de registro.
La Fig.17 muestra el esquema del arreglo
experimental; el lser y el cristal fotorrefractivo,
utilizados en esta implementacin, son los que se
utilizaron en la implementacin del PVLC de la
Fig.15. Los objetos R y O utilizados son aviones
binarios, el tamao de cada avin es de
0.8x0.8mm
2
; la transparencia O se dispuso sobre
un sistema de rotacin controlado, de precisin
0.001. Sobre el plano del cristal BSO, se forma y
registra el patrn de interferencia debido a la
superposicin de las FRFT de las transparencias R
y O; paralelamente al proceso de registro de este
patrn de interferencia, sobre la cmara CCD, se
produce la distribucin de intensidad de la
correlacin entre los objetos R y O, a travs de la
lente L3 (distancia focal +30cm); la lente est
dispuesta para obtener, sobre el plano de la CCD,
una FRFT de orden uno del haz difractado del
BSO; el haz de lectura es el reflejado del espejo E2,
el cual est orientado en contra propagacin del haz
R.
Figura 17. Arreglo experimental. LD: lmina
divisora de haz; E1-E3: espejos; R: Objeto de
referencia; O: objeto de prueba. L1 y L2 son lentes
de longitud focal +38cm; L3: lente de longitud focal
+30cm.
El ngulo entre los haces R y O fue
aproximadamente de 8; para mantener igual
condicin de desenfoque de la FRFT de R y O, el
cristal se orient de tal forma que estos dos haces
tengan igual ngulo de incidencia sobre el plano del
BSO. Las distancias Z
q
=Z
r
se calcularon mediante
las Ecs.(36); las distancias entre L1y BSO, y L2 y
BSO son iguales a Z
q
=Z
r
. La longitud focal de las
lentes L1 y L2 son +38cm. Por otro parte, se aplic
al BSO un voltaje de 7kV perpendicular al plano
, ) 110 .

,
_

2
sin p
Q
f
,

,
_

4
tan p Q z
p
(36)
La Fig.18 muestra los resultados obtenidos en la
valoracin del correlador; esta implementacin ha
permitido demostrar que la varianza a la rotacin de
la correlacin no tiene un comportamiento nico,
por el contrario, bajo el dominio de la FRFT la
correlacin posee diferentes niveles de tolerancia a
la rotacin; el nivel de tolerancia a la rotacin se
reduce a medida que los ordenes fraccionales r=q
disminuyen. En este sentido, el correlador se puede
acondicionar con diferentes niveles de sensibilidad.
Figura 18. Intensidad normalizada del pico de
correlacin versus rotacin del objeto de prueba.
2.5.4 Correlador basado en el efecto Talbot
La formacin de auto-imgenes o rplicas de un
objeto iluminado con luz coherente se conoce como
efecto Talbot. Todo objeto con frecuencias
espaciales discretas y localizadas sobre los
llamados anillos de Montgomery, permite la
generacin del efecto Talbot. Las redes de Ronchi
son un ejemplo de este tipo de estructuras
peridicas. Lord Rayleigh demostr la periodicidad
longitudinal del campo difractado por la red y
obtuvo la expresin analtica para la separacin
entre las auto-imgenes sucesivas de una red 1-D;
la distancia a la cual se produce una auto-imagen
depende de la longitud de onda de la radiacin y de
la forma del frente de onda que ilumina el objeto de
Montgomery. Por ejemplo, la distancia a la cual se
producen auto imgenes de una red de Ronchi, de
periodo espacial d, iluminada con una onda plana
monocromtica de longitud de onda es:
T
Z
d
Z

2
2
=1, 2, 3, ...; (37)
siendo Z

la distancia de separacin entre la red y

un plano de auto-imagen positiva; la auto-imagen
positiva se refiere a que la rplica est en contraste
directo con respecto a la red. Z
T
se conoce con el
nombre de distancia Talbot; esta distancia, es
aquella a la cual se presenta la primera auto-imagen
positiva o la distancia entre dos auto-imgenes
semejantes consecutivas. Auto-imgenes negativas
se generan a distancias determinadas por la
siguiente expresin:
2
T
Z
Z

= impar; (38)
de las anteriores expresiones se deduce que entre
dos auto-imgenes positivas existe una negativa o
viceversa. Cuando la red se ilumina con una onda
esfrica monocromtica de radio R, entonces las
auto-imgenes son rplicas escaladas de la
transparencia. Las distancias a las cuales se
producen tales auto-imgenes vienen definidas por
la siguiente expresin:
T
Z R Z
+

1 1 1
=1, 2, 3, ...; (39)
la primera auto-imagen positiva o negativa se
producen a
T
T
Z R
Z R
Z
+

+
y
T
T
Z R
Z R
Z
+

2
,
respectivamente. El cristal fotorefractivo Bi
12
SiO
20
(BSO) exhibe buena sensibilidad de registro de
auto-imgenes. En la Fig.19 se muestra el arreglo
de tal correlador; obsrvese, que ahora las auto-
imgenes son almacenadas en el cristal
fotorrefractivo como un holograma de volumen.
Las auto-imgenes son un caso particular de la
difraccin de Fresnel; por lo tanto, el estudio
conceptual y fenomenolgico del efecto Talbot se
puede abordar a partir de la FRFT. Si partimos del
caso particular, para obtener la FRFT, referido en la
Fig.14, entonces, el comportamiento longitudinal
del campo difractado de un objeto de Montgomery,
de periodo espacial d y transmitancia t(x
o
,y
o
),
iluminado con una onda esfrica de curvatura R, se
concluye que, a la distancia Z
p
, la FRFT de orden p
de t(x
o
,y
o
) es:
, ) { ]
,
_

M
y
M
x
t y x t F
o o
o o
p
, ,
; (40)
en palabras, la FRFT de orden p de la transparencia
coincide con la auto-imagen escalada de la
transparencia; el escalamiento implica que el
periodo espacial de la auto-imagen, correspondiente
al orden p, sigue el comportamiento representado
por la siguiente expresin
[41]
:

,
_

2
cos p d dp
; (41)
donde el plano de la auto-imagen de orden p, dista
de la transparencia una distancia

2
2
p
p
d
Z Z
.
El arreglo de la Fig.19 se utiliz para correlacionar
estructuras peridicas bidimensionales binarias, de
celda unidad cuadrada (0.12x0.12 mm
2
) y
separacin entre celdas de 0.26 mm
2
; las
transparencias involucradas en el proceso de
correlacin se iluminaron con un frente de onda
plano; la caracterstica de la iluminacin utilizada
en esta aplicacin, implica que las auto-imgenes
son rplicas exactas de la transparencia de entrada,
en estas condiciones de iluminacin, segn la
Ec.(41), cada auto-imagen coincide con la FRFT de
orden q=0.
Constituyen el arreglo de la Fig.19, un lser de He-
Ne de longitud de onda 543nm; expandido y
colimado antes del divisor de haz (BS); el ngulo
entre el haz objeto y haz de referencia es
w
25.
Sobre el plano objeto, se ubican la transparencia de
prueba en un sistema de tres grados de libertad
(traslaciones X
o
y X
o;
rotacin sobre el eje Z), las
traslaciones y rotacin son controladas con una
precisin de 20m y 0.1, respectivamente. El
cristal BSO y el plano objeto se separan una
distancia Z

=Z
T
. El cristal registra la distribucin
de intensidad que produce la superposicin del haz
de referencia y la auto-imagen de la transparencia
ubicada en el plano objeto. El cristal BSO, de
espesor Lz=4.73 mm y corte cristalogrfico , ) 110 ,
, ) 10 1
y , ) 100 , se perturb mediante un campo
elctrico externo Eo=0.743 kV/mm; el campo se
aplic perpendicular al plano , ) 110 y la luz incide
sobre la cara , ) 10 1
. La ejecucin del correlador
sigue el mismo procedimiento descrito para los
casos anteriores, donde se inicia con la sntesis del
filtro; luego se cierra VB y se procede al registro de
la intensidad del plano de salida mediante la cmara
CCD.
Figura 19. Arreglo experimental del correlador
Talbot. L: lente de longitud focal +20 cm; E:
espejo; VB: ventana de bloqueo del haz de
referencia; BS: cubo divisor de haz. Lser He-Ne de
longitud de onda 543 nm.
Se ejecutaron pruebas de auto-correlacin con el
objetivo en rotacin sobre el eje Z; se presentan los
resultados en la Fig.20. Los armnicos generados
sobre el plano de salida, se dan como resultado del
registro hologrfico de auto-imgenes en el
material fotorrefractivo. Una consecuencia de este
tipo de registro, es la transferencia de energa entre
los armnicos generados; ello solo se observ
cuando la transparencia utilizada para la lectura se
somete a ligeros desplazamientos o rotaciones, con
respecto a la posicin del objeto utilizado en la
sntesis del filtro; las imgenes de la Fig.20
sustentan lo anterior. Por otro lado, se puede
observar que la direccin de transferencia de
energa se puede asociar al sentido del movimiento;
hecho que resulta de especial inters en el caso de
la rotacin del objeto, de esta forma, este correlador
permite determinar el sentido de rotacin del
objetivo.
El comportamiento energtico de los armnicos,
resulta de especial inters en el control de
microposicionamiento; adems, la sensibilidad del
correlador a los cambios de estado cintico de los
objetos sometidos a comparacin, se puede ajustar
al requerimiento mediante el periodo espacial de la
estructura de los objetos que se correlacionan.
(0,0,-0.1) (0,0,0) (0,0,0.1)
a). Rotacin sobre Z. (-): sentido antihorario.
b). Objeto de Montgomery utilizado.
Figura 20. Resultado experimental de la auto-
correlacin del objeto d), usando el arreglo Talbot.
(X
o
,Y
o
,
z
)=(traslacin en X
o
, traslacin en Y
o
,
rotacin sobre Z).
RECONOCIMIENTOS
Al Grupo de ptica y Tratamiento de Seales de la
Universidad Industrial de Santander
Bucaramanga Colombia, y al Centro de
Investigaciones pticas CIOp, La Plata -
Argentina, entidades en cuyos laboratorios se
obtuvieron los resultados experimentales que se
presentan en este artculo; a los Doctores Nestor
Bolognini, Myrian Tebaldi y Mara Del Carmen
Lasprilla, por sus invaluables aportes a esta
investigacin; a COLCIENCIAS por el apoyo
financiero que permiti el desarrollo de la misma.
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