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MCROCOPIO DE BARIDO:
Fenmenos de dispersin elstica que afectan las trayectorias del haz de electrones dentro del espcimen sin alterar la energa cintica de los electrones. La dispersin elstica es responsable del fenmeno de retrodispersin electrnica que es la responsable de la formacin de algunas tcnicas de observacin en SEM
Eventos de dispersin inelstica, dan como origen a diferentes tipos de seales como resultado de la prdida de energa o transferencia de energa a los tomos del espcimen que conducen a la generacin de electrones secundarios, electrones Auger, rayos X caractersticos y bremsstrahlung (el contnuo o fondo), pares electrn-agujero en semiconductores y aislantes, radiacin electromagntica de longitud de onda larga en el visible, radiaciones ultravioleta e infrarroja del espectro, vibraciones de la red (fonones) y oscilaciones colectivas de los electrones en los metales (plasmones). Los dos tipos de microscopa deben trabajar en un sistema de vaco tal que permita el viaje del haz de electrones a travs de la columna. El sistema de vaco en general es similar. Dependiendo de las necesidades del equipo y las tcnicas a utilizar ser el nivel de vaco requerido. Interaccin de los electrones con la muestra
http://microscopiaelectronicauami.com/apuntes http://digital.csic.es/bitstream/10261/41228/1/CURSOS291841%5B1%5D.pdf