Fluorescencia de Rayos-X

Objetivo: Conocer el mtodo de flurescencia de rayos-x, as como sus aplicaciones atuales y en un futuro. Introduccin: Despus de la gran aportacin de los rayos X por Wilhelm Conrad Roentgen, los seres humanos y su creciente demanda de tecnologas hizo ver en inventos una nueva forma de que resolvieran problemticas de diferentes campos de la ciencia principalmente, ya sea modificndolos un poco, perfeccionando su funcionamiento, desarrollando nuevas tcnicas, para que estos tuviesen un mayor rendimiento. Tal es el caso de la tcnica de fluorescencia de rayos-x que consiste en emisin de rayos X secundarios (o fluorescentes). Desarrollo: La tcnica de fluorescencia de rayos X (XRF) se utiliza para determinar concentraciones de elementos qumicos en diversos tipos de muestras, esta tcnica nos puede ayudar principalmente en el rea de Geologa Ambiental, cuando se requiera conocer el tipo de roca con la que se est trabajando. Es un mtodo analtico de alta precisin, con la ventaja de ser no destructivo en la mayora de las aplicaciones y de poder preparar la muestra de manera simple. Para excitar a los tomos es preciso disponer de una fuente de radiacin de energa suficiente para eyectar electrones de las capas interiores de los tomos, los excitados saltan de una rbita a otra. Al producirse la remocin de un electrn de una capa interior por un fotn energtico proveniente de una fuente primaria de radiacin, un electrn de una capa exterior se desplaza y ocupa el hueco que se haba formado (vacancia). La probabilidad de que una vacancia en una capa atmica sea llenada por una transicin radiativa se denomina produccin de fluorescencia y se define como el cociente entre el nmero de fotones emitidos y el nmero de vacancias. Esta tcnica tiene aplicaciones en distintas reas de la ciencia como en geoqumica, biologa, control ambiental, arqueologa, medicina, entre otras. Las tcnicas de anlisis por fluorescencia de rayos X convencionales no resultan adecuadas para campos de aplicacin que requieren mtodos analticos de alta sensibilidad. Uno de sus puntos dbiles es el lmite de deteccin, siendo de varios ppm. Es as como surgen las

tcnicas no convencionales que buscan principalmente limitar el volumen de excitacin del haz de rayos X incidente en la muestra. Una de ellas es el anlisis por reflexin total de rayos X (TXRF). Mediante esta tcnica se irradia una superficie pticamente plana y suave. De esta manera, se logra excitar a la muestra con el haz incidente y el reflejado, prcticamente duplicando la intensidad de la radiacin incidente. Adems, hay una baja profundidad de penetracin de los rayos X incidentes en el substrato, por lo cual el mismo prcticamente no contribuye al fondo del espectro. La tcnica de reflexin total tiene una notable aplicacin para anlisis multi-elemental de trazas en soluciones lquidas, contando con la ventaja de la fcil preparacin de las muestras. Tambin resulta adecuada para anlisis superficial directamente sobre una muestra slida. Permite medidas de densidad, rugosidad y espesores de lminas. Una reciente aplicacin de la radiacin de sincrotrn en TXRF es el estudio no destructivo del perfil de concentraciones en profundidad. Este procedimiento se basa en el estudio de la emisin fluorescente realizando un barrido angular alrededor del ngulo crtico. Conclusiones: La tcnica de Fluorescencia de rayos-x es de mucha importancia en el campo de la Geologa, debido a que es una gran herramienta para poder descifrar la correcta concentracin de elementos en una muestra de roca. De igual manera en otras rea