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2. ANISOTROPA Y PROPIEDADES FSICAS

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La mayora de los materiales cristalinos son anisotrpicos, eso significa que la magnitud de varias propiedades fsicas depender de la direccin en que se midan con respecto de la del cristal. Algunas propiedades de los minerales son claramente no direccionales. Por ejemplo, la densidad o la capacidad calrica pueden medirse sin tomar una direccin referencial. Estas propiedades son denominadas propiedades escalares o tensores de rango cero. Otras propiedades, tales como la energa superficial y por lo tanto la reactividad qumica, dependen de la orientacin cristalogrfica de la superficie; pero no son en s mismas cantidades que dependan de la direccin en que se midan. Estas propiedades se denominan propiedades vectoriales o tensores de primer rango. Por otro lado, propiedades como la conductividad trmica, la cual relaciona dos cantidades vectoriales, son denominadas tensores de segundo rango y deben ser especificadas de una manera distinta. Con un sistema de ejes se puede especificar la propiedad por sus tres valores principales. Esta clasificacin de las propiedades fsicas, tambin involucran a tensores de tercer y cuarto rango, pero estas escapan al objetivo de este escrito. Propiedades elsticas, pertenecen a los tensores de cuarto rango, por lo que su descripcin es claramente ms compleja. El propsito de este anlisis es ilustrar el fenmeno de la anisotropa y por otro lado, proveer una base de entendimiento de las propiedades pticas de los minerales. Las propiedades elsticas slo se mencionarn brevemente. 2.1. Anisotropa - una analoga mecnica Previo a analizar las propiedades fsicas de los minerales, una simple analoga mecnica bi-dimensional ayudar a describir generalmente los conceptos de anisotropa, y como especificar una propiedad cuando vara con la direccin. Se considera un sistema mecnico donde un anillo central es sostenido por medio de dos pares de resortes ortogonales, a un marco (Figura 2.1). Los resortes a los lados opuestos del anillo son idnticos, pero tienen diferentes constantes de elasticidad al par ortogonal. Se aplica una fuerza general F al anillo; vector causa, y se obtiene un desplazamiento; vector efecto. La relacin entre la causa y el efecto, define la rigidez de los resortes. Figura 2.1. En este sistema, una anillo
central, es sostenido por dos pares de

Cuando se aplica una fuerza general F al resortes, los cuales estn fijos a un sistema, la intuicin lleva a pensar que el marco. desplazamiento del anillo depender de la rigidez relativa de ambos pares de resortes, relacin causa-efecto. i.e. el desplazamiento depender de la orientacin de la fuerza. De todas maneras, el vector desplazamiento no se torna paralelo al vector fuerza debido a la diferencia en las constantes de elasticidad de los resortes, i.e. debido a la anisotropa.

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La componente de la fuerza F aplicada en las direcciones x e y son Fcos y Fsin respectivamente (Figura 2.2.a). Si la rigidez (definida como el desplazamiento por fuerza unitaria aplicada) de los resortes a largo del eje x es k1, y a lo largo de y K2, entonces los desplazamientos sern x = k1 Fcos e y = K2 Fsin . El desplazamiento resultante es mostrado en la Figura 2.2.b, y el ngulo ( ) resultante entre este desplazamiento y el eje x est dado por tan = k2/k1 (tan )

Figura 2.2. Anlisis del sistema anisotrpico de la Figura 2.1. (a): Componentes de la fuerza F aplicada en los ejes principales. (b): Componentes del desplazamiento en los ejes principales.

Entonces en general, la direccin del desplazamiento no ser la misma que la de la aplicacin de la fuerza. Slo cuando es igual a 0 90, el desplazamiento (vector efecto) ser paralelo a la fuerza aplicada (vector causa). Basndose en la reciente analoga, se deben realizar una serie de observaciones acerca de la anisotropa: i. En un sistema anisotrpico, el vector efecto en general no es paralelo al vector causa aplicado. En el ejemplo bi-dimensional mencionado, existen dos direcciones ortogonales en las cuales el efecto se vuelve paralelo a la causa. Para las tres dimensiones, se puede demostrar que estas direcciones son tres y ortogonales entre s. Un sistema anisotrpico puede ser analizado en trminos de las componentes a lo largo de estas direcciones ortogonales, llamadas ejes principales. Sobre estos ejes principales, los valores de la propiedad fsica son denominados valores principales. En el caso descrito esta era la rigidez de ambos pares de resortes (k 1 y k2). Para las tres direcciones, esto se extiende a k1, k2 y k3

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Para las tres dimensiones, una direccin general puede ser representada mediante sus cosenos direccionales, los cuales se ilustran en la Figura 2.3.a. Considere un sistema en el cual se aplica una fuerza F en una direccin general, resultando en un desplazamiento D desfasado de esta fuerza en (Figura 2.3.b). La componente de este desplazamiento en la direccin de F se relaciona a la fuerza aplicada F por una constante K (la cual en la analoga mecnica depende de la rigidez de los tres resortes). Dado que la componente de D en la direccin de F es DF = D cos K = D cos / F = DF / F Es posible calcular el valor de K en trminos de k1, k2, y k3. Las componentes de F en los ejes principales son: Fx = Fl Fy = Fm Fz = Fn Las componentes del desplazamiento en los ejes principales son entonces: Dx = k1Fl Dy = k2Fm Dz = k3Fn La magnitud D resultante del desplazamiento en la direccin de F (DF) puede ser escrita en trminos de sus componentes como: DF = Dxl + Dym + Dzn DF = k1Fl2 + k2Fm2 + k3Fn2 K = DF / F K = k1l2 + k2m2 + k3n2 (Ec. 2.1)
Figura 2.3.a. Los cosenos direccionales l, m, n de la direccin de la fuerza F, estn dados por los cosenos de los ngulos entre F y los ejes x, y, z respectivamente.

Resultando; Luego; Entonces

Esta ltima ecuacin, define el valor de la propiedad K en cualquier direccin, en trminos de Figura 2.3.b. La componente de D en la los tres valores principales k1, k2, k3 y sus cosenos direccin de F est definida como DF = D cos direccionales l, m, n.

2.2. Propiedades de un tensor de segundo orden y sus variaciones con la direccin En un sistema de tres ejes ortogonales, es posible visualizar la variacin de una propiedad K con la direccin, al representar la magnitud de K como la distancia medida desde un origen. El resultado ser una superficie tridimensional cuya forma expresa

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fcilmente la anisotropa de la propiedad. Entonces, en un material istropo la propiedad en anlisis ser igual en todas las direcciones, por lo tanto la superficie que la representa es una esfera. Para obtener la forma de esa superficie de representacin, se considera un punto con coordenadas x,y,z a una distancia r del origen en la direccin de F (Figura 2.4). Los cosenos direccionales l,m,n pueden ser escritos en trminos de x,y,z como l = x/r, m = y/r, n = z/r Substituyendo estos valores en Ec. 2.1, se obtiene que r2K = 1 Es decir, r = 1/ K, entonces k1x2 + k2y2 + k3z2 = 1 (Ec. 2.2)
Figura 2.4. Esquema utilizado para la derivacin de las superficies representativas que describen la variacin de una propiedad perteneciente a un tensor de segundo rango.

Si los tres valores principales, k1, k2, k3 son positivos, entonces la Ec. 2.2 describe una elipsoide. La ecuacin caracterstica para una elipsoide es x2/a2 + y2/b2 + z2/c2 = 1 Donde a, b y c son los semiejes (Figura 2.5). los semiejes para la superficie que representa la propiedad anistropa son 1/ k1, 1/ k2, 1/ k3 En cualquier direccin general, el radio es igual al valor de 1/ K en esa direccin.

Figura 2.5. Elipsoide con semiejes a, b y c.

2.3. Control de la simetra sobre las propiedades fsicas Se denominar X, Y, Z a los ejes principales de la elipsoide, siempre ortogonales. Y para describir el control de la simetra sobre las propiedades fsicas, se debe analizar como estn relacionados estos ejes a los ejes cristalogrficos del mineral. Principio de Neumann: Los elementos de simetra de cualquier propiedad fsica de un cristal deben incluir los elementos de simetra del grupo puntual del cristal. Entonces, a

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partir de la analoga mecnica, y el conocimiento de la descripcin de propiedades a partir de una elipsoide, se tiene para los distintos sistemas cristalogrficos. i. Para un cristal triclnico, dado que no hay restricciones de simetra, la elipsoide puede tener cualquier orientacin respecto de los ejes cristalogrficos. En el sistema monoclnico, ya que existe un eje binario a lo largo de uno de los ejes cristalogrficos, uno de los ejes de la elipsoide debe ser paralelo a este eje. En el sistema ortorrmbico, los tres ejes de la elipsoide deben ser paralelos a los ejes cristalogrficos. Cuando se consideran los sistemas tetragonal, hexagonal y trigonal se hace evidente que la elipsoide es de menor simetra, sin embargo si la elipsoide general tiene k1 = k2, tendr entonces una seccin circular en el plano XY. (elipsoide de revolucin). Este plano es entonces, perpendicular al eje de mayor simetra del cristal, ejes de 4, 6 y 3 repeticiones. En el sistema cbico la propiedad de tensor de segundo orden es istropo.

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v.

Un par de ejemplos del control que ejerce la simetra sobre las propiedades fsicas de los minerales se muestran a continuacin. La Figura 2.6 indica como se propaga un flujo calrico sobre un cristal, y la Figura 2.7 muestra la difusin anisotrpica del Ni en el Olivino.

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Figura 2.6. (a) Un punto origen de calor P sobre la cara (100) de un cristal tetragonal. La conductividad en este plano resulta en una isoterma de superficie elptica. El flujo calrico siempre ser radial a partir de P, mientras que el gradiente termal es normal a la superficie isoterma. (b) Definiciones de conductividad y resistividad en un sistema anisotrpico. (c) Para la obtencin de la superficie de conductividad, el flujo calrico se resuelve en direccin normal al gradiente termal, mientras que para la resistividad, el gradiente termal es resuelto en la direccin del flujo calrico. Notar que en ambos casos la direccin del flujo calrico y el gradiente termal son los mismos. En un material isotrpico, la resistividad y la conductividad son siempre recprocos, pero en un material anisotrpico, este es el nico caso sobre los ejes principales.

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Figura 2.7. Las dos secciones principales de la superficie de representacin que describe la variacin del coeficiente de difusin en el mineral ortorrmbico olivino. En esta ocasin a : b ; c toman los valores de 0.48 : 0.55 : 0.09 respectivamente.

2.4. Propiedades pticas de los minerales 2.4.1. Variacin del ndice de refraccin en un cristal - indicatriz ptica Las propiedades pticas, deben ser expresadas en trminos que permitan relacionar el vector causa con el vector efecto. El ndice de refraccin (n) de un medio isotrpico, se define como la razn entre la velocidad de la luz en el vaco (c), y la velocidad de la luz del medio (v). i.e., n = c/v. En un mineral, este ndice de refraccin se representa como cualquier tensor de segundo rango, con todas las propiedades, restricciones y alcances mencionados anteriormente. La forma ms general corresponde a una elipsoide denominada indicatriz ptica. 2.4.2. Control de la simetra en la variacin del ndice de refraccin en un cristal La variacin del ndice de refraccin en un cristal se analiza de forma anloga a la realizada en la seccin 2.2 de este escrito. i. En el sistema cbico, no existe variacin con la direccin del ndice de refraccin y entonces la elipsoide se transforma en una esfera que tiene como eje nico el valor de n. Para cristales que pertenecen al sistema tetragonal, hexagonal y trigonal, la indicatriz ptica se transforma en una elipsoide de revolucin, con seccin circular normal a los ejes 3 4 6. Se deben indicar dos valores principales para los ejes, e y o (de extraordinario y ordinario respectivamente). Figura 2.8.a. Para cristales de menor simetra se deben indicar tres valores principales para los ndices de refraccin. Estos son < < . Figura 2.8.b.

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Figura 2.8. La variacin con la direccin del ndice de refraccin en un cristal, es descrita por una elipsoide denominada indicatriz ptica.

Frecuentemente resulta til imaginar la indicatriz ptica, como una superficie inmersa dentro del cristal. Gracias a lo anterior, se ha conseguido identificar con claridad la relacin existente entre los ejes cristalogrficos y la indicatriz ptica. La Figura 2.9 muestra dos claros ejemplos de visualizacin. En el cuarzo (quartz), la indicatriz es ms extendida en la direccin paralela al eje c, debido a que e > o. Para tales casos, se refiere a cristales pticos positivos. Para la calcita (calcite), la cual representa el caso contrario, se denomina cristal ptico negativo.

Figura 2.9. Relacin entre la orientacin ptica de una indicatriz uniaxial y la orientacin cristalogrfica.

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El eje normal a una seccin isotrpica es denominado eje ptico. En un cristal uniaxial, el eje ptico es perpendicular al plano xy ordinario. Para cristales biaxiales, existen dos secciones isotrpicas, una de ellas se muestra en Figura 2.9.a. El ngulo entre los dos ejes pticos es denominado 2v (Figura 2.9.b . Si 2v < 90, el cristal es ptico positivo y si 2v > 90, el cristal es ptico negativo.

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Figura 2.10. Ejes pticos para un cristal biaxial

2.4.3. Birrefringencia El comportamiento ptico de un cristal es consecuencia de las propiedades anisotrpicas que posee. Dicho con mayor simpleza, si un rayo de luz incidente atraviesa un cristal anisotrpico, da origen a dos rayos refractados, en vez de uno. Estos dos rayos refractados siempre se polarizan en planos perpendiculares entre si, por lo que se tienen dos ndices de refraccin diferentes. Si los ndices de refraccin son bastante distintos, y el cristal es suficientemente grueso, los dos rayos pueden ser fcilmente separados, debido a la diferencia en el ngulo de refraccin. La doble refraccin de la calcita (Figura 2.11) Figura 2.11. Doble refraccin en la calcita ilustra claramente esta situacin. La diferencia numrica entre los dos ndices de refraccin es denominada birrefringencia. La calcita, es uno de los minerales que posee mayor birrefringencia.

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Resulta importante interpretar la birrefringencia en trminos de la relacin que existe entre la orientacin del rayo de luz incidente y la orientacin de la indicatriz, y entonces visualizar cmo la birrefringencia depende de la orientacin. Notar que el vector luz elctrica E, el cual interacta con el cristal, es siempre perpendicular a la direccin del rayo, debido a esto, los dos rayos refractados vibran en direcciones ortogonales entre s. El plano en que estos dos rayos refractados vibran, es el plano normal a la direccin del rayo incidente. La Figura 2.12 ilustra la anterior situacin con un rayo incidente en una indicatriz uniaxial. El plano Figura 2.12. Rayo incidente en una normal al rayo incidente (eo) define una seccin indicatriz uniaxial. El vector E se elptica dentro de la indicatriz (lnea segmentada), Las encuentra inmerso en el plano eo. vibraciones E de los rayos refractados se deben encontrar dentro de la seccin eo. Los dos ejes principales de esta seccin definen las dos direcciones de vibracin, y las dimensiones de los semiejes mayor y menor definen los dos ndices de refraccin. En la Figura 2.12., se puede ver, que si el rayo incide a travs del eje ptico, los dos rayos refractados tendrn direcciones o y o, e ndices de refraccin de igual magnitud, por lo que la birrefringencia es nula. Por otro lado, si el rayo incidente entra a travs de la direccin de o (cualquiera de los dos semiejes), los rayos refractados se propagarn a travs de e y o (este ltimo ortogonal a la direccin del rayo incidente), y la diferencia de los ndices de refraccin (birrefringencia) es la mxima que se puede tener dentro de la indicatriz. Finalmente, se debe considerar un ltimo aspecto al respecto de la doble refraccin. Hasta ahora, no se ha impuesto ninguna restriccin del estado de polarizacin del rayo incidente. Sin embargo, Si deseamos describir las relaciones de fase entre los dos rayos refractados, el rayo incidente debe ser polarizado plano. Esto se consigue haciendo pasar luz ordinaria a travs de un filtro polaroide (polarizador) antes de que entre al cristal. (Figura 2.13).

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Figura 2.13. Una rayo de luz no polarizado, el vector elctrico E oscila en todas las direcciones normales a la direccin del rayo incidente. Cuando este pasa a travs de un polarizador, slo la componente de E a lo largo del eje de transmisin del polaroide es transmitido, resultando un rayo de luz polarizado.

Cuando este rayo incidente polarizado entra a una seccin del mineral, es dividido en dos rayos refractados, cada uno inicialmente de igual fase. A medida que los dos rayos pasan a travs del mineral se va produciendo una diferencia entre ellos que deja a uno ms retrasado, ya que experimentan ndices de refraccin diferentes y por lo tanto velocidades de propagacin distintas. Estos salen del mineral vibrando en direcciones ortogonales, las que generarn componentes en un segundo filtro polaroide (analizador) cuya direccin de polarizacin es perpendicular al polarizador (primer filtro). Esta situacin se denomina luz cruzada, y sirve para analizar las direcciones de polarizacin de la luz que pasan por un cristal. (Figura 2.14) Si un cristal es istropo, el vector E incidente pasar a travs de l sin cambiar su orientacin por lo tanto ser bloqueado por el analizador. Se dice que el cristal esta en extincin; un cristal istropo est siempre en extincin. En un cristal anistropo el vector incidente E ser dividido en dos componentes ortogonales. Sin embargo si este es paralelo a una de esas direcciones solo uno de los componentes ser transmitido, el estado de polarizacin permanecer sin cambios y por tanto el analizador bloquear al rayo. Esto es una posicin de extincin. Existe otra posicin de extincin al rotar 90 el cristal de tal forma que el vector incidente E es paralelo al otro componente.

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Figura 2.14. Esquema de polarizacin de luz similar al Microscopio.

2.4.4. Colores de interferencia La mayora de los minerales muestran una birrefringencia menor que la calcita, por tanto esta propiedad no es notable sin utilizar un microscopio petrogrfico. Un rayo de luz polarizada plana que atraviesa un mineral anistropo se parte en dos rayos de distinto ndice de refraccin, distinta velocidad de transmisin. Entonces si recorren la misma distancia (espesor del corte de roca, 30 m), emergern en una posicin diferente en la onda, desfasados. La extensin del desfase depende de la diferencia de ndices de refraccin. Los dos rayos que vibran ortogonales, vectores E ortogonales, con diferencia de fase entre ellos, se recombinan en el analizador formando una sola onda que es el resultado de la interferencia entre las dos que emergen del cristal. En el caso de una iluminacin blanca la interferencia resulta de la destruccin de ciertas longitudes de onda, dando como resultado un color de interferencia caracterstico. Si los minerales son examinados en una seccin transparente estndar, los colores de interferencia se relacionan directamente con la birrefringencia. 2.5. Una nota en las propiedades elsticas de los minerales An cuando al inicio de este captulo se mencion que las propiedades elsticas se encuentran en una categora distinta a las propiedades de segundo rango, se har una breve referencia a ellas. En el anlisis del comportamiento de los minerales ante las solicitaciones de esfuerzo diferencial se usa la relacin existente entre el tensor de esfuerzos y el tensor de deformaciones (elipsoides). En el mbito de la deformacin elstica estos tensores

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estn linealmente relacionados por las constantes elsticas del cristal. El caso ms general, el triclnico, necesita de 21 de ellas, las que se reducen a 3 en los minerales cbicos. Para agregados slidos istropos, vidrios y rocas policristalinas, hay dos constantes elsticas, el Mdulo de Young ( / ) y el de Poisson (- '/ , donde corresponde a la deformacin en la direccin del esfuerzo y ' la deformacin en las direcciones ortogonales). 2.6. Relacin entre anisotropa y estructura cristalina La relacin entre estas es evidente. En algunos minerales que presentan una extrema anisotropa como el grafito, este tiene una estructura conformada por capas de carbono fuertemente enlazados a una distancia de 1.42, (Figura 2.15.a) mientras las capas se enlazan dbilmente a una distancia de 3.35. Estas capas son fcilmente separadas, lo que le confiere la suavidad caracterstica. Esta fuerte anisotropa explica que la resistividad elctrica perpendicular a las capas sea de 5 * 10-3 m y la paralela a las capas sea de 5 * 10-6 m, es decir, el grafito es semiconductor perpendicular a las capas y es conductor metlico paralelo a estas. Similar a la conductividad trmica que es 28.3*10-6K-1 perpendicular a las capas y virtualmente cero paralelo a las capas. Para la calcita es evidente con los ndices de refraccin, dado que si el vector E vibra paralelo a los planos CO3 el ndice de refraccin es de 1,658 y si E vibra perpendicular a estos, entonces el ndice es de 1.486, debido a la perturbacin del campo elctrico provocado por los oxgenos vecinos en las capas. (Figura 2.15.b).

Figura 2.15. (a) Estructura del grafito. Capas de tomos de carbono dispuestos en las esquinas de una malla hexagonal. (b) Estructura de la Calcita.

2.7. Anisotropa y la forma externa de los minerales La interpretacin cientfica de la morfologa de los minerales comienza con Bravais alrededor de 1850, quien postul que las caras de un cristal deberan ser aquellas que mostraban una mayor densidad de puntos de red. A principios del siglo XX, se introdujeron sofisticaciones a estos postulados; pero sin tomar en cuenta los arreglos

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atmicos ni los tipos de enlaces que participan, por tanto no son aplicables al tratar de predecir la estructura de superficie. Hartman y Perdok en 1955 relacionan la morfologa a direcciones estructurales importantes, esto es, direcciones que contienen una cadena de elementos fuertemente enlazados, llamadas cadenas de enlace peridico. Asbestos fibrosos, micas en capas son ejemplos de esto. En estructuras ms complejas la relacin no es tan evidente lo que es expresado por la introduccin de impurezas en el ambiente de crecimiento.

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