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ALTA TENSION
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INTRODUCCION
Origen y Mecanismo Magnitudes Caractersticas Efectos de las DP sobre los equipos Normalizacin y Valores Lmites
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Introduccin - Justificacin
* El envejecimiento y la falla de un aislamiento se inicia por multiplicidad de procesos elctricos, mecnicos, trmicos y qumicos, no separables y que pueden ser originados bien sea desde la fase de fabricacin o durante la Operacin del mismo (instalacin). Una forma de producirse dichos procesos es a travs de imperfecciones en el material aislante. En stos pueden ocurrir DP, las cuales incrementan la tasa de envejecimiento y por lo tanto reducen la vida til del equipo. * Por ello, para asegurar la confiabilidad y seguridad de la operacin de este tipo de equipamiento, es necesario desarrollar conocimiento del fenmeno, tcnicas de medicin, de identificacin (diagnstico) y localizacin. Y es importante tanto en la fase de fabricacin (desarrollo de prototipos o pruebas rutinarias), como durante la vida til en operacin.
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Origen y Mecanismo
1.a-
Definicin:
Descarga Parcial :
Descarga elctrica confinada en un espacio y que solo causa una falla parcial de aislamiento entre Conductores que estn a una diferencia de potencial.
IEC-270:
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Origen y Mecanismo
1.b-
Caractersticas:
- El proceso de descargas parciales es caractersticamente pulsante y con Tiempo de duracin, entre 3 300 ns. - La descarga fsicamente solo puede ocurrir en una fase gaseosa, ya que la Formacin del canal ionizado conlleva a la evaporacin del material. - La descarga es detectada como un pulso de corriente y viene asociado a una variacin de la carga elctrica (q) del aislante y adems responde a un proceso estocstico y no estacionario, ya que viene determinado por variables aleatorias dependientes del tiempo. - Carga aparente: Es el valor de una carga elctrica q, tal que si es introducida durante un tiempo muy corto entre los terminales del objeto de prueba, dar la misma lectura en un instrumento de medicin que el pulso de corriente en si mismo. Viene expresada en pC y es la unidad de medicin de las DP. De ella, es importante: Magnitud, intervalo de repeticin y ngulo de fase.
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Origen y Mecanismo
1.b-
Caractersticas:
-Al depender del tiempo, es un proceso no Markoviano, lo cual no permite Imitar en laboratorios el desarrollo de este tipo de fenmeno. FISICA QUIMICA DESARROLLO EXPERIMENTAL TECNICAS DE MEDICION DESARROLLO TECNOLOGICO INTERES PRACTICO - ECONOMICO
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Origen y Mecanismo
1.c-
Clasificacin:
A.- EXTERNAS Por ionizacin del aire. Se denomina: CORONA
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Origen y Mecanismo
1.c-
Clasificacin:
B.- SUPERFICIALES por contacto entre dos materiales aislantes (Aire Slido)
AIRE Aislante V
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Origen y Mecanismo
1.c-
Clasificacin:
C.- INTERNAS en cavidades o inclusiones de aire, u otros gases en el interior del aislamiento slido, ocasionadas por el proceso de extrusin o vaciado
Hueco
V Aislante
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Origen y Mecanismo
1.c-
Clasificacin:
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- Visin Externa Global - Formacin Interna: Descarga en cavidades Teora de Descarga en gases (Townsend) Particularizacin a espacios confinados Procesos Estocsticos
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(Simulacin en ATP)
Forma de Onda
1.2 [V] 0.8
0.4
0.0
-0.4
-0.8
-1.2 0.00
0.02
0.04 v:XX0004
0.06
0.08
[s] 0.10
0.4
0.62 0.60 0.58 0.56 0.54 0.52 18.19
0.0
-0.4
-0.8
18.19
18.19
18.19 v:XX0004
18.19
-1.2 15
19
23 v:XX0004
27
31
[ms] 35
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Streng E (V/m
6.700
6.309
5.918
Dielctrico
5.527
5.136
4.745
4.354
3.963
3.572
3.181
DONDE: r = 3 Vapl = 1 V
2.790
Se visualiza que la punta origina la zona con mayor intensidad de Campo Elctrico (E)
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6.3 34
5.8 91
5.4 48
5.0 05
4.5 62
4.1 19
3.6 76
3.2 33
2.7 90
DONDE (aire): - Hay mayor intensidad de E, debido a la interfaz con aire. r = 1 - Ws y Cs cambian debido a la incorporacin del hueco
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- Distorsin en la distribucin de potencial y en la intensidad de E Estudiando las diferencias en la energa almacenada Ws Ws = C V^2 C = 8.13e-11 F Con ese valor, puede estimarse, la variacin de la carga, como: Q = C * V Q = 81.3 pC
6.507
5.784
5.061
4.338
3.615
2.892
2.169
1.446
0.723
0.000
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(Experimentalmente)
Semiciclo Positivo
Circuito de Ensayo
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- Formacin de la descarga
a.- Condicin Necesaria: Fase Gaseosa b.- Para la ocurrencia de una DP, debe cumplirse que (EF/DG) En Gases Electronegativos. (E/N) > (E/N)c
Esa condicin, cumple con el planteamiento del mecanismo Townsend de inicio, Ya que: Coeficiente de Ionizacin () = Coeficiente de absorpcin () Donde: Coef. Ionizacin efectivo /p = ( )/p = G ((E/p) (E/p)o) (E/p)o Propiedad del Gas G Geometra del defecto c.- Aparicin del Electrn Inicial (ei) A C B DP
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Laplace
Poisson
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La formacin del canal ionizado implica vaporizacin en lquidos o presencia de huecos en slidos.
C Aparicin del Electrn Inicial. Proceso Aleatorio (Estocstico) Es la etapa ms importante, ya que es requisito indispensable para la formacin de avalanchas. GENERACION VOLUMETRICA Foto-Ionizacin (PI) Ionizacin por E (FD) PRODUCCION SUPERFICIAL Emisin en conductores desde el ctodo (FE) Liberacin e de la superficie aislante (DT) Liberacin por impacto en iones (II) Foto Liberacin (PE)
ALTA TENSION C
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GENERACION VOLUMETRICA Funcin Legler: Establece la probabilidad de que un simple electrn desarrolle una avalancha PRODUCCION SUPERFICIAL Ley de Emisin Termoelctrica Material Ctte Boltzman Superficial Temperatura Area Funcin Schottky Involucrada Trabajo El tiempo que transcurre entre que se logra que E>Ecrit y la obtencin de ei, es Conocido como retraso o time lag. Probabilidades
ALTA TENSION B
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Una vez generado el primer electrn, comienza el fenmeno de inicio y desarrollo de una descarga y por ltimo la ruptura del medio. Para ello, se tienen que distinguir los diferentes procesos presentes en este desarrollo: (Dep. E) Curva V-I obtenida por Townsend
Debido a E, se origina sobre ne una Energa cintica en direccin a E, lo cual Causa colisiones. Siendo n, el nmero de e en x. Integrando en la d interelectrdica
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En trminos de corriente: Se debe observar que el trmino , toma en cuenta la ionizacin por colisin y la recombinacin. Si: C y : Cttes gas (E/p)cr es donde Se obtiene una Avalancha de electrones =
Ctodo
Anodo
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Criterio de Ruptura
Townsend: Kcr: nmero crtico de e en la avalancha Para causar desarga autosostenida.
La descarga anterior, solo es vlida, si durante la avalancha de electrones no se Distorsiona sensiblemente el E aplicado al espacio interelectrdico. Este lmite viene definido por la cantidad de carga espacial, la cual depende directamente de la cantidad de electrones libres en el espacio de inters. El criterio se ha establecido de la siguiente forma: Nc = 1 x 10^8 Eg: E aplicado
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Mecanismo Townsend Streamer
Dada la alta carga espacial en la cabeza de la descarga lder, se desarrolla: Un alto nivel de ionizacin.
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En presencia de bordes laterales:
Modelacin Computacional Cond Este fenmeno tiene mayor corriente De descarga y maneja mucha energa, Por lo que desde el pto de vista de DP, Muy daino.
Aisl
Aisl
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Tensin durante la DP
Resumiendo:
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La distribucin dipolar de cargas en el defecto (hueco o burbuja), induce cargas En los conductores del sistema y es realmente la registrada por los equipos de Medida. a b En un hueco o defecto elipsoidal: Donde: o es el gradiente de un Campo escalar adimensional, que toma en cuenta la Ubicacin del defecto en el aislante (Solucin de la ecuacin de Laplace con o = 1 en el electrodo de medicin y o = 0 en los bordes) q es conocida como la CARGA APARENTE Discusin del modelo ABC
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Magnitudes Caractersticas
a.- Tiempo de retraso b.- Valores Mximos y Mnimos c.- Tiempo de muestreo d.- Variacin temporal de la magnitud (Distribucin) e.- Fase de ocurrencia f.- Frecuencia de ocurrencia en intervalo de valores g.- Tipo de Material (Proceso de Fabricacin) h.- Conocimiento del sistema
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Magnitudes Caractersticas
En resumen: CONDICION PARA DP Ehueco > Einc ext Presencia del primer (e)
s
Ne = Next + Ns Next r^2 rad Ns q f(t) g(E) Proceso Aleatorio
Adems, suponiendo como nico proceso de DP, el canal plasmtico o streamer: B Durante la DP, el hueco posee un Eres Einc := E 1 + pd q r o r^2 (E-Eres) Donde: E = Efuente + Eq qmin r o r^2 (Einc-Eres) Einc = Emin
qmax r o r^2 (2Emax Eres) DPi finaliza en Vp(+) y DPi+1 comienza en Vp(-)
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Magnitudes Caractersticas
(e) libres
Cantidad DP Magnitud pC
(e) libres
Cantidad DP Magnitud pC
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Magnitudes Caractersticas
Importancia: Historial de Ensayos CANTIDAD FASE MAGNITUD Incremento de DP en el tiempo, producto del cambio fsico - qumico
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Consecuencias (Efectos)
Las DP, causan cambios fsicos y qumicos en el material dielctrico (slido, Lquido o gaseoso) y generalmente esos cambios van en detrimento del comportamiento del material como aislante. Dichos Cambios, son originados por la exposicin al bombardeo de electrones durante la descarga y que pueden manejar energas del orden de 10 eV.
3.5 eV -----6.2 eV -----C-H C=C
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Consecuencias (Efectos) - Subproductos gaseosos - Cambios de Morfologa y slidos en el gas - Cambios en la resistividad superficial - Acidificacin Superficial, oxidacin. - Crecimiento de Huecos, fisuras y arborizacin (seca o lquida).
FALLA DEL AISLAMIENTO
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Consecuencias (Efectos)
Los cambios pueden ser: Transitorios (cambios en la cristalizacin de grupos Carbonilos en cables XLPE) Permanentes (erosin o arborizacin)
ENVEJECIMIENTO
La mayora de los mecanismos que producen estos cambios, son hoy da, an Observaciones empricas que han originado El gran avance de las tcnicas de medicin.
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Consecuencias (Efectos)
Proceso
No Estacionario Degradacin
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Consecuencias (Efectos)
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Consecuencias (Ejemplo)
Una teora para establecer la reduccin en la actividad de DP, justo antes De producirse la falla, viene relacionada con: AVALANCHA (DE MEDIANA O ALTA ENERGIA) Tipo Townsend o Kanal de Raether PLASMAS LUMINOSOS NO PULSANTES PSEUDO-GLOW De baja intensidad pero larga duracin
Se producen Radicales libres creando atmsferas oxidantes. Produciendo: Acidos: Frmico, ntrico,etc. Adems Reducen O y por lo tanto cambian el gas
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MEDICION DE DP
Equipamiento con mayor tasa de fallas por DP CABLES MAQUINAS ROTATIVAS TRANSFORMADORES OTROS (GIS, TP, TC) 60% 25% 10% 5% Terminaciones y Empalmes S/T, mantenimiento S/T, S/C, Hermeticidad
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MEDICION DE DP
La Medicin de DP, tiene muchos detalles, aun no desarrollados, tal como Se ha comentado en la presentacin de Mecanismos: - Frecuencia de Medicin - Ruido externo - Estadstica en conjunto con otras caractersticas dielctricas (tan, IP, etc) - Diagnstico: Tcnicas de Fuzzy Logic, Inteligencia artificial, filtrado digital.
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MEDICION DE DP
Algunos lmites, representativos: Cables: (XLPE) Capacitores: 5 pC Lminas Plsticas Papel/Aceite de Castor Transformadores Y Reactores: Aceite Epoxy -------20 pC 200 pC 500 pC 10 pC > 5000 pC
Mquinas Rotativas
Sin embargo, el Diagnstico debe basarse en la estimacin estadstica y clasificacin de patrones con tcnicas digitales (STFT, Wavelet, etc)
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CORONA
(Circuito Equivalente)
Pulsos Trichel En general son autosostenidos con Alta distorsin de E. n > nc. Sin embargo, no producen ruptura.
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CORONA
- Formacin de la descarga
Definicin: Es una regin parcialmente ionizada, adyacente A un conductor energizado.
El proceso, tiene como fundamento, la teora anterior. Lo que Cambia es la forma de interpretarla fsicamente: -Esta causa un cambio en E entre Cond Tierra -Este cambio puede interpretarse como un incremento de C o un mayor radio del conductor - Como consecuencia, hay un V en la lnea (prdidas)
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CORONA
Sin embargo, Fsicamente es un movimiento de cargas o iones (tanto + como -), segn el semiciclo de la onda senoidal.
Consideraciones de Diseo:
Altamente Dependiente de las condiciones ambientales
Adems: implica tener cuidado con terminaciones en punta, con defectos de fabricacin, etc.