UNIVERSIDADE FEDERAL DO ABC

CENTRO DE ENGENHARIA, MODELAGEM E CINCIAS SOCIAIS APLICADAS

MATERIAIS E SUAS PROPRIEDADES (BC 1105)

ANLISE DE DIFRAO DE RAIO X: PRINCPIOS E APLICAES PARA INVESTIGAO DAS ESTRUTURAS DE MATERIAIS DA ENGENHARIA

GRUPO 7 NOME Henrique de Carvalho Faria Laura Maria Marques Paulo Leonardo Cardoso So Felix Letcia Sales Carvalheira Machado Rafael Martins RA 11028306 11117610 11128910 11126210 11081510

FEVEREIRO DE 2013

1. INTRODUO

Atravs de um aparelho chamado de Tubo de Coolidge os raios X so obtidos. Em um tubo oco, evacuado e que contm um ctodo em seu interior. Quando esse ctodo aquecido por uma corrente eltrica, emite grande quantidade de eltrons que so fortemente atrados pelo nodo, se chocando nele com grande energia cintica. Dessa forma, ocorre a transferncia de energia para os eltrons que esto nos tomos dos nodos. Os eltrons com energia so acelerados e ento emitem ondas eletromagnticas denominadas raios X. Estes, assim como todas as outras ondas eletromagnticas, se propagam com a velocidade da luz e sempre esto sujeitas a fenmenos como a refrao, difrao, polarizao, interferncia e reflexo. Por ter como principais caractersticas a radiao com alta energia e o pequeno comprimento de onda, raios X podem ser difratados por cristais, pois na maior parte dos slidos h planos cristalinos que se ordenam separadamente com as mesmas distncias dos comprimentos de onda dos raios X, e isso torna possvel a determinao das fases cristalinas do slido. A difrao de raios X ocorre segundo a Lei de Bragg, na qual a relao entre o ngulo de difrao e a distncia entre os planos que a originaram so caractersticos para cada fase cristalina, e ao incidir um feixe de raios X em um cristal, o mesmo interage com os tomos presentes, originando o fenmeno de difrao. Equao (Lei de Bragg) n = 2d sen () (A) n: nmero inteiro : comprimento de onda dos raios X incidentes d: distncia interplanar : ngulo de difrao Dentre as vantagens da tcnica de difrao de raios X para a caracterizao de fases destacam-se a simplicidade e a rapidez do mtodo, a confiabilidade dos resultados obtidos (pois o perfil de difrao obtido caracterstico para cada fase cristalina), a possibilidade de anlise de materiais compostos por uma mistura de fases e de anlise quantitativa destas fases.

2. OBJETIVOS

Este relatrio consiste na compreenso da anlise de difrao de raios X para a identificao dos materiais de engenharia com base na sua estrutura cristalina atravs da anlise de um difratograma de raios X.
3. METODOLOGIA

O mtodo adotado para a realizao do experimento foi a anlise do difratograma de raios X do elemento Cromo (Cr). Para isso, plotamos um grfico com os dados apresentados, utilizando a intensidade em funo do ngulo de difrao 2. A partir desse grfico, foi possvel analisar cada pico de difrao determinando o ngulo 2 e a sua intensidade relativa. Foi escolhido o pico mais intenso para a normalizao dos demais e, com isso, foram realizados os seguintes clculos: Utilizando = 0,154184 como valor do comprimento de onda do raio X difratado, calculou-se o valor de espaamento interplanar dhkl de cada pico de difrao. Para a determinao do tipo de estrutura cbica, foi necessrio calcular o ngulo e os valores de sin() para cada pico de difrao, dividindo pelo conjunto de soma S = h + k + l de cada tipo de estrutura cbica. Com isso, possvel descobrir qual a estrutura em que a razo sin()/S constante. Com a obteno do tipo de estrutura cbica, foram determinados os planos cristalinos cristalinos correspondentes a cada pico de difrao, utilizando os ndices de Miller (hkl). Com os dados obtidos, foi determinado o parmetro de rede da estrutura a a partir do dhkl e do ndice de Miller (hkl) de seu respectivo pico. A partir dos dados obtidos, foi possvel calcular os ngulos 2 dos picos de difrao usando uma radiao X incidente utilizando um valor do comprimento de onda aleatrio Nesse caso, foi escolhido o valor = 0,161564. Alm do Difratograma, tambm foram respondidos questionrios sobre a identificao qualitativa e quantitativa de fases em materiais cristalinos e sobre um artigo cientfico com relao a tcnicas de difrao de raios-X para caracterizao de um material de engenharia, com o intuito de aprofundar os conhecimentos tericos sobre a difrao de raios X.

4. RESULTADOS E DISCUSSES

2 55.3 82 107 136.3

I (mm) 4101 633 1434 542

Ir(%) 100% 15.4% 35.0% 13.2%

27.7 41 53.5 68.2

sen() 0.465 0.656 0.804 0.928

dhkl (nm) 0.166 0.118 0.096 0.083

sen() 0.216 0.430 0.646 0.862

SCS sen()/SCS SCCC sen()/SCCC SCFC sen()/SCFC (hkl) 1 2 3 4 0.21608 0.21521 0.21540 0.21552 0.00037 Errado 2 4 6 8 0.10804 0.10760 0.10770 0.10776 0.00019 Correto 3 4 8 11 0.07203 0.10760 0.08077 0.07837 0.01571 Errado (110) (200) (211) (220)

(h+k+l)1/2 1.41 2.00 2.45 2.83 Mdia

a (nm) 0.2345 0.2350 0.2349 0.2348 0.2348 0.0001 0.154184

Desvio-Padro (nm)

Tabela 1 Anlise do Difratograma do Cromo pela intensidade de raios X

sen() 0.4871 0.6875 0.8423 0.9729 29.15 43.43 57.39 76.64 2 58.30 86.86 114.77 153.28 sen() 0.237 0.473 0.710 0.947 sen()/SCS sen()/SCCC sen()/SCFC 0.23726 0.23630 0.23651 0.23665 0.00041 (nm) 0.161564 0.11863 0.11815 0.11825 0.11832 0.00021 0.07909 0.11815 0.08869 0.08605 0.01725

Tabela 2 - Variao do cromo pela intensidade de raios X

Com os clculos realizados, pode-se concluir que o Cromo (Cr) possui a estrutura cbica de corpo centrado, pois a estrutura cuja razo sin()/S constante. Tipo de metal: o cromo considerado um metal pesado. Estes, quando absorvidos pelo ser humano, se depositam no tecido sseo e gorduroso e deslocam minerais nobres dos ossos e msculos para a circulao, colocando a sade em risco. Analisando as diferenas entre os ngulos 2 dos picos de difrao (sendo = 0,154184 o comprimento de onda dado e = 0,161564 o aleatrio), foi possvel verificar que apesar da alterao no comprimento de onda, a estrutura cbica de corpo centrado foi a que permaneceu com seus valores constantes, o que confirmou o tipo de estrutura descoberto anteriormente. Questionrio As questes seguintes so relacionadas obteno de difratogramas para identificao qualitativa e quantitativa de fases em materiais cristalinos: a) Como so gerados os raios X? Os raios X so uma forma de radiao eletromagntica que possuem elevadas energias e curtos comprimentos de onda (da ordem de magnitude dos espaamentos atmicos nos slidos). Quando um feixe de raios X incide sobre um material slido, uma frao deste feixe se dispersa, ou seja, se espalha em todas as direes pelos eltrons associados a cada tomo ou on que se encontra na trajetria do feixe. b) Qual o nvel de tenso usualmente utilizado nas medidas? O nvel de tenso utilizado usualmente de 25 a 120 kV. c) Quais so os principais tipos de fontes utilizados em anlise por difrao de raios X? As principais fontes existentes de difrao de raios-X so os nodos selados (de vidro ou cermico), nodos rotatrios e os aceleradores de partcula de alta energia, conhecidos por luz sncrotron. d) Quais so os comprimentos de onda tpicos das fontes citadas no item c)? A faixa de comprimento de onda til em ambas as configuraes (nodo selado ou rotatrio) a mesma disponvel na difrao de nutron (0.3 a 6), sendo que o valor mais comum de 1.5406 (radiao CuK1).

e) Como feita a preparao de amostras para as medidas de difrao de raios X? Aps serem desaglomerados, os ps so prensados uniaxialmente a 3000kgf em forma de pastilhas com aproximadamente 3mm de altura por 10mm de dimetro. As pastilhas so sinterizadas a 1250C, por 5h, em atmosfera de ar, com taxa de aquecimento de 1C/min e taxa de resfriamento de 1C/min at 600C. A partir dessa temperatura, o resfriamento foi ao ar. f) Quais so os principais componentes de um difratmetro de raios X? Fenda de espalhamento, fenda soller, fenda de recepo, detector, monocromador, fenda de divergncia, filtro, amostra e tubo de raio X. g) Descreva o funcionamento de um difratmetro de raios X. As tcnicas modernas de determinao de estruturas cristalinas por difrao de raios-X utilizam um difratmetro de raios-X, que tem um contador de radiao para detectar o ngulo e a intensidade do feixe difratado. medida que o contador se move num gonimetro circular que est sincronizado com a amostra, um registador representa automaticamente a intensidade do feixe difratado, numa gama de valores 2. Deste modo, podem registar-se, simultaneamente, os ngulos dos feixes difratados e as respectivas intensidades.

5. AVALIAO DO ARTIGO Artigo analisado: Influncia do lantnio nas propriedades eltricas do titanato de brio obtido por sntese hidrotrmica

O ttulo reproduz de maneira coerente o contedo do artigo e em um resumo objetivo e curto possvel se entender de maneira abrangente como foi a produo de titanato de brio na sua forma pura e dopada e como ele foi caracterizado pelo raio X. O artigo est inserido no contexto de como modificar a micro-estrutura e as propriedades eltricas das cermicas de BaTiO3 atravs da tcnica da dopagem. Devido a sua alta constante dieltrica (>1000), o titanato de brio um dos materiais cermicos mais utilizados na indstria eletroeletrnica. O texto faz referncia a pontos de vista de diversos pesquisadores sobre a influncia da temperatura e da cor nas substncias apresentadas antecessores pesquisa. Entretanto, o artigo no especifica de maneira objetiva o por qu da realizao da pesquisa, no apresenta na introduo o problema proposto nem como sero utilizados os resultados apresentados.

Dentro dos mtodos introduzidos foram apresentados grficos feitos dentro de parmetros reconhecidos e sistemticos que compem a concluso do autor. O tipo de estudo bem apresentado, assim como os mtodos e materiais utilizados para o estudo da influncia do lantnio nas propriedades do titanato de brio produzido por sntese hidrotrmica. Tambm fala como a difratometria de raios X foi utilizada para verificar as possveis fases presentes, cristalinidade e deteco de possveis impurezas. Apesar de bem estruturado, alguns dados relevantes so subestimados e deveriam constar no artigo, como as equaes utilizadas e o comprimento de onda de raio X difratado. Foram enfatizados os principais resultados das amostras e mostradas as limitaes dos instrumentos e do prprio estudo, e estudos complementares foram agregados para embasar os mtodos do artigo. Apesar do artigo no ser descritivo em relao a sua aplicao direta nem a sua relevncia de aplicao, ele coerente e claro quanto aos dados tericos, alm de ser bem ilustrado com imagens simples e claras, e de ter grficos relevantes para a compreenso. Ele permite dizer com segurana que a partir de certa temperatura (94750mm/C), o aumento na concentrao de lantnio promove a diminuio do coeficiente de temperatura, que se reduz para 38.940mm/C, com 1,0mol% de lantnio. O tamanho mdio de gro diminui com o aumento da concentrao de lantnio, como resultado do aumento da frao de gros nanomtricos.
6. QUESTIONRIO a) Qual o objetivo do uso da tcnica de difrao de raios X pelos autores? O objetivo do uso da difratometria de raios X a verificao das possveis fases presentes, do tipo de cristalinidade, da deteco de impurezas geradas do processo e determinao do fator tetragonalidade dos ps e pastilhas sinterizadas. b) Que tipo de fonte de raios X foi utilizado? Os raios X das amostras foram produzidos por sntese hidrotrmica. c) Qual o comprimento de onda da radiao? Vai de 0,05 ngstrm (5 pm) at dezenas de ngstrm (1 nm). Para os clculos, foi utilizado o valor = 0,154184.

d) Escolha um difratograma. Calcule a distncia interplanar de cada plano cristalino identificado no difratograma, a partir dos valores de ngulo de difrao (2) obtidos experimentalmente. Utilize a lei de Bragg.

Grfico - Difratograma de amostra de titanato de brio hidrotrmico puro, sintetizado a 220C, por 20h. 2 26 31.5 37 45.6 53 60 67 I (mm) 1000 950 6000 1800 1100 200 1300 Ir(%) sen() 0.225 0.276 0.317 0.388 0.446 0.500 0.552 dhkl (nm) 0.343 0.280 0.243 0.199 0.173 0.154 0.140

16.7% 13.0 15.8% 16

100% 18.5 30.0% 22.8 18.3% 26.5 3.3% 30.0

21.7% 33.5

7. REFERNCIAS S.A. Marco, Equipe Brasil Escola, Raio x. P. F. Albers, Universidade do Vale do Paraba, UNIVAP. Praa Candido Dias Castejn, 116, 12245-720, Centro, S. Jos dos Campos, SP. F. G. Melchiade,R. Machado,J. B. Baldo e A. O. Boschi, Universidade Federal de S. Carlos, S. Carlos SP, Um mtodo simples de caracterizao de argilominerais por difrao de raios X. CUT RJ,Comisso de Meio Ambiente, Artigo Metais Pesados, acessado em 15/12/2013. <http://www.fiec.org.br/iel/bolsaderesiduos/Artigos/Artigo_Metais%20Pesados.pdf>