*Investigacin apoyada por el Consejo Nacional de Ciencia y Tecnologa (CONACyT) e Instituto

Tecnolgico de Aguascalientes
1
Maestra en Ciencias en Ingeniera Elctrica, Instituto Tecnolgico de Aguascalientes.
Correo electrnico: alx_arr_8@hotmail.com, eruiz@ieee.org, drorozco@ieee.org

DETECCIN DE FALLAS EN LNEA*

Alejandro Javier Arredondo Garca
1

Elvia Ruiz Beltrn
Jorge Luis Orozco Mora
Palabras clave: Diagnosticabilidad, Sistemas de eventos discretos, Redes de Petri
interpretadas, Programacin lineal.
INTRODUCCIN
En la actualidad los sistemas a controlar son ms complejos debido a que deben satisfacer
especificaciones con un alto grado de desempeo, lo cual involucra que los sistemas contengan
una gran cantidad de componentes, por consecuencia, se incrementa el potencial de falta, no
importa que tan seguro sea su diseo, que tanto mejoren las tcnicas de control, o que tan buenos
sean los operadores, las faltas en los sistemas se hacen inevitables.
La deteccin y localizacin de faltas deben estar incluidas en los sistemas, desde el momento en
que se disea el sistema no se introducen errores, eventos externos o malos funcionamientos de
los componentes del sistema que pueden causar que el sistema alcance estados de riesgo.
Recientemente, el enfoque basado para el diagnstico de faltas en sistemas de eventos discretos
(SED) ha sido usado por la comunidad investigadora, muchos trabajos en esta materia utilizan
autmatas finitos (AF) o Redes de Petri (RP) como formalismos de modelado.
El enfoque de AF (M. Sampath et al.1996), se utiliza para el modelado de SED es as como se
introduce la nocin de diagnosticabilidad y se propone una tcnica para el diseo de un
diagnosticador. En estos trabajos el modelo del sistema incluye todas las fallas posibles, realizando
una prueba a la diagnosticabilidad.



El uso de AF para describir los SED se limita a sistemas pequeos, por lo que un crecimiento del
autmata implica un crecimiento exponencial que no es deseable al realizar el anlisis de la
diagnosticabilidad. Es as como la necesidad de utilizar otra alternativa lleva a adoptar el enfoque
de RP como un formalismo de SED. Las RP proveen una descripcin grfica clara y simple, as
como una base matemtica slida que son razones a partir de las cuales se pueden representar
relaciones causales, procesos de sincronizacin, localizacin de recursos y concurrencias propias
del comportamiento de los SED. F. Basile y G. Tomassi (2009) monitorea los estados de falla del
sistema y se basa en un algoritmo en lnea que estima los marcados de las transiciones
observables sin determinar la propiedad de diagnosticabilidad. M. Dotoli et al. (2009) considera los
SED con comportamiento no esperado como faltas provocadas, las cuales se incluyen en un
modelo de RP como transiciones no controlables. La prueba de diagnosticabilidad est basada en
el grafo de alcanzabilidad, este mtodo esta an limitado a sistemas pequeos.
En este artculo se proponen condiciones suficientes para caracterizar la propiedad de
diagnosticabilidad de fallas operacionales y permanentes, en sistemas representados mediante
Redes de Petri Interpretadas (RPI) que se obtienen aplicando la metodologa de modelado
ascendente propuesta en Ramrez-Trevio et al. (2007). Se propone un algoritmo polinomial para
analizar el rea de influencia de una falla y con ello determinar cundo una falla es diagnosticable
en una RPI. Adems se propone el esquema para llevar a cabo la deteccin y localizacin de fallas
en lnea.
MATERIALES Y MTODOS
Una estructura de RPI es un grafo bipartito G = (P, T,) donde: P = {p
1
, p
2
, ..., p
n
} y T = {t
1
, t
2
,... ,t
m
}
son conjuntos finitos de lugares (asociados a los sensores del sistema) y transiciones (eventos)
con una interpretacin propia del sistema, que tienen una representacin grfica como se muestra
en la Figura 1.



Figura 1. Representacin grfica de una RPI asocia los lugares y las transiciones a una
interpretacin dentro del enfoque de RP.

Para representar los estados en una red de Petri, se parte de un marcado inicial, que evoluciona
de acuerdo a la ecuacin 1 llamada ecuacin de estado, de tal forma que para que la marca pase
de un estado a otro es condicin necesaria que la transicin est habilitada es decir que los
lugares inmediatamente anteriores se encuentren marcados.
M
k+1
=M
k
+Cv
k
(1)
Donde M
k
es el marcado actual, M
k+1
es el marcado al que evoluciona, C es la matriz de incidencia
que relaciona los lugares con las transiciones y contiene la estructura de la red y V
k
se refiere al
vector de las transiciones habilitadas que se dispararon. Adems en una RPI se especifican los
lugares que estn asociados a un sensor en una matriz denotada por la letra griega .
En las RPI se define lo que es el vector de salidas Y
k
el cual representa la evolucin de los
sensores de manera tal que si es Y
k(
(Pj)=1 ese sensor esta activo, en cambio si Y
k
(Pj)=0 este
sensor no est activo, con este vector es como se monitorea la evolucin a la salidas del sistema,
de acuerdo al marcado en el que se encuentra el sistema.
Un P-semiflujo son aquellos lugares de una subred perteneciente a la RPI en los cuales el
marcado se mantiene constante.
Un T-semiflujo son aquellas secuencias de transiciones pertenecientes a una subred a partir de las


cuales la red evoluciona de un marcado y se llega a este mismo.
Un Sifn: Es un subconjunto de lugares tal que las transiciones de salida son un subconjunto de
las transiciones de entrada. Para profundizar ms en la definicin matemtica de los conceptos
anteriores vase Ramrez-Trevio et al. (2012).

Una RPI es evento-detectable si y slo si el disparo de cualquier par de transiciones t
i
, t
j
de (Q,M
0
)
se distinguen unas de otras por la observacin de las secuencias de smbolos de entrada-salida.
Una RPI es diagnosticable entrada-salida en un nmero finito de pasos si y slo si usando
cualquier secuencia, la informacin de y C son suficientes para distinguir cualquier marcado de
falla de cualquier otro marcado. En la Figura 2 se muestra cuando una falla permanente es o no
diagnosticable. En Ramrez-Trevio et al. (2012) se presenta la metodologa para modelar las fallas
de operacin.
El rea de influencia de la falla (N
f
) es la estructura de la RPI que se ve afectada cuando se dispara
una transicin en falla. En Ramrez-Trevio et al. (2012), se propone una caracterizacin para
calcular la subred inducida.

Figura 2. El modelo de RPI incluye dos fallas permanentes f1 y f2 representadas respectivamente
por las transiciones 6 y 7. Al construir el grafo de alcanzabilidad correspondiente se observara que
puede darse la ocurrencia de un ciclo fi indeterminado donde las transiciones t4 y t5 se pueden
disparar al infinito, mientras f2 fue disparada, evitando as la deteccin.




RESULTADOS Y DISCUSIN
Caracterizacin de la diagnosticabilidad.
Teorema 1: Una RPI binaria, donde su comportamiento normal es vivo y fuertemente conexo. En
la cual las fallas han sido modeladas con la metodologa de Ramrez-Trevio et al. (2012), donde al
menos una transicin post-riesgo (transicin normal que es salida de los lugares de riesgo) es
evento detectable y las transiciones son manipulables, Si el rea de influencia de la falla (N
f
)

es
igual al comportamiento normal de la RPI entonces la RPI es diagnosticable.
Algoritmos Para Caracterizar La Propiedad De Diagnosticabilidad De Una RPI
A continuacin se presenta el algoritmo polinomial para analizar la propiedad de diagnosticabilidad
de una RPI con fallas permanentes y de operacin.
1) Por medio de este algoritmo obtenemos una solucin positiva de los P-semiflujos de la
estructura.
Entradas: (Q,M
0
) Y (Q
N
,M
0
N
)
I. Para cada transicin
( )
OF PF
f
t T T e
a. Localizar el P-componente que contiene
( )
f
t -
b. Encontrar un T-semiflujo mnimo que no comparte transiciones con el P-
componente previamente computado. Si tal T- semiflujo existe, entonces la RPI no
es diagnosticable y se pasa al paso 4.
II. Si
OF
f
t T e
a. Evaluar cada secuencia desde
f
t - a
f
t -
b. Si existe al menos una transicin evento detectable para
path
i
T o e , entonces tf es
diagnosticable, sino tf es no diagnosticable
III. Si
PF
f
t T e
a. Si la transicin post-riesgo de tf es evento detectable entonces tf es diagnosticable
y si no, no lo es.
IV. Existen fallas no diagnosticables, entonces regresa la RPI es no diagnosticable, sino
la RPI es diagnosticable.
2) La solucin de este algoritmo es llamada Y
general
representando la suma de los P-semiflujos
mnimos contenidos en p
j
es decir los P-semiflujos contenidos en los lugares de riesgo.
calculo de los P-semiflujos de (Q
N
,M
0
N
) conteniendo el lugar de riesgo
f
t -


Entradas: C- Matriz de incidencia de (Q
N
,M
0
N
)
Salidas:Y
general
suma de todos los P-semiflujos contenidos en
f
t -

1) Calcular un P- semiflujo con todos sus elementos positivos
1
min ( )
0
, ( ) 1
T
y i
LPP sujeta a Y C
j y j

= =

>

La solucin de este LPP es llamada el Y
conservativo
, dejando
( )
f
pj t = -

2) Encontrar los P-semiflujos mnimos que contienen el lugar ( )
f
pj t = - ., 0
general
Y =
mientras que ( ) 0
conservativo
Y pj >


2
min ( )
0
, ( ) ( ),
( ) 1
T
conservativo
y i
sujeta a Y C
LPP
i y i Y i
y j

=
=

s

>

conservativo conservativo
general general
Y Y Y
Y Y Y
=
= +

Termina el ciclo mientras
3) Este algoritmo arroja como resultados los T-semiflujos mnimos que no comparten alguna
transicin con el sifn en donde se encuentra la falla.
Encontrando los T-semiflujos mnimos que no comparten transiciones con el rea de influencia de
f
t
Entradas: C- Matriz de incidencia de (Q
N
,M
0
N
); Y
general
, el conjunto de P-semiflujoscontenidos en
j
p
.

Salidas:Un T-semiflujo que no comparte transiciones con
j
p

Las transiciones de un sifn que contiene
f
t -
estn computadas como
( )
T
s general
T Y C

=



3
min ( )
0
0
( ) 1
T
x i
sujeta a CX
LPP
X T
x i

=

=

>

Por tanto si el problema de programacin lineal LPP
3
tiene solucin entonces el sistema ser No
diagnosticable, de lo contrario ser diagnosticable.
En la Figura 3 se presenta la interfaz desarrollada en MatLab que automticamente analiza la
diagnosticabilidad de una RPI con fallas permanentes y de operacin.

Figura 3. Interfaz desarrollada en MatLab para calcular la propiedad de diagnosticabilidad de RPI
con fallas permanentes y de operacin.
Una vez que se sabe que la RPI con fallas permanentes y de operacin es diagnosticable
entonces se garantiza que si ocurren fallas, stas sern detectadas y localizadas en un tiempo
finito. El esquema que se propone para la deteccin y localizacin de fallas en lnea se presenta en
la Figura 4.



Figura 4. Esquema propuesto para la deteccin de fallas en lnea.
CONCLUSIN
Se han encontrado condiciones suficientes que caracterizan la propiedad de diagnosticabilidad
de sistemas representados mediante RPI, los algoritmos desarrollados en Matlab y Maple han
arrojado resultados que dejan ver que las condiciones estructurales establecidas en este
trabajo son las apropiadas que permiten caracterizar la diagnosticabilidad en los SED, de tal
modo que saber que un sistema es diagnosticable permite detectar una falla en un tiempo
finito.

REFERENCIAS
SAMPATH, M., SENGUPTA, R., LAFORTUNE, S., SINNAMOHIDEEN, K. Y TENEKETZIS, D.,
(1996).
Failure Diagnosis Using Discrete-Event Models. IEEE TRANSACTIONS ON CONTROL
SYSTEM TECHNOLOGY. 4(2): 105-124.
DOTOLI, M., PIA-FANTI, M., MANGINI , A. Y UKOVICH, W., (2009).
On-line fault detection in discrete event systems by Petri nets and integer linear
programming. AUTOMATICA. 1(45): 2665-2672.
BASILE, F., CHIACCHIO, P.. Y TOMMASI, G., (2009).
An efficient Approach for online diagnosis of Discrete Event Systems. IEEE
TRANSACTION S ON AUTOMATIC CONTROL. 4(54): 748-759.


RAMREZ-TREVIO, A., RUIZ-BELTRN, E., RIVERA-RANGEL, I., LPEZ-MELLADO, E.,
(2007).
On-line Fault Diagnosis of Discrete Event Systems. A Petri Net Based Approach, IEEE
TRANSACTIONS ON AUTOMATION SCIENCE AND ENGINEERING. 1(4): 557-565.
RAMIREZ-TREVIO, A., RUIZ-BELTRN, E., ARMBURO-LIZRRAGA, J., Y LPEZ-
MELLADO, E., (2012).
Structural diagnosability of DES and design of Reduced Petri Net Diagnosers, IEEE
TRANSACTIONS ON SYSTEMS, MAN AND CYBERNETICS. , 42(2): 416-429.