Laboratorio de Ondas y Optica

Pr actica N 6

Interfer ometro de Michelson

Departamento de F sica, FaCyT. Universidad de Carabobo, Venezuela.

Objetivos Medir la longitud de onda de la luz emitida por un l aser Determinar la variaci on del ndice de refracci on del aire con la presi on Evaluar el ndice de refracci on de un vidrio usando un Interfer ometro de Michelson

1.
1.1.

An alisis Te orico
Interfer ometro de Michelson

La Fig. 1 muestra un diagrama del interfer ometro dise nado originalmente por Michelson para probar la existencia del eter, medio hipot etico en el cual se supon a que se propagaba la luz

Figura 1. Diagrama del interfer ometro de Michelson. El haz luminoso emitido por el l aser de He-Ne incide sobre el separador de haces, el cual reeja el 50 % de la onda incidente y transmite el otro 50 %. Uno de los haces se transmite hacia el espejo m ovil M 1 y el otro se reeja hacia el espejo jo M 2. Ambos espejos reejan la luz hacia el separador de haces, de forma que los haces transmitido y reejado por este u ltimo se recombinan sobre la pantalla de observaci on. Como los dos haces que intereren sobre la pantalla provienen de la misma fuente luminosa, la diferencia de fase se mantiene constante y depende s olo de la diferencia de camino optico recorrido por cada uno. Por lo tanto, las franjas generadas por el interfer ometro se pueden visualizar sobre la pantalla mediante la colocaci on de una lente convergente de corta distancia focal entre el las er y el separador de haces.

El sistema de franjas de interferencia producido es similar al que se muestra en la Fig. 2. El camino optico de uno de los haces se puede variar desplazando el espejo M 1. Si dicho espejo se de splaza en 4 alej andose del separador de haces, el camino optico de ese haz aumentar a en 2 . Las franjas de interferencia cambiar an de modo que el radio de los m aximos aumentar a y ocupar a la posici on de los m nimos iniciales. Si el espejo M 1 se desplaza en una distancia adicional de distinguible del original.
4,

el nuevo sistema de franjas producido ser a in-

Figura 2. Franjas de interferencia producidas por el interfer ometro de Michelson. Por lo tanto, desplazando lentamente el espejo en una distancia d y contando el n umero N de franjas que van pasando por un punto jo de la pantalla, la longitud de onda de la luz se puede calcular como: = 2d N (1)

2.
2.1.

Realizaci on Pr actica
Materiales
Fuente de Luz Monocromatica (L aser de He-Ne de 632nm) Interfer ometro de Michelson Sensor Fotoel ectrico C amara fotogr aca digital Vernier

2.2.

Alineaci on del Interfer ometro

Posicionar el l aser sobre el soporte respectivo, el cual se ubicar a a la izquierda del interfer ometro como se muestra en la Fig3.

Figura 3. Alineaci on del laser. Colocar el espejo m ovel M 1 sobre la base del interfer ometro y ajustar los tornillos. Nivelar el soporte del l aser mediante los tornillos respectivos de forma que el haz generado sea paralelo a la base del interfer ometro. El haz l aser debe incidir en el centro del espejo M 1. Ajustar la posici on del l aser (moviendo la parte trasera del mismo) de forma que el haz reejado por el espejo M 1 llegue a la abertura del l aser. Montar el espejo ajustable M 2 y los soportes para la lente y la pantalla en la base del interfer ometro como se muestra en la Fig. 4. Colocar el separador de haces de forma que forme un angulo de 45 con el haz l aser incidente y tal que el haz reejado por el mismo incida en el centro del espejo jo M 2.

Figura 4. Sistema Optico. Sobre la pantalla se observar an dos conjuntos de puntos brillantes provenientes de ambos espejos. Cada conjunto de puntos estar a formado por uno m as brillante y otros de menor intensidad generados por las reexiones m ultiples. El angulo del separador de haces se deber a ajustar de forma que uno de los conjuntos de puntos est e lo m as cerca posible del otro. Cuando esto suceda, deber an ajustarse los tornillos del separador de haces. Usando los tornillos colocados en la parte de atr as del espejo jo M 2, este se girar a hasta que los dos conjuntos de puntos coincidan sobre la pantalla. Luego se colocar a la lente convergente de corta distancia focal sobre el soporte magn etico y se posicionar a el haz divergente de forma que incida en el centro del separador de haces. En la pantalla se deber a observar un sistema de franjas de interferencia cerrado.

2.3.

Conteo de las franjas de interferencia

Debido a aberraciones de las componentes opticas y deciencias en la alineaci on, es posible que las franjas de interferencia no sean perfectamente circulares. Sin embargo, este hecho no introduce errores en las mediciones mientras los m aximos y m nimos se puedan distinguir. Tambi en es importante que antes de empezar a contar las franjas que se crean o desaparecen debido al movimiento del espejo, el micr ometro se gire una vuelta y se contin ue desplaz andolo en el mismo sentido. De esta forma se consiguen eliminar los posibles errores de retroceso del tornillo. Las franjas se pueden contar seleccionando una l nea de referencia sobre la pantalla donde aparezca un borde entre un m aximo y un m nimo. Despu es el micr ometro se desplazar a hasta que el pr oximo m aximo y m nimo alcancen la posici on previamente determinada y se contar a una franja. Las franjas se pueden contar autom aticamente usando un fot ometro de alta sensibilidad.

2.4.

Medici on de longitudes de onda

Para medir la longitud de onda del l aser, el micr ometro se posicionar a en una lectura de aproximadamente 50 m para asegurar que el movimiento se realiza en una regi on donde el desplazamiento es lineal. El sensor se posicionar a de modo que su extremo coincida con la segunda o tercera franja brillante. Luego, se seguir a moviendo lentamente al micr ometro en el mismo sentido mientras se cuenta los m aximos (al menos 300). La distancia recorrida por el espejo m ovil ser a igual a la diferencia entre la lectura inicial y nal del micr ometro. La longitud de onda se calcular a mediante la Ec. (1). Estas mediciones se repetir an entre 7 y 10 veces y se analizar an los errores de medici on.

2.5.

Variaci on del ndice de refracci on del aire con la presi on

Como analiz o previamente, en el interfer ometro de Michelson los cambios de fase se introducen usualmente a trav es de la variaci on del camino optico de uno de los haces. Otra forma posible es mediante la modicaci on del ndice de refracci on del medio que atraviesa alguno de los haces. Esta metodolog a se utilizar a para medir la variaci on del ndice de refracci on del aire con la presi on. Para realizar este experimento, en la base del interfer ometro se debe colocar la platina de rotaci on entre el separador de haces y el espejo m ovil, como se muestra en la Fig. 5. Posicionar la celda de vac o sobre la platina de rotaci on de forma que las placas de vidrio sean perpendiculares al haz laser. La sujeci on de la celda en la platina es magn etica. Conectar la celda a la bomba de vac o. Posiblemente se necesite alinear de nuevo el espejo jo de modo que las franjas de interferencia sean visibles en la pantalla de observaci on. Tambi en es probable que las franjas de interferencia se vean distorsionadas debido a las irregularidades en las placas de vidrio que forman la celda de vac o.

Figura 5. Sistema optico para medir la variaci on del ndice de refracci on del aire con la presi on. Registrar la presi on inicial pi y lentamente accionar la bomba para generar vac o en la celda. Cuando se llega a la presi on nal pf , el sensor habr a registrado un n umero N de transiciones de las franjas de interferencia. Afuera de la celda de vac o, los caminos opticos de ambos haces no var an. Sin embargo, la longitud de onda cambia adentro de la celda. Cuando un haz se propaga en un medio de ndice de refracci on n, su longitud de onda var a de acuerdo a: 0 = (2) n donde 0 es la longitud de onda en el vac o. Suponiendo que el ndice de refracci on del aire var a linealmente con la presi on, usando la Ec. (2) se puede demostrar que: ni nf N 0 = (3) pi pf 2d(pi pf ) donde ni y nf son los ndices de refracci on del aire a las presiones pi y pf , respectivamente y d es la longitud de la celda de vac o. Calcular y gracar la variaci on del ndice de refracci on del aire con la presi on, teniendo en cuenta los errores introducidos en las mediciones.

2.6.

Medici on del ndice de refracci on de un vidrio

Para medir el ndice de refracci on de un vidrio es necesario variar la longitud del camino optico del haz que atraviesa el mismo. Este procedimiento se realizar a montando el vidrio sobre la platina de rotaci on (con sujeci on magn etica), como se muestra en la Fig. 6.

Figura 6. Sistema optico para medir el ndice de refracci on de un vidrio.

Posicionar la platina de modo que su vernier est e alineado con el cero de la escala en grados que est a en la base del interfer ometro. Remover la lente enfrente del laser y colocar la pantalla entre la placa de vidrio y el espejo movible. Se debe girar la platina hasta que en la pantalla se observe un u nico punto brillante. Ahora la placa de vidrio estar a perpendicular al haz l aser.Corregir el cero de la escala en grados y colocar nuevamente la pantalla y la lente. Introducir ajustes menores en el espejo jo de forma que las franjas de interferencia se observen en la pantalla. Rotar lentamente la platina y contar las transiciones de franjas que aparecen al pasar de 0 a un angulo 10 . El ndice de refracci on del vidrio n se determinar a mediante: n= (2t N 0 )(1 cos) 2t(1 cos) N 0 (4)

Nota
Es importante registrar digitalmente con la c amara todos los fen omenos observados Los espejos y el separador de haces no deben ser tocados con los dedos porque se deterioran