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PRESENTACIN
Organizacin
El SCIC se organiza en diferentes secciones, y algunas de ellas tambin en unidades, con el fin de garantizar el correcto funcionamiento del servicio. Los criterios para la creacin de las secciones y unidades se basan tanto en las diferencias entre las tcnicas como en la afinidad entre algunas de estas. Cada una de las secciones consta de un coordinador cientfico y del correspondiente personal tcnico.
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Pg.
Seccin de Microscopa Microscopa ptica Microscopa electrnica de barrido con microanlisis por dispersin de energas de rayos X Microscopa electrnica de barrido de emisin de campo con microanlisis por dispersin de energa de rayos X y dispersin de longitud de onda de rayos X Microscopa electrnica de transmisin (200kV) Microscopa de fuerza atmica Seccin de Espectroscopia Molecular Dicrosmo circular Fluorimetra Espectroscopia FT-IR Espectroscopia Raman
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Seccin de Anlisis Trmico y Slidos Porosos Anlisis simultneo trmico diferencial y termogravimtrico acoplado a espectrometra de masas Adsorcin fsica de gases para estudios de porosidad Seccin de Lseres y Medida de Propiedades Fsicas Lser pulsado ultracorto Espectroscopia de fluorescencia Fotolitografa lser y perfilometra Medida de impedancias
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Solicitudes
Los formularios para las solicitudes de anlisis se encuentran disponibles en la pgina web del SCIC (www.uji.es/serveis/scic/) y en su administracin. Una vez cumplimentadas por el solicitante y firmadas por el investigador responsable se entregarn junto con las muestras al personal tcnico del SCIC encargado de la tcnica solicitada. La normativa de cada seccin, as como las tarifas de las diversas tcnicas se encuentran publicadas en la pgina web del SCIC, tambin se pueden consultar en la administracin del Servicio. En el caso de usuarios de la Universitat Jaume I, el cobro de los anlisis correspondientes se hace a travs de cargos internos. En el caso de usuarios externos, se emite una factura correspondiente al servicio prestado. Cuando un usuario externo solicite la realizacin de un anlisis por primera vez, tendr que cumplimentar un impreso (que se facilitar en la administracin del SCIC), con sus datos para poder realizar la facturacin. Toda la informacin sobre el SCIC, se encuentra disponible en su pgina web. Cualquier consulta tambin puede ser dirigida a la coordinacin tcnica: Lourdes Chiva Edo lchiva@sg.uji.es tfno. +34 964387312 Servei Central dInstrumentaci Cientfica (SCIC) Universitat Jaume I. Edificio de Investigacin I. Tfno. (+34) 964 387 316 | Fax: (+34) 964 387 309 scic@uji.es | www.uji.es/serveis/scic/
Equipos
Varian Mercury Vx 300 MHz Software: red hat 4.0; VnmrJ 2.2 D Sonda directa 5 mm, tetranuclear 1H, 19F, 31P, 13 C; gradientes en Z (Performa I); intervalo de temperatura 100, + 150 C
Varian VNMR System 500 MHz Software: red hat 4.0; VnmrJ 2.1C Sonda indirecta 5 mm, 1H / broadband {15N-31P}; intervalo de temperatura 20, + 80 C; gradientes en Z (Performa IV) Sonda directa 5 mm, 1H / broadband {109Ag-31P}; intervalo de temperatura 20, + 80 C; gradientes en Z (Performa IV) Nanosonda directa 1H / 13C; intervalo de temperatura 5, + 60 C
Aplicaciones
Mediante la tcnica de RMN se pueden analizar una gran cantidad de compuestos tanto de naturaleza orgnica como inorgnica, con el nico requisito, que el material sea soluble en algn disolvente deuterado. De este modo, se pueden estudiar ncleos que van desde los mas comunes como por ejemplo 1H, 13C, 19F i 31P, hasta otros menos habituales como 113Cd, 33S o 29Si. La tcnica de RMN representa una herramienta muy til para identificacin y elucidacin estructural de compuestos determinacin de la composicin de mezclas (grado de pureza, porcentaje de aditivos, exceso enantiomrico etc...) estudio de procesos de asociacin supramolecular determinacin de constantes termodinmicas y cinticas
Anlisis elemental
La determinacin de los elementos N, C, H y O en diferentes tipos de matrices, generalmente orgnica, se realiza por combustin de la muestra a 1000C en un horno. Los productos de la combustin se dirigen a un cromatgrafo equipado con un detector de conductividad. La determinacin de O requiere una pirlisis previa.
Equipo
Analizador Elemental CHN EuroEA3000
Aplicaciones
Anlisis cuantitativo de C, H, N y O en muestras slidas homogneas no voltiles muestras lquida voltiles muestras lquidas viscosas
Equipo
Espectrmetro de masas de relacin isotpica (sector magntico) Micromass Isoprime
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Aplicaciones
Biogeoqumica (ciclos biogeoqumicos, origen y transformaciones de materia orgnica sedimentaria) Bioqumica y fisiologa (estudios metablicos y de consumo energtico) Alimentacin (denominacin de origen, adulteraciones) Qumica ambiental (origen y flujos de contaminantes) Hidrologa (estudios de acuferos, ciclo global del agua)
Equipo
Espectrmetro de ICP-MS con analizador de cuadrupolo Agilent 7500cx equipado con celda de colisin
Aplicaciones
El servicio dispone de metodologa para el anlisis de aguas de diferente origen y de disoluciones de muestras slidas. Las aplicaciones habituales son anlisis cuantitativo anlisis semicuantitativo (70 elementos con un 50% de precisin) anlisis cualitativo con indicacin de mayoritarios, minoritarios y traza
Aplicaciones
Anlisis cuantitativo de Hg en muestras lquidas y slidas (ppm y ppb)
Equipos
Espectrmetro de masas Quattro LC (Waters) Analizador triple cuadrupolo hasta 4000 Da Sondas intercambiables electrospray y APCI Cromatgrafo lquido Alliance Waters 2695 Espectrmetro de masas TQD (Waters) Analizador triple cuadrupolo hasta 2000 Da Sonda simultnea electrospray i APCI Cromatgrafo lquido Waters Acquity Espectrmetro de masas Xevo TQ-S (Waters) Analizador triple cuadrupolo hasta hasta 2000 Da Sonda simultnea electrospray y APCI Cromotgrafo lquido Waters Acquity Sonda APGC Cromatografo de gases Agilent 7890A y automuestrador Agilent 7693
SCIC Servei Central dInstrumentaci Cientfica | Universitat Jaume I 13
Espectrmetro de masas Q-TOF I (Waters) Analizador hbrido cuadrupolo-tiempo de vuelo, resolucin 5000 FWHM Sondas intercambiables electrospray y APCI Cromatgrafo lquido Alliance Waters 2695 Espectrmetro de masas Q-TOF Premier (Waters) Analizador hbrido quadrupolo-tiempo de vuelo, resolucin >17500 FWHM Sonda simultnea electrospray y APCI Cromatgrafo lquido Waters Acquity con detector DAD
Espectrmetro de masas GCT (Waters) Analizador tiempo de vuelo, resolucin 7000 FWHM Fuentes de ionizacin impacto electrnico e ionizacin qumica Cromatgrafo de gases Agilent 6890 Inyector automtico Agilent 7683 Sonda para a la introduccin directa de muestras slidas
Aplicaciones
Deteccin e identificacin de una gran variedad de compuestos naturales: sacridos, vitaminas, toxinas, alcaloides etc. Caracterizacin de compuestos organometlicos y de coordinacin Caracterizacin de protenas y pptidos, nuclesidos, nucletidos y oligonucletidos Anlisis de fitohormonas en extractos vegetales Anlisis de plaguicidas y otros contaminantes en muestras ambientales
SECCIN DE RAYOS X
Equipos
Espectrmetro de fluorescencia de rayos X por dispersin de longitud de onda. S4 Pioneer, Bruker. Tubo de rayos X nodo deRh, 4 kW (mximo: 60 kV) Detectores de centelleo y proporcional de flujo (Ar) Cristales: LiF200, LiF220, Ge, PET, OVO55, TIAP, OVO B Software SPECTRA-PLUS Preparacin de muestras Fusin: Claisse Fluxy Prensa hidrulica: Herzog 40 kN. Moldes de 40 mm. Molino de anillos de carburo de tungsteno: Herzog Estufa: Trade Raypa Balanza precisin 0.1 mg: Mettler Toledo AT200 Balanza precisin 0.01 g: Mettler Toledo PB3002-S Temperatura 5, + 60 C
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SECCIN DE RAYOS X
Prestaciones
La finalidad principal de la tcnica es el anlisis qumico elemental, tanto cualitativo como cuantitativo, en muestras slidas (para elementos del boro y el uranio en concentraciones desde las ppm hasta porcentajes) y lquidas (para elementos entre el sodio y el uranio). Anlisis cualitativo: en base al espectro de rayos X se pueden identificar los elementos presentes en la muestra con numero atmico superior o igual al del boro. Anlisis semicuantitativo: permite la cuantificacin aproximada de la concentracin de los elementos presentes en cualquier tipo de material mediante algoritmos basados en parmetros fundamentales de la excitacin, emisin y deteccin de los rayos X. Anlisis cuantitativo: comprende la cuantificacin de los elementos mayoritarios y minoritarios (B al U) mediante calibracin especfica para cada material: Se dispone de calibraciones con patrones de referencia internacionales para minerales arcillosos, carbonatos de calcio y dolomas, cuarzos, arenas feldespticas, feldespatos de sodio, potasio y mixtos, alminas, fritas cermicas de diferentes tipos, pigmentos cermicos de base circn, corindn, rutilo y diversos materiales de sntesis inorgnica.
SECCIN DE RAYOS X
Equipos
Difractmetros de polvo
Bruker D4-Endeavor,
tubo de Cu, monocromador haz difractado, detector centelleo y cargador automtico de hasta 66 muestras. geometra Bragg-Brentano theta/theta, con tubo Cu, monocromador haz difractado, detector centelleo. Cmara de temperatura Anton Paar HTK 1200, con capacidad para realizar medidas hasta los 1200C.
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Bruker-AX D8-Advance
SECCIN DE RAYOS X
Prestaciones
Estudio y caracterizacin de compuestos cristalinos, identificacin de fases cristalinas, anlisis cuantitativa de fases. Estudios de transformaciones de fase de compuestos en funcin de la temperatura, deshidratacin de muestras y sus transiciones de fase. Anlisis de orientaciones preferentes y tamao de cristalito , identificacin de fases amorfas. Anlisis de fases cristalinas sensibles a las condiciones atmosfricas o micromuestras mediante el dispositivo de capilar.. Determinacin y anlisis de parmetros estructurales de muestras utilizando radiacin K1.
Aplicaciones Industriales
Control de procesos e investigacin en la industria cermica, estudios contaminacin medioambiental, geologa, cementeras, metalurgia, polmeros.
SECCIN DE RAYOS X
Equipos
Difractmetros de monocristal
Software Programa CrysAlisPro para la recogida de datos, integracin y reduccin. Programa Autochem para la resolucin automtica de la estructura en tiempo real.
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SECCIN DE RAYOS X
Prestaciones
Determinacin de la estructura tridimensional a resolucin atmica, de compuestos qumicos y biolgicos. Estudio y caracterizacin de monocristales orgnicos e inorgnicos de estructura con bajo peso molecular. Estudios de parmetros de celda y simetra. Resolucin y refinamiento estructural, estudio de desordenes estructurales, sustituciones isomrficas, etc..
Aplicaciones Industriales
Industrias farmacuticas, catalizadores, estudio de pigmentos, estudio de compuestos organometlicos, industria de polmeros, etc.
SECCIN DE MICROSCOPA
Equipos
Microscopios electrnicos de barrido LEO 440i. Leica-Zeiss. EDX: Oxford, INCA 250 JEOL 7001F EDX-WDX Oxford, INCA 350/ Wave 200
Laboratorio de preparacin de muestras Sputtering: Pt (BALTEC SCD500) y Au-Pd (FISONS Polaron SC7610) Evaporador: C y metales (BALTEC SCMCS010 y FISONS Polaron SC7650) Punto Crtico: BALTEC CPD030 Tronzadora: CASALIN 203IIT Cortadora precisin: STRUERS Minitom Prensa metalografica: STRUERS CitoPres 1 Pulidora: STRUERS LaboPol 1
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SECCIN DE MICROSCOPA
Prestaciones
La microscopia electrnica de barrido (MEB) tiene un marcado carcter multidisciplinar. De modo general las disciplinas que hacen uso de esta tcnica de caracterizacin de materiales buscan obtener informacin de tipo: Morfolgico: topografa, formas, tamao, crecimiento cristalino, estructuras etc. Las imgenes de electrones secundarios las que nos aportarn la informacin de mayor resolucin, no siendo las nicas. Si la distribucin composicional de los elementos de la muestra es relevante, las imgenes de electrones retrodispersados nos mostrarn no slo la morfologa sino que la correlacionan con la composicin qumica elemental. Mostrando las diferentes fases presentes, la difusin y distribucin elemental. Microanlisis elemental. La emisin de Rayos X permite la identificacin cualitativa de los elementos presentes en la muestra o regin estudiada, su cuantificacin y la obtencin de imgenes de rayos X. Dos sistemas de microanlisis se complementan, los EDS y WDS.
SECCIN DE MICROSCOPA
Equipos
Microscopio electrnico de transmisin JEOL 2100 de can termoinico de hexaboruro de lantano (LaB6) que trabaja a un voltaje de aceleracin mximo de 200KV, con sistema de microanlisis por dispersin de energas (EDS) INCA Energy TEM 200 de la marca OXFORD.
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SECCIN DE MICROSCOPA
Laboratorio de preparacin de muestras Cortadora ultrasnica y troqueladora GATAN Pulidora con micromtro incorporado (Disc grinder) GATAN Pulidora cncava GATAN (Dimpler) Adelgazador inico modelo PIPS de GATAN Ultramicrotomo marca RMC modelo Powertome XL
Aplicaciones Industriales
Las principales aplicaciones de esta tcnica son: Estudio microestructural de las muestras, determinacin de la forma, tamao y distribucin de partcula; pudiendo obtener imgenes de resolucin mxima de 1,4 entre lneas y 2,3 entre puntos. Estudio cristalogrfico mediante difraccin de electrones (microdifraccin, seleccin de rea, difraccin de haz convergente): estudio de defectos, determinacin de planos cristalinos. Anlisis composicional de las muestras (rango de deteccin desde el B al U).
SECCIN DE MICROSCOPA
Equipo
Microscopio JSPM-5200 JEOL Scanning Probe Microscope Resolucin: AFM: resolucin atmica, con mica en modo contacto STM: resolucin atmica con HOPG Deriva del sistema: 0.05 nm/s o menos Modos de medida: AFM Modo contacto Imagen topogrfica Imagen de fuerza Curva de foco Curva de fuerza de friccin I-V Imagen de corriente de contacto Mapeado SPS Modo AC Imagen topogrfica Imagen de fase Imagen de amplitud Punto por punto MFM Modo no contacto (modo FM) Imagen topogrfica Imagen de frecuencia
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SECCIN DE MICROSCOPA
STM Modo STM Imagen topogrfica Imagen de corriente CITS I-V S-V I-S Rango de rastreo: XY: 0 a 20 mm (escner standard) Z: 0 a 3 mm (escner standard) Para el procesado y anlisis de datos se dispone del software WinSPM System Data Processing ver. 2.15.
Prestaciones
Con el software de procesado, adems de filtros de ruido, pueden realizarse reconstrucciones 3D y crear videos de imgenes medidas secuencialmente. Las observaciones pueden realizarse en medio atmosfrico. Adems, con equipamiento opcional, se puede observar especmenes bajo alto vaco o en entorno lquido, sin modificar la unidad bsica. Es posible calentar y enfriar el espcimen con equipamiento opcional. Con el software disponible, se puede realizar un anlisis de rugosidad de una seccin de superficie. Es posible estudiar la forma de partculas, calculando el rea y el permetro de cada partcula. Pueden realizarse medidas I-V. Con equipamiento opcional se pueden llevar a trmino otros modos de medida como superficies de potencial, viscoelasticidad y polos de fuerza.
Equipos
JASCO J-810 espectropolarmetro con lmpara de Xe de 150w Acoplado a un controlador de temperatura.
Aplicaciones
Determinacin de configuraciones absolutas de compuestos, tanto de origen sinttico como natural Estudios conformacionales en disolucin de molculas de tamao medio y macromolculas Estudios conformacionales en hidrogeles y organogeles.Estudios de desnaturalizacin trmica y qumica de protenas Anlisis de frmacos en preparados farmacuticos y en fluidos biolgicos.
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Fluorimetra La fluorimetra es una tcnica que permite la medida de emisin de radiacin producida cuando un determinado compuesto qumico ha sido previamente excitado con una radiacin electromagntica de longitud de onda adecuada. El fenmeno se da fundamentalmente en molculas que contienen anillos aromticos condensados, aunque lo puede presentar cualquier molcula que contenga un sistema -* con rigidez estructural. Las posibilidades de obtener espectros de excitacin y de emisin y de hacer medidas de tiempos de vida de fluorescencia hacen que esta sea una tcnica selectiva, sensible y que proporcione informacin muy til en la elucidacin de estructuras moleculares. Contacto Lourdes Chiva Edo lchiva@sg.uji.es Tfno. +34 964387312
Equipos
Espectrofluormetro con resolucin temporal o single photon counting (SPC, recuento de fotones nicos) JOBIN YVON HORIBA, modelo IBH5000-U Espectrofluormetro en estado estacionario Spex, modelo Fluorolog 3-11 Equipado con fuente de luz policromtica consistente en una lmpara de xnon de 450 W de potencia
Aplicaciones
Determinacin de compuestos orgnicos en disolucin Anlisis biomdicos Estudios biomoleculares (protenas, cidos nucleicos, etc) Caracterizacin avanzada de materiales
Equipos
Espectrmetro de infrarrojo por transformada de Fourier Jasco, modelo FT/IR-6200 Microscopio FT-IR Jasco, model IRT-3000
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Espectrmetro Raman dispersivo, Jasco NRS-3100 Dotado de un microscopio confocal y un detector CCD refrigerado por aire (-65 C).
Prestaciones
Las posibilidades de estas tcnicas analticas comprenden casi todos los campos de la qumica, la biologa, la bioqumica, la geoqumica, la bromatologa, la medicina, la arqueologa, el medio ambiente, etc. La espectroscopia infrarroja es una de las tcnicas espectroscpicas ms verstiles y de mayor aplicacin. Las posibles aplicaciones de esta tcnica son, por tanto, innumerables. Sin embargo, a continuacin se generalizan las aplicaciones ms importantes: Anlisis cualitativo de compuestos orgnicos e inorgnicos Identificacin de sustancias por comparacin con espectrotecas
ANLISIS TRMICO
Introduccin Cuando un material es enfriado o calentado, su estructura y su composicin qumica pueden sufrir cambios: fusin, solidificacin, cristalizacin, descomposicin, oxidacin, sinterizacin, etc. Estas transformaciones son estudiadas y analizadas midiendo la variacin de diferentes propiedades en funcin de la temperatura y/o del tiempo. Bajo la denominacin de Anlisis Trmico se agrupan una serie de tcnicas en las cuales se sigue una propiedad de la muestra al ser sometida a un programa de temperatura controlada pudiendo variar tanto la velocidad de calentamiento o enfriamiento como la atmsfera de reaccin. De entre las diferentes tcnicas de anlisis trmico existentes el SCIC dispone de Anlisis Trmico Diferencial (ATD), la Termogravimetra (ATG), y la Termogravimetra acoplada a la Espectrometra de Masas (TG-EM) El Anlisis Trmico Diferencial (ATD) es una tcnica en la que se mide la diferencia de temperatura entre la muestra y un material de referencia (trmica, fsica y qumicamente inerte) en funcin del tiempo o de la temperatura cuando la muestra se somete a un programa de temperaturas en una atmsfera controlada. La Termogravimetra (TG) se basa en la medida de la variacin de la masa (prdida o ganancia) de una muestra sometida a un programa de temperatura en una atmsfera controlada. Mediante el acoplamiento de un espectrmetro de masas (EM) es posible analizar los gases emitidos o consumidos por la muestra durante el ensayo. Contacto Lourdes Chiva Edo lchiva@sg.uji.es Tfno. +34 964387312
Equipos
Equipo simultneo TG-STDA Mettler Toledo modelo TGA/SDTA851e/LF/ 1600 Capaz de trabajar en un rango de temperaturas comprendido entre 25C y 1600C, acoplado a un espectrmetro de masas cuadrupolo PFEIFFER VACUUM modelo THERMOSTAR con un intervalo de masas hasta 300 uma.
SCIC Servei Central dInstrumentaci Cientfica | Universitat Jaume I 31
Aplicaciones
Las principales aplicaciones de esta tcnica son: Estudio de cambios estructurales de los materiales: determinacin de temperaturas de fusin, cristalizacin y transicin vtrea Contenido en humedad, materia orgnica y voltiles Estudio de descomposicin, oxidacin o reduccin de los materiales Determinacin de la pureza de los materiales Estudio de la estabilidad trmica
Equipos
Porosmetro de gases Micromeritics ASAP 2020 Equipado con un sistema de desgasificacin Smart Vac.
Prestaciones
La determinacin de la superficie especfica es de gran inters en productos desarrollados por la industria farmacutica, cermicas, materiales catalizadores, refractarios, porosos (mesoporosos y macroporosos) o microporosos i pulverulentos (carbn activo). Con el equipamiento disponible en el SCIC se pueden realizar medidas de adsorcin-desorcin de nitrgeno, obtenindose la isoterma completa, con la cual se obtiene con buena precisin la superficie especfica de la muestra, mediante la aplicacin del mtodo BET, as como la distribucin del volumen de poro.
Equipos
FemtoPower compacto Pro Es un ultra-rpido amplificador multi-paso de Ti-Zafiro. Optimiza su rendimiento con un sistema de enfriado, VACTEC (vacuum chamber thermo electric cooling), y la novedosa tecnologa de espejos dispersivos (DM-technology) para la compensacin de la dispersin. El sistema dispone de dos salidas posibles: Con el oscilador se obtienen pulsos con una anchura temporal <12fs y una anchura espectral > 80nm, siendo la frecuencia de repeticin de pulsos de 75MHz. Se consiguen pulsos con una energa >5.3nJ. Con el amplificador se logran pulsos de anchura temporal <30fs, con una anchura espectral >40nm, siendo la frecuencia de repeticin de pulsos de 1kHz. Se obtienen pulsos con una energa >800mJ.
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Autocorrelador Femtometer, de la empresa Femtolaser Para la medida de la duracin temporal de los pulsos, con un intervalo de medida entre 5 y 300 fs. Fibra hueca, HF250, de Femptolaser De dimetro interior 250 mm, dimetro exterior 1600 mm y 1 m de longitud.
Prestaciones
Este sistema es ptimo para aplicaciones cientficas, industriales y mdicas. Utilizando el oscilador se desarrollan tcnicas tales como: Tomografa de coherencia ptica (OCT) es una modalidad de diagnstico no invasivo, que permite la adquisicin de imgenes tomogrficas in vivo, y la visualizacin 3-D de la microestructura interna en sistemas biolgicos. El sistema multi-paso, que permite obtener pulsos ultracortos de energia >800mJ, es adecuado para aplicaciones como: Micromecanizado. El uso de pulsos de 50 o menos femtosegundos permite el mecanizado de precisin lser para estructuras de cualquier material. Con estos pulsos cortos se realiza ablacin en fro, con muy poca difusin de calor, evitando as rebabas en la estructura. Microscopa. La eficiente excitacin de cromforos es esencial en la microscopa no lineal (NLM), con el fin de obtener imgenes brillantes y de alto contraste. Al mismo tiempo, la potencia media en la muestra depositada debe ser minimizada a fin de evitar efectos adversos como las modificaciones funcionales y daos. Emplear cortos pulsos de excitacin es beneficiosa para la NLM en ambos sentidos, ya que la eficiencia de la excitacin aumenta linealmente con la disminucin de la duracin de pulso y la potencia media se reduce.
ESPECTROSCOPIA DE FLUORESCENCIA
Introduccin Se dispone de un montaje diseado especficamente para estudiar la espectroscopia de fluorescencia de todo tipo de materiales (slidos cristalinos, vidrios transparentes, pelculas, polvo, etc.) que exhiben propiedades de emisin radiactiva, especialmente aquellos cuya actividad ptica viene dada por iones del grupo de los lantnidos. Un lser de alta intensidad, de Nd-YAG acoplado a un oscilador ptico paramtrico, nos permite sintonizar una longitud de onda de excitacin en un amplio rango, que se extiende desde el IR hasta UV. Se pueden realizar espectros de fluorescencia y estudiar las propiedades pticas de diferentes materiales. Contacto Pere Clemente pclement@sg.uji.es Tel: +34 964 387392
Equipos
Lser pulsado, de Nd-YAG modelo Brilliant (Quantel) Incluye generadores de segundo, tercero y cuarto armnico con salida a 1064 nm, 532 nm, 355 nm y 266 nm, respectivamente. Se obtienen pulsos de 4-6 ns, y energa por pulso de 850 mJ a 1064 nm
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Oscilador ptico Paramtrico (OPO) modelo Vibrant 355 II (Opotek) De doble resonancia y doble paso con salidas de signal y idler, colineales y separables mediante polarizador, sintonitzable entre 410 y 2400 nm. Se dispone tambin de un mdulo duplicador que permite sintonizar entre 210 y 355 nm. La potencia de salida est entre 1 y 30 mJ/pulsos dependiendo de la zona espectral. Fotodiodo Hamamatsu modelo H7732-10 El mdulo es sensible desde el espectro UV (185 nm) hasta el infrarrojo prximo 900 nm), siendo especialmente sensible a longitudes de onda prximas a 600 nm. Monocromador modelo SpectraPro-2300y (Acton Research Corporation) De distancia focal 300 mm y apertura f/4 capaz de llegar a una resolucin de 0.1 nm a 435.8 nm. Dispone de una ventana de entrada micromtrica ajustable desde 10 mm a 3 mm y anchuras de ventana de 4 y 14 mm. Incluye un mecanismo de barrido de longitudes de onda controlado directamente a travs de un programa informtico. Osciloscopio digital Tektronix, modelo TDS5000B Anchura de banda 1GHz, velocidad de muestreo de 5GS/s en tiempo real. Adems se dispone de una lnea paralela de trabajo, en la que se utiliza el lser de bombeo del OPO, a 355 nm y con una energa nominal de hasta 180 mJ.
Prestaciones
Medida de espectros de fluorescencia con alta precisin. Obtencin de curvas de relajacin y clculo de tiempos de vida media. Realizacin de curvas cinticas.
Equipos
Sistema de escritura mediante lser de He-Cd con dos longitudes de onda, 442 nm y 325 nm. La precisin global en el proceso de escritura es de, al menos, 0.2 mm. El campo de escritura es mayor o igual a 100 x 100 mm. El mnimo grosor de lnea es de 0.8 mm. Centrfuga para recubrimentos, modelo KW-4AD de la empresa Chemat Technology Estufa para secado en vaco, modelo Vacio Tem-TV, de la empresa J.P. Selecta
SCIC Servei Central dInstrumentaci Cientfica | Universitat Jaume I 39
Placa calefactora de precisin, modelo Plactronic de la empresa J.P. Selecta Con regulacin de temperatura desde 5C hasta 200 C, con una estabilidad de 0.5 C y resolucin 1C Perfilmetro ptico (interferomtrico y confocal) Model PLm2300 de la empresa Sensofar Con resolucin de desplazamiento vertical de 0.1 mm. Permite la adquisicin de topografas 3D a alta velocidad. Perfilmetro mecnico, modelo Dektack 6 de la empresa Veeco Con resolucin vertical de 1 . Realiza perfiles lineales pero de muy alta resolucin transversal y vertical.
Prestaciones
Fabricacin de micro-elementos pticos difractivos, como por ejemplo micro-lentes o micro-prismas, as como redes peridicas de estos elementos, de gran inters tecnolgico. Fabricacin de mscaras de amplitud. Caracterizacin de la calidad y propiedades de muestras, mediante anlisis topogrfico tridimensional, que incluye realizacin de perfiles y medida de rugosidades.
MEDIDA DE IMPEDANCIAS
Introduccin El equipamiento disponible permite medir la impedancia compleja de una muestra en funcin de la frecuencia, temperatura, voltaje AC, bias DC, presin y tiempo. El sistema opera en el dominio de frecuencias abasteciendo ms de 15 dcadas, desde 3 Hz hasta 20 MHz. Un sistema de control de temperatura permite realizar medidas dentro del rango de temperatura de -160 C hasta 450 C. Contacto Pere Clemente pclement@sg.uji.es Tel: +34 964 387392
Equipos
NOVOCONTROL Cryosystem, 4.6. Permite una ajustada estabilizacin de la temperatura en el proceso de medidas dielctricas. El sistema puede trabajar con nirgeno lquido, en un rango de temperaturas entre -160 C y 450 C, con control de presin y temperatura. Tambin puede trabajar con nitrgeno gas, en un rango de tempreraturas entre 20 C y 450 C, con control de temperatura. Alpha N High Resolution Dielectric Analyzer, de NOVACONTROL Technologies. El sistema consta mayoritariamente de dos componentes: Un analizador de respuesta en frecuencias (FRA), con un generador de onda seno, un generador de dc-bias y dos canales de anlisis. Un convertidor dielctrico. El FRA junto con el convertidor dielctrico se utilizan para medidas dielctricas o impedancias. El FRA puede utilizarse slo para el anlisis de respuesta en frecuencias (medida de ganancia de fase). El sistema soporta una configuracin de 2 cables. Permite hasta 20 MHz.
SCIC Servei Central dInstrumentaci Cientfica | Universitat Jaume I 41
Celda para la muestra, BDS 1200, de Novocontrol. Recipiente Apollo 150 -1.3 bar, de Cryotherm Para el almacenaje de nitrgeno lquido. Software para elcontrol del sistema global, WinDeta versin 5.2. Software para el anlisis de datos, WiinFit versin 3.1.
Prestaciones
El analizador Alpha N es capaz de medir impedancias o funciones dielctricas complejas para frecuencias entre 3 Hz hasta 20 MHz con alta precisin. Est especialmente optimizado para materiales dielctricos con factores de prdida bajos para un amplio rango de frecuencias. El equipo disponible permite: Medida de impedancias o funciones dielctricas complejas. Medida de ganancia de fase. Determinacin de propiedades de materiales como relajaciones moleculares, transiciones de fase, conductividad, tasas de mezcla, etc. Software estadstico para datos de relajacin de impedancia. El anlisis estadstico permite una rpida y objetiva interpretacin de los datos medidos con una alta precisin para la conductividad y procesos de relajacin.
www.uji.es/serveis/scic/