INTRODUO Na difrao de medio de tenses residuais de raio-x, a tenso na rede cristalina medido, e as tenses residuais produzindo a estirpe calculada,

a, assumindo uma relao linear distoro elstica da estrutura de cristal. Embora o termo medio de tenses entrou em uso comum, stress uma propriedade extrnseca que no diretamente mensurvel. Tudo mtodos de determinao de estresse exigem a medio de alguma propriedade intrnseca, tal como tenso ou fora e uma rea, e o clculo da tenso associada. Os mtodos mecnicos (tcnicas de dissecao) e mtodos elsticos lineares e de ultra-sons (magntico tcnicas) so limitadas na sua aplicabilidade a residual determinao stress. Os mtodos mecnicos so limitados pela suposies sobre a natureza do estresse residual campo e na geometria da amostra. Os mtodos mecnicos, sendo necessariamente destrutivo, no pode ser verificado directamente repetir a medio. Resoluo espacial e profundidade so ordens de grandeza inferiores aos da difraco de raios-x. Todos os mtodos elsticos no-lineares esto sujeitos a grande erro de orientao preferencial, de trabalho a frio, a temperatura, e de tamanho de gro. Todos exigem amostras de referncia livre de estresse, que so idnticas amostra sob investigao. Mtodos elsticos no lineares no so geralmente adequado para a determinao de tenses residuais de rotina em seu estado atual de desenvolvimento. Alm disso, a sua disposio espacial e resolues de profundidade so ordens de magnitude inferiores s de difraco de raios-x. Para determinar a tenso, a tenso na rede cristalina deve ser medida em pelo menos dois precisamente conhecida orientaes em relao superfcie da amostra. Portanto, raio x difrao de medio de tenses residuais aplicvel a materiais que so cristalinos, relativamente gro fino, e produzir difraco para qualquer orientao da amostra superfcie. As amostras podem ser metlicos ou de cermica, desde uma pico de difrao de intensidade adequada e livre de interferncia de picos vizinhos podem ser produzidos em a regio de alta back-reflexo com as radiaes disponvel. Difrao de medio de tenses residuais de raios-X nica em que residual macroscpica e microscpica tenses podem ser determinadas de forma no destrutiva. Tenses macroscpicas, ou macrostresses, que se estendem ao longo de distncias que so grandes em relao ao tamanho de gro o material, so de interesse geral, na criao e insuficincia anlise. Macrostresses so quantidades tensoriais, com magnitudes que variam com a direo em um nico ponto em uma corpo. O macrostress para uma determinada localizao e direo determinada atravs da medio da tenso em que direco a uma um nico ponto. Quando macrostresses so determinados em pelo menos trs direes conhecidas, e uma condio de avio stress assumida, as trs tenses podem ser combinados usando o crculo de Mohr para o estresse para determinar o mximo e tenses residuais mnimos, a corte mxima o stress, e a sua orientao em relao a uma referncia direo. Macrostresses esticar muitos cristais uniformemente em a superfcie. Esta distoro uniforme da estrutura de cristal desloca a posio angular do pico de difraco seleccionados para a medio de tenso residual. Tenses microscpicas, ou microstresses, so escalares propriedades da amostra, como por exemplo por cento ou de trabalho a frio dureza, que so sem sentido e resultam de imperfeies na malha cristalina. Microstresses so relacionado com as estirpes no seio da rede cristalina que percorrer distncias da ordem de ou inferior a dimenses dos cristais. Microstresses variar de ponto ao ponto dentro da rede cristalina, alterando a estrutura

espaamento e ampliando o pico de difrao. Macrostresses microstresses e pode ser determinada separadamente da posio do pico de difraco e amplitude. Princpios de Difrao de Raios X medio de tenses A Figura 1 mostra a difraco de um feixe monocromtico de raios-x com um ngulo elevado de difraco (2) a partir da superfcie de uma amostra forado para duas orientaes da amostra em relao ao feixe de raios-x. O ngulo, definindo o orientao da superfcie da amostra, o ngulo entre o normal da superfcie e o incidente e difractado feixe bissectriz, que tambm o ngulo entre a normal aos planos da rede de difraco e a superfcie da amostra. Difraco ocorre a um ngulo 2, definida pela equao de Bragg Lei: n = 2d sin , onde n um inteiro que indica o ordem de difraco, o comprimento de onda de raios X, d o espaamento rede de planos cristalinos, e a difrao ngulo. Para os raios-x monocromticos produzidos pela alvo metlico de um tubo de raios-x, o comprimento de onda conhecido para 1 parte em 105. Qualquer mudana no espaamento de rede, d, resulta numa mudana correspondente na 2 ngulo de difraco. A Figura l (a) mostra a amostra no = 0 orientao. o presena de uma tenso de traco na amostra resulta numa Contrao coeficiente de Poisson, a reduo do espaamento do retculo e aumentando ligeiramente o ngulo de difraco, 2. Se o amostra ento rodado por algum ngulo conhecido (Fig. 1b), a tenso de traco presente na superfcie aumenta a espaamento do retculo sobre o estado livre de estresse e diminui 2. Medio da alterao da posio angular do pico de difraco de pelo menos duas orientaes da amostra definido pelo ngulo permite o clculo da tenso presentes na superfcie da amostra encontra-se no plano de difraco, que contm o incidente e do raio difractado vigas. Para medir o estresse em diferentes direes no no mesmo ponto, a amostra rodado em torno da sua superfcie normal, de modo a coincidir a direco de interesse com a plano de difrao. Devido deformao elstica s altera a estrutura significativo espaamento, apenas tenses elsticas so medidos atravs de raios-x difraco para a determinao da macrostresses. quando o limite de elasticidade for excedido, mais resultados de deformao em movimento de deslocamento, perturbao da estrutura cristalina, e a formao de microstresses, mas nenhum aumento adicional no estresse macroscpico. Apesar de tenses residuais resultado de deformao plstica no uniforme, todos residual macrostresses restantes aps a deformao so necessariamente elstico. A tenso residual determinada usando difrao de raios-x a tenso mdia aritmtica, a um volume de material definido pela rea irradiada, o que pode variar a partir de centmetros quadrados para milmetros quadrados, ea profundidade de penetrao do feixe de raios-x. A absoro linear coeficiente de o material para a radiao governa utilizados a profundidade de penetrao, a qual pode variar consideravelmente. No entanto, em ferro, nquel e ligas base de alumnio, 50% da radiao difractado a partir de uma camada com cerca 0,005 milmetro (0,0002 cm) de profundidade para as radiaes geralmente usado para medir o stress. Esta profundidade de penetrao permite a determinao de macro e tenses residuais microscpicas como funes de profundidade, com profundidade de resoluo de cerca de 10 a 100 vezes maior do que possvel atravs de outros mtodos. Embora, em princpio praticamente qualquer espaamento interplanar pode ser utilizado para medir a tenso na rede cristalina, disponibilidade de os comprimentos de onda produzidos por comercial tubos de raios-x limita a escolha para algumas avies possveis. o

escolha de um pico de difrao selecionado para o stress residual medio tem um impacto significativo sobre a preciso do mtodo. Quanto maior for o ngulo de difraco, maior o preciso. Tcnicas prticas geralmente requerem ngulos de difraco, 2, maior do que 120 . A Tabela I enumera recomendados para tcnicas de difrao vrias ligas. A sensibilidade relativa mostrada pela valor de K45, a magnitude da tenso necessria para provocar uma mudana aparente na posio de difrao de pico de 1 para uma inclinao de 45 . Como K45 aumenta, a sensibilidade diminui.