Horrios Entrega de crachs s 8h30 Das 9h00 s 18h00 Das 18H00 s 19h30 Coquetel de Confraternizao Certificados Ser outorgado

Certificado de Participao a todos os participantes com freqncia superior a 75% Valor do Investimento R$ 380,00 por participante, incluindo almoo, coffe break, estacionamento no local e material didtico Descontos 5% para uma segunda pessoa em diante. 10% para participantes dos outros seminrios. Pagamentos Atravs de depsito bancrio em conta corrente aps confirmao da vaga (importante: valor acima de R$ 700,00 descontar 1,5% de IRRF) - Bradesco 237 Agncia 0516-9 Granja Julieta - C/C 033100-7 Obs.: Se preferir, solicite emisso de NF para pagamento 14 DDL Reservas Com Ana Lcia pelo tel.: (11) 5643-0023, fax (11) 56430056/5641-3722 ou E-mail: treinamento@mitutoyo.com.br Desistncias At 5 dias antes com devoluo integral. Aps, o valor ficar em crdito para ser utilizado em qualquer outro curso Cancelamento A Mitutoyo reserva-se o direito de cancelar o evento se houver nmero de inscries abaixo do mnimo necessrio

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23 DE NOVEMBRO DE 2005

Uma viso global e de atualidade

Com personalidades de reconhecida atuao na rea. Venha conhecer, debater e fazer amizade com pessoas importantes, como voc.

(A) Micro e Nanometrologia Dimensional Uma anlise do INMETRO sobre as atividades dos laboratrios de Institutos Nacionais de Metrologia. Aplicaes da micro e nanometrologia dimensional. A necessidade de se prover rastreabilidade. (B) Comparaes Interlaboratoriais: "Valor de Referncia" e "Incerteza de Medio" Definio do melhor valor de referncia e grau de equivalncia entre laboratrios. Adoo do Mtodo Tradicional do ISO GUM e a Simulao por Monte-Carlo no clculo da incerteza. Palestrante: Eng. MSc. Jos Carlos Valente de Oliveira - Chefe do Laboratrio de Metrologia Dimensional do DIMEC/DIMCI/INMETRO Avaliador de Laboratrios de Calibrao da RBC. Atuao do laboratrio de Metrologia Mecnica do IPT na Prestao de Servios s Empresas e Entidades Acadmicas do Pas Diversidade e alcance dos servios metrolgicos prestados. Uma viso do IPT a respeito das carncias e potencialidades da indstria nacional e o que pode ser feito. Conceitos e exemplos de Aplicao do MSA Anlise dos Sistemas de Medio Gerando Resultados Confiveis e Aumentando a Produtividade Exemplos de como foram conduzidos alguns estudos de MSA que levaram a uma deciso segura pela substituio de equipamentos metrolgicos, buscando e eficincia e eficcia do processo de medio. Palestrante: Eng. Luis Soares Teixeira - Analista Snior da Qualidade e Coordenador de Metrologia da MWM INTERNATIONAL - Planta Santo Amaro

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Desenvolvimento das estratgias da metrologia que foram elaboradas para o perodo. A situao da metrologia no Brasil e suas tendncias a curto e mdio prazo. Os desafios bsicos para o atendimento s demandas nacionais. Palestrante: Prof. Dr. Humberto Siqueira Brandi - Diretor de Metrologia Cientfica e Industrial do INMETRO - Professor Titular da UFRJ.

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Diretrizes Estratgicas da Metrologia para o Perodo Planejado de 2003 a 2007: Papel da Metrologia na Inovao Tecnolgica.

Medio de Erros de Forma. Aspectos de Calibrao e Monitoramento dos Equipamentos de Medio. Definio dos erros de forma e seus parmetros de avaliao. Atualidades em pesquisa e desenvolvimento de sistemas de medio e ensaio. Importncia da calibrao e adequao dos recursos de medio disponveis no mercado. Palestrante: Eng. MSc. Srgio Luis Zarpellon - Gerente da Qualidade do Centro de Tecnologa da INICAMP e Responsvel Tcnico do Laboratrio de Metrologia.

DADOS IMPORTANTES DO PARTICIPANTE

CEP Estado: Cidade: FAX: E-mail:

Cargo: Nome Completo:

Aumento de Produtividade e Exatido com Recursos Especiais de Medio Dimensional Cases de sucesso envolvendo instrumentos, equipamentos e dispositivos modificados ou especialmente projetados para gerar economias de tempo, maior exatido e confiabilidade. Exemplos de aplicao de instrumentos convencionais no projeto de dispositivos especiais de medio. Palestrante: Eng. Rubens Nishimura - Gerente da Diviso de Engenharia de Produtos Mitutoyo Novas Tecnologias em Acessrios e Softwares Otimizam a Aplicao de Mquinas de Medir por Coordenadas na Medio de Erros de Forma Como substituir equipamentos sofisticados e de alto custo desenvolvidos para medio de erros de forma circular, de cilindricidade e outros com a mquina de medir coordenadas tridimensionais. Definio do alcance, procedimentos, softwares, sensores e acessrios. Palestrante: Eng. Marco Aurlio M. Bueno - Gerente do Depto. Pr Vendas e Consultoria da Mitutoyo.

Palestrante: Enga. Marisa Ferraz Figueira Pereira Diretora Interina do Centro de Metrologia Mecnica e Eltrica do IPT do estado de So Paulo.
Bnus Metrologia: Um Incentivo s Micro e Pequenas Empresas para Aumento da Competitividade com Recursos do SEBRAE Como a REMESP - Rede Metrolgica do Estado de So Paulo, opera o programa BNUS METROLOGIA, que coloca "na mo do empresrio" at R$ 2.000,00 a fundo perdido para ser utilizado em calibraes e ensaios metrolgicos. Palestrante: Prof. Jos Luis Gascon - Diretor Secretrio da REMESP Professor Titular da Faculdade IESA.

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