Microscopio Electrnico de Transmisin (TEM)

Marvyn Inga Caqui Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniera E-mail marvyn_16@hotmail.com

Resumen
En el siguiente informe se expone las partes que conforma un microscopio electrnico de transmisin (TEM) comenzando por describir las partes principales: el can de electrones, las lentes electromagnticas, la cmara de observacin, entre otros. As tambin se describe las etapas ms importantes, como la formacin de imgenes, el del vaco que se debe generar dentro del microscopio para que se pueda hacer todo el proceso anterior, etc.

Abstract
The following report outlines the parts of a scanning electron microscope (SEM) beginning with the description of the principal parts: the electron gun, the electromagnetic lenses, the chamber of observation, among others. This also describes the most important stages, such as imaging, the vacuum that must be generated within the microscope so we can do all the above process, etc.

I. Introduccin
La microscopa electrnica ha revolucionado el conocimiento de las ciencias como la biologa o la medicina, aunque su campo de aplicacin se ha extendido a la mayora de disciplinas cientficas, incluidas las de materiales. La principal ventaja de este tipo de microscopa es alcanzar una extraordinaria amplificacin de la imagen de la muestra manteniendo un poder de resolucin casi mil veces mayor que el ptico. Estas magnficas propiedades se deben a que la fuente de iluminacin usada es un haz de electrones. El funcionamiento de la microscopa electrnica, sobre todo la de transmisin (TEM), es anlogo al funcionamiento de un microscopio ptico. El funcionamiento de los microscopios electrnicos (ME) se basa en la interaccin de los electrones con la materia y a partir de esta obtener informacin tanto estructural como de caracterizacin de defectos. En muchos sentidos, el microscopio electrnico ME ofrece una solucin ideal a los problemas que presentan los microscopios pticos (0.5m) que no pueden obtener resolucin atmica ya que la longitud de onda de la radiacin incidente es demasiado grande. Con un ME se pueden obtener electrones acelerados con asociada bastante menor de 1, y por tanto se puede obtener, al menos tericamente, resolucin atmica. Con las lentes adecuadas se puede transformar los electrones difractados en la imagen real. Adems de usarse para difraccin e imagen, el ME tiene otros usos. El Microscopio Electrnico de Transmisin (TEM), que es el que vamos a describir ahora, es un instrumento que permite obtener una imagen aumentada de la muestra utilizando los electrones primarios que la atraviesan.

II. Fundamento Terico

A. Principio bsico del TEM
El TEM es muy similar al microscopio ptico, pues ambos tienen lentes y condensadores para concentrar la iluminacin sobre la muestra (Ver FIG.N1). Los rayos de iluminacin atraviesan la muestra y son enfocados por las lentes del objetivo y de proyeccin para formar una imagen aumentada sobre una pantalla fluorescente. Sin embargo el microscopio electrnico es mucho ms complejo. Para que los electrones puedan ser acelerados hasta la velocidad prefijada, debe trabajarse en -4 -6 condiciones de alto vaco (10 a 10 Torr; 1Torr = 1mmHg a 0C). El sistema central del microscopio electrnico incluyendo la pantalla fluorescente y el equipo fotogrfico, lo constituye un tubo hueco. El equipo elctrico que suministra la corriente necesaria se halla generalmente situado a una cierta distancia para evitas la interferencia de los campos magnticos dispersados. La mayora de los microscopios estn equipados con dispositivos de seguridad que no permiten conectar el filamento de alto voltaje hasta que no se ha conseguido el vaco apropiado. Las lentes magnticas del microscopio electrnico estn formadas por imanes en forma de herradura. El imn puede ser permanente o de tipo electromagntico. Variando la potencia de la corriente a la lente se consigue el efecto de variar la distancia focal de la lente continuamente, lo cual es muy similar al sistema de "zoom". Sin embargo, normalmente se preselecciona la corriente deseada. Se pueden ajustar los voltajes de aceleracin en una gama que incluye 40, 60, 80 y 100kV, etc. Ajustando kV a un nivel inferior, se consigue aumentar el contraste.

FIG.N2. Esquema del can de electrones con el sistema

de alta tensin, cilindro de Wehnelt y parte andica.

Plataforma para la colocacin de la muestra. La plataforma para colocar la muestra est situada en frente del objetivo. Se introduce la muestra en la columna del microscopio a travs de una abertura.
FIG.N1. El sistema ptico de un microscopio clsico
(izquierda) y un electrnico (derecha).

B. Componentes Bsicos del SEM Can de electrones: El tipo ms usado de can electrnico consiste de un filamento de alambre de tungsteno doblado en forma de V. El electrodo de control se denomina cilindro de Wehnelt, y tiene una apertura circular de 1 a 3mm de dimetro centrada en el pice del filamento. La superficie cncava hace las funciones de nodo, y utilizando una superficie convexa la imagen de la fuente electrnica puede reducirse en tamao respecto al electrodo cncavo. La intensidad total del haz de ctodo a nodo puede ser de 10 a 400A, pero solamente una pequea fraccin die ste llega hasta la muestra. Tambin es posible obtener emisin de un material aplicando una diferencia de potencial (voltaje extractor) a una punta muy fina (por ejemplo un cristal de tungsteno); de tal manera que aparezca un campo elctrico suficientemente alto que permita la tunelizacin de los electrones, los cuales son luego acelerados por la aplicacin de un voltaje acelerador; este proceso se conoce como emisin por efecto de campo. Condensadores. Los dos condensadores son capaces de dar una amplia gama de intensidad ajustando el can electrnico. Esto reduce el rea iluminada en la muestra. Sin embargo, otras partes de la muestra tambin sufren los efectos del haz electrnico. El primer condensador reduce la imagen de la fuente mientras que el segundo condensador obtiene la la adecuada intensidad de iluminacin.

Objetivo. El objetivo es la lente ms importante en el microscopio electrnico. La distancia focal de esta lente est comprendida entre 1 y 5mm, siendo 1,1mm la ms frecuente. Cuanto menor es la distancia focal, mayor es la resolucin. Debido a que el haz de imagen tiene la mxima apertura angular en el primer objetivo, esta lente controla la calidad de la imagen producida. Se puede corregir la aberracin esfrica usando un "stigmator", que es un dispositivo que permite, introducir metal para compensar la inhomogeneidad inherente de la lente, y obtener elevada resolucin. Otro accesorio importante, permite regular la apertura del objetivo, la cual limita la dispersin de los electrones, evitando as la degradacin de la imagen. Esta apertura mejora el contraste siendo 20 y 40m los ms frecuentes. Lente intermedia. La lente intermedia puede aumentar o disminuir la imagen. Se puede conseguir esto, aumentando o disminuyendo la potencia de la corriente a esta lente. Lente de proyeccin. La lente (de proyeccin corresponde al ocular del microscopio ptico. Su funcin es la de proyectar la imagen real sobre la pantalla fluorescente, y permite una amplia gama de aumentos. Se puede variar la ampliacin de 100X hasta 300.000X usando lentes intermedias y de proyeccin. Cmara de observacin. La cmara de observacin y la pantalla fluorescente estn situadas en el fondo de la columna. La imagen se enfoca sobre un punto marcado y el enfoque fino

se consigue con unos binoculares de 6 y 20X. El dimetro del punto de enfoque es de 100m, por lo tanto la imagen debe ser mayor que este dimetro para ser resuelta. La cmara de observacin est protegida por un vidrio grueso de plomo para evitar la emisin de rayos X. Cmara fotogrfica. La cmara fotogrfica est situada debajo de la pantalla fluorescente. La pantalla fluorescente est sujetada por un lado, y al quitar el paso del haz electrnico la imagen se centra sobre la pelcula fotogrfica. Se pueden usar varios tipos de pelculas y placas de vidrio. Platina del portamuestras. El porta-muestra se adapta para mantener un tamao estndar de la muestra, el tamao de la rejilla es 3.05mm de dimetro con una malla que se extiende desde unos pocos hasta unos 100 micras.los materiales son de cobre molibdeno, oro platino. C. Sistema de proyeccin o visualizacin de las imgenes. En el caso del microscopio electrnico la formacin de la imagen se produce por la dispersin de los electrones, mientras que en el ptico la imagen se produce por absorcin de los fotones. Es decir la imagen que se observa en un microscopio ptico (MO) se debe a la diferente absorcin de la luz por las distintas estructuras de la muestra, mientras que en el microscopio electrnico la formacin de la imagen est en funcin de la dispersin y, por consiguiente, perdida de los electrones. Esta capacidad de dispersin va a depender de las distintas estructuras atmicas de la muestra. Las imgenes se pueden producir a partir de los electrones difractados (imgenes de campo oscuro) o a partir de los electrones directos que han atravesado la muestra sin interaccin (imgenes de campo claro/brillante). Hay que tener en cuenta el espesor de la muestra y de las condiciones de focalizacin. Microcristales muy delgados son los ideales (espesor < 500) y se deben tomar varias fotos con diferentes condiciones de focalizacin. Las imgenes se pueden comparar con las generadas/calculadas a partir de una estructura modelo y de unas condiciones de focalizacin determinadas.

FIG.N4. Esquema de la columna electro-ptica de un

TEM.

FIG.N3. Esquema del sostenedor de muestra TEM.

La imagen viene dominada por la presencia de tomos pesados ya que el factor de dispersin de los electrones vara mucho con el nmero atmico. Tambin es importante recordar que la imagen que se graba es la proyeccin de la estructura a lo largo de la direccin del haz lo que conlleva problemas a la hora de la interpretacin de las imgenes. No hay una forma directa de reconstruir la estructura tridimensional de un material a partir de una proyeccin determinada a lo largo de un eje. Por esto, los mtodos para obtener las estructuras de compuestos a partir de imgenes TEM se basan en la comparacin entre las imgenes observadas y las calculadas mediante un modelo estructural, para unos tamaos/espesores de cristal y condiciones de focalizacin dadas. Se debe partir de un modelo estructural bastante aproximado y la optimizacin de las coordenadas atmicas dan errores mucho mayores que los mtodos basados en difraccin de rayos-X y de neutrones. El contraste que se observa en las microfotografas TEM se debe a las diferencias en el potencial electrosttico en el cristal. Un ejemplo de microfotografa TEM se da en la FIG.N5 La cordierita es un silicato que tiene canales amplios constituidos por anillos de seis tetraedros. La estructura ha sido determinada con datos de rayos-X de monocristal.

FIG.N6. Imagen Sistema de vacio provisto de bombas

rotatorios (B.M) y una bomba de alto vacio de difusin de aceite (B.D).

La siguiente etapa consiste en obtener cortes muy finos del material polimerizado. Para ello se utiliza un ultra-micrtomo.
FIG.N5. Imagen TEM de la cordierita con una proyeccin
de la estructura superpuesta.

D. Sistema de vaco Es necesario obtener un alto vaco en el microscopio electrnico. El vaco deber ser siempre superior a -4 10 mbar Para la obtencin de este alto vaco se utilizan dos sistemas de bombeo: Bomba rotatoria que permite hacer un pre-3 vaco; se obtiene as una presin de 10 mbar. Bomba difusora de aceite que permite obtener -6 hasta 10 mbar. El uso de una bomba criognica de N 2 permite obtener mejor nivel de vaco y evita contaminacin de la muestra y la columna. As mismo, se utiliza el llamado "dedo fro" alrededor del sitio de la muestra para evitar contaminacin de la misma. E. Preparacin de la muestra para la observacin en el TEM.

Preparacin de muestras de materiales en polvo para el TEM. En la preparacin de este tipo de muestras slo hay que diluir una cantidad muy pequea de muestra en un disolvente orgnico que no la afecte, habitualmente dicloroetano o acetona. Tambin se puede utilizar agua si no hay alternativa. A continuacin se busca la mxima dispersin sumergiendo la solucin en un bao de ultrasonidos y, al cabo de un tiempo, ya se puede depositar una gota sobre una rejilla filmada con carbono para ser observada directamente una vez se haya secado. Preparacin de muestras materiales compactas para el TEM Para este tipo de muestras se sigue un proceso de adelgazamiento en el que es necesaria la utilizacin de varios aparatos. En primer lugar el usuario ha de aportar una muestra que no supere las 200m. de grosor. A continuacin, el primer paso es cortar un disco de 3mm. de dimetro con el Ultrasonic Disk Cutter pues este es el tamao de la muestra que se puede introducir en el TEM. El siguiente paso es excavar el disco por ambas caras hasta obtener una zona central de unas 20m. con el Dimpling Grinder. Una vez conseguido, se introduce este disco en el Ion Milling para que sea atacado por ambos lados con sendos haces de iones de argn hasta que estos realizan un pequeo orificio central, alrededor del cual queda una zona suficientemente delgada.

Como la imagen que se forma en el TEM depende de que los electrones puedan atravesar la muestra, sta ha de ser suficientemente delgada para permitirlo. Todas las tcnicas de preparacin, tanto de muestras materiales como biolgicas, persiguen el objetivo de adelgazar o conseguir secciones muy finas del espcimen, menores a 100nm, afectando al mnimo su estructura original. Preparacin de muestras biolgicas para el TEM. En general, la preparacin de estas muestras siempre sigue el mismo protocolo bsico: fijacin qumica, lavado, deshidratacin en series de concentraciones crecientes de alcohol o acetona, inclusin en resina y polimerizacin. Segn el objetivo perseguido, en alguno de estos pasos se incluye una etapa de tincin con metales pesados, tales como el osmio, el wolframio o el uranio.

III. Observaciones y discusin.

Una lente clsica tiene un ndice de refraccin constante en todo el espacio que ocupa, mientras que en las lentes electrnicas el ndice de refraccin depender de la magnitud instantnea del campo en cada punto.

Fig.N7. Relacin de la frecuencia de los electrones

con la resolucin de las imgenes obtenidas con un microscopio electrnico.

Se observo la necesidad de un sistema de refrigeracin ya que el TEM trabaja con un sistema de enfriamiento interno y si no se refrigera externamente se producira condensacin sobre el microscopio y lo puede daar. Al igual que con la ptica clsica. En la ptica de electrones se considera a la lente objetiva como el elemento ms importante del sistema, esta lente es el corazn de un TEM. La funcin de la lente objetiva es acortar la distancia a la cual se forma la imagen, como esto depende de la longitud focal, entonces cuanto ms corta sea sta ms poderosa ser la lente. Pero ms que nada se considera como una lente transformadora, puesto que la podemos imaginar como si fuera una computadora ptica capaz de generar transformadas de Fourier instantneas. La lente transformadora forma un patrn de difraccin de Fraunhofer de la red espacial en el plano de la transformada de Fourier, o sea en el plano posterior. Enseguida las ondas se propagan y recombinan hasta llegar al plano imagen. En otras palabras la imagen surge de un proceso de doble difraccin. Podemos imaginar que la onda incidente es difractada por el objeto y la onda difractada resultante es difractada, una vez ms, por la lente objetiva. Si la lente objetiva no estuviera colocada el patrn de difraccin de la muestra cristalina aparecera en el plano de la imagen. En esta discusin se ha considerado que la lente es ideal. Es decir, que se trata de una lente sin aberraciones. la cual mapea el objeto-muestra en una correspondencia punto a punto en la imagen. Algunos defectos comunes en microscopia electrnica son[5]: Un bajo contraste debido a una preparacin y exposicin incorrecta de la muestra, lo que se hace en estos casos es emplear reactivos para mejorar el contraste, conseguir una apertura adecuada, o tambin un revelador adecuado. Una imagen borrosa con falta de detalles, puede darse debido a la inestabilidad del instrumento o a que la columna est contaminada, para evitar esto debe prepararse la muestra correctamente. Lneas de difraccin alrededor del rea de la muestra debido a que el sistema de lentes est contaminado o con un enfoque incorrecto, lo que se puede hacer en estos casos es limpiar el sistema de lentes y ajustar el stigmator.

La pantalla de observacin no est iluminada uniformemente debido a que el haz no est bien centrado o a que las lentes de los condensadores estn mal ajustadas, en estos casos tenemos que centrar y ajustar los condensadores como es debido. Una pequea rea con una elevada densidad en el centro del campo debido a un escape de la luz cuando no se est usando apertura, lo que se puede hacer es emplear una pantalla de alta intensidad. Marcas estticas o grietas en emulsin debido a una permanencia de la pelcula en vaco por mucho tiempo, para evitarse este problema no debe cargarse la pelcula si no se va a utilizar. Rayas y puntos blancos debido al polvo sobre los negativos antes de ser expuestos o marcas de dedos al cargarse, para evitar esto lo negativos debern estar limpios y debern cogerse por los extremos. La posibilidad de equivocaciones a la hora de estar formulando juicio, cuando se trabaja con un microscopio electrnico no se puede descartar. Esta posibilidad debe considerarse sobre todo cuando se hace trabajo de alta resolucin, en cuyo caso es posible tener una imagen semejante para dos arreglos atmicos estructuralmente diferentes. Otro posible inconveniente radica en las dificultades tcnicas que a menudo se descuidan al operar un TEM. Existe un buen nmero de parmetros sensibles a las condiciones del TEM que podran dificultar la toma de buenas y, sobre todo confiables fotografas. En el trabajo de microscopa electrnica puede ocasionarse dao por radiacin a la muestra que se observa. puesto que los electrones incidentes pueden ionizar y/o desplazar tomos del material.

IV. Aplicaciones del TEM.

Un microscopio electrnico puede usarse en una gran variedad de reas de investigacin, bien para confirmar hiptesis o para realizar algn nuevo descubrimiento. En biologa pueden estudiarse tejidos, huesos, morfologa, virus, bacterias, clulas, protenas, etc. En ciencia de materiales, para identificacin de materiales geolgicos, determinacin de estructuras cristalinas, en materiales compuestos, pelculas delgadas. En materiales cermicos y metales para localizar y estudiar defectos o para hacer anlisis qumicos. Aunque la informacin obtenida por medio de la microscopia electrnica pudiera no ser suficiente, s es, con frecuencia necesaria para entender la estructura interna de la materia, especialmente la cristalina.

V. Conclusiones.
Se obtuvo conocimientos generales de las partes elementales de un TEM, as como tambin de la parte fsica de su operacin. En conclusin, gracias a este instrumento se puede ahondar ms all de nuestros lmites visuales, permitiendo de esta forma a la ciencia seguir hondando en los lmites de lo desconocido, debido a esto tenemos que ser conscientes de lo indispensable que es hoy en da un microscopio electrnico en los laboratorios de investigacin.

VI. Bibliografa.
[1]. An introduction to Electron Microscopy. Mikros Scopeo. FEI Company. [2]. Microscopia Electrnica. Ampliacin de Qumica Inorgnica. Parte II: Tcnicas estructurales, 5 curso, 2004/2005. [3]. Introduccin a la Microscopa Electrnica. Centro de Microscopa Electrnica. Escuela de Biologa, Facultad de Ciencias de la Universidad Central de Venezuela. [4]. Fundamentos del microscopio electrnico y su aplicacin en la investigacin textil. A. Naik. [5]. Serie Cientfica Avanzada: El Microscopio Electrnico. Centro de Extensin Biomdica Facultad de Medicina Universidad de Chile. M. L. Lpez [6]. Electron Microscopy and Photography. Kodak Publication. [7]. Introduccin a la microscopia aplicada a las ciencias biolgicas primera edicin. Gerardo Vsquez, Olga Echevarra, 2000. [8]. El abc de la formacin de imgenes en un microscopio electrnico. A. Huanosta-Tera. Instituto de Investigaciones en Materiales, Universidad Nacional Autnoma de Mxico. 1999