Densidad volumtrica, planar y lineal de celdillas unidad Densidad volumtrica Si se supone que los tomos son esferas perfectas,

la densidad volumtrica de un metal est definida por v = masa / celdilla unidad volumen / celdilla unidad

Es posible que la densidad volumtrica terica calculada con la frmula anteriormente citada no sea exactamente igual al valor de la densidad calculado experimentalmente. Esto puede atribuirse a la presencia de algunos defectos estructurales o a que los tomos distan bastante de ser esferas perfectas. Densidad atmica planar Algunas veces es importante determinar la densidad atmica en varios planos cristalinos. Para ello, se calcula una magnitud llamada densidad atmica planar a partir de la relacin

p =

# equivalente de tomos cuyos centros estn int er sec tados por el rea selecciona da rea selecciona da

Densidad atmica lineal La densidad atmica calculada en una direccin especfica dentro del cristal se calcula con la relacin: # tomos diametralmente int er sec tados por una longitud selecciona da de una lnea de direccin dada l = longitud de la lnea selecciona da

Polimorfismo Muchos elementos y compuestos existen en ms de una forma cristalina bajo diferentes condiciones de presin y temperatura. Este fenmeno es llamado Polimorfismo y es muy importante desde el punto de vista tanto cristalogrfico como industrial pues en casi cualquier proceso industrial de obtencin o modificacin de materiales, se estn sometiendo las materias primas a cambios de presin y temperatura que obligan a los componentes a pasar de un polimorfo a otro. Los polimorfos de una sustancia tienen caractersticas fsicas y propiedades muy diferentes entre si. Un ejemplo de ello lo constituyen el diamante y el grafito cuya composicin qumica es idntica (C) pero cristalizan en sistemas cristalinos diferentes. El diamante cristaliza en el sistema cbico, mientras que el grafito cristaliza en

el sistema hexagonal. Ni que hablar de las diferencias de las propiedades fsicas tan diferentes entre uno y otro. El estudio de los polimorfos se realiza por medio de unos diagramas conocidos como diagramas de fases, donde se consignan las reas de estabilidad de los componentes del sistema analizado, considerando la temperatura y la presin como variantes del sistema. Ver figura 1.

Figura 1. Diagrama de equilibrio de la Slice

En el diagrama de fases o diagrama de estabilidad de la slice, se puede observar como un material de los consignados all se puede transformar de una fase a otra, cuando se somete a cambios de temperatura y presin. Esto ocurre naturalmente o puede ocurrir en una planta procesadora de materiales. Dentro de los metales que comnmente presentan polimorfismo se encuentran el Hierro, el Cobalto, El Titanio entre otros Anlisis de la estructura cristalina El conocimiento actual de la estructura cristalina ha sido obtenido principalmente por tcnicas de difraccin de rayos X, que utilizan rayos X de longitudes de onda que oscilan entre 0.5 y 2.5 , distancia que es del mismo orden de la distancia interatmica.

Fuentes de rayos X Los rayos X utilizados para la difraccin son ondas electromagnticas con longitudes de onda que oscilan entre 0.5 y 2.5 . Para producir estos rayos X se necesita un voltaje de 35 KV aplicado sobre un ctodo y un metal que sirve como nodo, ambos mantenidos al vaco.

Como ctodo se utiliza un filamento de tungsteno. Este filamento se calienta ante la accin del voltaje (35 KV) y libera electrones que se aceleran a travs del vaco por la gran diferencia de potencial existente entre el ctodo y el nodo, adquiriendo entonces gran energa cintica. Cuando los electrones golpean la lmina de metal (por ejemplo Molibdeno) se emiten rayos X. Sin embargo, la mayor parte de la energa cintica (cerca del 98%) se convierte en calor y por ello la muestra tiene que ser refrigerada permanentemente a partir de una fuente externa. Como nodo pueden utilizarse una gran cantidad de metales que emiten diferentes espectros dependiendo de su configuracin electrnica. Para el Molibdeno, que es uno de los que con mayor frecuencia se utiliza, se genera un espectro continuo con longitudes de onda que oscilan entre 0.2 y 1.4 . (Figura 2) Dentro de este espectro se notan dos picos de radiacin caracterstica que se designan como k y k. Las lneas k y k aparecen caractersticamente en una longitud de onda determinada para cada elemento. En el molibdeno k aparece aproximadamente a 0.07 y k aparece aproximadamente a 0.6 . Estas radiaciones caractersticas tienen lugar ya que inicialmente al ser el metal bombardeado por los electrones a alta velocidad, electrones del nivel K (n=1) son expulsados del tomo, dejndolo excitado. Luego, algunos de los electrones de los niveles ms altos (n=2 o n=3) caen a niveles energticos ms bajos, para reemplazar los electrones K perdidos emitiendo la energa restante de una longitud de onda definida.

Figura 2. Espectro de emisin de rayos X cuando se utiliza molibdeno como nodo Difraccin de rayos X Es un mtodo de aplicacin general en la identificacin de materiales. Antes de 1912, se haba deducido la estructura interna de los cristales a partir de propiedades tales como la exfoliacin, las propiedades pticas y la forma externa. Gracias al empleo de los rayos X fue posible medir la distancia entre planos sucesivos de un cristal y determinar con exactitud la posicin de los tomos permitiendo determinar las estructuras cristalinas. Los rayos x se descubrieron accidentalmente por Wilhem Konrad Roentgen en 1895 mientras experimentaba con tubos de descarga cubiertos con papel negro para la produccin de rayos catdicos. El haz de electrones en el tubo de descarga, incidiendo en el vidrio del mismo produca una radiacin de pequea intensidad que haca fluorecer un mineral (Platino Cianuro de Bario) situado en las proximidades del elemento. Dedujo que habia descubierto un tipo de radiacin penetrante a la que llam Rayos X dado que haba muchas incgnitas alrededor de ella. Sin embargo no pudo medir la longitud de onda de los rayos X y la solucin a este interrogante llev, mas adelante al descubrimiento de la difraccin de los rayos X por las sustancias cristalinas. Su aplicacin inmediata fue en el campo de la medicina para la localizacin de cuerpos extraos, de fracturas, etc dado que la mayora de las sustancias son ms o menos transparentes a los rayos X Solo hasta 1912 por sugerencia de Max Von Laue, estos rayos se usaron en el estudio de las sustancias cristalinas con el siguiente experimento: Se hizo pasar un haz de rayos X por una lmina de exfoliacin de esfalerita (ZnS) h aiendo que el haz incidiera en una placa fotogrfica. Al revelar la placa, mostr una serie de manchas distribuidas geomtricamente alrededor de una mancha central grande producida por el haz de rayos X

Esta figura era idntica a la predicha considerando la difraccin de los rayos X por un conjunto regulador de puntos difusores en el cristal. De esta manera se comprob por un lado, la distribucin regular de las partculas atmicas en el cristal y por otro, que los rayos X tienen una longitud de onda del orden del espacio cristalino. La difraccin puede definirse as: Cuando un obstculo se interpone en el camino de la luz, dicho obstculo se comporta como un emisor secundario que da lugar a ondas dirigidas en todas direcciones generando una especie de efecto cooperativo. Bragg demostr que los rayos X eran verdaderamente difractados por los cristales, generando un efecto cooperativo que era muy similar a una reflexin en los planos del cristal, pero la reflexin no ocurre en un solo plano sino en una familia de planos paralelos y no ocurre siempre sino solo cuando las ondas producidas estn en fase. O sea que si los diagramas de onda reflejados dejan a los diversos planos en fase, entonces se produce un reforzamiento del haz o interferencia constructiva.

Para que los rayos estn en fase se debe cumplir: MPN diferencia de camino ptico MPN = n MP + PN = n d Sen = MP/d d Sen = MP = PN

MP d Sen + d Sen = n

2d Sen = n Ley de Bragg

Esta ecuacin establece que solo ocurren difracciones en los planos que satisfagan esta ecuacin. Han existido varias tecnologas que utilizan el principio de la difraccin de rayos X para la identificacin de la estructura cristalina o para la identificacin de sustancias cristalinas. Mtodo de Laue

Este experimento es similar al primer experimento donde se usaron rayos X en cristales. En l se utiliz un cristal (monocristal) que se sita de una forma definida expuesto al rayo. Un haz de rayos X monocromtico se hace incidir sobre el cristal perpendicularmente a la

placa fotogrfica. Entre el cristal y la placa se coloca un disco de plomo para interceptar el haz y absorber el haz directo evitando el ennegrecimiento de la pelcula en su parte central. Alrededor del punto central aparecen una serie de puntos o manchas de difraccin situados de una forma tal que denota un patrn. Este mtodo se usa para comprobar la simetra de los cristales Mtodo del polvo

Aqu la muestra se pulveriza con el fin de asegurar una orientacin al azar de muchos cristales que asegure que algunos de ellos satisfagan la ley de Bragg. La muestra se hace girar durante la exposicin. Anteriormente se usaba una pelcula fotogrfica donde se registraban los arcos correspondientes a los conos de difraccin. Actualmente los instrumentos modernos, poseen un contador de radiacin y registran automticamente la intensidad del haz difractado y el ngulo 2 al cual ocurren.