Ultrasonidos Mantenimiento Industrial

rea de Ingeniera Mecnica - Mantenimiento Industrial Ultrasonidos
Prctica IX Hoja 1 de 45
1. INTRODUCCIN. PRINCIPIOS FSICOS DE LOS ULTRASONIDOS

1.1 Ensayos no destructivos
Son el conjunto de tcnicas destinadas al control de calidad de materiales, que no implican una alteracin de sus condiciones originales. El control de calidad tiene como finalidad la comprobacin del cumplimiento de unas caractersticas o condiciones exigidas y comprende dos aspectos: 1) Deteccin de heterogeneidades, verificacin de las condiciones fsicas o defectologa. 2) Medida de espesores, verificacin de condiciones geomtricas o metrologa.
1.2 Ensayo de ultrasonidos

Para efectuar el control no destructivo de materiales, el ensayo de ultrasonidos emplea un principio fsico que es la capacidad de las ondas sonoras para propagarse a velocidad constante a travs de materiales homogneos. La tcnica del ensayo consiste bsicamente en la emisin de ondas sonoras o acsticas de elevada frecuencia (ultrasonidos) a travs de la pieza o material a verificar, que posteriormente son recogidas por un receptor. Cuando estas ondas se encuentran con algn tipo de heterogeneidad sufrirn alteraciones en su intensidad, direccin y sentido, que sern detectadas por el receptor, el cual, nos puede medir: la intensidad de sonido que le llega (transmitida o reflejada), el tiempo transcurrido, o ambas a la vez.
Fig. 1 Deteccin mediante seal transmitida
Fig. 2. Deteccin mediante seal reflejada
Si estos resultados los traducimos visualmente mediante un equipo de medicin adecuado, a travs de la interpretacin de stos, podremos determinar la condicin interna de la pieza y si esta se ajusta a las caractersticas exigidas.
1.3 Fsica de los ultrasonidos. Onda ultrasnica

1.3.1 Onda Ultrasnica
El instrumento que utiliza el ensayo de ultrasonidos es la onda ultrasnica o ultrasonido. Los ultrasonidos son ondas sonoras que se encuentran dentro de la banda ultrasnica y por lo tanto, no audible, del espectro acstico: -banda infrasnica: frecuencia < 16 Hz. -banda snica (audible): 16 Hz < f < 20 KHz.
-banda ultrasnica: frecuencia> 20 KHz. En los ensayos de materiales se emplean frecuencias de entre 20 KHz. hasta 25 MHz., y para metales est entre los 0,2 -6 MHz. y los 25 MHz.
1.3.2 Naturaleza
Las ondas sonoras o acsticas son de naturaleza mecnica, es decir slo se propagan a travs de medios elsticos donde existan fracciones de materia (tomos o molculas) capaces de vibrar. Por lo tanto, los ultrasonidos podrn propagarse por medios slidos, lquidos o gaseosos pero nunca en el vaco.
1.3.3 Comportamiento de las o.u.s. en medios ilimitados

1.3.3.1 Propagacin En el estudio de las propiedades de las ondas mecnicas y su propagacin en medios slidos, se recurre al modelo de cuerpo elstico (fig.3). Todo cuerpo elstico en equilibrio est formado por partculas materiales que se mantienen en su posicin mediante fuerzas elsticas internas. Cuando comunicamos una presin exterior (perturbacin), bien sea normal o tangencial, sobre el plano de partculas superficiales, produciremos su desplazamiento respecto a la posicin inicial de equilibrio (deformacin elstica). A causa de las fuerzas elsticas que ligan a las partculas entre si, stas tienden a recuperar su posicin de equilibrio, pero debido a su inercia oscilarn en torno a dicha posicin. Este movimiento oscilatorio se transmite hacia las partculas vecinas del interior gracias a la elasticidad del medio. Esta propagacin a travs del medio de la perturbacin inicial en forma de oscilaciones peridicas de las partculas y a velocidad constante, constituye la onda elstica o mecnica. A causa del rozamiento interno, parte de la energa oscilatoria se transformar en calor con lo que la onda se amortigua y es absorbida finalmente por el material. 1.3.3.2 Tipos de onda -En medios ilimitados las o.u.s. se propagan en forma de: 1) Ondas longitudinales. Si la presin aplicada sobre la superficie es normal se producirn ondas longitudinales. Estas ondas se caracterizan porque la oscilacin de las partculas tiene lugar en la direccin de propagacin del movimiento.
Estas oscilaciones de las partculas se traducen en una variacin peridica de la presin del medio, al crearse zonas de sobrepresin y depresin alternadas, por lo que reciben el nombre de ondas de presin. La variacin de presin debida a la propagacin de la onda sonora, que se produce junto a la oscilacin es un parmetro muy importante en el ensayo de ultrasonidos y se conoce como Presin acstica. Esta se define como la fuerza en direccin normal por unidad de superficie. Las ondas longitudinales se propagan en todo tipo de medios: slido, lquido o gaseoso. 2) Ondas transversales. (fig.5) Si la presin aplicada sobre la superficie es tangencial se producirn ondas transversales. Estas ondas se caracterizan porque las oscilaciones de las partculas son perpendiculares o transversales a la direccin de propagacin del movimiento. En este caso, la presin acstica de la onda longitudinal se reemplaza por la tensin cortante peridica. Como la nica diferencia entre presin y tensin tangencial es la direccin de aplicacin, que en esta ltima es paralela a la superficie considerada, al referimos a la tensin tangencial en la onda transversal daremos la denominacin general de presin acstica. Las ondas transversales slo podrn propagarse en medios que sean capaces de transmitir esfuerzos de cizalladura, esto es, en slidos y en lquidos muy viscosos. Por lo tanto, los lquidos y en mucha menor medida los gases, son prcticamente incapaces de transmitir ondas transversales porque sus molculas ofrecen poca resistencia al deslizamiento transversal al no existir un fuerte vinculo elstico que las liguen a una posicin fija. -medios semi-limitados. 3) Ondas de superficie o de Rayleigh.(fig.6) Son un tipo especial de ondas transversales. Estas se propagan solamente en la periferia de un slido finito, siguiendo su contorno o las irregularidades de la superficie. -Estos tres tipos pueden ser a su vez: segn su longitud: ondas continuas: longitud ilimitada. ondas por impulsos: longitud limitada. 1.3.3.3 Parmetros. 1) Generales. (fig.7) segn la forma del frente de onda: planas, esfricas, cilndricas.
Si representamos las variaciones de posicin de las partculas respecto de su posicin de reposo, en funcin del espacio y del tiempo; o lo que es lo mismo, la presin acstica respecto al espacio y el tiempo; obtendremos los parmetros generales que son comunes a toda onda: -Frecuencia (ciclos/s; osc./seg; Hz.): Es el nmero de oscilaciones de una partcula por segundo. Dentro de la misma onda ser la misma para todas ellas e igual a la frecuencia del foco de perturbacin que la gener. -Periodo (seg.): El tiempo que tarda en dar una oscilacin completa: T = 1/f -Longitud de onda (m): Es la distancia entre dos planos consecutivos en los que las partculas se encuentren en el mismo estado de movimiento. -Amplitud de oscilacin o de la presin A (m. N/m2): Es el desplazamiento mximo de una partcula respecto a su posicin de equilibrio o el valor mximo de la presin. 2) Especficos: Dependen del material (Tabla 1) -velocidad acstica c(m/s.): Es la velocidad de propagacin de la onda a travs del material. Es una caracterstica de cada material y se puede calcular a partir de sus caractersticas fsicas ya que es proporcional a la elasticidad del medio e inversamente proporcional a su densidad. E = mdulo de elasticidad (N/m2)
= coeficiente de Poisson (adimensional) = densidad (kg/m3)

G= E mdulo de elasticidad transversal (N/m2) 2(1 + )
ONDA LONGITUDINAL: cL = ONDA TRANSVERSAL: cT = Relacin:
E (1 ) G (1 + )(1 2 ) E 1 G = 2(1 + )
cL =
E 2(1 ) 2(1 ) = cT G 2(1 + )(1 2 ) (1 2 )
ACERO: E = 2106 Kg/cm2 = 1,961011 N/m2
= 0,3
cL = 1, 87cT 2cT La velocidad est relacionada con la frecuencia y la longitud de onda:
c = / T = f como c es una constante del material, los valores de f y tambin lo sern.

-Impedancia acstica Z (kg/m2s) Es una constante del material. Es la resistencia que opone un medio a la vibracin de la onda, es decir a las deformaciones elsticas causadas por sta. Por tanto, la impedancia acstica se opone a la vibracin de las partculas materiales del medio, pero no a la propagacin de la onda. Impedancia baja: las partculas del material vibrarn a elevada velocidad para pequeos cambios de presin.
Z = c
-Presin acstica P (N/m2)
Zslidos>Zlquidos>Zgases
Es la presin alterna peridica debida a la onda acstica. Se define: -ondas longitudinales: fuerza por unidad de superficie, normal a la superficie de la onda. onda. -ondas transversales: fuerza cortante por unidad de superficie, paralela a la superficie de la
-Intensidad acstica I (W/m2) Las ondas mecnicas transportan energa, pero no masa. La intensidad acstica se define como la cantidad de energa que pasa por unidad de rea en la unidad de tiempo.
1 P2 I= 2 Z
En el ensayo de ultrasonidos es muy importante la relacin entre presin e intensidad acstica, ya que la magnitud de las indicaciones proporcionadas por un equipo de ultrasonidos son proporcionales a la I y por tanto, a P2.
1.4 Comportamiento de las o.u.s. en medios limitados.

1.4.1 Superficies. Lmites.
La propagacin ideal de los u.s. en medios ilimitados se produca en forma de ondas longitudinales o transversales que no sufran alteracin alguna salvo su amortiguamiento y absorcin por el material. Pero cuando la o.u.s. alcanza los lmites del medio en que se propaga sufrir alteraciones de su direccin e intensidad; e incluso se producirn transformaciones de unos tipos de onda en otros. Las superficies lmite son aquellas que separan dos medios materiales de distintas propiedades elsticas, como los contornos de la pieza o de una discontinuidad. Dependiendo de la orientacin de la onda al incidir sobre las superficies lmites tendremos dos tipos de comportamiento: -incidencia normal: da lugar a la reflexin. -incidencia angular: da lugar a refraccin y transformacin de ondas.
Material Acero (baja aleacin) Acero inox. Austentico(18 8) Acero inox. Martenstico 13 Cr Aluminio Aleacin Al-Cu = AL L 3120 Fundicin (Hierro-Carbono) Hierro Inconel (laminado) Latn (Cu-Zn) Metal duro Monel Niquel Plomo 6% antimonio Cristales piezoelctricos Cuarzo (SiO2) Corte X Metaniobato de plomo Pb(PbNb2O6) Sulfato de Litio Li2SO4 Titanato de Bario BaTiO3 Perpex (Polimetacriato de metilo) Plexiglas Tefln Araldit Baquelita Aceite (SAE 20 a 30) Agua destilada (20 C) Glicerina (20 C) Alcohol etlico (20 C) Aire (20 C)
Densidad 103 Kg/m3
Velocidades Acsticas 103 m/s cL cT 3,19 3,12 2,99 3,08 3,10 2,2-3,2 3,23 3,02 2,05 4,0-4,7 2,72 2,96 0,81 1,43 1,1 5,82 5,66 7,39 6,32 6,25 3,5-5,6 5,85 7,82 3,83 6,8-7,3 6,02 5,63 2,6 5,76 2,8 4,72 4,40 2,73 1,35 2,5-2,8 2,59 1,74 1,483 1,92 1,17 0,33
IMPEDANCIA ACUSTICA EN 106Kg/m2s ( Z = cL ) 45,7 45,5 56,7 17,1 17,4 25-40 45 64,5 33 75-110 53,1 50 23,6 15,3 16 8,6 11,2 3,2 3,0 2,8-3,7 3,6 1,5-1,7 1,48 2,4 0,92 0,00043
7,85 8,03 7,67 2,71 2,78 7,2 7,7 8,25 8,6 11-15 8,83 8,9 10,9 2,65 5,8 2,06 5,7 1,18 2,2 1,15-1,3 1,4 0,89-0,96 1,0 1,26 0,79 0,0012
TABLA 1. Densidades, velocidades e impedancias acsticas de distintos materiales
1.4.2 Incidencia normal. Reflexin

Al incidir una o.u.s. perpendicularmente sobre la superficie lmite que separa dos medios de diferentes propiedades elsticas, una parte se transmitir al segundo medio manteniendo su direccin y sentido y otra parte se reflejar volviendo al primer medio con la misma direccin que la incidente pero en sentido contrario. (fig.8) Si efectuamos un balance energtico en la superficie lmite, tendremos: Einicial = Efinal I
incidente
= Ireflejada + Itransmitida
Esta evaluacin es independiente del lado de la superficie lmite sobre el que incide la onda. La cantidad de sonido reflejada y transmitida
respecto a la que incide, depender de la impedancia acstica de los medios. La cuantificacin de estas cantidades se efecta mediante los factores de transmisin y de reflexin, que se definen de la siguiente forma: -factor de transmisin (T): es la fraccin de la presin acstica de la onda incidente, transmitida del primer medio al segundo. Nos indica: si T>l : la onda transmitida es de mayor amplitud que la incidente si T<l : lo contrario -factor de reflexin (R): es la fraccin de la presin acstica de la onda incidente, reflejada por la superficie lmite. Nos indica: si R es positivo: las ondas incidente y reflejada estn en fase si R es negativo: se produce inversin de fase
R (%) =
Pr Z 2 Z1 = Pi Z 2 + Z1
T (%) =
Pt 2Z 2 = Pi Z 2 + Z1
A diferencia de las intensidades, para las presiones se cumple que en la superficie lmite, la suma de las presiones acsticas en el primer medio es igual a la presin acstica en el segundo: Pincidente+Preflejada = Ptransmitida ; x ( I /Pi) [ I + R = T] La presin acstica reflejada es de igual amplitud que la incidente, independiente de la secuencia de los materiales. La presin acstica transmitida, sin embargo, depende de la secuencia de los materiales y es de diferente amplitud que la incidente. Vemoslo mediante un ejemplo: tenemos dos materiales de diferentes impedancias acsticas, ACERO (Z = 45,6106 kg/m2s) y ALUMINIO (Z = 17,1106 kg/m2s) segn el lado sobre el que incida el sonido, se pueden presentar dos casos:
1) Secuencia: ACERO (Z1) ALUMINIO (Z2): Z1>Z2: medio 2 acsticamente blando (fig.9) R = -0,4545. Se refleja el 45,45% de la onda incidente, el signo (-) indica que la onda incidente y la reflejada estn desfasadas. T = 0,5455. Se transmite al aluminio el 54,55% de la onda incidente. Como las ondas incidente y reflejada estn desfasadas, las presiones acsticas se restan.
2) Secuencia: ALUMINIO(Z1) -+ ACERO(Z2): Z1<Z2: medio 2 acsticamente duro. (fig.10) R = 0,4545. Se sigue reflejando el 45,45% de la onda incidente, pero el signo (+) indica que la onda reflejada est en fase con la incidente. T = 1,4545. Se transmite al acero el 145,45% debido a que las ondas incidente y reflejada estn en fase, con lo que las presiones acsticas se suman.
1.4.3 Incidencia angular. Refraccin.

Ley de Snell. Cuando una o.u.s incide sobre una superficie lmite con un determinado ngulo, se producirn tambin ondas reflejadas y transmitidas, pero en este caso las direcciones finales no coincidirn con la de la onda incidente. En este caso a la onda transmitida al segundo medio se le denomina onda refractada, y las direcciones vienen determinadas por la ley de Snell:
sen i c1 REFLEJADAS : sen = c ' ; i = r sen1 sen 2 1 r = sen i c1 c1 c2 REFRACTADAS : = sen t c2
En contraste con la ptica, en acstica aparece un nuevo fenmeno adems de los anteriormente citados de transmisin, reflexin y refraccin; que es el de desdoblamiento de la onda incidente. Por este motivo, cada onda incidente da lugar a dos reflejadas y dos refractadas (longitudinales y transversales). Teniendo en cuenta que CT < CL, los ngulos de reflexin y refraccin para las ondas longitudinales sern mayores que los correspondientes a las ondas transversales como queda reflejado en la fig.12.
Fig. 12. Ley de Snell generalizada ngulos crticos. A medida que aumentamos el ngulo de la onda incidente, tambin lo hace el ngulo de las ondas refractadas. Cuando el ngulo de una de las ondas refractadas alcanza los 90, el ngulo de incidencia se denomina ngulo de incidencia crtico. Segn esto tendremos dos ngulos crticos: 1) longitudinal.
La primera onda refractada en alcanzar el valor de 90 es la onda longitudinal: momento en el cual obtendremos el ngulo crtico para ondas longitudinales. En el segundo medio slo tendremos transmisin de ondas transversales. 2) transversal. Si seguimos aumentando el ngulo de la onda incidente hasta conseguir que el ngulo de la onda transversal refractada alcance los 90 obtendremos el ngulo crtico para ondas transversales. En ese momento la onda longitudinal estar totalmente reflejada, y la transversal se propagar paralela a la superficie en forma de ondas superficiales. A partir de este ltimo valor del ngulo de incidencia, se produce la reflexin total de la onda incidente sin que se transmita onda alguna al segundo medio. a) onda incidente longitudinal.
b) onda incidente transversal
2. GENERACIN DE ULTRASONIDOS
En el apartado propagacin de o.u.s., se vi como la onda u.s. se originaba en el material a partir de una perturbacin localizada del equilibrio elstico del medio que posteriormente se propagaba. Esta perturbacin o energa inicial constituye lo que se denomina foco. Un foco de sonido consiste en un cuerpo o superficie vibrante (oscilador). Si dicha superficie la ponemos en contacto fsico con la superficie del material que queremos verificar, sus oscilaciones peridicas (transversales o longitudinales) se traducirn, como ya hemos visto, en variaciones peridicas de la presin acstica del material. Para generar o.u.s., es decir ondas sonoras de elevada frecuencia (0,2 -25 Mhz.) adecuadas para el ensayo de metales, necesitamos osciladores que sean capaces de vibrar a esas elevadas frecuencias. En el ensayo de ultrasonidos de materiales metlicos se emplean fundamentalmente osciladores piezoelctricos.
2.1 Efecto Piezoelctrico.

El oscilador consiste en una plaquita de material piezoelctrico (tambin denominada cristal), tallada en forma de disco o de prisma rectangular, es decir con dos superficies paralelas. Un material piezoelctrico con esta forma, tiene la propiedad de producir un potencial elctrico entre sus caras cuando ste se deforma bajo la accin de una presin externa. Este efecto se denomina efecto piezoelctrico directo y es el que se emplea para la recepcin de o.u.s., transformando la energa mecnica oscilatoria debida a la presin acstica que llega al oscilador procedente de la pieza, en energa elctrica fcilmente medible. Por el contrario, cuando al mismo material piezoelctrico se le aplica un potencial elctrico entre sus caras, ste cambiar de forma, dilatndose o contrayndose en una direccin dependiendo del sentido de la tensin aplicada. Si la tensin aplicada es una tensin alterna de alta frecuencia, la deformacin del oscilador tambin ser alterna, producindose la vibracin a elevada frecuencia de la plaquita piezoelctrica. Este efecto se denomina efecto piezoelctrico recproco y es el empleado para generar o.u.s., transformando energa elctrica en energa mecnica oscilatoria. En ambos casos existir una proporcionalidad entre la presin acstica generada/recibida y la tensin elctrica recibida/generada. Una vez obtenido el oscilador a partir del material piezoelctrico en bruto, en forma de plaquitas conveniente talladas, sus superficies se metalizan con el fin de que la tensin elctrica aplicada/generada sobre ellas sea uniforme y puedan ser conectadas elctricamente a la fuente/receptor de tensin.
2.1.1 Materiales Piezoelctricos.

Los efectos piezoelctricos se presentan en muchos materiales, por ello es necesario definir las caractersticas que debe reunir un material piezoelctrico para su aplicacin como generador/receptor de o.u.s. Estas caractersticas son: 1) Poseer buenas caractersticas piezoelctricas, es decir que la transformacin de energa mecnica oscilatoria en elctrica y viceversa sea efectiva. 2) Ser homogneo (influye en el 1) 3) Apto para modelarse en forma y tamao deseados.
4) Propiedades invariables con la temperatura. 5) Estable tanto fsica como qumicamente. Los materiales ms empleados por responder a estas caractersticas son: Cuarzo (SiO2), sulfato de litio (Li2SO4), titanato de bario (BaTiO2), meta-niobato de Plomo (Pb[PbNb206]).
2.1.2 Frecuencia caracterstica.

Una vez visto el efecto piezoelctrico y los materiales adecuados para construir los osciladores, el siguiente paso ser conocer las dimensiones (espesor) y las frecuencias adecuadas para el funcionamiento de dicho oscilador. Estos dos parmetros: espesor y frecuencia del oscilador, estn relacionados entre s e influyen directamente en la eficacia del mismo como generador/receptor de o.u.s. Cuando el oscilador acte como generador, nos interesa que la amplitud de las oscilaciones sea lo mayor posible para que la presin acstica sea mxima. Esto se consigue cuando la frecuencia de excitacin elctrica coincide con la frecuencia caracterstica, fundamental o natural del oscilador, consiguindose la resonancia. Esta frecuencia caracterstica depende de la velocidad acstica en el material oscilador y de su espesor:
c c fc = e= 2e 2 f c c = f
espesor de resonancia fc e= = 2 f c 2
Ejemplo : cuarzo f c = 2MHz (requerida ) cL = 5, 76103 m / s RESULTADO : e 0,5mm
Segn el ejemplo, vemos que para la generacin y recepcin de o.u.s. de elevada frecuencia utilizando la frecuencia caracterstica del oscilador, necesitamos espesores muy pequeos lo que implicara un gran costo de mecanizacin y una gran fragilidad que podra producir su rotura. Para evitar este inconveniente, en lugar de excitar al cristal con la fc se emplean armnicos superiores de dicha frecuencia: espesores de resonancia para armnicos ARMONICOS: fa=Nfc (N=1,2,..) f c =
N c 2e '
e' =
N c = N = N e 2 f c 2
2.2 Palpadores.
Los osciladores piezoelctricos son los ms empleados en ensayos de metales. Aunque, en principio, se pueden generar ondas longitudinales y transversales, en los ensayos de ultrasonidos se emplean generalmente generadores de ondas longitudinales vibrando en la direccin de su espesor.
Para que el oscilador piezoelctrico no vibre libremente, sino que el sonido se transmita nicamente en la direccin de la pieza se adosa un material amortiguador de alta impedancia acstica que adems acta como soporte mecnico del oscilador. Asimismo, debido a la fragilidad del oscilador por su pequeo espesor se hace necesario protegerlo fsicamente por lo que el conjunto oscilador, amortiguador y las conexiones elctricas necesarias se alojan, en una carcasa metlica. Este conjunto recibe el nombre de palpador o transductor y constituye el componente bsico del equipo de ultrasonidos. En la fig.17 se muestra la construccin bsica de un palpador.
2.2.1 Tipos de palpadores. Clasificacin.

Existe gran variedad de palpadores, como consecuencia de la gran diversidad de tcnicas operatorias que se aplican para el examen por ultrasonidos. Si atendemos a este aspecto tendremos: palpadores de contacto (tcnicas de contacto) y palpadores de inmersin (tcnicas de inmersin). Las caractersticas de estas tcnicas se vern ms adelante. Si atendemos a la direccin del haz ultrasnico emitido respecto a la superficie del material tendremos: palpadores de incidencia normal y palpadores de incidencia oblicua o angular. Si atendemos al nmero de osciladores piezoelctricos que incorporan tendremos: palpadores de cristal nico; emisor y receptor o tipo E+R, palpadores de cristal doble; uno emisor y otro receptor, tipo E-R o SE y palpadores de cristales mltiples o mosaicos. Todas estas caractersticas se pueden resumir en una clasificacin general:
Incidencia normal a) de contacto PALPADORES b) de inmersin: incidencia normal: E+R
E+R E-R SE MOSAICOS
Incidencia angular (E+R)
2.2.2 Nomenclatura.
Todos los palpadores incorporan un cdigo o abreviatura en su parte superior que permite identificar el tipo a que pertenece y sus caractersticas principales. Vemoslo mediante algunos ejemplos:
TAMAO CRISTAL M M M SM
TIPO
SE SE SE W W W
MATERIAL CRISTAL B B B B B B B Q
GULO PALPADOR
FRECUENCIA 4 2 2H 2 HO 4H 2 2 2
OTROS S-N S-N
35-N 45-N 60-N Tabla 2
-Tamao del cristal: grande (nada), miniatura (M), subminiatura (SM). -Tipo: palpador normal emisor+receptor (nada), palpador SE (SE), palpador angular (W). -Material del cristal piezoelctrico: titanato de bario (B), cuarzo (Q), cristales especiales: sulfato de litio o meta-niobato de plomo (K). -Angulo de incidencia: incidencia normal (nada), incidencia angular (ngulo respecto a la perpendicular en acero: 35,45,60,70,80). -otros: suela protectora (S), palpador de inmersin (T), palpador de un solo cristal (N).
3. MTODOS PARA LA VERIFICACIN DE MATERIALES POR ULTRASONIDOS.

El siguiente paso, una vez conseguido el medio de generar los u.s., es transmitirlos desde el palpador a la pieza o material a verificar. Para ello, necesitamos que exista una continuidad o acoplamiento acstico entre ambos, que se consigue interponiendo un medio fluido denominado acoplante. Segn sea el espesor del medio acoplante, los mtodos o formas de efectuar el ensayo se pueden clasificar en 2 grandes grupos: -Tcnicas por contacto. -Tcnicas por inmersin.
3.1 Tcnicas por contacto.

3.1.1 Definicin v tipos.
Consiste en situar el palpador o palpadores, en contacto con la superficie del material a verificar, desplazndolo sobre ella. El acoplante se distribuye sobre esta superficie en forma de una fina capa o pelcula. Por lo tanto, esta tcnica exige que la pieza presente superficies planas y regulares para que el rea de contacto sea efectiva.
3.1.2 Importancia de un buen acoplamiento acstico.

Para que la cantidad de sonido que se transmite entre dos medios a travs de una superficie lmite sea lo mayor posible, la diferencia de sus impedancias acsticas debe de ser muy pequea como indica el coeficiente de transmisin T. Si aplicamos directamente el palpador sobre la pieza, existir un mal contacto fsico entre sus superficies como consecuencia de sus rugosidades y tendremos aire entre ambas superficies. Como la impedancia acstica del aire es muy pequea en comparacin con la del metal y del cristal piezoelctrico, el coeficiente de transmisin T ser muy pequeo, lo que nos indica que no existir continuidad acstica entre pieza y palpador. Por este motivo se hace necesario emplear una sustancia acoplante, que siempre tendr una impedancia mayor que la del aire. El acoplamiento acstico debe de ser uniforme, existiendo en todo momento un espesor de acoplante entre palpador y pieza. Si presionamos excesivamente el palpador, podemos producir la rotura de la pelcula y el acoplamiento acstico ser defectuoso. 3.1.2.1 Acoplantes. La fina capa o pelcula de acoplante garantiza: -la eliminacin total del aire entre la pieza y el palpador para un correcto acoplamiento acstico (reducimos la relacin de impedancias aumentado el factor de transmisin T) -que el palpador se pueda mover sobre la superficie de la pieza con facilidad y sin rozamiento.
Para que esto sea posible los acoplantes debern ser siempre sustancias lquidas de una cierta viscosidad, que garantice la resistencia y tenacidad de la pelcula y con propiedades lubricantes. Asimismo, el acoplante debe ser homogneo y estar libre de partculas slidas y burbujas, no debe alterar al metal base y debe ser fcilmente eliminable. Los acoplantes ms empleados son los siguientes: aceite lubricante (SAE 20 SAE 30), glicerina, benceno, pastas acoplantes (cola celulsica), siliconas, soluciones jabonosas o agua con aditivos humectantes. 3.1.2.2 Preparacin de las superficies. Es indispensable que la superficie del material a verificar est libre de cualquier tipo de residuo o suciedad que impidan un correcto acoplamiento acstico o que puedan interferir el libre movimiento del palpador. Por ello, antes de proceder al ensayo se proceder al examen y preparacin de las superficies, consistente en la eliminacin de proyecciones de soldadura, cascarillas, xidos y restos de grasas.
3.1.3 Mtodo de intensidad o transmisin.

Se denomina as porque el ensayo se efecta midiendo la cantidad o intensidad del sonido transmitido a travs de la pieza. Al realizar el ensayo por este mtodo, se emplean dos palpadores, uno emisor y otro receptor. Se suele realizar por emisin de un haz continuo de u.s. (ondas continuas) A su vez este mtodo se divide en dos clases: -incidencia normal o transparencia -incidencia oblicua o reflexin 3.1.3.1 Incidencia normal. (fig.22) Por transparencia o sombra. Los palpadores se sitan uno frente a otro a ambos lados de la pieza a verificar, de modo que si sta es homognea, la intensidad recibida ser equivalente a la emitida por lo que el instrumento de medida nos marcar 100% de intensidad. Si la pieza no es homognea, la propagacin del sonido se ve impedida por la discontinuidad del material y entonces slo una parte de la intensidad del sonido llega al palpador receptor mientras que el resto es reflejado por la superficie lmite de la discontinuidad. En este caso el aparato de medida indicar una intensidad menor del 100%. 3.1.3.2 Incidencia oblicua. (fig.23) Por reflexin. Si la superficie posterior de la pieza no es accesible se emplean dos palpadores de incidencia angular. El mtodo inconvenientes: de intensidad presenta los siguientes
-Empleo de dos palpadores, por lo que es poco apropiado para mtodo manual al tener que manejar 2 palpadores al mismo
tiempo y tener que procurar que el acoplamiento acstico sea bueno en dos sitios distintos, y que ambos estn perfectamente alineados. -No se obtiene ninguna respuesta en cuanto a la localizacin de la heterogeneidad. -Previamente, hay que buscar antes la mxima seal transmitida con el fin de evaluar respecto a sta. -En el mtodo de transparencia, la pieza debe presentar superficies paralelas y accesibles. Todos estos inconvenientes hacen que este mtodo se utilice generalmente en procesos automticos de verificacin de objetos idnticos en grandes series.
3.1.4 Mtodo de Impulso-Eco.

En este mtodo se utiliza un nico palpador que acta como emisor y receptor. Las magnitudes a medir son: intensidad (Presin) acstica y tiempo o espacio recorrido por el sonido. En este caso se mide la porcin de intensidad sonora reflejada y no la transmitida. La medida de estas dos magnitudes nos permite conocer la localizacin de la heterogeneidad. Para que el palpador pueda actuar como receptor, debe dejar de transmitir, por ello se sustituye la emisin continua de o.u.s. por la emisin de impulsos ultrasnicos cortos a intervalos constantes. Funcionamiento: el palpador trabaja primero como emisor, transmitiendo un impulso sonoro cuya duracin es del orden de 3 s (310-6 s). A continuacin deja de emitir durante un periodo de tiempo bastante mayor, del orden de 10-2 s (0,01 s), denominado periodo de reposo o intervalo de silencio. Durante este tiempo el palpador est preparado para recibir cualquier impulso acstico reflejado en una superficie lmite (heterogeneidad o pared de fondo) denominado eco. 3.1.4.1 Equipo de impulso-eco. Tambin denominado equipo universal al poder medir tanto la intensidad o presin acstica, el tiempo de recorrido de la o.u.s. o ambos simultneamente; lo que nos permite utilizarlo tanto para el mtodo de impulso-eco, como en el de transmisin. Veamos que para generar y recibir las o.u.s. disponemos de los palpadores que incorporan un oscilador piezoelctrico capaz de transformar tensiones elctricas en presiones acsticas y viceversa. Ahora bien, el ensayo de ultrasonidos slo ser posible si junto a los palpadores incorporamos los dispositivos necesarios para la generacin de tensiones alternas de alta frecuencia, amplificacin de las seales recibidas y representacin de las mismas. El conjunto de estos dispositivos constituye el equipo de ultrasonidos (fig 24) que bsicamente se compone de: -sistema de representacin -generador de barrido -generador frecuencia -amplificador de impulsos de alta
-sistema de sincronismo
1) Sistema de representacin. El equipo de impulso-eco o equipo universal, emplea como sistema de representacin un osciloscopio que es el dispositivo que permite visualizar los resultados del ensayo. Se compone de: -Un T.R.C. que al emitir hacia una pantalla fluorescente un haz fino de electrones produce un punto luminoso. -Placas de deflexin, entre las que aplicamos una tensin para producir el desplazamiento del punto luminoso por la pantalla: verticales (deflexin horizontal): Aplicamos una tensin proporcional al tiempo que produce el desplazamiento horizontal a velocidad constante del punto a lo largo de la pantalla. Esta tensin, denominada tensin de barrido, vara de forma peridica hacindose nula cuando el punto alcanza el final de la pantalla, retornando al origen.
horizontales (deflexin vertical): reciben la seal de tensin amplificada procedente del receptor, produciendo un desplazamiento vertical del punto luminoso en forma de pico que corresponde al eco o seal reflejada.
2) Generador de barrido. Se encarga de producir la tensin de barrido entre las placas de deflexin verticales. Incorpora un mando que permite variar la velocidad del barrido denominado: mando de materiales. 3) Generador de impulsos de alta frecuencia. Se encarga de generar los impulsos elctricos que excitan al cristal piezoelctrico en una de sus frecuencias de resonancia para producir la emisin de o.u.s. Debido a que el generador de impulsos y el amplificador estn unidos elctricamente a travs del palpador, el impulso elctrico queda representado en pantalla denominndose eco o impulso de emisin. 4) sistema de sincronismo. Se encarga de sincronizar la frecuencia de repeticin de los impulsos elctricos con la frecuencia de barrido, de modo que stos se emitan en el instante en que comienza a elevarse la tensin de barrido. As se consigue que las indicaciones en la pantalla se superpongan sucesivamente y permanezcan
estacionarias. Dispone de un mando de centrado o de punto cero, que permite desplazar las indicaciones en sentido horizontal. 5) Amplificador. Produce la amplificacin de la seal recibida (del orden de 10-3 a 1 V) hasta valores adecuados para el funcionamiento del T.R.C. (100 V), donde se aplica entre las placas de deflexin horizontales. Dispone de un mando de supresin para eliminar las indicaciones de hierba, y de un mando de ganancias (dB). Funcionamiento: El generador de impulsos emite una seal elctrica hacia el cristal del palpador, que por efecto piezoelctrico se pondr a vibrar produciendo o.u.s. por impulsos que se transmiten hacia la pieza. Como empleamos un nico palpador emisor/receptor, parte de la seal elctrica producida por el generador ser recogida por el amplificador y representada en la pantalla del osciloscopio como impulso de emisin. Cuando las o.u.s. emitidas se encuentran con una superficie lmite orientada perpendicularmente a la direccin de propagacin del sonido se reflejarn hacia el palpador, el cual recibe la presin acstica y la transforma en una seal elctrica de pequea tensin. Esta seal despus de ser amplificada se enva al osciloscopio donde queda representada. Por tanto, el osciloscopio acta como voltmetro al representar las seales o ecos recibidos en forma de picos de altura proporcional a su presin acstica y como cronmetro al medir el tiempo transcurrido entre la seal emitida y recibida. Estas indicaciones que aparecen en el osciloscopio se denominan ecos y se distinguen dos tipos: (fig 27) -el eco de emisin, que representa el instante en que se emite la o.u.s. -ecos debidos a discontinuidades del material donde el sonido se refleja, pudiendo ser ecos de heterogeneidad o ecos de fondo. Estos ecos aparecen en pantalla separados entre si proporcionalmente a las distancias respectivas de las discontinuidades respecto al palpador. Esto lo conseguimos cuando la velocidad de barrido es proporcional a la mitad de la velocidad de propagacin del sonido en la pieza (Ver apartado de calibracin). Dependiendo de la direccin de transmisin del sonido del palpador hacia la pieza, el ensayo de ultrasonidos mediante el mtodo del impulso-eco se puede efectuar de dos formas: -mediante incidencia normal. -mediante incidencia angular u oblicua. 3.1.4.2 Incidencia normal. Las o.u.s. emitidas y recibidas por el palpador siguen la direccin normal a la superficie de la pieza. Este mtodo se utiliza cuando la superficie de la pieza sobre la zona a examinar es lisa y no presenta obstculos al movimiento del palpador, as como, cuando los defectos estn orientados paralelamente a dicha superficie.
Los palpadores que actan por este procedimiento emiten y generan en el interior del material ondas longitudinales. Segn la clasificacin general y atendiendo al nmero de osciladores que incorporan tendremos dos tipos de palpadores: -palpador normal de cristal nico o E+R. -palpador normal de cristal doble o SE. palpador normal E+R (fig.28) Su construccin es similar al tipo bsico representado en la fig.17 de la pg.12. Se componen de una caja metlica que protege todo el conjunto formado por: Conexiones elctricas, Amortiguador, Cristal, Proteccin y Suela. El amortiguador es un elemento indispensable en los palpadores de impulso-eco y su principal finalidad es la de reducir el tiempo de oscilacin del cristal para conseguir unos impulsos acsticos limpios o de corta duracin. Asimismo, se suele incorporar una suela protectora desmontable que protege el palpador contra el desgaste. Esta puede ser de caucho o plstico con adicin de polvo de sustancias duras o lminas de cuarzo o zafiro. -Caractersticas del Palpador. Todo palpador, independientemente del tipo a que pertenezca, posee dos caracter1sticas fundamentales: 1) SENSIBILIDAD: Es la relacin entre la energa sonora emitida/recibida y la energa elctrica aplicada/generada. Es decir, la sensibilidad de un palpador indica el rendimiento en la conversin de energas mecnica (oscilatoria) y elctrica. Cuanto mayor sea la sensibilidad tendremos: mayor presin acstica debida a la o.u.s. al haberse transformado mayor cantidad de energa, mayor posibilidad de detectar presiones acsticas dbiles y por tanto defectos pequeos a mayor distancia. 2) PODER RESOLUTIVO (fig.29): Es la capacidad que tiene un palpador para detectar dos defectos prximos entre si. Cuando el palpador posee un buen poder resolutivo, los ecos de fondo son finos y aparecen perfectamente separados entre si en la pantalla del equipo. Si el poder resolutivo es malo, los ecos correspondientes a discontinuidades prximas son muy anchos y se superponen entre s. El amortiguamiento influye directamente en estas dos propiedades. Un buen palpador debe tener una buena sensibilidad para distancias grandes y un buen poder resolutivo. Ahora bien, para conseguir una buena sensibilidad se necesita un cristal de frecuencia y tamao mximos en combinacin con una baja amortiguacin para que pueda detectar impulsos acsticos de presin dbil. Esto se opone a la segunda caracterstica ya que necesitamos que los
impulsos acsticos sean de corta duracin (alta amortiguacin) para que en la pantalla aparezcan ecos claros y separados. Por tanto hay que lograr un equilibrio: Amortiguacin :S y Pr Amortiguacin : S y Pr -geometra del haz. Campo ultrasnico: El haz de o.u.s. generado por el palpador produce en el material situado bajo l una variacin de la presin acstica. La distribucin de esta presin acstica en el espacio constituye lo que se denomina campo ultrasnico o campo de variacin de la presin acstica. Es decir, a cada punto del espacio le hacemos corresponder la amplitud de presin existente en el mismo (puede ser nula) de forma que el conjunto de todos los puntos y sus valores asociados de presin constituyen el campo ultrasnico. El campo ultrasnico generado por el palpador es en realidad el instrumento que permite localizar los defectos, de manera que si la pieza es homognea, el campo ultrasnico producido en ella (o distribucin de la Presin acstica) tambin lo ser. Cualquier heterogeneidad existente producir una distorsin de este campo que se traduce, segn lo visto en el apartado 1.4.2, en reflexin de la presin acstica y deteccin de la misma. Este campo ultrasnico, o lo que es lo mismo, el haz de o.u.s. que genera el palpador tiene una forma o geometra en la que se distinguen dos zonas (figs.30 y 31): -campo cercano. -campo lejano.
-CAMPO CERCANO. Debido a un fenmeno de interferencia, en las proximidades del palpador se forma un campo donde la P acstica vara de forma irregular sucedindose mximos y mnimos de presin tanto en la direccin del eje del haz (a) como en la direccin perpendicular (d), aumentando su nmero a medida que nos acercamos al palpador. Atendiendo a la direccin del eje del haz ultrasnico (fig.32), el punto donde la presin acstica alcanza su ltimo mximo determina el lmite de este campo de interferencia. En el palpador normal E+R, el cristal tiene forma de disco lo que determina que el campo cercano tenga forma cilndrica de dimetro sensiblemente igual al de la fuente. La longitud del campo cercano (N) viene determinada por la siguiente expresin: Longitud del campo cercano
= 4c 4 Def 0,97Do N=
2 Def f 2 Def
Def: dimetro efectivo del cristal, determina la superficie acstica efectiva del cristal. Es ms pequeo que el dimetro geomtrico Do debido a que el cristal del palpador est sujeto en los extremos a la carcasa por lo que no oscila toda la superficie y la amplitud de las oscilaciones decrecen en direccin al borde del cristal. Vemos que la longitud del campo cercano depende directamente del dimetro y frecuencia del cristal piezoelctrico. -CAMPO LEJANO. A partir del ltimo mximo de presin en el campo cercano (fig.32), la P acstica vara regularmente sin interferencias, siendo mxima en el eje del haz y disminuyendo progresivamente tanto en la direccin del eje (a) como en la direccin perpendicular (d) (fig.33). El campo ultrasnico toma una forma de tronco de cono y el haz diverge con un determinado ngulo denominado ngulo de divergencia. Angulo de divergencia
sen 6 dB = 0,5 dB = 20log
Def
= 0,5
c f Def
P 1 P2
La divergencia del haz sonoro de un palpador en el campo lejano depende inversamente del dimetro del cristal y de la frecuencia. Los lmites del haz sonoro se hallan midiendo todos los puntos en los que la P acstica ha decrecido en cierta cantidad a partir de la presin existente en el eje central del haz. Normalmente, se mide para una disminucin de la mitad de la presin que en dB representa una disminucin de 6dB. En ese momento, el ngulo entre las isbaras correspondientes a dicha disminucin y el eje central determinan el ngulo de divergencia. La divergencia del haz, es decir, la disminucin uniforme de la presin acstica (a lo largo del eje y en direccin perpendicular) se debe a la atenuacin de las o.u.s. al propagarse por los materiales. Esta atenuacin comprende dos aspectos: 1) La absorcin de la onda por el material. Es debida a una conversin de energa, la o.u.s. pierde parte de su energa oscilatoria en el recorrido, transformndose en calor debido al rozamiento interno de las partculas. Por tanto, se produce un frenado de la oscilacin de las partculas. Por ello, una oscilacin rpida pierde ms energa que una oscilacin lenta, es decir, en materiales de baja impedancia acstica la absorcin ser mayor (ver Tabla I). Asimismo, la absorcin aumentar con la frecuencia. 2) Dispersin. Los materiales no son perfectamente homogneos sino que presentan pequeas superficies lmite (inclusiones, distintas fases cristalinas, bordes de grano) en las que la impedancia acstica varia y por lo visto en el apartado comportamiento de las o.u.s. en las superficies lmite se producirn reflexiones que dan lugar a numerosos ecos parsitos o hierba en la pantalla del equipo, que pueden enmascarar el resultado del ensayo. La solucin a estos problemas es: -absorcin: aumentar la energa de transmisin o disminuir la frecuencia. -dispersin: disminuir la frecuencia.
La atenuacin (absorcin + dispersin) , al producir una disminucin de la presin acstica, producir una disminucin de la altura de los ecos en la pantalla del equipo. As, para un mismo tamao de defecto, a diferente profundidad proporcionar diferentes alturas de eco, por lo que la altura del eco no nos sirve como medio directo de evaluar el tamao del defecto (ver apartado determinacin del tamao de defectos). De las frmulas de: longitud del campo cercano y divergencia, se deduce que: -A medida que el dimetro y la frecuencia del cristal aumentan: N aumenta y disminuye haz compacto. -A medida que el dimetro y la frecuencia disminuyen: N disminuye y aumenta haz divergente. La zona del haz que nos interesa para efectuar el ensayo es la del campo lejano, ya que la presin acstica varia de forma regular y dentro del campo lejano nos interesa el principio del mismo (final del campo cercano N) donde la presin es mxima, lo que significa que tendremos la mxima sensibilidad. Asimismo nos interesa que el haz sea compacto. -zona muerta. Cuando efectuamos el ensayo de ultrasonidos mediante un palpador de incidencia normal (E+R), en la pantalla del equipo nos aparece el eco de emisin. La anchura que ocupa este eco en la pantalla es lo que se define como zona muerta. Como las distancias en la pantalla equivalen a distancias en la pieza (ver "calibracin"), esta zona muerta representa el espesor de material en el que no podemos localizar defectos ya que sus ecos en la pantalla quedarn tapados por el eco de emisin. Esta zona muerta puede llegar a los 10 mm. por ello, este tipo de palpador no sirve para detectar discontinuidades prximas a la superficie. Palpador SE (fig.34) Este palpador elimina el problema de la zona muerta. Esto se consigue aumentando la distancia entre el cristal piezoelctrico y la pieza mediante una suela gruesa de plexigls que produce que el eco de emisin se desplace completamente hacia la izquierda de la pantalla, de tal forma que no moleste a la hora de efectuar una medicin. Adems de esto, se emplean dos cristales; uno emisor y otro receptor separados elctrica y acsticamente por un aislante acstico, y que se colocan sobre la suela de plexigls con una cierta inclinacin para que por efecto de refraccin se produzca un enfoque del haz gracias al cual se consigue una gran sensibilidad en la zona inmediatamente debajo del palpador. -geometra del haz. (figs.35 y 36) Debido al trayecto previo de la suela de plexigls, el haz de ultrasonidos entrar en la pieza en las proximidades del final del campo cercano, donde tenamos la mxima presin y la mxima sensibilidad. Debido a la inclinacin de
los cristales y al enfoque, se produce una interferencia entre el sonido emitido y recibido. Ya no tendremos campo cercano ni lejano sino que tendremos una zona de mxima presin acstica (mxima sensibilidad) en el punto de intermedio o foco, siendo la presin decreciente a ambos lados de dicho punto. Este foco se corresponde con el valor del campo cercano (N) de los palpadores normales. 3.1.4.3 Incidencia angular Cuando la orientacin del defecto es casi paralela a la superficie podemos localizarlo mediante ondas longitudinales que inciden normalmente a la superficie. Ahora bien, cuando los defectos presentan otro tipo de orientacin (ej. grietas) o bien no es posible acceder a ellos debido a la geometra de la pieza (ej. cordn de soldadura), para conseguir que el haz incida perpendicularmente sobre el defecto no nos queda ms remedio que orientar el haz en direcciones oblicuas respecto a la superficie de la pieza. Segn lo visto en el apartado 3.4.3., la incidencia oblicua de una onda longitudinal sobre una superficie lmite da lugar a un desdoblamiento de la misma en dos ondas refractadas (longitudinal y transversal) dentro del material a verificar. Esto inducira a error, ya que en el caso de que detectsemos un defecto no sabramos a que onda fue debido. Para evitarlo, debemos transmitir al material slo una de las ondas eliminando la otra, que de acuerdo con lo visto en el apartado 3.4.3. se consigue cuando el ngulo de incidencia del haz est comprendido entre los ngulos lmites. . Palpador angular (fig.37) En el palpador angular, existe un solo cristal piezoelctrico que se coloca sobre una de las caras de un prisma de plexigls, tallado con un ngulo de incidencia adecuado al ngulo de refraccin de las o.u.s. que se desea para un determinado material. Aplicando la ley de Snell (3.4.3.) para la superficie lmite plexigls/acero, tendremos que los ngulos lmite de incidencia para conseguir eliminar la onda longitudinal refractada dejando nicamente la onda transversal son: (ver figs.13 y 14 en pg.10) Por lo tanto estos palpadores emiten ondas longitudinales y generan en el interior del material ondas transversales, bajo ngulos de refraccin comprendidos entre: 33,2 < < 90. Los palpadores existentes se construyen para ngulos de refraccin en acero de 35, 45, 60, 70 y 80. Esta configuracin del palpador angular, hace que nicamente puedan ser detectadas por el cristal, las o.u.s. que lleguen al palpador segn la direccin de la refraccin. (fig.38)
En el lado contrario del prisma de plexigls se sita una cua de material amortiguador para absorber las ondas reflejadas as como aquellas ondas que llegan al palpador en direcciones diferentes a la de emisin. (fig.39)
-geometra del haz. (fig.40) Al igual que los palpadores normales, los palpadores angulares poseen un nico cristal que realiza las misiones de emitir y recibir, por tanto la forma del haz ser similar; existir un campo cercano y lejano. Las nicas diferencias son: -que el haz generado es oblicuo respecto a la superficie de la pieza -que la forma del cristal es de prisma rectangular y no de disco, por lo que el haz no es simtrico y tendremos dos ngulos de divergencia: vertical y horizontal.
3.2 Tcnicas por inmersin.

Consiste en situar el palpador y la pieza en el interior de un recipiente donde se sumergen en el acoplante (generalmente agua con aditivos anti-corrosin). A diferencia del mtodo de contacto, el palpador est totalmente separado de la pieza y el espesor del acoplante es mucho mayor. Asimismo las frecuencias de ensayo son bastante mayores, llegando hasta los 25 Mhz.
Las ventajas que se obtienen respecto al mtodo de contacto son: -Acoplamiento acstico excelente -Eliminacin del impulso de emisin -Posibilidad de orientar el palpador respecto a la pieza a ensayar sin necesidad de utilizar cuas de plexigls. Como desventaja est el que los palpadores deben asegurar una completa estanqueidad.
3.3 Mtodo de resonancia.

Este mtodo se emplea para medida de espesores en cuerpos de superficies paralelas. Aunque el ensayo se efecta, al igual que en el mtodo de impulso-eco, por contacto y por reflexin; se emplean ondas ultrasnicas continuas y estacionarias. (fig.42) Las ondas estacionarias se producen por un fenmeno de resonancia, que se manifiesta cuando se superponen las ondas incidentes y reflejadas en
una superficie lmite. (fig. 43)
La superposicin de las dos ondas, incidente y reflejada, de igual amplitud y frecuencia propagndose en sentido contrario, produce la existencia de puntos donde la presin es nula (nodos) y otros donde la amplitud de la presin es mxima (vientres). La distancia entre nodos o vientres sucesivos es de . 2 Cuando una o.u.s. se propaga reflejndose entre dos superficies paralelas de una pieza, el fenmeno de resonancia aparece cuando se cumple la siguiente relacin:
c e = N = N 2 2 f N
siendo: e = espesor N = 1,2,3 fN = frecuencia del armnico de orden N Otra diferencia respecto al mtodo de impulso-eco, es que en lugar de medir presiones acsticas o tiempo de recorrido de las o.u.s. reflejadas, medimos su frecuencia de resonancia. El proceso del ensayo es el siguiente: mediante un palpador de incidencia normal (E+R SE) generamos un haz continuo de o.u.s. (que est formado por la oscilacin fundamental + armnicos). Slo las oscilaciones correspondientes a los armnicos cuya longitud de onda sea submltiplo del espesor segn la ecuacin anterior, darn lugar al fenmeno de resonancia y se superpondrn al reflejarse formando ondas estacionarias. Adems de esto, el fenmeno de resonancia produce un reforzamiento de la presin de dichas oscilaciones, debilitndose las restantes. Una vez medida la frecuencia de resonancia, el espesor se obtiene directamente mediante la relacin anterior. Previamente se obtiene la velocidad de propagacin del sonido (C), calibrando el equipo con una pieza patrn de espesor conocido y de material similar al que pretendemos ensayar. El equipo (fig.44) dispone de: -un medidor de frecuencia -una pantalla digital o display de cristal lquido (LCD) en la que aparece directamente la medida del espesor. Resumen Clasificacin de las tcnicas de ultrasonidos segn las magnitudes medidas en el ensayo: 1) IMPULSO-ECO (Presin o intensidad acstica de las o.u.s. reflejadas y tiempo de recorrido de los impulsos sonoros). Formas de efectuar el ensayo: -por contacto y por inmersin 2) TRANSMISION (Presin o intensidad acstica de las o.u.s. transmitidas). Formas de efectuar el ensayo: -por contacto y por inmersin 3) RESONANCIA (Frecuencia de resonancia). Formas de efectuar el ensayo: -slo por contacto
4. PROCESO DEL ENSAYO.

El ensayo de ultrasonidos se realiza siguiendo un proceso que en lneas generales es el siguiente: -calibracin del equipo -localizacin de los posibles defectos mediante las indicaciones (ecos) que nos proporciona el equipo y medir la profundidad de los mismos -interpretacin de las indicaciones, es decir, relacionar la indicacin obtenida con la naturaleza, forma y tamao del defecto que la provoc -evaluacin del defecto, es decir, ver la importancia del defecto para que la pieza pueda ser rechazada o no.
4.1 Calibracin del equipo. Localizacin de los defectos.

Antes de proceder a la inspeccin por ultrasonidos debemos efectuar la calibracin del equipo en unin del palpador que vaya a ser utilizado. La operacin de calibrado o ajuste de un equipo de ultrasonidos consiste en: ajustar el origen de la pantalla y la velocidad de barrido. 1) Ajuste del origen de la pantalla. Se trata de conseguir que el origen de la pantalla coincida con la superficie de la pieza (cero acstico). Podra pensarse que este origen de la pantalla tiene que coincidir con el arranque del eco de emisin, ya que este representaba el momento en que el cristal piezoelctrico reciba la seal elctrica y comenzaba a emitir (cero elctrico). Pero esto no es as ya que entre la superficie del cristal y la superficie de la pieza existe un trayecto previo que el sonido debe recorrer antes de entrar en la pieza, formado por la suela protectora y el medio de acoplamiento, con lo que el impulso de emisin no coincide con la superficie de la pieza. El origen elctrico y acstico no coinciden dando lugar a un error del cero (fig.45). Como adems este trayecto previo no es conocido, no podemos utilizar el eco de emisin como origen de medida, aunque si sabemos que estar situado a la izquierda de la pantalla cerca del origen de la escala. Por lo tanto el ajuste del origen debe llevarse a cabo indirectamente. 2) Ajuste de la velocidad de barrido. Se trata de conseguir que las distancias a las que aparecen los ecos respecto al origen de la pantalla, sean equivalentes a las distancias de los defectos respecto a la superficie de la pieza. (fig.46) En ese momento la velocidad de barrido ser proporcional a la mitad de la velocidad de propagacin del sonido en la pieza. Esto se debe a lo siguiente:
Como sabemos, el mtodo de impulso-eco nos permite conocer la distancia a la que se encuentran los defectos en la pieza midiendo el tiempo de recorrido de los impulsos sonoros desde que se emiten hasta que se reciben. Normalmente entre los defectos o discontinuidades de una pieza y el palpador slo tenemos un tipo de material. Como las o.u.s. recorren el material a velocidad constante, la distancia a la que se encuentra la discontinuidad respecto a la superficie de la pieza ser la mitad de la distancia total recorrida: [d=ct] -Proceso general de ajuste o calibracin. Para efectuar la calibracin, el equipo dispone de los siguientes elementos de ajuste: -pantalla con escala horizontal graduada en 50 divisiones -mando de puesta a cero -mando de materiales El proceso de ajuste de una forma genrica consiste en las siguientes operaciones: 1) Disponer de una pieza patrn de material homogneo y similar al de la pieza que se va a ensayar y dimensiones conocidas. 2) Eleccin del campo de medicin o espesor mximo que podemos representar en la pantalla. 3) Factor de relacin entre la medida real en mm y la medida en la pantalla en n de divisiones. 4) Realizar el ajuste del origen de pantalla y velocidad de barrido mediante los mandos de punto cero y materiales empleando para ello alguna de las dimensiones conocidas de las piezas patrn. (fig.47) Si aplicamos el palpador sobre una pieza patrn de espesor conocido, obtendremos en la pantalla un eco de emisin y una serie de ecos de fondo sucesivos. Estos ecos sucesivos se producen debido a que el sonido se refleja sucesivamente entre las superficies de la pieza (ver comportamiento de las o.u.s. en superficies lmites). Asimismo, la altura de estos ecos en la pantalla va decreciendo debido a la atenuacin que sufre el sonido en su recorrido. Como el eco de emisin no nos sirve para calibrar, empleamos dos ecos sucesivos, ya que la distancia que existe entre dos ecos ser equivalente a la distancia existente entre el cero de pantalla y el primer eco y ambas al espesor.
4.1.1 Bloques patrn.

Son las piezas de referencia que se emplean para el ajuste o calibrado del equipo de ultrasonidos en unin de palpadores normales o angulares. Deben estar construidos con un material homogneo y similar al que se va a examinar. Los bloques patrn ms empleados son los normalizados por el Instituto Internacional de la Soldadura (I.I.W.), denominados V-1 y V-2, cuyas caractersticas se indican en las figuras 48 y 49.
-Proceso de ajuste especfico. Dependiendo del tipo de palpador que empleemos (normal, SE, angular), el proceso de calibracin del equipo es diferente, aunque se ajusta al proceso genrico descrito anteriormente. Veamos algunos ejemplos prcticos.
4.1.2 Palpador normal.

1) Uso de la pieza patrn. Para calibrar podemos utilizar las medidas conocidas de las piezas patrn que para el caso de palpadores normales son: -V-1 (fig.48): espesores de 100 y 25 mm. -V-2 (fig.49): espesor de 12,5 mm. 2) Eleccin del campo de medicin. Es el mximo espesor que podemos representar en la pantalla. Como para calibrar necesitamos como mnimo dos ecos sucesivos correspondientes al espesor patrn escogido el valor del campo ser como mnimo el doble de dicho espesor. EJEMPLOS: a) espesor patrn V-1 = 25 mm. ecos sucesivos: 1 = 25 mm., 2 = 50 mm., etc. campo >= 50 mm. b) espesor patrn V-2 = 12,5 mm.
ecos sucesivos: 1 = 12,5 mm., 2 = 25 mm., etc. campo >= 25 mm. 3) Factor de relacin entre divisiones de la pantalla y medida real en mm. EJEMPLOS: a) Supongamos que escogemos el espesor patrn de 25 mm. y un campo de 50 mm. (el mnimo para dicho espesor), esto quiere decir que slo aparecern en pantalla, ecos correspondientes a espesores menores de 50 mm. Para saber a cuanto equivale cada divisin de la pantalla, realizamos este sencillo clculo: 50 divisiones (toda la pantalla) ---> equivalen al campo (mm.) 1 divisin ---------------------> equivale a x (mm.)
x=
campo (mm) 50 mm = = 1( ) 50 divisiones 50 divisin
Si dividimos las medidas reales en mm. entre este factor, obtendremos la divisin de la pantalla en la que aparecer el eco correspondiente. Si multiplicamos las divisiones a las que est un eco respecto al origen de pantalla por este factor, obtendremos la medida real. b) Espesor patrn = 25 mm. y campo = 80 mm. x= campo (mm) 80 mm = = 1,6 ( ) 50 divisiones 50 divisin
4) Ahora debemos situar en la pantalla los dos ecos sucesivos correspondientes al espesor patrn. Para ello aplicamos el palpador sobre la pieza patrn en el espesor escogido y utilizamos los mandos de amplificacin, punto cero y materiales para que en la pantalla nos aparezcan varios ecos de fondo. No se debe utilizar una amplificacin excesiva, ya que las indicaciones de hierba no permitirn visualizar el arranque de los ecos. Mediante el mando de punto cero llevamos el primer eco hasta la divisin de la pantalla que le corresponde (fig.50). Siguiendo con el ejemplo a): factor = 1
1er eco:
mm divisin
25 mm =25 divisiones 1 mm ( ) divisin
llevaremos el arranque del primer eco hasta la divisin n 25 de la pantalla. A continuacin, mediante el mando de materiales llevamos el 2 eco hasta la divisin correspondiente, que para el ejemplo a) ser (fig.51): factor = 1 mm divisin
2 eco:
50 mm =50 divisiones 1 mm ( ) divisin
llevaremos el arranque del 2 eco hasta la divisin n 50. Como hemos escogido el campo mnimo, vemos que este eco nos coincide en el final de la pantalla. Efectuaremos sucesivamente estas operaciones hasta conseguir que los dos ecos se encuentren simultneamente en sus divisiones correspondientes, esto es, 1er eco en divisin n 25 y 2 eco en divisin n 50. En ese momento tendremos ajustada la pantalla para el campo escogido y ya podemos realizar el ensayo sobre la pieza a verificar (fig.52). Si por ejemplo, localizamos un defecto que nos da un eco en la divisin n 35, para obtener la medida real multiplicamos este valor por el factor de relacin:
35 divisiones
1 mm = 35 mm divisin
4.1.3 Palpador SE.

Con el palpador SE, veamos que al situar los cristales piezoelctricos con una pequea inclinacin, obtenamos un efecto focalizador del haz de ultrasonidos. Este efecto focalizador hace que slo se obtenga un nico eco de fondo del espesor medido al perderse el sonido por reflexiones sucesivas a lo largo de la pieza (fig. 53). Como para calibrar necesitamos al menos 2 ecos de fondo, emplearemos dos espesores patrones diferentes, que pueden ser: los correspondientes a las piezas V-1 (25 mm.) y V-2 (12,5 mm.) o bien empleamos una pieza patrn en forma de escalera (fig.54). Ahora el proceso de calibracin es el siguiente: Despus de escoger los dos espesores patrn y una vez obtenido el factor de relacin, movemos el palpador alternativamente entre ellos. Mediante el mando de punto cero situamos el eco correspondiente al menor de los espesores y mediante el mando de materiales situamos el eco del mayor de los espesores, repitiendo el proceso hasta conseguir el ajuste de los dos ecos (fig. 55). El clculo de espesores reales se efecta de forma idntica a lo visto para palpadores normales.
4.1.4 Palpador angular.

La localizacin de defectos con el palpador angular (fig. 56) se realiza efectuando un sencillo clculo: Dh = Lsen Dv = Lsen donde: L = lectura en la pantalla del equipo
= ngulo de refraccin en el material

Vemos que la distancia horizontal (Dh) se halla a partir del punto de salida del haz en el palpador. Este punto de salida no es siempre el mismo debido al desgaste de la suela del palpador (fig.57). Por este motivo, antes de comenzar el ajuste del campo de medida debemos hallar dicho punto. Para ello, situamos el palpador sobre el origen de los semicrculos de R = 100 mm. en la pieza V-1 o de los sectores de crculo de R = 25 50 mm. en la pieza V-2 (fig.58).
A continuacin movemos el palpador hasta encontrar la posicin en la que obtengamos el eco de mxima altura (fig.59). En ese momento el eje del haz de ultrasonidos estar situado justamente sobre el radio del semicrculo y por tanto, incidiendo perpendicularmente sobre el mismo. Sin mover el palpador, el punto de salida del haz se halla mirando la divisin de la escala del palpador que coincide con la marca de origen del semicrculo en la pieza patrn. Sin mover el palpador, efectuamos a continuacin el ajuste de la pantalla, para lo que se sigue el mismo procedimiento que en el palpador normal; necesitamos un mnimo de dos ecos de fondo. En la pieza patrn V-1, estos se consiguen situando el palpador sobre el radio del semicrculo de R = 100 mm. debido a que en el centro de este
radio existen dos hendiduras que producen la reflexin de parte del sonido (fig. 60). Por tanto tendremos ecos sucesivos cada 100 mm. y como calibramos con dos ecos, el campo mnimo ser de 200 mm. Para campos menores de 200 mm. empleamos la pieza patrn V-2, con la que tenemos dos posibilidades segn orientemos el palpador hacia el radio de 25 el de 50 mm. (fig.61) CASO 1: El sonido, tras recorrer el radio de 25 mm. se refleja en la superficie hacia el radio de 50 mm. donde se refleja nuevamente. Como el palpador est orientado en sentido contrario no podr recibir el sonido hasta que se haya reflejado de nuevo en el radio de 25 mm. Por lo tanto, el recorrido del sonido es el siguiente: 1er eco: se obtiene para 25 mm. 2 eco: se obtiene para 100 mm. ( 25 + 50 + 25 ), etc. Ahora la distancia entre ecos es de 75 mm. ( 50 + 25 ) y el campo mnimo ser de 100 mm.
CASO 2: 1er eco: se obtiene para 50 mm. 2 eco: se obtiene para 125 mm. ( 50 + 25 + 50 ), etc. La distancia entre ecos es la misma; 75 mIn. ( 25 + 50 ) y el campo mnimo ser de 125 mm.
4.2 Determinacin del tamao de los defectos.

El tamao de los defectos se compara con la seccin del haz de ultrasonidos que inciden sobre l, con lo que stos se pueden clasificar en (fig.62): -Defectos grandes. Aquellos cuyo tamao es mayor que la seccin del haz produciendo la reflexin total del haz incidente. -Defectos pequeos. Aquellos cuyo tamao es menor que la seccin del haz.
4.2.1 Defectos grandes.
1) Una vez localizado el defecto y su profundidad, movemos el palpador hacia una zona de la pieza donde no exista defecto, slo existir el eco de fondo. 2) Cuando movemos el palpador de nuevo hacia el defecto, el haz de ultrasonidos comenzar a incidir tambin sobre l y obtendremos un eco. A medida que el palpador se acerca al defecto, el eco correspondiente aumentar de altura mientras que el eco de fondo disminuir. 3) En el momento en que el eco de fondo disminuya el 50 % de la amplitud inicial, tendremos que el eje del haz de ultrasonidos estar justo sobre el borde del defecto ya que la mitad incidir sobre este y la otra sobre la pared de fondo. Si en estas condiciones marcamos la posicin del palpador sobre la superficie de la pieza, repitiendo la operacin varias veces en lugares diferentes, conseguiremos dibujar el contorno o proyeccin de la discontinuidad sobre la superficie de la pieza.
4.2.2 Defectos pequeos.

Cuando el tamao del defecto es menor que la seccin del haz, no podemos determinar directamente su tamao ya que la atenuacin del sonido produce una disminucin de la altura de los ecos a medida que aumenta la distancia. De esta forma dos defectos del mismo tamao situados a diferentes distancias proporcionarn ecos de diferente altura. Para salvar este inconveniente, la determinacin del tamao de los defectos pequeos se hace por comparacin con defectos equivalentes; es decir defectos del mismo tamao y situados a la misma profundidad que por tanto producirn un eco de la misma altura. Estos defectos equivalentes no son ms que defectos de forma simplificada a la de superficies circulares que se sitan perpendiculares y concntricos al haz sonoro. (fig. 64) Si fabricamos diversas piezas patrn con taladros de fondo plano de diferentes dimetros y a diferentes profundidades, estaramos en condiciones de comparar su tamao con los defectos que localicemos en la pieza comparando la amplitud de los ecos obtenidos. Como esto implicara la necesidad de tener una gran cantidad de piezas patrn, lo que se hace es representar de forma grfica las diferentes amplitudes de eco debidas a defectos equivalentes en funcin de su distancia, obtenindose los diagramas AVG. Diagramas AVG (fig. 65) Son la base del mtodo AVG, que corresponden en alemn a las siglas: A-distancia, V-amplitud, G-tamao equivalente.
Establecer el tamao de un defecto por el mtodo AVG es lo mismo que determinar el dimetro de un reflector circular, el cual produce la misma amplitud de eco que un defecto situado a la misma distancia. Estos diagramas muestran grficamente para cada tipo de palpador, la relacin que existe entre la distancia y la amplitud del eco de defectos grandes ( ) y defectos pequeos (Df) cuando la absorcin acstica en el material ( ) es nula. La razn por la que los diagramas difieren para cada tipo de palpador se debe a las diferentes caractersticas del haz ultrasnico generado: longitud y dimetro de campo cercano, divergencia, presin acstica y frecuencia. En las figuras 66 y 67 aparecen los diagramas correspondientes a varios tipos de palpadores.
-Aplicacin prctica del mtodo AVG Como se mencion anteriormente, la determinacin del tamao equivalente mediante este mtodo se basa en la comparacin entre las amplitudes o altura de dos ecos. Se compara el eco producido por un defecto desconocido con el de uno conocido (defecto equivalente). En el mtodo AVG, se toma normalmente como eco conocido el eco de fondo, ya que su tamao es conocido (defecto grande) y es el ms fcil de buscar. Este eco de fondo puede obtenerse en la cara posterior de la pieza a verificar (defecto de tamao grande), o cuando su geometra no lo permita, mediante una pieza patrn (V-1 V-2). En el diagrama representamos (fig.68): -Las profundidades de los defectos: a1 = profundidad del defecto de tamao desconocido. a2 = profundidad del defecto conocido. -La diferencia de amplitud en dB entre los ecos correspondientes a dichos defectos. La comparacin de la amplitud de los ecos se efecta situndolos a una altura de referencia en la pantalla (2/5, 3/5, 4/5) y anotando los dB que hemos empleado en el mando de ganancias. La diferencia ( V) entre ambos valores se lleva a partir del punto A, obteniendo el punto B. A partir de este ltimo se traza una horizontal hasta que corte a la lnea correspondiente a la profundidad del defecto desconocido en el punto C. El tamao del defecto se halla viendo en qu curva de dimetros Df ha coincidido el punto C. En caso de no coincidir directamente sobre una de las curvas, se toma el valor interpolando entre las dos adyacentes. Veamos el siguiente ejemplo prctico:
Mediante un palpador normal tipo MB2S-N, verificamos una pieza de espesor e = 300 mm. en la que se detecta un defecto a 100 mm. Determinar el tamao equivalente del defecto.
Solucin: (fig. 69) 1) Localizamos el eco de fondo a2 = 300 mm. y situamos su eco a una altura de 3/5 de pantalla mediante los mandos de ganancia, anotando los dB en que ha quedado el mando de ganancia; V2 = 26 dB. 2) A continuacin localizamos el eco del defecto a1 = 100 mm. y lo situamos con el mando de ganancias a la misma altura de referencia de 3/5 de pantalla, anotando la ganancia empleada; V1 = 42 dB. 3) La diferencia de amplitudes es: AV = V1 -V2 = 42 -26 = 16 dB. El tamao equivalente del defecto es de: Df = 3 mm. En el caso de palpadores SE el proceso es el mismo. Para los palpadores angulares existe una pequea diferencia y es que el eco de fondo se debe tomar necesariamente en los sectores de circulo de las piezas patrn V-1 y V-2. Ahora bien, dichas superficies circulares realizan un efecto localizador sobre el haz de ultrasonidos (fig. 70), con lo que la amplitud del eco ser diferente al que se obtiene para una superficie plana situada a la misma distancia. Por ello, el valor de dB obtenido para el eco de fondo se corrige con un valor dependiendo de la pieza patrn utilizada: V(R100)v-1, V(R25)v-2. En el caso del palpador angular de la figura 67, figura un valor de correccin de: V(R25)V-2 = +2 ( 1) dB.
4.3 Aplicaciones Prcticas.

4.3.1 Medida de espesores.
Es una aplicacin directa. Una vez que tenemos ajustado el equipo en unin de palpadores de incidencia normal, podremos medir directamente espesores. Se debe tener en cuenta las limitaciones de los palpadores normales a la hora de medir pequeos espesores debido a su zona muerta. En estos casos se recurrir a palpadores SE. -medida de espesores en otros materiales. Para medir espesores en materiales diferentes del acero (ej. aluminio) tenemos 2 posibilidades: 1) Calibrar el equipo con una pieza patrn del mismo material a verificar. 2) Calibrar el equipo con la pieza patrn de acero y efectuar la medicin sobre el material. La medida obtenida no se corresponde con el espesor real, ya que la velocidad de propagacin de los ultrasonidos es diferente. Para hallar la medida real tenemos que buscar la relacin que existe entre la velocidad de propagacin en el acero y la velocidad de propagacin en el material a verificar. Este factor de relacin se calcula de la siguiente forma (fig.71):
-Se busca una zona de la pieza que sea fcilmente accesible. -Se mide el espesor en esa zona mediante calibre o micrmetro obteniendo una medida real. -Situamos el palpador en el mismo punto donde se obtuvo la medida anterior y se toma una nueva medida con el equipo de ultrasonidos. -El factor de relacin es: Medida real = factor Medida del equipo
Medida real = factor Medida del equipo

Cualquier medida obtenida en la pantalla habr que multiplicarla por dicho factor con el fin de obtener valores reales de espesor del material. Otra forma de obtener dicho factor es de forma directa si conocemos las velocidades de propagacin del sonido en el acero y en el material que vamos a verificar: Velocidad en el material = factor Velocidad en el acero
4.3.2 Adherencia de material antifriccin en cojinetes.

La comprobacin de la adherencia de materiales antifriccin se basa en el empleo de los coeficientes de transmisin (T) y reflexin (R), que se tratan en el apartado comportamiento de las o.u.s. en superficies lmites. Como no vamos a medir espesores, no es necesario calibrar el equipo en un campo determinado. El control se efecta moviendo el palpador sobre la parte accesible del cojinete. Cuando existe una buena adherencia, obtendremos dos ecos: el primero, que corresponde a la superficie lmite que separa los dos materiales cuya altura depender del factor de reflexin que exista en dicha superficie lmite. El segundo, corresponde al eco de fondo del espesor total del cojinete. Su altura depende de la fraccin de presin incidente que se transmiti al segundo material obtenido mediante el factor de transmisin.
Cuando la adherencia es deficiente, el factor de reflexin es mayor y parte del haz se refleja en la zona de transicin aumentando la altura del eco intermedio. Al mismo tiempo, el eco de fondo disminuye de altura ya que la presin que se transmite hacia el fondo es menor que en el caso anterior.
Cuando no existe adherencia, el eco de fondo desaparece por completo ya que no hay transmisin de sonido al segundo medio y todo el sonido se refleja en la superficie lmite.
4.3.3 Soldaduras.
Debido a la imposibilidad de obtener un buen acoplamiento acstico empleando palpadores normales y tambin a la orientacin de los defectos que aparecen en las soldaduras, se hace necesario el empleo de palpadores angulares. Ahora bien, como el movimiento del palpador est obstaculizado por el cordn de soldadura, no podremos examinar de forma directa toda la altura del cordn (fig.75). Para que sea posible examinar todo el espesor de la chapa en la zona de unin, alejamos el palpador del cordn. De esta forma, haciendo que el haz se refleje podremos examinar la parte alta que anteriormente no era posible. (fig.76)
S/2 e
tg =
S / 2 = etg
S = 2etg
Segn lo anterior, se observa que basta con mover el palpador entre las distancias extremas; S y S/2, para que el haz ultrasnico toque todos los puntos de la seccin. Estas distancias se denominan: salto (S) y medio salto (S/2), y dependen del ngulo del palpador y del espesor de chapa. De forma que cuando tenemos pequeos espesores de chapa, necesitaremos ngulos grandes y viceversa. (fig.77). En la TABLA II, aparecen los valores ms adecuados de ngulo de palpador para diferentes espesores de chapa. Tambin vemos que la localizacin de los defectos segn la expresin que aparece en la pg.33 (fig.56), slo es vlida cuando el palpador est situado sobre la posicin S/2 e incide en la raz del cordn. Una vez que movamos el palpador hacia la posicin S, tendremos la reflexin del haz y la localizacin de los defectos se har con las siguientes expresiones:
d = Lsen
x = p + 2(e p) = Lcos
2e p = Lcos p = 2e Lcos
Espesor (mm)
ngulo entrada
sen
0,985 0,940
cos
0,174 0,342
tg
5,671 2,747
Distancia S (mm)
5 10 15 15 20 25 30 30 35 40 45 50 55 60 60
80 70
60
0,866
0,500
1,732
45
0,707
0,707 TABLA II
1,0
57 114 170 82 110 138 165 104 121 139 156 173 190 208 120
El campo en el que debemos calibrar la pantalla debe ser, como mnimo igual al recorrido total del sonido desde la posicin ms extrema S. Es decir, cuando se cumpla:
d > S Lsen > S S 2etg L> = sen sen 2e CAMPO : L > cos
: ngulo de refraccin e = espesor S = 2etg (Salto)
4.4 Eleccin del palpador. Interpretacin de los defectos

El mtodo de ultrasonidos es adecuado para localizar defectos preferentemente de tipo laminar o de formas regulares, ya sean internos o subsuperficiales, presentndose las condiciones ptimas cuando estn orientados perpendicularmente a la direccin de propagacin del haz. Veamos que las caractersticas del haz ultrasnico generado por el palpador: sensibilidad, longitud de campo cercano y divergencia; dependan directamente de las caractersticas del cristal piezoelctrico que incorpora el palpador. Como este haz era la herramienta que nos permita localizar los defectos, dichas caractersticas influirn directamente en la realizacin del ensayo. Las caractersticas o parmetros que se deben tener en cuenta a la hora de elegir un palpador son: tipo de cristal, dimetro y frecuencia. 1) Tipo de cristal. Las propiedades piezoelctricas del cristal, tanto como emisor, como receptor, condicionan la sensibilidad y el poder resolutivo del palpador.
As, el Cuarzo (Q) tiene unas propiedades piezoelctricas como emisor muy malas frente al Titanato de Bario (B), y tambin como receptor frente al Sulfato de Litio (K). 2) Tamao. El dimetro del palpador influa directamente en la geometra del haz. A medida que ste aumenta, tenemos una longitud de campo cercano mayor y un haz ms compacto, lo que se traduce en una mayor profundidad de penetracin del haz y aumento de sensibilidad para distancias grandes. 3) Frecuencia. La frecuencia influye directamente en la capacidad para detectar defectos pequeos, de tal modo que: el dimetro mnimo de defecto que tericamente puede ser detectado mediante el mtodo de ultrasonidos, est relacionado con la longitud de onda y por tanto con la frecuencia de la siguiente forma:
C 2f
C = constante del material
C = f
-Vemos que a medida que aumenta la frecuencia, podemos detectar defectos ms pequeos. En la TABLA III, aparecen los defectos mnimos que tericamente se pueden detectar en el acero con ondas longitudinales (palpador normal) y ondas transversales (palpador angular).
ONDA LONGITUDINAL MHz 0,5 1 2 2,25 4 5 6 12
12
2,6
1,5
1,2
0,5
1,5
1,3
0,75
0,6
0,5
0,25
TRANSVERSAL
1,6
1,4
0,8
0,6
0,5
0,3
1,5
0,8
0,7
0,4
0,3
0,25
0,15
TABLA III Detectabilidad de defectos Asimismo, la frecuencia influye en la geometra del haz. De modo que a medida que sta aumenta, tendremos mayor longitud del campo cercano y menor divergencia del haz lo que se traduce en mayor sensibilidad para grandes distancias. Como consecuencia, tenemos un aumento de la sensibilidad a medida que aumentamos la frecuencia. Sin embargo, el aumento de la frecuencia est limitado por: -tamao de grano del metal. Cuando ste es del orden de la semi-longitud de onda o superior se producir dispersin
-absorcin. A medida que aumenta la frecuencia, se produce mayor conversin de energa oscilatoria en calor por rozamiento interno de las partculas, ya que stas vibrarn a mayor velocidad. Por lo tanto, para valores muy altos de la frecuencia tendremos una gran atenuacin (absorcin+dispersin) de las o.u.s. que se traduce en una disminucin de la presin acstica y por tanto de sensibilidad y poder de penetracin. -Identificacin de defectos ms corrientes en soldadura. Aunque el mtodo de impulso-eco no proporciona informacin acerca de la forma de los defectos, podemos identificar algunos de ellos mediante la interpretacin de los ecos o indicaciones de la pantalla del equipo. En soldaduras, los defectos que se pueden presentar se pueden clasificar de modo general, atendiendo a la forma en: laminares y tridimensionales. Laminares: grietas y faltas de fusin (fig.80): proporcionan ecos altos y finos, que varan de altura al variar la orientacin del palpador. Las grietas aparecen en el centro del cordn y son de orientacin vertical, por lo que producirn un eco de altura similar al detectarlas desde ambos lados del cordn. Las faltas de fusin se localizan en los bordes y son de orientacin oblicua por lo que el eco producido desde ambos lados es diferente.
Tridimensionales: inclusiones de escorias, poros, sobreespesor y mordeduras (fig.81). La inclusin de escorias produce un eco alto y grueso con forma de abeto debido a su superficie rugosa que opone al sonido pequeos reflectores situados a diferentes distancias. Cuando variamos la orientacin del palpador, la altura del eco permanece prcticamente invariable y slo se modificar la forma. Los poros son defectos esferoidales y de pequeo tamao. Debido a su forma regular, producirn un eco fino y muy pequeo. Normalmente los poros se presentan en aglomeraciones que producen numerosos ecos de dispersin (hierba). El sobreespesor del cordn puede proporcionar eco cuando empleamos ngulos de refraccin pequeos. Las mordeduras s proporcionan ecos similares a los producidos por falta de fusin.
Mandos ms importantes del equipo de ultrasonidos
1) Toma de corriente continua 2) Interruptor on/off y nivel de energa de transmisin 3) Conexin a palpador emisor 4) Conexin a palpador receptor 5) Tipo de ensayo: Posicin 1: empleo de dos palpadores emisor y receptor o palpador SE. Posicin 2: empleo de un slo palpador emisor + receptor. En esta posicin, las conexiones 3 y 4 se pueden emplear indistintamente. 6) Enfoque de pantalla 7) Mando de supresin de hierba 8) Mando grueso de ganancias: 0, 20, 40 Y 60 dB. 9) Mando fino de ganancias: de 2 en 2 dB 10) Mando de materiales grueso. Campos: 10-50, 50-250, Y ms de 250 mm. 11) Mando de materiales "fino". Variacin de campos entre los mrgenes anteriores. 12) Mando de punto cero. 13) Pantalla graduada: Eje horizontal -50 divisiones. Eje vertical -10 divisiones.

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1. INTRODUCCIN. PRINCIPIOS FSICOS DE LOS ULTRASONIDOS

1.2 Ensayo de ultrasonidos

Fig. 1 Deteccin mediante seal transmitida

Fig. 2. Deteccin mediante seal reflejada

1.3 Fsica de los ultrasonidos. Onda ultrasnica

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1.3.3 Comportamiento de las o.u.s. en medios ilimitados

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= coeficiente de Poisson (adimensional) = densidad (kg/m3)

ONDA LONGITUDINAL: cL = ONDA TRANSVERSAL: cT = Relacin:

E 2(1 ) 2(1 ) = cT G 2(1 + )(1 2 ) (1 2 )

ACERO: E = 2106 Kg/cm2 = 1,961011 N/m2

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c = / T = f como c es una constante del material, los valores de f y tambin lo sern.

1.4 Comportamiento de las o.u.s. en medios limitados.

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Densidad 103 Kg/m3

TABLA 1. Densidades, velocidades e impedancias acsticas de distintos materiales

1.4.2 Incidencia normal. Reflexin

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1.4.3 Incidencia angular. Refraccin.

sen i c1 REFLEJADAS : sen = c ' ; i = r sen1 sen 2 1 r = sen i c1 c1 c2 REFRACTADAS : = sen t c2

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b) onda incidente transversal

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2.1 Efecto Piezoelctrico.

2.1.1 Materiales Piezoelctricos.

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2.1.2 Frecuencia caracterstica.

Ejemplo : cuarzo f c = 2MHz (requerida ) cL = 5, 76103 m / s RESULTADO : e 0,5mm

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2.2.1 Tipos de palpadores. Clasificacin.

Incidencia normal a) de contacto PALPADORES b) de inmersin: incidencia normal: E+R

E+R E-R SE MOSAICOS

Incidencia angular (E+R)

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OTROS S-N S-N

35-N 45-N 60-N Tabla 2

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3. MTODOS PARA LA VERIFICACIN DE MATERIALES POR ULTRASONIDOS.

3.1 Tcnicas por contacto.

3.1.2 Importancia de un buen acoplamiento acstico.

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3.1.3 Mtodo de intensidad o transmisin.

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3.1.4 Mtodo de Impulso-Eco.

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sen 6 dB = 0,5 dB = 20log

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3.2 Tcnicas por inmersin.

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3.3 Mtodo de resonancia.