Affidabilit di componenti, circuiti e sistemi elettronici A.A.

2007-2008

Universit degli studi di Ferrara Dipartimento di Ingegneria

Studio della Data Retention con test accelerati in temperatura

Studente: Sferrazza Giovanni

Prof. Andrea Chimenton

Obiettivo: misurare le distribuzioni di corrente di RESET

Specifiche di misura: Bake in temperatura (50 C; 0-48h) (80 C, 0-24h) (100 C, 010h) (150 C; 0-5h). Utilizzo di MATLAB Specifiche di analisi: Distribuzioni di corrente in un probability paper. Analisi della coda Fitting dei dati. Stima dei parametri MLE Test chi2. Relazione con la temperatura. Stima set di parametri minimo MLE Test ipotesi.

Tempi di misura:
ANALISI N 1 A 150C Misura numero: 1 2 3 4 5 6 mini 0 10 20 100 200 300 min=(mini-mini1) 0 10 10 80 100 100 Misura numero: 1 2 3 4 5 6 ANALISI N 2 A 100C mini 0 10 20 100 200 600 min=(mini - mini-1) 0 10 10 80 100 400

ANALISI N 3 A 80C Misura numero: 1 2 3 4 5 6 7 mini 0 10 20 100 200 1000 1440 min=(mini- mini-1) 0 10 10 80 100 800 440 Misura numero: 1 2 3 4 5 6 7 8

ANALISI N 4 A 50C mini 0 10 20 100 200 1000 2000 2880 min=(mini- mini-1) 0 10 10 80 100 800 1000 880

Distribuzioni delle correnti

Coda

Distribuzioni delle correnti

Correnti elevate a zero minuti

Dati a zero minuti scartati dal campione

-Maggiore uniformit delle diverse distribuzioni di corrente -Scelta della soglia a 2,5 A

Andamento delle correnti medie

Riduzione delle correnti nel tempo Allaumentare della temperatura si riducono le correnti

Problemi dovuti allo stress in temperatura

Anomalie delle CDF dai 200 min

Plotting dei fallimenti

Incremento improvviso dei fallimenti: - a 100C tra 100 e 200 min - a 50C tra 200 e 1000 min

Indagini su possibili problemi architetturali

Problemi dei decoder di colonna

Anomalie periodiche delle righe

Analisi statistica
Sono comunque stati svolti i seguenti passi:

Linearizzazzione delle distribuzioni Weibull, Lognormale e Normale Stima dei parametri con la tecnica dei minimi quadrati Calcolo della LIK Ottimizzazione della LIK con la fminsearch di MATLAB Stima dei parametri MLE Test di bont chi2

Distribuzioni Weibull, Lognormale e Normale

Test chi2 non superato

Dipendenza delle distribuzioni dalla temperatura

Le rette non sono parallele: - il fattore di accelerazione non lineare - il modello ipotizzato non corretto

Eliminazione delle colonne

Distribuzione di Poisson: Pk =(ak /k!)exp(-a)

con k=7

Dipendenza distribuzioni dalla temperatura

Test CHI2 non superato e Minima variazione del risultato!

Eliminazione delle righe

-Eliminazione delle righe multiple di 32: N di fallimenti non sufficiente ai fini statistici - Eliminazione delle righe multiple di 64: si proceduto con lanalisi

Plotting dei fallimenti prima e dopo

Riduzione del gradino

Distribuzioni Weibull

Test chi2 non superato

Distribuzione Lognormale

Test chi2 non superato

Dipendenza distribuzioni dalla temperatura

Divergono

Approssimativamente parallele

Conclusioni
Cause della mancata realizzazione modello: Utilizzo dello stesso chip nei vari test Intervalli di misura ampi:
- Studio poco approfondito degli istanti iniziali

Problemi architetturali: -Tentativo di rimozione: numero fallimenti insufficiente - Per ottenere comunque un numero di fallimenti opportuno:
Studiare un campione di memoria pi grande Stressare ulteriormente le celle attraverso test pi aggressivi

Mezzi statistici alternativi

Proposte di approfondimenti:
- Studio della fisica dei problemi architetturali - Studio delle cause della diminuzione delle correnti medie allaumento dello stress

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