Universidad del Valle

Departamento de Fsica
Experimentacin en Fsica III
Gua de laboratorio No. 13*
DIFRACCIN DE ELECTRONES EN UNA RED POLICRISTALINA
1. OBJETIVOS

Mostrar el carcter ondulatorio de los electrones y verificar la ecuacin de

DBroglie.
Determinacin de la longitud de onda de los electrones.
Obtener un valor experimental de la constante de Planck.

2. FUNDAMENTOS TERICOS
En 1924 Louis de Broglie sugiri que las partculas podran tener propiedades
ondulatorias, adems de las propiedades caractersticas de las partculas.
Present la hiptesis de que la longitud de onda de las partculas es inversamente
proporcional a su cantidad de movimiento:
=h/p

(1)

Donde : longitud de onda, h: constante de Planck, p: cantidad de movimiento.

Sus conjeturas fueron confirmadas por los experimentos de Clinton Davisson y
Lester Germer sobre la difraccin de electrones en estructuras cristalinas de
nquel en 1927. En este experimento se demuestra el carcter ondulatorio de los
electrones por su difraccin en una red policristalina de grafito (difraccin de
Debye-Scherrer). En contraposicin al experimento de Davisson y Germer, en el
que la difraccin de los electrones se observa por reflexin, este montaje usa un
tipo de difraccin por transmisin similar al utilizado por G. P. Thomson en 1928.
De los electrones emitidos por el ctodo caliente, un pequeo haz es separado por
medio de un diagrama de pines. Luego de pasar por un sistema de enfoque
ptico-electrnico, los electrones inciden en forma de un haz monocromtico muy
enfocado en una lmina policristalina de grafito. Los tomos del grafito pueden ser
considerados como una red espacial que acta como una rejilla de difraccin para
los electrones. En la pantalla fluorescente aparece un patrn de difraccin de dos
anillos concntricos, cuyo centro es el haz de electrones sin difractar (Fig. 1).

*Guia

de laboratrio diseada por G. Zambrano y E. Baca-2014

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Figura 1: Representacin esquemtica

del patrn de anillos observado debido
a la difraccin de electrones en el
grafito. Se observan dos anillos de
dimetros D1 y D2 correspondientes a
las distancias reticulares interplanares
del grafito d1 y d2 (ver Figura 3).

Ahora bien, de la ecuacin de energa para los electrones acelerados por la

tensin U
=

(2)

Donde U es el voltaje de aceleracin aplicado, e es la carga del electrn, m la

masa de la partcula, v su velocidad y p su cantidad de movimiento la cual se
puede derivar como
=

= 2

(3)

Reemplazando la ecuacin (3) en la ecuacin (1) resulta para la longitud de onda:

=

(4)

Como se puede ver a partir de la ecuacin (4), longitud de onda depende del
voltaje de aceleracin U aplicado a los electrones emitidos por el ctodo caliente.
De otro lado, En 1913, H. W. y W. L. Bragg descubrieron que la disposicin regular
de los tomos en un cristal simple podra entenderse como una matriz de
elementos reticulares en planos reticulares paralelos. Entonces, al exponer esta
red cristalina a rayos X monocromticos o electrones mono energticos y,
adems, suponiendo que stos tienen una naturaleza ondulatoria, cada elemento
en un plano reticular acta como un punto de dispersin, en el cual se forma un
tren de ondas esfricas. Segn el principio de Huygens, estos trenes de ondas
esfricas se superponen y crean un frente de ondas reflejado. En este modelo, la
longitud de onda no se modifica respecto del frente de onda incidente, y las
direcciones de las radiaciones que son perpendiculares a los dos frentes de onda
cumplen con la condicin ngulo de incidencia = ngulo de reflexin.

*Guia

de laboratrio diseada por G. Zambrano y E. Baca-2014

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Los rayos vecinos de longitud de onda reflejados en los planos reticulares

individuales separados una distancia d generan interferencia constructiva cuando
la diferencia de trayectoria en la direccin cumple con la condicin (Fig. 2):
= 1 + 2 = 2dsen=n,

para: n=1,2,3..

(5)

La diferencia de trayectoria que es por lo tanto mltiplo entero de es la

condicin de Bragg donde el ngulo de difraccin correspondiente es conocido
como ngulo rasante.

Figura 2: Representacin esquemtica

de la condicin de Bragg

En este experimento se utiliza un material policristalino como objeto de difraccin.

Esto equivale a una gran cantidad de pequeos cristalitos individuales que estn
dispersos en el espacio en forma irregular. Como consecuencia de esto, siempre
hay algunos cristales en los que se satisface la condicin de Bragg para una
direccin de incidencia y longitud de onda dadas. Las reflexiones producidas por
estos cristalitos generan conos coaxiales cuyo eje comn est dado por la
direccin de incidencia. De ah que aparezcan crculos concntricos en una
pantalla ubicada perpendicular a este eje. Los planos reticulares que son
importantes para el patrn de difraccin de los electrones obtenido con este
montaje tienen las distancias reticulares interplanares (Fig.3):
d1 = 2.1310-10 m= 2.13

d2 = 1.2310-10 m= 1.23

Figura
3.
Distancias
interplanares en el grafito

De la Fig. 4 se puede deducir la relacin

2 =
2 = 2
para ngulos pequeos se obtiene
*Guia

de laboratrio diseada por G. Zambrano y E. Baca-2014

reticulares

Aproximando

2 =

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(7)

La substitucin de la ecuacin (7) en (5) lleva la difraccin de primer orden (n = 1)

a
=
(8)
Donde D es el dimetro del anillo, L es la distancia entre el grafito y la pantalla y d
es la distancia reticular interplanar.
Finalmente, igualando las ecuaciones (4) y (8) se puede ver que los dimetros D1
y D2 (Figura 1) de los anillos concntricos cambian en funcin de la tensin de
aceleracin U, como:
=

(9)

Donde:
=

2
2

La medicin de los dimetros D1 y D2 en funcin de la tensin de aceleracin U

permite determinar las distancias reticulares interplanares d1 y d2.

Figura 4: Esquema para determinar

el ngulo de difraccin. L = 13.5
cm (distancia entre la lmina de
grafito y la pantalla), D: dimetro
de un anillo de difraccin
observado en la pantalla. : ngulo
de difraccin.

3. MATERIALES Y MONTAJE
1 tubo de difraccin de electrones.
1 portatubo.
1 fuente de alimentacin de alta tensin 10 kV.
1 calibrador Vernier de precisin.
6 cables conectores de seguridad.
La Figura 5 muestra el montaje experimental (diagrama de cableado).

*Guia

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- Conecte los enchufes hembra para calentar el ctodo F1 y F2 del portatubo a la

salida en la parte trasera de la fuente de alimentacin de alta tensin de 10 kV.
- Conecte los enchufes hembra C (tapa del ctodo) y X (electrodo de enfoque) del
portatubo al polo negativo.
- Conecte el enchufe hembra A (nodo) al polo positivo de la salida de 5 kV/2 mA
de la fuente de alimentacin de alta tensin de 10 kV.
- Realice la conexin a tierra del polo positivo de la fuente de alimentacin de alta
tensin de 10 kV.

Figura
5:
Montaje
experimental
(diagrama de cableado) para observar
la difraccin de los electrones en el
grafito. Conexin de pines: F1, F2:
enchufes hembra para calentar el
ctodo C: tapa del ctodo X: electrodo
de enfoque A: nodo.

NOTAS DE SEGURIDAD

*Guia

Cuando el tubo de difraccin de electrones es operado a altas tensiones

superiores a 5 kV se generan rayos X. Por lo tanto, no opere el tubo de
difraccin de electrones a tensiones superiores a los 5 keV.
Use solo la fuente de alimentacin de alta tensin de 10 kV (52170)
suministrada para la alimentacin de alto voltaje del tubo de difraccin de
electrones.
El tubo de difraccin de electrones es un tubo de alto vaco con paredes de
vidrio muy delgadas y por lo tanto puede romperse si se le suministran
voltajes o corrientes demasiado altas o se lo somete a esfuerzos
mecnicos. Por lo anterior conctelo nicamente si est montado en el
portatubo, manipule con cuidado las clavijas conectoras del casquillo, no las
doble y colquelas con cuidado en el portatubo y atngase a los parmetros
de operacin indicados arriba en los datos tcnicos.

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4. PROCEDIMIENTO
4.1 Aplique una tensin de aceleracin U 5 kV y observe el patrn de
difraccin. Vare la tensin de aceleracin entre 3 kV y 5 kV en pasos de
0.5 kV y mida el dimetro D1 y D2 de los anillos de difraccin en la pantalla
haciendo uso del calibrador Vernier de precisin (Figura 1). Consigne estos
resultados en una tabla.

UU D1
(kV)
D1
(cm)
3.0
3.5
4.0
4.5
5.0

D2
D2
(cm)

5. ANLISIS DE DATOS Y RESULTADOS

5.1 A partir de los valores medidos para D1 y D2 y dando como conocidas las
distancias reticulares interplanares d1 y d2, la longitud de onda de los
electrones se puede determinar a partir de la ecuacin (8). Compare estos
valores obtenidos con los valores tericos para la longitud de onda de los
electrones (terico) predichos por de Broglie, usando la ecuacin (4). Haga
una tabla donde consigne los resultados con sus respectivas
incertidumbres.
U
(kV)

D1D1
(cm)

1
(pm)

, !"#$%

1
(pm)

3.0
3.5
4.0
4.5
5.0
5.2 Construya una grfica de D1 y D2 como funcin del

5.3 Tomando como referencia la ecuacin (9) y a partir de la pendiente de la

grfica anterior, determine un valor experimental de la constante de Planck.
Indique la incertidumbre y el error relativo de su calculo
Para los clculos anteriores asuma:
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L = (13.5 0.1) cm (distancia entre la lmina de grafito y la pantalla)

e = 1.6 x10-19 C (carga del electrn)
m = 9.110-31 kg (masa del electrn)
d1 = 2.1310-10 m= 2.13
d2 = 1.2310-10 m= 1.23
(Distancias reticulares interplanares en el grafito)
REFERENCIAS
1. LD Hojas de Fsica, Difraccin de electrones en una red cristalina,
P6.1.5.1.
2. Sears-Zemansky-Young- Freedman Fsica Universitaria con Fsica Moderna
captulos 36 y 39, undcima edicin (2005).

3. Kittel, Ch., Introduction to Solid State Theory, Wiley and Sons, NY, 8th Edition,
2005

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