Analisador de Qualidade Da Energia Elétrica

UNIVERSIDADE ANHEMBI MORUMBI
AFFONSO TRUDE CINTRA

EDMAR DE SOUZA SILVA
EDUARDO CARDOSO GOTTSCHALD
KAU CERQUEIRA ALVES DE MELO
SILVIO RUBENS ZARTH JUNIOR
ANALISADOR DE QUALIDADE DA ENERGIA

ELTRICA RESIDENCIAL
So Paulo
2014
UNIVERSIDADE ANHEMBI MORUMBI

AFFONSO TRUDE CINTRA
EDMAR DE SOUZA SILVA
EDUARDO CARDOSO GOTTSCHALD
KAU CERQUEIRA ALVES DE MELO
SILVIO RUBENS ZARTH JUNIOR
ANALISADOR DE QUALIDADE DA ENERGIA

ELTRICA RESIDENCIAL
Trabalho de Concluso de Curso

apresentado como exigncia parcial para a
obteno do titulo de Bacharel em Engenharia
Eltrica da Universidade Anhembi Morumbi.
Orientador: Prof. Ricardo de Almeida Pinto
So Paulo
2014
II
LISTA DE FIGURAS
Figura 1 Exemplos de grfico de tenso em regime permanente gerados pelo analisador
Mult-K NG, da Kron Medidores . .................................................................................. 16
Figura 2 Exemplos de histogramas de tenso e grfico de potncia instantnea gerados
pelo analisador Mult-K NG. ........................................................................................... 17
Figura 3 IHM do RE7000, da Embrasul, permite o usurio navegar entre os principais
parmetros de medio do analisador. ............................................................................ 18
Figura 4 Exemplos de resposta completa: (a) descarga de um capacitor; (b) corrente na
partida de um motor de induo. .................................................................................... 21
Figura 5 Distrbios catalogados como VTCD ............................................................... 29
Figura 6 Evento de afundamento de tenso temporrio monofsico.............................. 30
Figura 7 Evento de afundamento de tenso temporrio trifsico. .................................. 31
Figura 8 Registro de ITT de 0,09 p.u. e 10.2 ciclos. ...................................................... 32
Figura 9 Registro de ITT de 0 p.u. e 1.731 segundos. .................................................... 32
Figura 10 Registro de AMT de 0,43 p.u. e 43,2 ciclos................................................... 33
Figura 11 Registro de AMT de 0,68 p.u. e 1,04 segundos. ............................................ 34
Figura 12 Registro de AMT de 0,53 p.u. e inferior a 1 segundo. ................................... 34
Figura 13 Registro de EMT de 1,34 p.u. e inferior a 1 segundo. ................................... 35
Figura 14 Evoluo da famlia Cortex-M4. .................................................................... 38
Figura 15 Transformador de corrente JD51V, da HQSensing, e suas caractersticas
mecnicas........................................................................................................................ 40
Figura 16 Esquema eltrico do prottipo, evidenciando o esquema de ligao do
display.. ........................................................................................................................... 42
Figura 17 Esquema eltrico do prottipo, evidenciando o uso dos transformadores de
corrente e transformadores de acoplamento, bem como os pinos utilizados do
Discovery-M4. ................................................................................................................ 43
Figura 18 Desenho mecnico do Kit Discovery-M4 ...................................................... 44
Figura 19 Viso frontal do display de LCD LMC-STC2E16, ao inicializar. ................. 45
Figura 20 Pinos do Cortex-M4 utilizados no prottipo. ................................................. 45
Figura 21 Cdigo rodando no Cortex M4. ..................................................................... 47
Figura 22 Ilustrao da mala de testes CMC 356 ........................................................... 51
Figura 23 Trimpots de calibrao das fases VA e VB ................................................... 52
Figura 24 Software Test Universe .................................................................................. 52
Figura 25 Tela do mdulo Quick CMC .......................................................................... 53
III
Figura 26 Trimpots de calibrao IA e IB ...................................................................... 53

Figura 27 Teste de TRP realizado no laboratrio da empresa Schneider Electric. ........ 56
Figura 28 Teste de VTCD realizado no laboratrio da empresa Schneider Electric. ..... 58
IV
LISTA DE TABELAS
Tabela 1 Exemplo do relatrio de eventos gerado pelo analisador Mult-K NG, da Kron
Medidores ....................................................................................................................... 16
Tabela 2 Pontos de conexo em Tenso Nominal igual ou inferior a 1 kV (220/127) .. 24
Tabela 10 Pinos e perifricos do Cortex-M4 utilizados no prottipo............................. 46
Tabela 11 Resultados dos testes de medies bsicas de tenso. ................................... 54
Tabela 12 Nveis de corrente inserida e medida durante os testes bsicos de medio . 55
Tabela 13 Valores de potncia inseridos e medidos durante o teste bsico de medio 55
Tabela 14 Tabela de eventos do teste de VTCD ............................................................ 57
Tabela 15 Resultados do teste de medio de tenso ..................................................... 59
Tabela 16 Resultados do teste de medio de corrente .................................................. 59
Tabela 17 Resultados do teste de medio potncia....................................................... 60
LISTA DE ABREVIATURAS E SIGLAS
ABNT Associao Brasileira de Normas Tcnicas;

AC Corrente Alternada (Alternating Current);
AMT Afundamento Momentneo de Tenso;
ANEEL Agncia Nacional de Energia Eltrica;
ATT Afundamento Temporrio de Tenso;
DC Corrente Contnua (Direct Current);
DRC Durao Relativa da Transgresso de Tenso Crtica;
DRCE Durao Relativa de Transgresso de Tenso Crtica Equivalente;
DRCI Durao Relativa da Transgresso de Tenso Crtica Individual da Unidade
Consumidora;
DRP Durao Relativa da Transgresso de Tenso Precria;
DRPE Durao Relativa de Transgresso de Tenso Precria Equivalente;
DRPI Durao Relativa da Transgresso de Tenso Precria Individual da Unidade
Consumidora;
EMT Elevao Momentnea de Tenso;
ETT Elevao Temporria de Tenso;
EWARM Embedded Workbench for ARM
IEC International Electrotechnical Commission;
IMT Interrupo Momentnea de Tenso;
INMETRO Instituto Nacional de Metrologia;
IHM Interface Homem-Mquina;
IAR Ingenjrsfirman Anders Rundgren
ITT Interrupo Temporria de Tenso;
LCD Liquid Crystal Display;
LED Light Emitting Diode;
NL Nmero Total de Unidades Consumidoras da Amostra;
NLC Nmero de Pacotes com Leituras Crticas;
NLP Nmero de Pacotes com Leituras Precrias;
ONS Operador Nacional do Sistema Eltrico;
PRODIST Procedimentos de Distribuio de Energia Eltrica;
QEE Qualidade da Energia Eltrica;
QGF Quadro Geral de Fora
VI
RAM Random Access Memory;

TRP Tenso em Regime Permanente;
USB Universal Serial Bus
VTCD Variao de Tenso de Curta Durao.
VII
SUMRIO
1
INTRODUO ........................................................................................... 13
1.1
OBJETIVOS ......................................................................................... 13
1.2
JUSTIFICATIVA ................................................................................. 14
1.3
ABRANGNCIA DO TEMA .............................................................. 14
DESENVOLVIMENTO .............................................................................. 20
2.1
INTRODUO AO PRODIST............................................................ 20
2.2
TENSO EM REGIME PERMANENTE ........................................... 21
2.2.1 METODOLOGIA PARA APURAO ........................................ 22

2.2.2 METODOLOGIA DA ANEEL ...................................................... 22
2.2.3 INSTRUMENTAO E METODOLOGIA DE MEDIO........ 26
2.2.4 METODOLOGIA DO IEC ............................................................. 27
2.2.5 SUSCEPTIBILIDADE DOS APARELHOS .................................. 27
2.3
VARIAO DE TENSO DE CURTA DURAO......................... 28
2.3.1 INTRODUO .............................................................................. 29

2.3.2 METODOLOGIA DE MEDIO E ANLISE............................ 30
2.3.3 AFUNDAMENTO DE TENSO ................................................... 33
2.3.4 ELEVAO DE TENSO ............................................................ 34
3
METODOLOGIA ........................................................................................ 35
3.1
MICROCONTROLADORES E SISTEMAS EMBARCADOS .......... 35
3.1.1 O CORTEX-M4 .............................................................................. 37

3.1.2 KIT DE DESENVOLVIMENTO STM32F4-DISCOVERY ......... 38
3.1.3 DISPLAY DE LCD LMC-STC2E16 .............................................. 39
3.2
PROTTIPO ........................................................................................ 39
3.2.1 CIRCUITO DE MEDIO ............................................................ 40

3.2.2 CIRCUITO DE PROCESSAMENTO DE DADOS ....................... 43
3.2.3 CIRCUITO DE INTERFACE ........................................................ 44
VIII
3.2.4 PINOS E PERIFRICOS DO MICROCONTROLADOR ............ 45

3.3
SOFTWARE ......................................................................................... 47
3.3.1 CLCULO DE VTCD.................................................................... 48

3.3.2 CLCULO DE TRP ....................................................................... 49
3.3.3 CLCULO DE POTNCIA ATIVA ............................................. 49
3.3.4 DADOS DISPONIBILIZADOS AO USURIO ........................... 50
3.4
TESTE DE MEDIES BSICAS ..................................................... 50
3.4.1 CALIBRAO ............................................................................... 51

3.4.2 TESTE MEDIES BASICAS ..................................................... 54
3.4.3 TESTE TRP .................................................................................... 56
3.4.4 TESTE DE VTCD .......................................................................... 57
4
RESULTADOS ............................................................................................ 58
4.1
MEDIES BSICAS ........................................................................ 58
4.2
TRP ....................................................................................................... 61
4.3
VTCD.................................................................................................... 61
CONCLUSES ............................................................................................ 63
5.1
TRABALHOS FUTUROS ................................................................... 64
BIBLIOGRAFIA .......................................................................................... 66
ANEXOS ...................................................................................................... 68
A.
PRODIST
B.
DATASHEET DISPLAY LMC-S2E16
C.
DATASHEET TC JD51V
D.
DATASHEET LM7805
E.
FLUXOGRAMA DO PROJETO
F.
LINHAS
DE
PROGRAMAO
DO
SOFTWARE
DO
ANALISADOR
G.
DATASHEET OMICRON CMC356
IX
H.
CERTIFICADO DE CALIBRAO OMICRON
I. LISTA DE MATERIAIS UTILIZADOS

J.
COTAO REALIZADA JUNTO EMPRESA NANSEN
K.
DATASHEET MEDIDOR NANSEN
L.
RELATORIOS DE VTCD E TRP
M.
DATASHEET CORTEX M4
N.
DIAGRAMA DE GANTT
RESUMO
Este trabalho de concluso de curso apresenta um analisador de qualidade da

energia eltrica residencial voltado a realizar medies bsicas como tenso, corrente e
potncia, assim como analisar eventos relacionados qualidade da energia eltrica entre
o sistema de distribuio eltrica e o quadro geral de fora de uma residncia.
Para a anlise como base de eventos, foi adotado para o projeto o PRODIST
(Procedimentos de Distribuio de Energia Eltrica no Sistema Eltrico Nacional),
elaborado e publicado pela ANEEL (Agncia Nacional de Energia Eltrica) que dentro
de suas modalidades foi aplicado no projeto s diretrizes de variao de tenso de curta
durao e tenso em regime permanente.
A proposta de desenvolvimento substituir o medidor eletromecnico de energia
das residncias por um analisador de qualidade da energia eltrica possibilitando um
equipamento com um custo menor e que proporcione a concessionria de energia um
maior volume de dados fornecidos com um maior detalhamento sobre o fornecimento
da energia eltrica, possibilitando que alguns problemas na distribuio sejam
identificados precocemente evitando maiores prejuzos.
O analisador de qualidade da energia eltrica um produto vivel para a
fabricao em escala industrial devido ao seu custo reduzido comparado aos
equipamentos utilizados atualmente. Tambm pela agregao de funes de medio e
qualidade da energia eltrica que o produto possui, assim como uma forma de melhoria
da distribuio da energia eltrica por parte da concessionria, como uma melhor
interface para o cliente residencial saber como est o andamento do fornecimento e
consumo de energia.
Palavras chave: Medidor, qualidade, tenso, analisador, energia.
XI
ABSTRACT
This paper was done in order to acquire graduate and it presents a quality
analyzer of electrical energy in residential segment. It is oriented to perform basic
measurements such as voltage, current, and electrical power also to analyze events
associated to the quality of electricity between the electrical distribution system and the
electrical panel located in a residence.
To make this analysis, it was adopted to this project as a standard regulations the
PRODIST (Electricity and distribution procedures into the national electric system),
published by ANEEL (National Agency of Electrical Energy). There are some methods
and modalities into the PRODIST and it was decided to study Voltage Variation at short
time (VTCD) and Voltage in Steady State (TRP).
The development proposal of this paper is to replace the electromechanical
power meter used nowadays to this quality analyzer of electrical energy presented in
this paper. In order to enable this device at a lower cost and provide to the electric
utilities a greater volume of data supplied in further details about electrical energy
supplying, in order to enable that some problems can be found in the distribution system
earlier and to avoid them to have higher losses.
The quality analyzer of electrical energy is a viable product to be manufactured
on an industrial scale according to its lower costs comparing to another ones used
nowadays. It is viable also by the measurement functions aggregation and electrical
energy quality that this device has. Therefore, the improvements shown by this method,
in the electrical energy distribution by the electric utilities, and an interface
improvement to the residential user to know how his electricity supplying and
consumption are in real time.
Keywords: Meter, quality, voltage, analyzer, electrical energy.
XII
INTRODUO
Este trabalho prope um analisador de qualidade da energia eltrica para o
consumidor residencial, visto que atualmente o mercado enfatiza apenas o segmento

industrial e de transmisso e distribuio de energia.
1.1
OBJETIVOS
Esse analisador de qualidade da energia eltrica tem como objetivo atender aos
requisitos propostos no mdulo 8 (oito) do PRODIST (Procedimentos de Distribuio
de Energia Eltrica no Sistema Eltrico Nacional), em vigor desde janeiro de 2012 e
regulamentado pela Agncia Nacional de Energia Eltrica ANEEL.
Quando se trata da qualidade da energia eltrica, alguns pontos se fazem
necessrios para o estudo e qualidade do servio prestado. O PRODIST define os
parmetros de valores adequado, precrio e crtico para que se possa analisar o
parmetro de Tenso em Regime Permanente e eventos de Variao de Tenso de Curta
Durao (VTCD). O analisador de qualidade de energia eltrica capaz de medir os
parmetros eltricos bsicos e, como diferencial, dedicado ao mercado residencial,
possuindo um baixo custo para sua fabricao. Para facilitar a interface com o usurio,
esse prottipo possuir uma IHM (Interface Homem-Mquina), facilitando a navegao
e integrao do usurio com o produto. De acordo com o PRODIST, o perodo para ser
gerado um relatrio de anlise de qualidade da energia eltrica baseado em 1008
leituras, no qual, so agregadas as medies feitas em um intervalo de tempo a cada 10
minutos (PRODIST, 2010).
13
1.2
JUSTIFICATIVA
Sabendo que equipamentos eletrnicos esto cada vez ganhando mais espao em
todos os meios de consumo (residencial, comercial e industrial), os mesmos tambm
esto ficando cada vez mais sensveis e propcios a eventos de variao de tenso de
curta e longa durao, gerando prejuzos com manuteno, reduo da vida til e at
mesmo substituio de equipamentos (JUC, 2003).
Para a concessionria de energia vantajoso, pois possibilita ter uma viso
antecipada de possveis manutenes e redimensionamentos a serem feitos, diminuindo
assim as reclamaes de clientes e melhorando a imagem da empresa perante o
mercado.
1.3
ABRANGNCIA DO TEMA
Desde o surgimento dos equipamentos eletrnicos digitais nos anos 1960,

problemas com a qualidade do fornecimento de energia eltrica tornaram-se relevantes.
A principal causa a incompatibilidade bsica entre equipamentos eletrnicos os
quais operam em corrente contnua (DC) e a corrente alternada (AC) que serve como
fonte de alimentao. Considerando que todos os equipamentos eletrnicos so
sensveis a distrbios eltricos e todos partem de uma alimentao AC, essa fonte de
alimentao tambm transmite esses distrbios eltricos no equipamento sensvel
(DECKMANN, POMILIO, 2010).
Existem vrias fontes que causam distrbios eltricos surgindo interna e
externamente em uma instalao eltrica residencial. Algumas das fontes externas mais
preocupantes compreendem raios, atuao de disjuntores e rels de proteo, comutao
de banco de capacitores, acidentes de servios e falhas de equipamento. Dentro das
instalaes eltricas, sistemas de ar condicionado, elevadores, iluminao fluorescente,
acionamentos de motores de velocidade varivel (inversores de freqncia), fabricao
de equipamentos de linha de montagem e robtica, entre outros. Alm de distrbios
eltricos, h uma variedade de outras questes ambientais que podem afetar o
funcionamento normal de equipamentos eletroeletrnicos. Exemplos incluem a
eletricidade esttica, interferncia de radiofreqncia, interferncia eletromagntica,
temperatura e umidade (MANITO, 2009).
14
A ANEEL foi criada em 1996, momento em que a distribuio da energia

eltrica foi delegada a rgos privados, com o objetivo de fiscalizar e regularizar a
comercializao, produo e transmisso da energia eltrica, em conjunto com polticas
e diretrizes do Governo Federal, no intuito de monitorar as questes de qualidade
relacionadas distribuio da energia eltrica. Desde ento, todas as tecnologias
relacionas qualidade da energia eltrica esto submetidos s normas do PRODIST,
regulamentado pela ANEEL (PRODIST, 2010).
As indstrias contam com analisadores de qualidade da energia que detectam
eventos anormais presentes na instalao e aps uma medio de longo tempo,
apresentam um relatrio dos eventos ocorridos.
No mercado brasileiro, destacam-se dois fabricantes nacionais, a Kron
Medidores e a Embrasul Indstria Eletrnica, ambas contando com um variado portflio
de medidores e analisadores de qualidade de energia para os diversos tipos de ambientes
industriais. Os produtos de ambos os fabricantes contam com: leitura instantnea de
tenso eficaz, potncias instantneas, ativa e aparente, deteco de eventos de Variao
de Tenso de Curta Durao (VTCD), distoro harmnica, desequilbrio entre fases,
tenso em regime permanente, indicadores DRP - Durao relativa da transgresso de
tenso precria - e DRC - Durao relativa da transgresso de tenso crtica - e
histograma de tenso.
A seguir, na Figura 1, demonstrado um grfico de Tenso em Regime
Permanente de um sistema trifsico, onde avaliado por um perodo de 1008 leituras.
Cada fase exposta em uma cor diferente no grfico, uma azul, uma verde e uma
vermelha. O grfico mostra as faixas de tenso Adequada, Precria e Crtica em 3 cores
diferentes, sendo a faixa Adequada em Branco, a faixa Precria em Amarelo e a faixa
Crtica em Laranja, atravs deste grfico possvel visualizar qualquer evento
relacionado Tenso em Regime Permanente, que ocorra no perodo analisado.
Tambm so expostos na Tabela 1 os dados relacionados a um relatrio de
Avaliao de Qualidade de Energia, neste relatrio so expostos todos os dados
referentes avaliao como Interrupes de Fornecimento, Afundamento e Elevao de
Tenso e tambm interrupes que ocorram entre fases.
Este relatrio serve como base para anlise de eventos de Variao de Tenso de
Curta Durao VTCD.
15
Figura 1 Exemplos de grfico de tenso em regime permanente gerados pelo analisador Mult-K NG, da
Kron Medidores (KRON, 2014).
Tabela 1 Exemplo do relatrio de eventos gerado pelo analisador Mult-K NG, da Kron
Medidores (KRON, 2014).
A Figura 2 na pgina 16 mostra 3 Histogramas de Tenso obtidos atravs do

analisador Mult-K NG que mostra as ocorrncias com relao a cada faixa Adequada,
Precria ou Crtica de tenso, utilizando o mesmo padro de cores da Figura 1,
Adequada na cor Branca, Precria em Amarelo e Crtica em Laranja. Cada histograma
medido entre 2 fases, AB, BC e CA.
16
Figura 2 Exemplos de histogramas de tenso e grfico de potncia instantnea gerados pelo analisador
Mult-K NG (KRON, 2014).
Por meio dos sinais de tenso e corrente do sistema a ser medido, os medidores
calculam os parmetros eltricos conforme as normas IEC 61000-4-30 e IEC 61000-417
7, utilizando um conversor A/D (Analgico / Digital) interno de alta resoluo (mnimo

12 bits por norma) com pelo menos 32 amostras por ciclo. As agregaes de informao
so realizadas de 150 a 180 ciclos, o que compreende 10 minutos, utilizando conceito
flag na ocorrncia de VTCDs. Esses produtos podem ser aplicados em sistemas
monofsicos, bifsicos ou trifsicos.
Os produtos AQE-01, da Kron Medidores, e o RE6081, da Embrasul, so
desenvolvidos para instalao em postes de distribuio de energia. Focados em eventos
de VTCD e tenso em regime permanente, nesses analisadores no est incorporada a
leitura de corrente eltrica, portanto no fornecida a potncia eltrica. J os produtos
Mult-K NG, da Kron Medidores, e o RE7000, da Embrasul, so produtos de mercado
Higino que so instalados no interior do circuito industrial, incorporando todos os tipos
de leituras necessrias para atender todos os tpicos requeridos pelo Mdulo 8
(Qualidade) do PRODIST.
Alm de atenderem a risca as exigncias da ANEEL atravs do PRODIST,
preocupao dos fabricantes em terem uma interface limpa com o usurio. Todos os
produtos supracitados tambm contam com uma IHM com display de LCD ou LED,
atravs da qual o usurio pode navegar entre os principais parmetros de leitura em
tempo real e verificar eventos ocorridos (EMBRASUL, 2014).
Figura 3 IHM do RE7000, da Embrasul, permite o usurio navegar entre os principais

parmetros de medio do analisador (EMBRASUL, 2014).
Como descrito nessa sesso, so comuns no mercado de medidores e

analisadores de qualidade da energia voltados para indstria. Todos destinados a
18
sistemas trifsicos de potncias elevadas e apresentam um alto custo. Diferentemente

desses produtos que esto no mercado hoje, a proposta deste trabalho criar um
analisador de qualidade da energia eltrica bifsico para fins residenciais, onde, alm de
medir parmetros bsicos de tenso corrente e potncia, englobar a medio e anlise
de eventos de tenso em regime permanente e variao de tenso de curta durao.
O mercado para produtos voltados ao consumidor residencial possui um grande
potencial de explorao, dada carncia de produtos na rea e a crescente sensibilidade
dos equipamentos eletrnicos a eventos de distribuio de energia eltrica. Este
trabalho, portanto, se diferencia ao explorar o consumidor residencial com uma soluo
microcontrolada de baixo custo.
19
DESENVOLVIMENTO
A anlise da energia eltrica um tema que nos ltimos anos se tornou de
extrema importncia entre os consumidores industriais, residenciais e at mesmo nas

concessionrias de energia. Com o processo de evoluo tecnolgica que a sociedade
est atravessando, onde cada vez mais as residncias tm equipamentos eletrnicos
como, por exemplo, os computadores, e no meio industrial como linhas de produo
automatizadas. Com essa nova classe de equipamentos que so cada vez mais sensveis
a eventos que esto presentes na rede eltrica como VTCDs (PRODIST, 2010).
2.1
INTRODUO AO PRODIST
Pode-se destacar a sensibilidade das cargas devido ao aumento de cargas de
velocidades variveis, e equipamentos controlados eletronicamente. Com isto, tornando

o usurio final com uma maior vulnerabilidade a eventos como afundamentos de
tenses, que podem ocorrer principalmente devido a problemas na distribuio eltrica
ou devido ao no cumprimento das normas tcnicas em seu circuito interno.
(PRODIST, 2010).
Segundo JNIOR (2012), o principal e mais comum evento da QEE (Qualidade
da Energia Eltrica) nos clientes residncias conhecido como voltage sag
(Afundamento de Tenso), que tambm um dos maiores desafios das concessionrias
de energia pelo fato dos clientes residenciais receberem em sua maioria duas fases e o
sistema de distribuio ser trifsico, assim tendo dificuldade de manter as suas fases de
distribuio o mais prximo do equilbrio possvel, e principalmente nos horrios de
pico das grandes metrpoles.
Com o mbito de padronizar e estipular normas para a QEE que as
concessionrias devem fornecer aos seus clientes foi criado pela ANEEL o PRODIST.
O PRODIST visa estabelecer procedimentos referentes QEE dos produtos que
analisam os eventos da rede, como a qualidade do servio prestado. A norma tambm
aborda a terminologia e a caracterizao dos eventos da QEE, quanto metodologia
para a medio e anlise dos dados coletados da rede eltrica, assim como deve ser feita
a compactao de arquivos e a gerao de alarmes de eventos.
20
2.2
TENSO EM REGIME PERMANENTE

Em ambos os circuitos de corrente contnua (CC) ou de corrente alternada (CA),
o comportamento da tenso e da corrente podem ser divididos em duas etapas: o regime

transitrio e o regime permanente (NEVES, MNCHOW, 2010).
Durante o regime transitrio, as tenses e correntes no circuito se acomodam
at atingirem a estabilidade, quando isso acontece, se diz que o regime permanente foi
alcanado. A durao do regime transitrio depende dos elementos que compe o
circuito e de seus valores, porm na maioria das situaes prticas dificilmente
ultrapassa alguns poucos segundos. J o regime permanente tem durao ilimitada, s
sendo interrompido se o circuito for alterado de alguma forma, como por exemplo, a
insero de uma nova carga no linear no circuito (LANDEIRA, 2009).
A Figura 4 mostra dois exemplos de resposta completa, ressaltando os intervalos
de tempo correspondentes ao regime transitrio e ao regime permanente. No primeiro
caso (Figura 4a), trata-se da tenso U de descarga de um capacitor e a resposta em
regime igual a zero; no outro exemplo, que mostra a corrente I na partida de um motor
de induo, a resposta em regime diferente de zero (Figura 4b).
Figura 4 Exemplos de resposta completa: (a) descarga de um capacitor; (b) corrente na partida de um
motor de induo (LANDEIRA, 2009).
A estabilizao da tenso eltrica em um regime permanente de fundamental

importncia para o bom funcionamento dos equipamentos eltricos conectados a essa
rede. Neste ponto, limites crticos, precrios ou adequados so estabelecidos para
obteno dos nveis de tenso em regime permanente (TRP). Em conjunto com os
limites, citados acima, so estabelecidos os registros, critrios de medio e prazos para
ressarcimento e regularizao ao consumidor, se for o caso. Essas aes so tomadas se
as medies de tenso excederem os limites dos indicadores (JUNIOR, 2011).
21
2.2.1
METODOLOGIA PARA APURAO

A metodologia aplicada para validar os valores obtidos so indicadores de
conformidade de nveis de tenso em regime permanente e tambm os prazos para

regularizao e compensao se isto se fizer necessrio.
H dois rgos que so citados abaixo, responsveis pela metodologia de
apurao dos valores limites para a Tenso em Regime Permanente a ANEEL,
mencionada na seo 2.2.2, e o IEC, mencionado na seo 2.2.3.. Ambos nomeiam os
nveis como: adequado, precrio e crtico. A seguir, explanada de uma maneira mais
completa qual a abordagem destes nveis de acordo com cada rgo.
2.2.2
METODOLOGIA DA ANEEL
Em todo o territrio nacional, a ANEEL o rgo responsvel pela
normatizao
regulamentao
da
distribuio,
produo,
transmisso
comercializao da energia eltrica. Atravs do mdulo 8 do PRODIST a ANEEL

detalha o procedimento para obteno dos valores da TRP e estabelece a metodologia
para a apurao e indicao de conformidade dos nveis de tenso, os critrios de
medio e registro, prazos para regularizao e tambm a compensao se for o caso
(PRODIST, 2010).
Esses valores so apurados trimestralmente, de acordo com os dados obtidos
pelas concessionrias a partir de medies amostrais, o PRODIST determina que haja
um conjunto de registros compreendendo 1008 (mil e oito) leituras de dez minutos cada
em tempo ininterrupto ao longo de uma semana, totalizando 168 (cento e sessenta e
oito) horas. Todas as 1008 (mil e oito) leituras obtidas precisam ser vlidas, ou seja,
intervalos adicionais devem ser agregados consecutivamente sempre que houver alguma
leitura invlida. Se houver interrupo, elevao ou afundamentos da energia eltrica, o
intervalo de medio de 10 (dez) minutos deve ser invalidado e substitudo por um
nmero igual de leituras vlidas.
Com as leituras obtidas, podem ser calculados os indicadores DRP (durao para
a transgresso de tenso precria) e DRC (durao para a transgresso de tenso crtica).
Os indicadores DRP e DRC so individuais e a partir deles, possvel obter os valores
DRPE e DRCE (indicadores coletivos) que expressam a mdia a partir dos indicadores
individuais. O valor de durao para a transgresso mxima de tenso precria (DRPM)
estabelecido em 3% (trs por cento) e o valor de durao para a transgresso mxima
22
de tenso crtica (DRCM) estabelecido em 0,5% (cinco dcimos por cento). Com estes
dois dados calculados obtido o percentual de tempo no qual a TRP permaneceu no
nvel crtico ou precrio (PRODIST, 2010).
Equao 1:
Onde:
1008
. 100% (1)
DRP = durao para transgresso de tenso precria;

nlp = nmero de pacotes com leituras precrias.
Equao 2:
Onde:
1008
. 100% (2)
DRC = durao para transgresso de tenso crtica;

nlc = nmero de pacotes com leituras crticas.
Equao 3:
Onde:
% (3)
DRPE = durao relativa de transgresso de tenso precria equivalente;

DRPi = durao relativa da transgresso de tenso precria individual
da
unidade consumidora;
NL = nmero total de unidades consumidoras da amostra.
Equao 4:
Onde:
% (4)
DRCE = durao relativa de transgresso de tenso crtica equivalente;

DRCi = durao relativa da transgresso de tenso crtica individual
da
unidade consumidora;
23
NL = nmero total de unidades consumidoras da amostra.

A compensao devida ao consumidor, conforme critrio estabelecido neste item,
no isenta a distribuidora de responder por outras perdas e danos causados pelo servio
inadequado de energia eltrica (PRODIST, 2010).
Quando o nvel da tenso observado precrio, a concessionria tem um prazo

de 90 dias para sanar o problema do usurio. J quando o nvel observado crtico, a
mesma tem o prazo de 15 dias para regularizao da tenso do usurio. Caso o problema
do usurio no seja solucionado dentro deste prazo, ento, o usurio tem o direito de ser
compensado
financeiramente
pela
concessionria.
compensao
feita
automaticamente at que o problema seja solucionado ou ento a concessionria pode

gerar o valor em crdito para as faturas futuras de energia eltrica e a mesma dever ser
mantida enquanto pelo menos um dos indicadores DRP ou DRC for superior ao DRPM e
DRCM respectivamente.
Quando a tenso nominal de operao contratada igual ou menor que 1 kV
(caso de todos os usurios residenciais), esta mesma deve ser a tenso nominal do
sistema de distribuio. As leituras so classificadas em trs categorias: adequada,
crtica ou precria, segundo o valor da tenso se encontre mais afastado da referncia
em relao a tenso observada. As tabelas abaixo foram extradas do PRODIST e
mostram quais os valores e nveis das tenses.
Tabela 2 Pontos de conexo em Tenso Nominal igual ou inferior a 1 kV (220/127) (PRODIST,2010)
24
25
2.2.3
INSTRUMENTAO E METODOLOGIA DE MEDIO

As medies de tenso devem abranger medies entre as fases ou entre as fases
e o neutro, se o mesmo for disponvel na instalao. Atravs de equipamentos que

operam por meio do princpio da amostragem digital, com os requisitos mnimos
exibidos abaixo, obtm as leituras:
a) Taxa amostral: 16 amostras por ciclo;
b) Conversor A/D (analgico/digital) de sinal de tenso de 12 bits;
c) Preciso de at 1% (um por cento) da leitura.
As seguintes informaes devem ser permitidas pelo equipamento para
apurao:
a) Valores calculados dos indicadores individuais;
b) Tabela de medio;
c) Histograma de tenso.
26
2.2.4 METODOLOGIA DO IEC

O IEC (International Eletrotechnical Commission) uma organizao global de
normatizao e padronizao de todas as tecnologias relacionadas a eltricas e
eletrnicas. Seu objetivo promover uma unificao internacional em todos os quesitos
relativos a padronizao no campo da eltrica e eletrnica. A norma IEC 61000 enfatiza
e trata a compatibilidade eletromagntica (EMC), a parte 4 (quatro) detalha os mtodos
de medida da qualidade da energia eltrica para sistemas com alimentao de 50
(cinqenta) ou 60 (sessenta) hertz em corrente alternada (CA) e tambm a apurao dos
resultados obtidos. (IEC, 2003).
A norma IEC tem 2 performances, classificadas como Classe A e Classe B.
a) Classe A Aplicada quando a preciso necessria, por exemplo,
aplicaes contratadas, verificao de conformidade com normas,
resoluo de litgios entre outros.
b) Classe B Aplicada quando so necessrios inquritos estatsticos,
aplicaes de soluo de problemas e outros tipos de aplicaes onde
baixa incerteza no solicitada.
Para o desempenho da Classe A, a variao de tenso no dever exceder 0,2%
(dois dcimos por cento) para mais ou para menos da tenso de alimentao, j para a
Classe B a variao no dever exceder 1% (um por cento) para mais ou para menos da
tenso de alimentao.
2.2.5
SUSCEPTIBILIDADE DOS APARELHOS

Diz-se que a susceptibilidade a tendncia que um aparelho eletrnico tem para
sentir as influncias ou distrbios. O livro (IEEE 1100-1992, The Emerald Book) diz
que um componente de estado slido pode suportar mais que duas vezes a sua tenso
nominal em regime de surto.
Os dispositivos eletrnicos suportam variaes de tenso de acordo com as
normas IEC e IEEE, mas isso implica em uma reduo na sua vida til e quanto mais
um aparelho ou dispositivo eletrnico submetido a tais eventos maior a reduo da
sua vida til, e quanto mais severo o evento, maior a chance de ter perdas irreparveis
no aparelho ou ento a reduo precoce na vida til. Um estudo feito pela
CONTINGENCY PLANNING verificou que 87% (oitenta e sete por cento) dos
27
problemas causados nos aparelhos eletrnicos e eletrodomsticos so provocados por

distrbios eltricos. Nota-se ento a importncia e impacto que a QEE tem nos
eletrodomsticos.
O bom funcionamento dos aparelhos eletrnicos depende da TRP. Por menor
que seja o aumento ou a queda da tenso, tal evento ocasiona no desligamento imediato
de fontes de alimentao o que provavelmente abrevia a vida til e desempenho do
aparelho.
Pode-se observar vrios problemas que podem ocorrer aps um aumento ou uma
queda na TRP:
a) Reinicializao de computadores, controladores e outros dispositivos
microcontrolados;
b) Sobretenso nos aparelhos com circuitos eletrnicos causando queima das
placas, exploso de capacitores por conta da sobrecarga;
c) Perda de dados em dispositivos que armazenam informaes, como por
exemplo, memrias;
d) Aquecimento dos condutores;
e) Parada por falta de tenso;
f) Corrompimento de discos rgidos;
g) Falhas geradas em fontes chaveadas.
A mitigao de tais problemas se mostra atraente para os usurios finais e
tambm para as concessionrias, abaixo pode-se notar os efeitos causados nos aparelhos
eletrnicos por causa de distrbios no sistema de distribuio.
2.3
VARIAO DE TENSO DE CURTA DURAO
As variaes de tenso de curta durao (VTCD) so distrbios temporrios

existentes na rede eltrica. Estes distrbios so provenientes de alteraes no valor
eficaz da tenso fase-fase ou fase-terra em curtos espaos de tempo (PRODIST, 2010).
Na Figura 5 possvel visualizar um exemplo de trs eventos de VTCD distorcendo a
senoide de uma residncia:
28
Figura 5 Distrbios catalogados como VTCD (ZIMATH, VIEIRA, 2005)
Observa-se acima um sinal com seu valor eficaz e em seguida h um evento

chamado afundamento ou Sag; a seguir o sinal volta ao seu valor eficaz; ento h um
outro evento chamado elevao ou Swell; a seguir o sinal volta ao seu valor eficaz e
ento por ltimo h um evento chamado interrupo (OS AUTORES, 2014).
2.3.1
INTRODUO
Pode-se classificar o VTCD em duas classes, variao momentnea de tenso e
variao temporria de tenso. A variao momentnea de tenso consiste em distrbios

que duram em um instante de tempo superior ou igual a um ciclo, ou inferior ou igual a
trs segundos1 (PRODIST, 2010).
Dentro destas classes existem os eventos eltricos que so:
1.1. Interrupo de tenso:
a)
Interrupo momentnea de tenso (IMT);
b) Interrupo temporria de tenso (ITT).
1.2. Afundamento de tenso:

a)
Afundamento momentneo de tenso (AMT);
b) Afundamento temporrio de tenso (ATT).
1.3. Elevao de tenso:

1
A durao do evento interrupo de tenso atende somente a condio de inferior ou igual a trs
segundos.
29
2.3.2
a)
Elevao momentnea de tenso (EMT);
b)
Elevao temporria de tenso (ETT).
METODOLOGIA DE MEDIO E ANLISE

Os eventos de VTCD so analisados conjuntamente, assim analisando possveis
eventos entre fases, ou mais comumente entre fase-terra. Um evento de VTCD

registrado pelo seu tipo de evento, amplitude e durao do evento. Quando ocorrerem
eventos iguais entre fases diferentes, necessrio que os mesmos sejam agregados em
um nico evento (PRODIST 2010).
A Figura 6 mostra um evento de um afundamento de tenso temporrio (ATT)
monofsico. J a Figura 7 trata-se de um ATT trifsico, onde a durao do evento deve
conter o perodo de incio na falta da fase A e chega ao seu final com a normalizao da
falta na fase C, assim contemplando em um nico evento a falta das trs fases e tambm
considerando o valor eficaz de menor valor entre as trs faltas, ou seja, a durao do
evento vai ter a durao da unio das trs fases, e a sua magnitude vai sempre ser a da
falta mais acentuada entre todas as faltas que englobarem ao evento.
Figura 6 Evento de afundamento de tenso temporrio monofsico (ZIMATH, VIEIRA, 2005).
30
Figura 7 Evento de afundamento de tenso temporrio trifsico (Adaptado de ZIMATH, VIEIRA, 2005).
Analisando o conceito de interrupo de tenso no Brasil, o rgo que define os

parmetros base para a qualidade do servio o ONS (Operador Nacional do Sistema
Eltrico), onde diz que para que seja considerada uma IMT, o seu valor eficaz tem que
ser inferior a 0,1 p.u.2, com uma durao inferior ou igual a trs segundos. J para a
ITT, deve se respeitar a durao superior de trs segundos e inferior a trs minutos.
Tambm deve ter uma durao inferior a trs minutos, pois um evento com mais de trs
minutos no pode ser caracterizado mais como um VTCD (PRODIST, 2010).
As
Figuras
mostram
exemplos
de
uma
ITT
trifsica.
Sistema p.u.: a definio do sistema em valores de base, ou seja, a razo entre um valor instantneo
por um valor pr-definido (valor de base), assim gerando um valor adimensional para tratamento de
dados.
31
Figura 8 Registro de ITT de 0,09 p.u. e 10.2 ciclos (MAIA, 2011).
Figura 9 Registro de ITT de 0 p.u. e 1.731 segundos (MAIA, 2011).
32
2.3.3
AFUNDAMENTO DE TENSO
Alm das caractersticas de Interrupo de Tenso, o ONS tambm define
parmetros para Afundamentos de Tenso, que podem ser classificados em

Afundamento Momentneo de Tenso (AMT) ou Afundamento Temporrio de Tenso
(ATT) (PRODIST, 2010).
Um evento classificado como Afundamento Momentneo de Tenso o que
possui durao de sua variao igual ou superior a um ciclo (16,67 ms) e inferior ou
igual a trs segundos. Tambm possui sua amplitude de tenso com relao tenso de
referencia igual ou superior a 0,1 p.u. e inferior a 0,9 p.u.
A seguir so apresentadas trs figuras caracterizando eventos de AMT. A Figura
10, mostra um evento que tem durao de 43,2 ciclos (aproximadamente 0,7 segundos)
e amplitude de 0,43 p.u., desta forma considerado um AMT, pois sua durao
superior a um ciclo e inferior a trs segundos e sua amplitude est entre 0,1 e 0,9 p.u.
A Figura 10, assim como na Figura 11, tambm mostra um evento classificado
como AMT, pois sua durao de 1,04 segundos e a sua amplitude de 0,68 p.u,
estando dentro dos parmetros de um AMT.
O evento apresentado na Figura 12 tem incio em 0,5 segundos e fim em
aproximadamente 0,9 segundos, sendo assim sua durao de 0,4 segundos e sua
amplitude de 0,53 p.u., este evento tambm se classifica como um AMT por estar
dentro dos parmetros estabelecidos para esta classificao.
Figura 10 Registro de AMT de 0,43 p.u. e 43,2 ciclos (MAIA, 2011).
33
Figura 11 Registro de AMT de 0,68 p.u. e 1,04 segundos (MAIA, 2011).
Figura 12 Registro de AMT de 0,53 p.u. e inferior a 1 segundo (USIDA, 2009).
J para a classificao de um Afundamento Temporrio de Tenso, necessrio

possuir a durao da variao superior a trs segundos e inferior a trs minutos, bem
como sua amplitude de tenso em relao tenso de referncia superior ou igual a 0,1
p.u. e inferior a 0,9 p.u. (PRODIST, 2010)
2.3.4
ELEVAO DE TENSO
Outro parmetro, tambm definido pelo ONS, so as Elevaes de Tenso, que
so classificadas em Elevao Momentnea de Tenso (EMT) e Elevao Temporria

de Tenso (ETT), (PRODIST, 2010).
34
Para que seja classificado como um evento de Elevao Momentnea de Tenso,

sua durao da variao deve ser igual ou superior a um ciclo (16,67 ms) e inferior ou
igual a trs segundos. A amplitude de tenso com relao tenso de referncia deve ser
superior a 1,1 p.u.. A Figura 13 mostra um evento registrado que tem inicio em 0,5
segundos e fim aproximado em 0,9 segundos, tendo durao total de 0,4 segundos e
amplitude de 1,34 p.u., desta forma este evento classificado como um EMT, pois tem
durao inferior a trs segundos e superior a um ciclo e amplitude superior a 1,1 p.u..
Figura 13 Registro de EMT de 1,34 p.u. e inferior a 1 segundo (USIDA, 2009).
Denomina-se uma Elevao Temporria de Tenso um evento que possui sua

durao de variao superior a trs segundos e inferior a trs minutos e sua amplitude de
tenso em relao tenso de referncia deve ser superior a 1,1 p.u..
3
METODOLOGIA
Para o desenvolvimento do prottipo do analisador da qualidade da energia
eltrica, foram adquiridos uma srie de componentes eletrnicos, tanto de alto padro,
como commodities3, dadas as necessidades do projeto. A aquisio, bem como as
finalidades, dos componentes para a execuo do projeto ocorreram conforme descrito
nessa seo.
3.1
MICROCONTROLADORES E SISTEMAS EMBARCADOS
Um microcontrolador um circuito integrado que consiste de um

microprocessador interno e demais perifricos necessrios para sua operao, tais como:
Componentes eletrnicos tais como resistores, capacitores, indutores e transistores de uso geral so
considerados commodities, devido sua larga produo industrial realizada por muitos fabricantes
diferentes.
35
memria RAM4, memria flash5, portas de comunicao etc., em um nico

encapsulamento. (HEATH, 2003)
Microprocessadores de uso especfico esto envolvidos no projeto de sistemas
digitais mveis, como PDAs ou smartphones. Um microprocessador oferece flexibilidade e
aplicabilidade ao sistema. A flexibilidade porque programas diferentes podem ser
implementados no mesmo hardware. A aplicabilidade porque integra-se hardware
adicional apenas modificando algumas rotinas no programa da aplicao. (ALBA et al., p.
59-63, 2007).
Um sistema embarcado trata-se de um circuito microprocessador completamente

dedicado ao dispositivo ou sistema que ele controla. Diferentemente de computadores
de uso geral desktops ou notebooks um sistema embarcado realiza um conjunto de
tarefas predefinidas, geralmente com requisitos especficos. Uma vez que todo o
circuito tem um nico fim pr-determinado, desenhado visando otimizao de
tamanho, recursos de processamento e custo para o produto.
Um sistema embarcado consiste em um sistema baseado em microprocessador construdo

para controlar uma funo ou um conjunto de funes e no concebido para ser
programado pelo utilizador final, da mesma maneira como um PC.6 (Traduzido de
HEATH, 2003, p.2).
Sistemas como tablets e smartphones so considerados sistemas embarcados

pela natureza de seu hardware, apesar de poderem desempenhar grande parte das
funes de um computador de uso geral (desktops e notebooks). O software
desenvolvido para um sistema embarcado chamado firmware e normalmente
armazenado em uma memria EEPROM ou memria flash ao invs de um disco rgido.
Tambm comum um sistema embarcado operando sem os perifricos convencionais
Memria de acesso aleatrio (do ingls Random Access Memory, RAM) consiste em um tipo de
memria que permite a leitura e a escrita, utilizada como memria primria em sistemas eletrnicos
digitais.
5
Memria flash consiste em uma memria de computador do tipo EEPROM (Electrically-Erasable
Programmable Read-Only Memory), reconhecida por propiciar que mltiplos endereos sejam apagados
ou escritos numa s operao, e preservar o seu contedo sem a necessidade de fonte de alimentao.
6
There are many definitions for this but the best way to define it is to describe it in terms of what is not
and with examples. An embedded system is a microprocessor-based system that is built to control a
function or range of functions and is not designed to be programmed by the end user in the same way that
a PC is.
36
de um computador de uso geral, tais como teclado e tela, e com pouca memria.
(HEATH, 2003).
Segundo HEATH (2003), a grande diferena comparada com o mercado de
PCs e notebooks, os quais so limitados somente algumas arquiteturas, a grande
variedade de arquiteturas sobre as quais os sistemas embarcados so desenvolvidos
normalmente, tais como 8051, Atmel, AVR, Coldfire/68k, FR-V, H8, M32R, MIPS,
PIC, PowerPC, Renesas, SH, V850, x86, Z8 e Z80.
A integrao de microcontroladores aumentou ainda mais as aplicaes para
sistemas embarcados que so usados em reas onde tradicionalmente um computador
no teria sido considerado. Tambm, segundo LEMSTRA et al. (2011), os sistemas
embarcados associados a protocolos de comunicao sem fio, como o Wi-Fi,
possibilitaram um estrondoso aumento no acesso informao por meio de um
dispositivo mvel pessoal.
Um microcontrolador de uso geral de baixo custo pode muitas vezes ser
programado para desempenhar a mesma funo que um grande nmero de componentes
separados. Embora neste contexto um sistema embarcado geralmente mais complexo
do que uma soluo tradicional, a maior parte da complexidade est contida dentro do
microcontrolador em si. Neste sentido, poucos componentes adicionais podem ser
necessrios, e a maior parte do esforo de design est no software. Logo torna-se muito
mais fcil, durante o desenvolvimento, revisar o software conforme necessrio em vez
de fazer desgastantes alteraes de hardware.
3.1.1
O CORTEX-M4
A famlia Cortex-M voltada para desenvolvimentos com tecnologia
embarcada. O Cortex M verso 4 (Cortex-M4) foi eleito para ser o microcontrolador

para processar esse projeto por ser capaz de uma maior quantidade processamento com
menos consumo de energia. Atualmente o nico microcontrolador do mercado a
trabalhar com ponto flutuante7 por hardware em velocidades acima de 100 MHz.
(TEXAS INSTRUMENTS, 2012)
Lanado em 2012, o Cortex-M4 hoje largamente aplicado em uma grande
variedade de aplicaes, tais como controle de processos industriais, dispositivos de
interface humana, instrumentao mdica e processamento de sinais (udio e vdeo).
Ponto flutuante (do ingls floating point), ou vrgula flutuante,

representao digital de nmeros reais, que usada em computadores.
um
formato
de
37
Por conta de nesse projeto ser necessrio efetuar operaes matemticas

complexas na ordem de milissegundos - o tempo menor que um ciclo da energia
eltrica, e pelo fato de o Cortex M4 ser um microcontrolador orientado construo de
interfaces
homem-mquina,
optou-se
por
esse
microcontrolador
para
esse
desenvolvimento.
Figura 14 Evoluo da famlia Cortex-M (TEXAS INSTRUMENTS, 2012).
3.1.2
KIT DE DESENVOLVIMENTO STM32F4-DISCOVERY

O kit de desenvolvimento STM32F4-Discovery constitui de uma ferramenta
completa de desenvolvimento para microcontroladores Cortex-M4, incluindo o acesso

fsico a todos os seus perifricos adicionais. Os perifricos de relevncia para o projeto
compreendem (STMICROELECTRONICS, 2012):
a)
Conversor analgico-digital de 12 bits (ADC), perifrico responsvel por

obter o sinal analgico oriundo dos transformadores de acoplamento e
dos transformadores de corrente e converter em dados de 12 bits, para
fins de processamento digital;
b)
Porta de comunicao paralela de 8 bits (SDIO), perifrico responsvel

por se comunicar em alta velocidade com o display de LCD LMCSTC2E16 e externalizar as informaes relevantes para o usurio;
38
c)
Porta USB On-The-Go, perifrico responsvel por se comunicar com o

flash drive8, onde armazenada a memria de massa do prottipo.
O ncleo desse kit, que compreende o microcontrolador em si, atua como o

ncleo no circuito, gerenciando todos os demais componentes (transformadores de
corrente, transformadores de acoplamento, display de LCD, flash drive e botes de
interface), bem como processando toda a informao coletada, toda a exibio de dados
em tempo real e a gerao do relatrio final do analisador.
3.1.3
DISPLAY DE LCD LMC-STC2E16
O display de LCD LMC-STC2E16 constitui uma interface entre o

microcontrolador e o usurio. Por se tratar de um display de 2 linhas e 16 colunas,
totalizando 32 caracteres, onde cada um formado por uma matriz de pontos de 5 por 8
pixels9, possibilitando ao desenvolvedor maior liberdade para exibir palavras ou
imagens. Neste projeto, sua finalidade apresentar informaes de forma intermitente
ao usurio, sendo elas: corrente e tenso eltrica num mesmo instante, seguido por uma
apresentao do consumo de energia eltrica (UTC TECHNOLOGIES, 2014).
Displays deste modelo so comumente utilizados em equipamentos do
segmento mdico-hospitalar, segurana, automao comercial, entre outros. Sua funo
fazer a interface do homem com a mquina.
3.2
PROTTIPO
O objetivo do prottipo comprovar a viabilidade do desenvolvimento de um

analisador da qualidade da energia eltrica de baixo custo para o mbito residencial.
Para tal, foi utilizado um microcontrolador Cortex-M4 para o processamento de dados,
dois transformadores de acoplamento e dois transformadores de corrente para leitura de
nveis de tenso eltrica e corrente eltrica, respectivamente, um display de LCD para
exibio dos dados em tempo real e um flash drive para armazenamento em massa dos
dados lidos.
Flash Drive ou Pen Drive um dispositivo de armazenamento de dados constitudo por memria flash,
permitindo a sua conexo com um equipamento atravs de uma porta USB.
9
Um pixel o menor ponto que forma uma imagem digital, ao qual possvel atribuir-se uma cor. O
conjunto de milhares de pxeis formam uma imagem inteira.
39
Este prottipo consiste basicamente em trs circuitos eletrnicos, tais como

listados a seguir:
a)
Circuito de medio: com o objetivo de efetuar medies de tenso

eltrica e corrente eltrica das duas fases que alimentam a residncia;
b)
Circuito de processamento dos dados: com o objetivo de processar toda a

informao coletada, toda a exibio de dados em tempo real e a gerao
do relatrio final do analisador;
c)
Circuito de interface: atuando como interface entre usurio e mquina,

tem o objetivo de exibir as informaes dos dados coletados e tratados
em tempo real para o usurio e receber comandos para a exibio dos
mesmos.
A seguir esto detalhadas as caractersticas de funcionamento de todos os

componentes, bem como dos circuitos compreendidos pelos mesmos.
3.2.1
CIRCUITO DE MEDIO
Nesse primeiro circuito, foram utilizados dois transformadores de corrente
(TC) JD51V, da HQSensing. A funo de um transformador de corrente utilizar o

campo eltrico oriundo da corrente eltrica que circula atravs de seu ncleo para
converter o nvel de corrente eltrica em sua entrada em um nvel de tenso eltrica em
sua sada. Atravs desse componente, o conversor analgico-digital (ADC) do CortexM4 capaz de ler instantaneamente os nveis de corrente eltrica da fase acoplada
quele TC.
Figura 15 Transformador de corrente JD51V, da HQSensing, e suas caractersticas mecnicas

(HQSENSING, 2003).
40
Nesse circuito tambm foram utilizados dois transformadores de acoplamento

220/110V 3+3V, fabricados sob medida. A funo do transformador de acoplamento
isolar o circuito a ser medido do circuito de medio e, ao mesmo tempo, atravs do
Princpio da Induo da Faraday, transformar as tenses elevadas a serem medidas em
tenses compatveis com o conversor analgico-digital do Cortex-M4.
Esse circuito tem, portanto, a responsabilidade de reproduzir as correntes e
tenses eltricas das fases por meio dos transformadores de corrente e transformadores
de acoplamento. As fases so aplicadas em seu circuito primrio, e o sinal com suas
posies vetoriais equivalentes no circuito secundrio so enviados para o circuito de
processamento de dados atravs dos pinos do Discovery-M4 PD8, PD9, PD10 e PB15
os quais compreender as entradas analgicas do Cortex-M4.
41
Figura 16 Esquema eltrico do prottipo, evidenciando o esquema de ligao do display. (OS

AUTORES, 2014).
42
Figura 17 Esquema eltrico do prottipo, evidenciando o uso dos transformadores de corrente e

transformadores de acoplamento, bem como os pinos utilizados do Discovery-M4 (OS AUTORES,
2014).
3.2.2
CIRCUITO DE PROCESSAMENTO DE DADOS

Esse circuito compreende o Kit Discovery-M4, e nele est centrado o envio de
todas as informaes do circuito de medio. Atravs do software desenvolvido pelos

integrantes deste trabalho, o Cortex-M4 contido nesse circuito faz todo o tratamento dos
dados e externaliza esses informaes em tempo real para o Circuito de Interface e
tambm gera o relatrio final de anlise de qualidade da energia eltrica.
Para a comunicao com o display de LCD so utilizados os pinos PE0, PE1,
PE2, PE3, PE4, PE5, PE6, PE7, PE8 e PE9 o quais compreendem a porta de
comunicao paralela do Cortex-M4 (SDIO) e alguns IOs adicionais requeridos para a
comunicao.
Para comunicao com o flash drive, so utilizados os pinos PA9, PA10, PA11,
PA12 e PD5 os quais compreendem a porta USB On-The-Go do microcontrolador.
43
Figura 18 Desenho mecnico do Kit Discovery-M4 (STMICROELECTRONICS, 2012).
3.2.3
CIRCUITO DE INTERFACE
No circuito de interface so apresentados todos os dados coletados e tratados

neste prottipo atravs do display LMC-STC2E16. (OS AUTORES, 2014)
O Circuito de Interface consiste na interligao entre display e Cortex-M4,
responsvel por alternar os valores apresentados no display, sendo eles: corrente e
tenso em um mesmo momento, seguido do consumo eltrico em kWh.
44
Figura 19 Viso frontal do display de LCD LMC-STC2E16, ao inicializar (ELECTROSOFTS, 2014).
3.2.4
PINOS E PERIFRICOS DO MICROCONTROLADOR

A seguir esto relacionados todos os pinos e perifricos utilizados no Cortex-
M4,
bem
como
suas
respectivas
funes:
Figura 20 Pinos do Cortex-M4 utilizados no prottipo (Adaptado de STMICROELECTRONICS, 2011).
45
Tabela 10 Pinos e perifricos do Cortex-M4 utilizados no prottipo (OS AUTORES, 2014).
N
23
68
69
70
71
15
86
26
27
17
18
15
16
13
14
11
25
54
55
56
57
59
60
61
62
Pino
PA0
PA9
PA10
PA11
PA12
PC0
PD5
PE8
PE9
PE0
PE1
PE2
PE3
PE4
PE5
PE6
PE7
PB15
PD8
PD9
PD10
PD12
PD13
PD14
PD15
Funo
SYS_WKUP
OTG_FS_VBUS
OTG_FS_ID
OTG_FS_DM
OTG_FS_DP
GPIO_Output
GPIO_Input
SDIO_D8
SDIO_D9
SDIO_D0
SDIO_D1
SDIO_D2
SDIO_D3
SDIO_D4
SDIO_D5
SDIO_D6
SDIO_D7
GPIO_Analog
GPIO_Analog
GPIO_Analog
GPIO_Analog
GPIO_Output
GPIO_Output
GPIO_Output
GPIO_Output
Finalidade
Reset do prottipo
Porta USB On-The-Go

(comunica-se com o flash
drive)
Porta paralela SDIO

(comunica-se com o
display de LCD)
Porta paralela SDIO

(comunica-se com o
display de LCD)
Entradas analgicas
(leitura dos
transformadores)
LEDs de sinalizao
genrica
3.2.5 FERRAMENTA DE DESENVOLVIMENTO IAR EMBEDDED

WORKBENCH FOR ARM
Para compilao do software escrito no microcontrolador Cortex M4, bem
como ambiente de desenvolvimento e ferramenta de depurao10 de linguagem C, foi
utilizado o IAR Embedded Workbench for ARM (EWARM). (IAR, 2014)
Essa ferramenta foi escolhida devido s facilitaes que seu ambiente de
desenvolvimento oferece durante os testes de programao. O ambiente permite, alm
de compilar o cdigo em Linguagem C e fazer o download no kit STM32F4-Discovery,
10
Depurao o processo de encontrar e reduzir defeitos num aplicativo de software ou hardware
46
observar todas as variveis declaradas em tempo real e a colocao de

breakpoints11durante a execuo do cdigo.
A Figura 21 mostra um exemplo de execuo de cdigo rodando no Cortex M4
enquanto se observa em tempo real o contedo das variveis:
Figura 21 Cdigo rodando no Cortex M4. (IAR, 2014)
3.3
SOFTWARE
O software foi desenvolvido com o objetivo principal analisar a qualidade da

energia eltrica da rede ao qual o prottipo estar acoplado. Esse mesmo software
tambm tem como objetivo mostrar dados relevantes em tempo real ao usurio, atravs
do Circuito de Interface, calcular a potencia ativa consumida em tempo real e consolidar
o relatrio de anlise de qualidade da energia eltrica ao final do perodo de leituras.
(CREDER, 2007)
11
No desenvolvimento de software, um breakpoint ou ponto de interrupo um ponto intencional de

pausa num programa para fins de depurao. Representa a possibilidade de adquirir conhecimento sobre
um programa durante sua execuo.
47
Seguindo as normas do PRODIST (2012), o software adquire dados de corrente

e tenso eltrica atravs do Circuito de Medio. A aquisio feita atravs dos
conversores analgico-digitais do Cortex-M4, em uma taxa de amostragem de 0,5
milissegundos. Os dados so armazenados em vetores para posterior anlise de VTCD
realizada a cada 16 milissegundos e TRP realizada a cada um segundo. Os
resultados estatsticos dessa anlise so consolidados em pacotes de 10 minutos, e esse
procedimento se repete 1008, totalizando uma semana consecutiva de leituras e anlises.
3.3.1
CLCULO DE VTCD
O clculo de VTCD acionado atravs da interrupo TIM112, que executada
a cada 16 milissegundos. Esse o tempo mais curto exigido pelo PRODIST para a
deteco de um evento de VTCD. Durante a execuo dessa interrupo, calculada a
raiz mdia quadrtica (RMS) das 32 ltimas leituras adquiridas pelo conversor
analgico-digital (AD) do Cortex M4. O clculo do valor RMS realizado de acordo
com a frmula a seguir:
!
1
="
32
%$&'(
Onde:
V: valor da amostra obtida (em volt);
n: contagem da ltima amostra adquirida.
A partir da tenso RMS obtida, o software capaz de avaliar se houve um

evento no ciclo analisado e utilizar essa informao para compor o relatrio de VTCDs.
Essa anlise feita constantemente durante toda a operao do analisador.
12
TIM1: interrupo do temporizador 1. Esse temporizador foi configurado para interromper a rotina
principal a cada 0,5 milissegundo.
48
3.3.2
CLCULO DE TRP
O clculo de TRP acionado atravs da interrupo TIM213, que executada a
cada um segundo. Atravs dessa interrupo calculada a raiz mdia quadrtica (RMS)
de 2000 leituras adquiridas naquele segundo pelo conversor analgico-digital (AD) do
Cortex M4. O clculo do valor RMS realizado de acordo com a frmula a seguir: (OS
AUTORES, 2014)
1
="

2000
#+++
*%(
V* #
Onde:
V: valor da amostra de tenso obtida (em volt);
A partir da tenso RMS obtida, o software capaz de avaliar em que regime de

tenso permanente a rede se encontra e utilizar essa informao para compor o relatrio
de TRP. Essa anlise feita constantemente durante toda a operao do analisador.
3.3.3
CLCULO DE POTNCIA ATIVA
A potncia ativa consumida pela residncia obtida atravs mdia aritmtica

do produto das leituras de corrente e tenso instantneas obtidas pelo Cortex M4. A
mesma interrupo TIM2, que utilizada para o clculo de TRP, utilizada para o
clculo da potncia ativa. Esse clculo feito de acordo com a frmula a seguir:
Onde:
1
=

2000
#+++
*%(
V* . ,
V: valor da amostra de tenso obtida (em volt);

I: valor da amostra de corrente obtida (em ampre);
13
TIM2: interrupo do temporizador 2. Esse temporizador foi configurado para interromper a rotina
principal a cada um segundo.
49
3.3.4
DADOS DISPONIBILIZADOS AO USURIO
A interrupo TIM2 tambm responsvel por atualizar os dados exibidos pelo

display do Circuito de Interface. Nesse display so exibidos a cada um segundo os
nveis de tenso fase-fase e os nveis de corrente eltrica medidos pelo analisador. Em
outra tela tambm exibido o consumo energtico medido. Essa funcionalidade tem o
objetivo de permitir o analisador atuar tambm como wattmetro, substituindo assim o
wattmetro convencional existente hoje nas residncias. O clculo de consumo
energtico exibido pelo Circuito de Interface dado pela frmula a seguir: (OS
AUTORES, 2014)
Onde:
-./0.1 = -.$/2
3,6 . 107
P: potncia ativa instantnea (em watt);

Eanterior: ltimo valor de energia (em quilowatt-hora).
A frmula consiste em representar a energia medida atualmente. A potncia
ativa instantnea dividida pela constante 3,6 x 106, que representa a converso de W
para kWh sendo que este valor clculo de 3600 segundos que representa uma hora.
Com a soma do valor de potncia ativa convertido para kWh somado com o valor de
energia anterior, temos a atualizao do valor de energia medido.
O fluxograma preliminar de como o software atua, em termos dos perifricos
do Cortex-M4 e de linguagem C est apresentado no Anexo E.
3.4
TESTE DE MEDIES BSICAS
Os testes foram realizados para verificar se as funes do analisador de

qualidade da energia eltrica esto sendo executadas com preciso e corretamente. (OS
AUTORES, 2014)
Para a realizao do teste foi utilizada uma mala de testes da empresa Omicron
modelo CMC356, e CMC256. Este equipamento foi escolhido para a realizao do
processo de calibrao e testes do analisador de qualidade devido alta preciso e
confiabilidade de mercado, sendo que esta mala de testes utilizada para calibrao e
50
testes de equipamentos de anlise de qualidade da energia eltrica e medidores das

principais empresas que atuam no mercado brasileiro. A Figura 21 representa a mala de
testes utilizada durante o ensaio. Para mais informaes sobre a mala de testes CMC
vide Anexo G onde est localizado o datasheet do equipamento.
Figura 22 Ilustrao da mala de testes CMC 356 (OMICRON, 2014)
3.4.1
CALIBRAO
Antes de comear o teste de medies e anlise de eventos necessrio calibrar
o analisador de qualidade da energia eltrica. O processo de calibrao foi realizado

com o objetivo de verificar se as grandezas medidas esto de acordo com o sinal
injetado pela fonte CMC356. (OS AUTORES, 2014)
Primeiramente foram calibradas as entradas de tenso, onde inicialmente foram
calibradas as entradas de tenso pelos trimpots VA e VB (Figura 23) com uma tenso
fase-neutro de 115,0V, em seguida, a tenso injetada no analisador foi reduzida para
60,0V e por fim, a tenso foi reduzida a 0V. Os valores de tenso foram programados
atravs do software Test Universe (Figura 23) da Omicron, sendo que em seu mdulo
Quick CMC os valores foram estipulados de acordo com a Figura 24.
51
Figura 23 Trimpots de calibrao das fases VA e VB (OS AUTORES, 2014)
Figura 24 Software Test Universe. (OS AUTORES, 2014)
52
Figura 25 Tela do mdulo Quick CMC (OS AUTORES, 2014)
Com as entradas de tenso calibradas, o segundo passo foi calibrar as entradas

de corrente. Com os cabos saindo da entrada de corrente da mala de testes e passando
por dentro do transformador de corrente do analisador de qualidade, atravs do campo
eltrico gerado pelo cabo de corrente, foi possvel coletar os valores de corrente, assim
ajustando os trimpots IA e IB segundo a Figura 26.
Figura 26 Trimpots de calibrao IA e IB (OS AUTORES, 2014)
53
Para calibrar as entradas de corrente, no Quick CMC, foi inserido um valor de

30,0 A, aps ajustar os trimpots de calibrao, a corrente foi reajustada para 10,0 A e
por fim em 0,0 A, sempre para cada nvel de corrente foi verificado se as medies de
correntes respeitavam ao percentual de erro definido pelo PRODIST. (OS AUTORES,
2014)
Aps a calibrao dos trimpots o analisador de qualidade da energia eltrica
apresentou linearidade das medies de tenso e corrente em relao aos valores
estipulados pela mala de testes, operando dentro do programado de 1% de percentual de
erro nas suas leituras, assim o tornando apto a medio de energia e a anlises de
qualidade da energia eltrica.
3.4.2
TESTE MEDIES BASICAS

Este teste teve como objetivo verificar se o analisador de qualidade da energia
eltrica residencial est realizando as medidas de tenso, corrente e potncia eltrica

corretamente. Este teste ser realizado com uma mala de testes Omicron com o mdulo
Quick CMC.
Com a insero das tenses em modo progressivo ser analisado a divergncia
do sinal medido em relao ao valor fornecido pela fonte, assim verificando a
porcentagem de erro durante o processo de medio que de acordo com o PRODIST
ser de 1%.
Levando em considerao que na maioria dos casos as residncias recebem
uma tenso entre fases de 230,0V na entrada das suas casas, ento foi utilizado uma
tenso base de 115V entre fase e neutro.
A Tabela 11 mostra a as tenses utilizadas para o teste de medio de tenso.
Tabela 11 Resultados dos testes de medies bsicas de tenso (OS AUTORES, 2014).
Percentual da
tenso de
referencia%
Tenso
inserida
(V)
0,0
20
46,0
40
92,0
60
138,0
80
184,0
100
230,0
54
Para os nveis de corrente sero adotados os valores contidos conforme Tabela

12, onde temos a corrente fornecida pela mala de testes. (OS AUTORES, 2014)
Tabela 12 Nveis de corrente inserida e medida durante os testes bsicos de medio (OS
AUTORES, 2014).
Corrente
inserida
(A)
0,00
1,00
5,00
10,00
15,00
20,00
25,00
30,00
Para o teste de medio de potncia, valores de potncia foram gerados pela

mala de teste, e atravs de clculos matemticos que tm como base valores de tenso e
corrente, apresentados na Tabela 13:
Tabela 13 Valores de potncia inseridos e medidos durante o teste bsico de medio (OS
AUTORES, 2014).
Potncia
inserida
(W)
0
127
254
381
508
635
55
3.4.3
TESTE TRP
Para o teste de TRP foi utilizado o mdulo State Sequencer para operar a
Omicron. Este mdulo possvel programar em blocos a sequncia de tenso e corrente

em intervalos de tempo definidos para teste. Foi utilizado para este teste uma fonte
CMC 256 devidamente certificada de acordo com o Anexo H.(OS AUTORES, 2014)
O teste consistiu em simular os regimes adequado, crtico e precrio de uma
instalao eltrica com uma tenso base de 115,0V entre os condutores fase e neutro.
Primeiramente foi inserida uma tenso de 115,0V nas fases A e B por um perodo de
10,00s.
No segundo estgio, foi inserida uma tenso de 107,0V na fase A e mantida a
tenso em regime adequado na fase B, assim entrando em um regime precrio de tenso
por um intervalo de tempo de 5,00s. Ao trmino do segundo estgio, se inicia o terceiro,
onde voltamos ao regime adequado de tenso (115,0V fases A e B) por 5,00s.
O quarto estgio foi simulado o regime de tenso crtico, onde a tenso na fase
A foi mantida em 115,0V e para a fase B foi inserida uma tenso de 90,0V por um
perodo de 5,00s.
Por fim o teste finalizado com a volta ao regime adequado de tenso, com as
fases A e B com uma tenso de 115,0V. A Figura 27 ilustra o aplicativo State
Sequencer, com o teste de TRP em evidncia que foi executado no laboratrio de testes
da empresa Schneider Electric.
Figura 27 Teste de TRP realizado no laboratrio da empresa Schneider Electric. (OS

AUTORES, 2014)
56
3.4.4
TESTE DE VTCD
Para o teste de VTCD tambm foi utilizada a mala de testes Omicron CMC 256
juntamente com o mdulo State Sequencer de acordo com o teste de TRP. Este teste foi
realizado no laboratrio de testes da empresa Schneider Electric. (OS AUTORES, 2014)
O teste consistiu em gerar eventos de tenso devidamente programados e
verificar se o analisador de qualidade da energia eltrica foi capaz de identificar estes
eventos de tenso.
Para testar toda a variedade de eventos de VTCD que possvel ser analisado,
foi necessrio ser inserido 10 blocos de programao. A Tabela 14 mostra a seqncia
de programao feita para a realizao do teste, e a Figura 28 representa a programao
dos eventos de VTCD no State Sequencer.
Primeiramente o teste foi iniciado com o valor de referncia de tenso (100,0V),
e em sequncia foi gerado eventos de VTCD e sempre em seguida do evento a mala de
testes estabiliza novamente a tenso ao seu valor de referncia para assim, gerar um
novo evento.
Os eventos gerados durante o teste foram:
Um AMT na fase A por um perodo de 500,0ms;
Uma ETT na fase B por um perodo de 5,000s;
Uma EMT na fase A e B por um perodo de 2,000s;
Um ATT comeando na fase A e finalizando na fase B com um perodo

de 4,000s.
Tabela 14 Tabela de eventos do teste de VTCD (OS AUTORES, 2014)
Variao de Tenso de Curta Durao

VTCD
Durao Fase A Fase B
Evento
15,00s
100,0V 100,0V NORMAL
500,0ms 80,00V 100,0V
AMT
15,00s
5,000s
100,0V 115,0V
ETT
15,00s 100,0V
100,0V NORMAL
2,000s
115,0V 115,0V
EMT
10,00s
2,000s
80,00V 100,0V
ATT
2,000s
100,0V 80,00V
ATT
15,00s
57
Figura 28 Teste de VTCD realizado no laboratrio da empresa Schneider Electric. (OS

AUTORES, 2014)
RESULTADOS
Com base nos testes realizados no laboratrio da empresa Schneider Electric
descrito na Seo 3.4, foi possvel analisar os dados gerados do analisador de qualidade
da energia eltrica a partir de sinais gerados por uma mala de testes certificada, onde foi
possvel chegar a concluses em relao efetividade dos testes realizados. (OS
AUTORES, 2014)
4.1
MEDIES BSICAS
Foi possvel verificar que o analisador de qualidade da energia eltrica atende as
expectativas do PRODIST. De acordo com os valores gerados atravs da mala de testes

Omicron e o software Quick CMC, as leituras de tenso, corrente e potncia foram
obtidas com uma porcentagem de erro inferior a 1% de acordo com as tabelas 15,16 e
17, juntamente com os grficos 1, 2 e 3.
58
Tabela 15 Resultados do teste de medio de tenso (OS AUTORES, 2014).
Percentual da
tenso de
referencia%
Tenso Tenso
inserida medida
(V)
(V)
% Erro
0,0
0,0
0,000%
20
46,0
46,4
0,870%
40
92,0
92,5
0,543%
60
138,0
138,5
0,362%
80
184,0
183,7
0,163%
100
230,0
230,3
0,130%
% Erro
0,60
0,50
0,40
0,30
% Erro
0,20
0,10
0,00
0
46
92
138
Tenso (V)
184
230
Grfico 1 - Percentual de erro do teste de medio de tenso (OS AUTORES, 2014)
Tabela 16 Resultados do teste de medio de corrente (OS AUTORES, 2014).
Corrente
inserida
(A)
Corrente
medida
(A)
% Erro
0,00
0,00%
1,00
1,01
0,70%
5,00
5,027
0,54%
10,00
9,961
0,39%
15,00
15,04
0,27%
20,00
20,09
0,45%
25,00
25,18
0,72%
30,00
30,26
0,87%
59
% Erro
1,00%
0,90%
0,80%
0,70%
0,60%
0,50%
0,40%
0,30%
0,20%
0,10%
0,00%
% Erro
10
15
20
Corrente (A)
25
30
Grfico 2 - Percentual de erro do teste de medio de corrente (OS AUTORES, 2014)
Tabela 17 Resultados do teste de medio potncia (OS AUTORES, 2014).
Potncia
inserida
(W)
Potncia
medida
(W)
% Erro
0,00%
127
125,9
0,87%
254
253,6
0,16%
381
380
0,26%
508
509,8
0,35%
635
638,9
0,61%
% Erro
1,00%
0,90%
0,80%
0,70%
0,60%
0,50%
0,40%
0,30%
0,20%
0,10%
0,00%
% Erro
127
254
381
Potncia (W)
508
635
Grfico 3 - Percentual de erro do teste de medio de potncia (OS AUTORES, 2014)
60
De acordo com os percentuais de erros inferiores a 1% apresentados nas tabelas

15,16 e 17 foi possvel afirmar que a seqncia de testes para aprovao das ferramentas
de anlise de qualidade da energia eltrica podem ser realizadas, pois as medies
atendem as exigncias do PRODIST. (OS AUTORES, 2014)
4.2
TRP
Aps o final do ensaio de TRP, foi analisado pelo depurador IAR que o
analisador de qualidade da energia eltrica conseguiu com preciso detectar os regimes
de operao impostos pela mala de testes CMC 256. Foi registrado via log um TRP em
regime precrios por 5,00 s e por outros 5,00 s medies em um regime crtico de
tenso, sendo que entre estes blocos de eventos gerados pela mala de testes, foi
detectada a operao em regime adequado de acordo como programado anteriormente.
Assim, o analisador de qualidade da energia eltrica se mostrou eficiente em
relao a registros de TRP, identificando corretamente o regime de operao de cada
regime de tenso de acordo com o PRODIST.
4.3
VTCD
Conforme a seqncia programada no mdulo State Sequencer, foram gerados

eventos de VTCD previstos no PRODIST, juntamente com o conceito de agregao
de tenso previsto na norma.
De acordo com a Tabela 14, o analisador de qualidade da energia eltrica
conseguiu com xito identificar um AMT na fase A com uma durao de 500,0 ms,
um a ETT na fase B com uma durao de 5,00 s, uma EMT na fase B com durao
de 2,000 s. (OS AUTORES, 2014)
Estes trs eventos comprovam que possvel identificar tais eventos de tenso
em cada uma das fases isoladamente com preciso de tempo e valor de tenso, assim
como tambm possvel identificar o tipo de evento que est ocorrendo no
determinado momento.
J o ltimo evento de um ATT que comea na fase A com um perodo de 2,000 s
e se estende na fase B por mais um perodo de 2 segundos, possvel comprovar a
61
parte da norma que nos diz sobre a agregao de tenso, que o evento comea em
uma fase e termina em outra sem que a tenso volte a sua normalidade, assim
unindo estes dois eventos em um nico evento.
De acordo com o contedo discutido acima, o analisador de qualidade da energia
eltrica est apto para identificar eventos de VTCD, devido a atender os requisitos
que a norma exige referente metodologia de identificao de eventos.
62
CONCLUSES
De acordo com a proposta deste trabalho de concluso de curso, o analisador de
qualidade da energia eltrica tem como objetivo proporcionar a concessionria de

energia e para o os clientes residenciais uma proposta de modernizao no processo de
fornecimento da energia com um baixo custo em relao ao tipo de equipamento de
medio utilizado na atualidade.
De acordo com os dados obtidos com a empresa Nansen, foi possvel comprovar
que o analisador de qualidade da energia eltrica em relao ao medidor
eletromecnico, teve uma reduo de custo de 20,19% em seu valor o tornando em
termos de custo competitivo com o mercado. Onde por meio de cotao Anexo J o custo
de um medidor eletromecnico de R$260,82 enquanto o custo para a confeco de
uma unidade do analisador de qualidade da energia eltrica foi de R$208,15 de acordo
com o anexo I. Tambm levando em considerao que este valor ainda pode ser
reduzido devido ao fato que quando um produto fabricado em grandes escalas, o custo
dos materiais tem um valor ainda mais reduzido em relao compra de componentes
na forma de varejo.
Do ponto de vista construtivo, o analisador de qualidade da energia eltrica se
destaca em relao melhoria da exibio dos dados de leitura instantneas, onde
atravs do seu display digital proporciona uma maior facilidade de leitura de dados,
mostrando de forma mais clara o consumo da energia eltrica, tambm como valores de
corrente e tenso momentnea que o medidor eletromecnico no capaz de fornecer
estes dados. Tambm como evitado um maior nmero de conexes entre a rede e o
QGF da residncia pelo fato dos transformadores de corrente ser do tipo janela, assim
passando por dentro do TC e sendo conectado diretamente ao disjuntor de proteo da
entrada da residncia.
J no ponto prtico, foi possvel comprovar que a metodologia do algoritmo
desenvolvido pelo grupo juntamente com o prottipo est de acordo com a norma do
PRODIST, onde em testes feitos em laboratrio comprovam que as grandezas bsicas
(tenso e corrente) foram medidas corretamente e via firmware o clculo de potncia
eltrica tambm obteve resultados satisfatrios.
Na parte de anlise de qualidade da energia eltrica os testes tambm foram
satisfatrios, onde foi possvel atender as exigncias do PRODIST tanto atendendo a
porcentagem de erro estabelecida pela norma, quanto metodologia de anlise de
63
regimes de operao e eventos de acordo com a seo 3.4 (testes). Os resultados so

discutidos e comprovados na seo 4 (resultados), comprovando o seu correto
funcionamento.
Para exibio dos dados de anlise de qualidade da energia eltrica, so
emitidos dois relatrios via USB, um com foco ao cliente residencial e um para a
concessionria de energia,
O relatrio para o cliente residencial consiste em exibir como est
comportamento da tenso em sua residncia por um perodo de 1008 leituras (sete dias),
exibindo graficamente o regime de tenso de operao e registros da quantidade de
eventos durante o perodo de medio de uma maneira clara para anlises breves da
energia fornecida pela concessionria de acordo com o anexo L.
J o relatrio voltado concessionria de energia, foca em mostrar
detalhadamente os registros de VTCD e TRP. Onde possvel fazer uma anlise
detalhada referente ao fornecimento de energia Anexo L. Com o objetivo de fornecer
dados para estudos de caso, com estes relatrios possvel auxiliar em possveis
problemas no fornecimento de energia, ou at mesmo prevenir possveis falhas futuras
na rede e evitar transtornos, podendo melhorar a sua imagem perante aos seus clientes.
Ento, o analisador de qualidade da energia eltrica um equipamento que
pode ser vantajoso para o cliente final, possibilitando uma maior viso sobre a
qualidade da energia fornecida. Para a concessionria de energia, suas aplicaes so
maiores, pois alm da modernizao dos seus equipamentos de medio, possvel ter
um maior controle sobre o fornecimento da energia eltrica, assim como tambm ter
uma preveno de possveis falhas na rede atravs dos relatrios de eventos gerado.
5.1
TRABALHOS FUTUROS
Prope-se para os trabalhos futuros a incluso do sistema de comunicao

Bluetooth. Obtendo assim de uma forma mais prtica os dados armazenados pelo
analisador por um tcnico de leitura ou profissional da concessionria. (OS AUTORES,
2014)
O sistema de comunicao Bluetooth seguro do ponto de vista da propagao
do sinal. Sabe-se que para emparelhar os dispositivos via Bluetooth, o alcance no
64
alto, o que para este tipo de comunicao excelente, visto que o tcnico de leitura
encontra-se prximo ao analisador no momento da aquisio dos dados.
Para que seja possvel fazer o emparelhamento entre o dispositivo de leitura do
tcnico e o analisador, necessrio a criao de um protocolo de comunicao que ser
gerenciado pela concessionria de energia, caso o cliente deseje obter o relatrio de
medio, dever entrar em contato com a mesma. Dessa forma, observa-se um sistema
de comunicao com segurana e confiabilidade.
A conexo entre o analisador e o dispositivo de comunicao da concessionria
via Bluetooth determinante para que se tenha maior facilidade no servio de medio
da concessionria de energia e eliminando a possibilidade da no realizao da leitura
da medio do cliente.
Prope-se tambm incluir a deteco de harmnicos para o ambiente residencial.
O mdulo 8 do PRODIST da ANEEL define os eventos da qualidade da energia eltrica
que podem ser considerados e estudados no sistema de distribuio.
No mdulo 8 do PRODIST, encontra-se toda a metodologia de medio, valores
de referncia e terminologia necessrios para o estudo e desenvolvimento da
identificao de harmnicos no ambiente residencial.
Embora os harmnicos ocorram no setor residencial gerem danos ao sistema
em escala menor comparado s indstrias interessante estud-lo para identificar
problemas decorrentes no sistema de distribuio de energia. Ao estudar os harmnicos
de um sistema atravs da entrada de uma residncia, possvel desenvolver uma
metodologia de anlise para otimizar e alcanar cada vez mais um sistema de
distribuio de alto desempenho, qualidade e confiabilidade.
65
BIBLIOGRAFIA
AGENCIA NACIONAL DE ENERGIA ELTRICA, Procedimentos de Distribuio

de Energia Eltrica no Sistema Eltrico Nacional (PRODIST), Norma Tcnica, v. 4,
p. 3-71, 2010.
ALBA, M., ANDRADE, A., GONZLEZ, J., GMEZ-TAGLE, J, GARCA, A. D.
FPGA Design of an efficient and low-cost smart phone interrupt controller, Latin
American Apllied Research, v. 37, p. 59-63, 2007.
CONTINGENCY PLANNING, Magazines of Business and Management, 2012.
Disponvel em: http://www.forumdaconstrucao.com.br/conteudo.php?a=28&Cod=51.
(Acessado em 06/05/2014).
CREDER, HELIO, Instalaes Eltricas (15 Edio), LTC, p 29-31, So Paulo, 2007
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66
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parmetros de qualidade - Apresentao de treinamento da Empresa Reason, slide 7,
2005.
67
ANEXOS
A.
PRODIST
Dividido em 9 mdulos, o PRODIST tem como principal funo determinar os
padres e normas dos aspectos tcnicos no que diz respeito ao desempenho e

funcionamento dos sistemas de distribuio de energia eltrica (PRODIST, 2010).
Os nove mdulos do PRODIST so:
Mdulo 1: Introduo
o Neste mdulo so definidos os propsitos gerais e a aplicabilidade dos
mdulos que integram o PRODIST.
Mdulo 2: Planejamento da Expanso do Sistema de Distribuio

o Este mdulo define as diretrizes para o planejamento da expanso do
sistema de distribuio da energia eltrica, estabelece os requisitos de
informaes necessrias para os estudos de planejamento do sistema de
distribuio, define os critrios para troca de informaes entre os
agentes envolvidos no planejamento do sistema e tambm subsidia os
estudos da ANEEL para definio de regulamentos especficos.
Mdulo 3: Acesso ao Sistema de Distribuio

o Estabelece as condies de acesso, conexo e uso do sistema de
distribuio e tambm define critrios tcnicos e operacionais, requisitos
de projeto, dentre outros aspectos aplicados aos novos e existentes do
sistema de distribuio de energia eltrica.
Mdulo 4: Procedimentos Operativos do Sistema de Distribuio

o Neste modulo so estabelecidos os procedimentos de operao do
sistema de distribuio de energia eltrica para distribuidoras e demais
agentes, alm de estabelecer procedimentos para o relacionamento entre
os centros de operao das distribuidoras, transmissoras e demais rgos
de operao e tambm define os recursos para comunicao tanto de voz
quanto de dados entre os rgos de operao dos agentes envolvidos.
Mdulo 5: Sistemas de Medio

o Estabelece os requisitos para medio de grandezas eltricas do sistema
de distribuio de energia eltrica. Os procedimentos para manuteno e
instalao do sistema de medio nos padres necessrios e verifica que
as disposies esto de acordo com as legislaes vigentes, exigncias do

INMETRO e normas tcnicas da ABNT.
Mdulo 6: Informaes Requeridas e Obrigaes

o Este mdulo detalha a forma que as informaes sero trocadas entre
distribuidoras, acessantes, demais agentes e entidades do setor eltrico.
Mdulo 7: Clculo de Perdas na Distribuio

o Estabelece a metodologia e procedimentos para obteno dos dados para
apurao das perdas no sistema de distribuio de energia eltrica, bem
como define os indicadores e estabelece a metodologia para avaliao e
apurao das perdas no sistema de distribuio de energia eltrica.
Mdulo 8: Qualidade da Energia Eltrica

o O mdulo de Qualidade da Energia Eltrica QEE - traz os
procedimentos para os parmetros de QEE que deve ser fornecida pelas
distribuidoras, contemplando tambm a qualidade do servio prestado e
do produto fornecido.
o No aspecto de qualidade do produto, o mdulo 8 determina a
nomenclatura, bem como as caractersticas dos fenmenos, parmetros e
valores com relao TRP Tenso em Regime Permanente e
interferncias nas ondas de tenso, gerando assim mtodos que permitem
a criao de padres para a QEE.
o Quanto qualidade dos servios prestados, o modulo define as rotinas,
padres e responsabilidades para verificao dos indicadores de
continuidade do fornecimento, bem como atendimentos realizados em
carter emergencial.
Mdulo 9: Ressarcimento de Danos Eltricos

o Este mdulo estabelece os procedimentos que devem ser observados
pelas distribuidoras para anlise de processos de ressarcimento de danos
eltricos.
Alm dos mdulos anteriormente citados, o PRODIST ainda possui a Cartilha de
Acesso ao Sistema de Distribuio que apresenta conceitos bsicos em forma de

perguntas e respostas relacionados ao processo de acesso ao sistema de distribuio de
energia eltrica.
Neste trabalho, foi abordado somente o Mdulo 8 Qualidade da Energia

Eltrica pois o mdulo que se aplica diretamente ao Analisador de Qualidade da
Energia Eltrica.
OBJETIVOS DO PRODIST
O PRODIST foi criado com objetivo de regulamentar o relacionamento e
atividades do aspecto tcnico entre agentes do setor eltrico e as distribuidoras, tambm
chamadas de concessionrias ou permissionrias de energia, incluindo todas as linhas de
transmisso alimentadas com tenso inferior a 230 kV (PRODIST, 2010).
Conforme cita o Mdulo I, Reviso 6 do PRODIST, os principais objetivos so:
Garantir que os sistemas de distribuio operem com segurana, eficincia,

qualidade e confiabilidade;
Propiciar o acesso aos sistemas de distribuio, assegurando tratamento no

discriminatrio entre agentes;
Disciplinar os procedimentos tcnicos para as atividades relacionadas ao

planejamento da expanso, operao dos sistemas de distribuio,
medio e qualidade da energia eltrica;
Estabelecer requisitos mnimos para a troca de informaes entre os agentes

do setor eltrico (geradores, distribuidores, consumidores.);
Assegurar o fluxo de informaes adequadas ANEEL;
Disciplinar os requisitos tcnicos na interface com a Rede Bsica,

complementando de forma harmnica os Procedimentos de Rede.
MDULO 8
O Mdulo 8 do PRODIST trata de Qualidade da Energia Eltrica, estabelecendo
todos os procedimentos relacionados ao aspecto Qualidade da Energia eltrica (QEE),
tratando tambm sobre qualidade do produto e do servio prestado (PRODIST, 2010).
No parmetro de qualidade do produto, o Mdulo 8 do PRODIST define
principalmente parmetros, valores de referencia relacionados conformidade de tenso
em regime permanente, possibilitando a ANEEL fixar padres para indicadores de
Qualidades da Energia Eltrica (PRODIST 2010).
Quanto ao parmetro de qualidade de servio prestado, o Mdulo 8 estabelece

toda a metodologia para apurar os indicadores de continuidade e tambm tempo de
atendimento s ocorrncias, definindo os padres e delegando responsabilidades.
O Mdulo 8 teve sua primeira verso publicada em 31/12/2008 e at a presente
data passou por 4 revises, alm das 4 revises j publicadas, j est prevista a 5
reviso com incio da vigncia para 01/01/2015.
O Mdulo 8 composto de 4 sees:
Introduo;
Qualidade do Produto;
Qualidade do Servio;
Disposies Transitrias;
A seguir abordado os assuntos inseridos em cada seo, excetuando a seo de

Disposies Transitrias, pois seu contedo no se aplica a este Trabalho de
Concluso de Curso.
ABRANGNCIA DO PRODIST
O PRODIST foi desenvolvido pela ANEEL e tem impacto em todos os mbitos
dos sistemas de energia eltrica:
Consumidores;
Geradores de Energia;
Concessionrias de Energia;
Importadores e exportadores de energia eltrica;
Transmissoras de Energia;
ONS Operador Nacional do Sistema.
Neste Trabalho de Concluso de Curso, o PRODIST ser abordado de forma

voltada s atribuies dos Consumidores de Energia e Distribuidoras de Energia, pois o
Analisador de Qualidade da Energia Eltrica tm sua aplicao voltada a estas
categorias (PRODIST, 2010).
QUALIDADE DO PRODUTO
Esta seo que trata sobre Qualidade do Produto demonstra as caractersticas
dos fenmenos relacionados QEE e tambm estabelece os critrios necessrios para
amostragens, valores de referencia e demais procedimentos relacionados qualidade do

produto, neste caso, a Energia Eltrica (PRODIST, 2010).
Para que seja possvel analisar a Qualidade da Energia Eltrica em Regime
Permanente ou Transitrio necessrio observar:
1. Tenso em Regime Permanente;
2. Fator de Potncia;
3. Harmnicos;
4. Desequilbrio de Tenso;
5. Flutuao de Tenso;
6. Variaes de Tenso de Curta Durao;
7. Variao de Freqncia.
Os Desequilbrios de Tenso so diferenas de potencial entre as fases de
distribuio da rede eltrica e podem ocorrer em sistemas trifsicos.
Harmnicos so distrbios causados por cargas indutivas ou capacitivas, que so
cargas que alteram as ondas de corrente e tenso eltrica com relao ao valor da
freqncia fundamental da rede.
J o Fator de Potncia a relao entre a potncia ativa em Watts e a potncia
total do sistema expressa em volt-ampre.
Em ambientes residenciais normalmente no so utilizados muitos dispositivos
capacitivos ou indutivos que possam criar uma diferena de fase significativa entre as
ondas de tenso e corrente e residncias so alimentadas com sistemas eltricos
bifsicos e no trifsicos que normalmente so utilizados em indstrias. Como este
analisador de qualidade da energia eltrica tem foco ao consumidor residencial, no
sero considerados os parmetros de Desequilbrios de Tenso, Harmnicos e Fator de
Potncia para este Trabalho de Concluso de Curso.
QUALIDADE DO SERVIO
Esta seo estabelece os procedimentos referentes qualidade do servio
prestado pelas transmissoras aos consumidores e distribuidoras e tambm define
indicadores e padres de qualidade de servio, sendo:
Acompanhar e controlar o desempenho do servio prestado pelas

distribuidoras e transmissoras de energia eltrica;
Subsidiar tecnicamente planos de reforma da rede eltrica, melhoramento e

expanso da infraestrutura das distribuidoras com a finalidade de obter um
sistema eltrico estvel e com alta confiabilidade;
Oferecer aos consumidores parmetros para que atravs destes, possam ser
analisados os servios prestados pelas concessionrias de energia, fazendo com que o
atendimento e servio prestado seja de qualidade e satisfatrio (PRODIST, 2010).
B.
DATASHEET DISPLAY LMC-S2E16
C.
DATASHEET TC JD51V
D.
DATASHEET LM7805
E.
FLUXOGRAMA DO PROJETO
Rotinas de inicializao
Inicializar perifricos internos:

1. GPIO
a. SDIO
b. A/D
2. OTG
3. TIMs
a. TIM1 (500 s)
b. TIM2 (16 ms)
c. TIM3 (1 s)
d. TIM4 (600 s)
Inicializar perifricos externos:

1. Display
Inicializar display (SDIO)
Inicializar perifricos externos:

2. Pendrive
Inicializar display (SDIO)
Se no conectado
(retorna erro)
Se no conectado:
(solicita pendrive)
Rotina principal
Rotina principal
Em anlise
V
F
1. Inicia anlise
Dezena de minuto
V
F
TIM4, ao estourar
1.200.000 (10 min)
1. Consolida pacote
V
F
Encerra
1. Consolida relatrio
2. Gera histograma
1008 ciclos
V
F
Encerra
Interrupes
1. INT1:
(a interrupo ocorre a cada
500 s)
2. INT2:
TIM2, ao estourar 32
16 ms)
1. Leitura do AD de cada fase, tenso e corrente;

2. Conta se a leitura uma potncia instantnea
ativa ou reativa;
1. Calcula a tenso RMS do ltimo ciclo, para casa

fase;
3. INT3:
TIM3, ao estourar 2.000
01 s)
1. Calcula a tenso e a corrente RMS do ltimo

segundo, para casa fase;
2. Calcula o fator de potncia do ltimo segundo;
3. Avalia VTCD;
4. Avalia TRP;
4. INT4:
I/Os do display
1. Atualiza display
Avalia VTCD
Interrupo temporria
Vsegundo < 10%
V
F
Afundamento temporrio
10% < Vsegundo < 90%
V
F
Elevao temporria
110% < Vsegundo
V
F
Interrupo momentnea
Vciclo < 10%
V
F
Afundamento momentneo
10% < Vciclo < 90%
V
F
Elevao momentnea
110% < Vciclo
V
F
Retorna
Avalia TRP
Crtica
V < 93% ou 107% < V
V
F
Precria
93% < V < 95%
ou 105% < V < 107%
V
F
Adequada
Retorna
F.
LINHAS DE PROGRAMAO DO SOFTWARE DO ANALISADOR
****************************************************************
**************
* @file ADC3_DMA/main.c
* @author MCD Application Team
* @version V1.0.0
* @date 19-September-2011
* @brief Main program body
**********************************************************************
********
* @attention
*
* THE PRESENT FIRMWARE WHICH IS FOR GUIDANCE ONLY AIMS
AT PROVIDING CUSTOMERS
* WITH CODING INFORMATION REGARDING THEIR PRODUCTS IN
ORDER FOR THEM TO SAVE
* TIME. AS A RESULT, STMICROELECTRONICS SHALL NOT BE HELD
LIABLE FOR ANY
* DIRECT, INDIRECT OR CONSEQUENTIAL DAMAGES WITH
RESPECT TO ANY CLAIMS ARISING
* FROM THE CONTENT OF SUCH FIRMWARE AND/OR THE USE
MADE BY CUSTOMERS OF THE
* CODING INFORMATION CONTAINED HEREIN IN CONNECTION
WITH THEIR PRODUCTS.
*
*
<h2><center>©
COPYRIGHT
2011
STMicroelectronics</center></h2>
**********************************************************************
********
*/
/* Includes ------------------------------------------------------------------*/
#include "stm32f4_discovery.h"
#include <stdio.h>
/** @addtogroup STM32F4_Discovery_Peripheral_Examples

* @{
*/
/** @addtogroup ADC_ADC3_DMA

* @{
*/
/* Private typedef -----------------------------------------------------------*/

/* Private define ------------------------------------------------------------*/
#define ADC3_DR_ADDRESS
((uint32_t)0x4001224C)
/* Private macro -------------------------------------------------------------*/

/* Private variables ---------------------------------------------------------*/
GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStructure;
TIM_TimeBaseInitTypeDef TIM_TimeBaseStructure;
/* You can
monitor the converted value by adding the variable
"ADC3ConvertedValue"
to the debugger watch window */
__IO float rmsV;
__IO float EkWh;
__IO float rmsIa;
__IO float rmsIb;
__IO uint16_t DisplayStat;

__IO uint16_t ADC3ConvertedValue[3];
__IO uint16_t T;
/* Private function prototypes -----------------------------------------------*/

void TIM_Config(void);
void ADC3_CH12_DMA_Config(void);
/* Private functions ---------------------------------------------------------*/

/**
* @brief Main program

* @param None
* @retval None
*/
int main(void)
{
/*At this stage the microcontroller clock setting is already configured,
this is done through SystemInit() function which is called from startup
file (startup_stm32f4xx.s) before to branch to application main.
To reconfigure the default setting of SystemInit() function, refer to
system_stm32f4xx.c file
*/
/* TIM Configuration */
TIM_Config();
/* TIM3 Configuration: Output Compare Timing Mode:
In this example TIM3 input clock (TIM3CLK) is set to 2 * APB1 clock

(PCLK1),
since APB1 prescaler is different from 1.
TIM3CLK = 2 * PCLK1
PCLK1 = HCLK / 4
=> TIM3CLK = HCLK / 2 = SystemCoreClock /2
*/
/* Time base configuration */

TIM_TimeBaseStructure.TIM_Period = 35999;
TIM_TimeBaseStructure.TIM_Prescaler = 1;
TIM_TimeBaseStructure.TIM_ClockDivision = 0;
TIM_TimeBaseStructure.TIM_CounterMode = TIM_CounterMode_Up;
TIM_TimeBaseInit(TIM3, &TIM_TimeBaseStructure);
/* TIM Interrupts enable */

TIM_ITConfig(TIM3, TIM_IT_Update , ENABLE);
/* TIM3 enable counter */

TIM_Cmd(TIM3, ENABLE);
/*
ADC3
configuration
*******************************************************/
/* - Enable peripheral clocks
*/
/* - DMA2_Stream0 channel2 configuration
*/
/* - Configure ADC Channel12 pin as analog input

/* - Configure ADC3 Channel12
ADC3_CH12_DMA_Config();
/* Start ADC3 Software Conversion */

ADC_SoftwareStartConv(ADC3);
while (1)
{
}
}
/**
* @brief ADC3 channel12 with DMA configuration
* @param None
*/
*/
* @retval None
*/
void ADC3_CH12_DMA_Config(void)
{
ADC_InitTypeDef
ADC_InitStructure;
ADC_CommonInitTypeDef ADC_CommonInitStructure;
DMA_InitTypeDef
DMA_InitStructure;
GPIO_InitTypeDef
GPIO_InitStructure;
/*
ADC3,
Enable
DMA2
and
GPIO
clocks
****************************************/
RCC_AHB1PeriphClockCmd(RCC_AHB1Periph_DMA2
RCC_AHB1Periph_GPIOA | RCC_AHB1Periph_GPIOC | RCC_AHB1Periph_GPIOE,

ENABLE);
RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_ADC3, ENABLE);
/*
DMA2
Stream0
channel0
configuration
**************************************/
DMA_InitStructure.DMA_Channel = DMA_Channel_2;
DMA_InitStructure.DMA_PeripheralBaseAddr
(uint32_t)ADC3_DR_ADDRESS;
DMA_InitStructure.DMA_Memory0BaseAddr
(uint32_t)&ADC3ConvertedValue[0];
DMA_InitStructure.DMA_DIR = DMA_DIR_PeripheralToMemory;
DMA_InitStructure.DMA_BufferSize = 4;
DMA_InitStructure.DMA_PeripheralInc = DMA_PeripheralInc_Disable;
DMA_InitStructure.DMA_MemoryInc = DMA_MemoryInc_Enable;
DMA_InitStructure.DMA_PeripheralDataSize
DMA_PeripheralDataSize_HalfWord;
DMA_InitStructure.DMA_MemoryDataSize
DMA_MemoryDataSize_HalfWord;
DMA_InitStructure.DMA_Mode = DMA_Mode_Circular;
DMA_InitStructure.DMA_Priority = DMA_Priority_High;
DMA_InitStructure.DMA_FIFOMode = DMA_FIFOMode_Disable;
DMA_InitStructure.DMA_FIFOThreshold = DMA_FIFOThreshold_HalfFull;
DMA_InitStructure.DMA_MemoryBurst = DMA_MemoryBurst_Single;
DMA_InitStructure.DMA_PeripheralBurst = DMA_PeripheralBurst_Single;
DMA_Init(DMA2_Stream0, &DMA_InitStructure);
DMA_Cmd(DMA2_Stream0, ENABLE);
/*
Configure
ADC3
Channel12
pin
as
analog
input
******************************/
GPIO_InitStructure.GPIO_Pin = GPIO_Pin_2 | GPIO_Pin_3;
GPIO_InitStructure.GPIO_Mode = GPIO_Mode_AN;
GPIO_InitStructure.GPIO_PuPd = GPIO_PuPd_NOPULL ;
GPIO_Init(GPIOC, &GPIO_InitStructure);
GPIO_Init(GPIOA, &GPIO_InitStructure);
/*
Configure
GPIOE
port
as
push-pull
output
**********************************/
GPIO_InitStructure.GPIO_Pin = 0x03FF;
GPIO_InitStructure.GPIO_Mode = GPIO_Mode_OUT;
//GPIO_InitStructure.GPIO_OType = GPIO_OType_PP;
GPIO_InitStructure.GPIO_PuPd = GPIO_PuPd_NOPULL;
GPIO_InitStructure.GPIO_OType = GPIO_OType_OD;
//GPIO_InitStructure.GPIO_PuPd = GPIO_PuPd_UP;
GPIO_Init(GPIOE, &GPIO_InitStructure);
/*
ADC
Common
Init
***********************************************************/
ADC_CommonInitStructure.ADC_Mode = ADC_Mode_Independent;
ADC_CommonInitStructure.ADC_Prescaler = ADC_Prescaler_Div2;
ADC_CommonInitStructure.ADC_DMAAccessMode
ADC_DMAAccessMode_Disabled;
ADC_CommonInitStructure.ADC_TwoSamplingDelay
ADC_TwoSamplingDelay_5Cycles;
ADC_CommonInit(&ADC_CommonInitStructure);
/*
ADC3
Init
****************************************************************/
ADC_InitStructure.ADC_Resolution = ADC_Resolution_12b;
ADC_InitStructure.ADC_ScanConvMode = ENABLE;
ADC_InitStructure.ADC_ContinuousConvMode = ENABLE;
ADC_InitStructure.ADC_ExternalTrigConvEdge
ADC_ExternalTrigConvEdge_None;
ADC_InitStructure.ADC_DataAlign = ADC_DataAlign_Right;
ADC_InitStructure.ADC_NbrOfConversion = 4;
ADC_Init(ADC3, &ADC_InitStructure);
/*
ADC3
regular
channel12
configuration
*************************************/
ADC_RegularChannelConfig(ADC3,
ADC_Channel_12,
1,
ADC_Channel_13,
2,
ADC_Channel_2,
3,
ADC_Channel_3,
4,
ADC_SampleTime_15Cycles);
/* Enable DMA request after last transfer (Single-ADC mode) */

ADC_DMARequestAfterLastTransferCmd(ADC3, ENABLE);
/* Enable ADC3 DMA */

ADC_DMACmd(ADC3, ENABLE);
/* Enable ADC3 */
ADC_Cmd(ADC3, ENABLE);
void TIM_Config(void)
{
NVIC_InitTypeDef NVIC_InitStructure;
/* TIM3 clock enable */

RCC_APB1PeriphClockCmd(RCC_APB1Periph_TIM3, ENABLE);
/* Enable the TIM3 gloabal Interrupt */

NVIC_InitStructure.NVIC_IRQChannel = TIM3_IRQn;
NVIC_InitStructure.NVIC_IRQChannelPreemptionPriority = 0;
NVIC_InitStructure.NVIC_IRQChannelSubPriority = 1;
NVIC_InitStructure.NVIC_IRQChannelCmd = ENABLE;
NVIC_Init(&NVIC_InitStructure);
}
#ifdef USE_FULL_ASSERT
/**
* @brief Reports the name of the source file and the source line number
*
where the assert_param error has occurred.
* @param file: pointer to the source file name

* @param line: assert_param error line source number
* @retval None
*/
void assert_failed(uint8_t* file, uint32_t line)
{
/* User can add his own implementation to report the file name and line
number,
ex: printf("Wrong parameters value: file %s on line %d\r\n", file, line) */
/* Infinite loop */
while (1)
{
}
}
#endif
/**
* @}
*/
/**
* @}
*/
/*******************
(C)
COPYRIGHT
*****END OF FILE****/
#include "stm32f4_discovery.h"
#include <stdio.h>
static __IO uint16_t significative = 0;

static __IO uint16_t num = 0;
extern __IO uint16_t T;
extern __IO uint16_t DisplayStat;
static uint16_t str[10];
extern __IO float rmsV;

extern __IO float EkWh;
extern __IO float rmsIa;
extern __IO float rmsIb;
void InitDisplay()
{
if (DisplayStat == 0)
2011
STMicroelectronics
{
if (T == 1) GPIO_ToggleBits(GPIOE, GPIO_Pin_9);
if (T == 20) GPIO_Write(GPIOE, 0x0038 | GPIO_Pin_9);
if (T == 60) GPIO_Write(GPIOE, 0x0000);
if (T == 180) GPIO_Write(GPIOE, 0x000E | GPIO_Pin_9);
if (T == 1000) DisplayStat = 1;
}
else
{
if (DisplayStat == 1)
{
if (T == 1)
{
num
= (uint16_t)(rmsV * 100);
str[0] = (uint16_t)(num / 10000 + 48);

if (str[0] == 48 && significative == 0) str[0] = 32;
else significative = 1;
num %= 10000;
str[1] = (uint16_t)(num / 1000 + 48);
num %= 1000;
str[2] = (uint16_t)(num / 100 + 48);
num %= 100;
str[3] = (uint16_t)(num / 10 + 48);
num %= 10;
str[4] = (uint16_t)(num + 48);
num
= (uint16_t)((rmsIa + rmsIb) * 10);

str[5] = (uint16_t)(num / 100 + 48);
if (str[5] == 48) str[5] = 32;
num %= 100;
str[6] = (uint16_t)(num / 10 + 48);
num %= 10;
str[7] = (uint16_t)(num + 48);
}
if (T == 8) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('T') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
if (T == 10) GPIO_Write(GPIOE, 0x0000| GPIO_Pin_8);
if (T == 12) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('e') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
if (T == 16) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('n') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
if (T == 20) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('s') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
if (T == 24) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('a') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
if (T == 28) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('o') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
if (T == 32) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)(' ') | GPIO_Pin_8 |

GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
if (T == 40) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('C') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
if (T == 44) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('o') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
if (T == 48) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('r') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);

GPIO_Pin_9);
if (T == 64) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('t') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);

if (T == 73) GPIO_Write(GPIOE, 0x00C0 | GPIO_Pin_9);

if (T ==
78) GPIO_Write(GPIOE, str[0] | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
if (T ==
GPIO_Pin_9);

if (T ==
GPIO_Pin_9);
if (T == 90) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('.') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
if (T ==
GPIO_Pin_9);
if (T ==
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
if (T == 106) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('V') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);

GPIO_Pin_9);
if (T == 118) GPIO_Write(GPIOE, str[5] | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
if (T == 138) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('A') | GPIO_Pin_8 |

GPIO_Pin_9);

}
else
{
if (T == 1)
{
num
= (uint16_t)(EkWh * 10);
str[0] = (uint16_t)(num / 10000000000 + 48);

num %= 10000000000;
str[1] = (uint16_t)(num / 1000000000 + 48);
num %= 1000000000;
str[2] = (uint16_t)(num / 100000000 + 48);
num %= 100000000;
str[3] = (uint16_t)(num / 10000000 + 48);
num %= 10000000;
str[4] = (uint16_t)(num / 1000000 + 48);

num %= 1000000;
str[5] = (uint16_t)(num / 100000 + 48);
num %= 100000;
str[6] = (uint16_t)(num / 10000 + 48);
num %= 10000;
str[7] = (uint16_t)(num / 1000 + 48);
num %= 1000;
str[8] = (uint16_t)(num / 100 + 48);
num %= 100;
str[9] = (uint16_t)(num / 10 + 48);
num %= 10;
str[10] = (uint16_t)(num + 48);
if (T == 8) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('E') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
if (T == 24) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('g') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
if (T == 28) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('i') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);

if (T == 32) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('a') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);

GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);

if (T == 73) GPIO_Write(GPIOE, 0x00C0 | GPIO_Pin_9);

if (T ==
GPIO_Pin_9);
if (T ==
GPIO_Pin_9);

if (T ==
GPIO_Pin_9);
if (T ==
GPIO_Pin_9);
if (T ==
GPIO_Pin_9);
if (T ==
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);

GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
GPIO_Pin_9);
if (T == 130) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('k') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
if (T == 134) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('W') | GPIO_Pin_8
| GPIO_Pin_9);

if (T == 138) GPIO_Write(GPIOE, (uint16_t)('h') | GPIO_Pin_8 |
GPIO_Pin_9);
}
}
}
/**
G.
DATASHEET OMICRON CMC356
H.
CERTIFICADO DE CALIBRAO OMICRON
I.
LISTA DE MATERIAIS UTILIZADOS
Qtd. Unidade
4
4
1
1
1
1
1
1
1
1
2
1
2
1
3
4
2
1
6
un
un
un
un
un
un
un
un
un
un
un
un
un
m
un
un
un
un
un
Item
Trimpot 100
Diodo 1N4007
Potenciometro 10 k
Resistor 10 k
Resistor 1 k
Rede Resistiva 10 k
Capacitor Eletroltico 10 f
Capacitor Cermico 100 nF
Regulador de Tenso LM7805
Kit Discovery STM32F4
Transformador de Corrente JD51V
Display LMC-S2E16
Transformador 3+3V
Flat Cable 50 vias
Borne SAK 2,5
Borne SAK 10
Tampa SAK 10
Tampa SAK 2,5
Poste Final EW 35
TOTAL
Valor
Unitrio
R$
0,50
R$
0,10
R$
2,00
R$
0,10
R$
0,10
R$
0,60
R$
0,10
R$
0,05
R$
4,00
R$ 84,00
R$ 10,00
R$ 22,00
R$ 10,00
R$
7,50
R$
1,95
R$
6,00
R$
2,95
R$
2,95
R$
1,10
Valor Total
R$
R$
R$
R$
R$
R$
R$
R$
R$
R$
R$
R$
R$
R$
R$
R$
R$
R$
R$
2,00
0,40
2,00
0,10
0,10
0,60
0,10
0,05
4,00
84,00
20,00
22,00
20,00
7,50
5,85
24,00
5,90
2,95
6,60
R$
208,15
J.
COTAO REALIZADA JUNTO EMPRESA NANSEN
K.
DATASHEET MEDIDOR NANSEN
L.
RELATORIOS DE VTCD E TRP
M.
DATASHEET CORTEX M4
N.
DIAGRAMA DE GANTT

Analisador de Qualidade Da Energia Elétrica

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UNIVERSIDADE ANHEMBI MORUMBI

AFFONSO TRUDE CINTRA

ANALISADOR DE QUALIDADE DA ENERGIA

UNIVERSIDADE ANHEMBI MORUMBI

ANALISADOR DE QUALIDADE DA ENERGIA

Trabalho de Concluso de Curso

Orientador: Prof. Ricardo de Almeida Pinto

Figura 26 Trimpots de calibrao IA e IB ...................................................................... 53

LISTA DE ABREVIATURAS E SIGLAS

ABNT Associao Brasileira de Normas Tcnicas;

RAM Random Access Memory;

ABRANGNCIA DO TEMA .............................................................. 14

TENSO EM REGIME PERMANENTE ........................................... 21

2.2.1 METODOLOGIA PARA APURAO ........................................ 22

VARIAO DE TENSO DE CURTA DURAO......................... 28

2.3.1 INTRODUO .............................................................................. 29

MICROCONTROLADORES E SISTEMAS EMBARCADOS .......... 35

3.1.1 O CORTEX-M4 .............................................................................. 37

3.2.1 CIRCUITO DE MEDIO ............................................................ 40

3.2.4 PINOS E PERIFRICOS DO MICROCONTROLADOR ............ 45

3.3.1 CLCULO DE VTCD.................................................................... 48

TESTE DE MEDIES BSICAS ..................................................... 50

3.4.1 CALIBRAO ............................................................................... 51

MEDIES BSICAS ........................................................................ 58

TRABALHOS FUTUROS ................................................................... 64

DATASHEET DISPLAY LMC-S2E16

DATASHEET OMICRON CMC356

CERTIFICADO DE CALIBRAO OMICRON

I. LISTA DE MATERIAIS UTILIZADOS

COTAO REALIZADA JUNTO EMPRESA NANSEN

DATASHEET MEDIDOR NANSEN

RELATORIOS DE VTCD E TRP

Este trabalho de concluso de curso apresenta um analisador de qualidade da

Palavras chave: Medidor, qualidade, tenso, analisador, energia.

Keywords: Meter, quality, voltage, analyzer, electrical energy.

consumidor residencial, visto que atualmente o mercado enfatiza apenas o segmento

Desde o surgimento dos equipamentos eletrnicos digitais nos anos 1960,

A ANEEL foi criada em 1996, momento em que a distribuio da energia

A Figura 2 na pgina 16 mostra 3 Histogramas de Tenso obtidos atravs do

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Figura 3 IHM do RE7000, da Embrasul, permite o usurio navegar entre os principais

Como descrito nessa sesso, so comuns no mercado de medidores e

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TENSO EM REGIME PERMANENTE

o comportamento da tenso e da corrente podem ser divididos em duas etapas: o regime

A estabilizao da tenso eltrica em um regime permanente de fundamental

METODOLOGIA PARA APURAO

conformidade de nveis de tenso em regime permanente e tambm os prazos para

comercializao da energia eltrica. Atravs do mdulo 8 do PRODIST a ANEEL

DRP = durao para transgresso de tenso precria;

DRC = durao para transgresso de tenso crtica;

DRPE = durao relativa de transgresso de tenso precria equivalente;

DRCE = durao relativa de transgresso de tenso crtica equivalente;

NL = nmero total de unidades consumidoras da amostra.

Quando o nvel da tenso observado precrio, a concessionria tem um prazo

automaticamente at que o problema seja solucionado ou ento a concessionria pode

Tabela 2 Pontos de conexo em Tenso Nominal igual ou inferior a 1 kV (220/127) (PRODIST,2010)

Tabela 3 Pontos de conexo em Tenso Nominal igual ou inferior a 1 kV (380/220) (PRODIST,2010)

Tabela 4 Pontos de conexo em Tenso Nominal igual ou inferior a 1 kV (254/127) (PRODIST,2010)

Tabela 5 Pontos de conexo em Tenso Nominal igual ou inferior a 1 kV (440/220) (PRODIST,2010)

Tabela 6 Pontos de conexo em Tenso Nominal igual ou inferior a 1 kV (208/120) (PRODIST,2010)

Tabela 7 Pontos de conexo em Tenso Nominal igual ou inferior a 1 kV (230/115) (PRODIST,2010)