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) e da
Onde: n= nmero de amostras (observaes) em cada subgrupo
R = X mx X mn
eR
D4
3.267 2.575 2.282 2.115 2.004 1.777 1.653 1.585 1.541
c4
0.798 0.886 0.921 0.940 0.952 0.973 0.982 0.987 0.990
d2
1.128 1.693 2.059 2.326 2.534 3.078 3.472 3.735 3.931
d3
0.853 0.888 0.88 0.864 0.848 0.797 0.756 0.729 0.708
A2
1.880 1.023 0.729 0.577 0.483 0.308 0.223 0.180 0.153
A3
2.659 1.954 1.628 1.427 1.287 0.975 0.789 0.680 0.606
B3
0 0 0 0 0.030 0.248 0.428 0.510 0.565
B4
3.267 2.568 2.266 2.089 1.970 1.716 1.572 1.490 1.435
D3
0 0 0 0 0 0.223 0.347 0.415 0.459
1.)
Monitorar
3.)
Variabilidade
o conjunto de diferenas nas medidas (cor, espessura, peso, densidade, etc) presentes nos produtos ou servios resultantes de qualquer atividade.
Houver 2 pontos, em 3 sucessivos, de um mesmo lado da linha central, na zona A ou acima desta; 4 pontos, em 5 sucessivos, de um mesmo lado da linha central, na zona B ou acima desta; 9 pontos sucessivos de um mesmo lado da linha central; 6 pontos consecutivos, ascendentes ou descendentes; 14 pontos em uma srie, alternando para cima e para baixo; 15 pontos em uma srie, dentro da zona C (acima ou abaixo da linha central).
4 pontos (de 5) acima (ou abaixo) da metade da faixa superior (ou inferior) de controle
8 pontos em seqncia, alternados acima e abaixo da linha central e nenhum deles prximo ao centro
Em qualquer um desses casos, deve-se observar e investigar o que mudou e, possivelmente, fazer ajustes no processo.
3. 4.
No h seqncia de sete pontos em um dos lados da linha mdia; No h seqncia de sete (ou mais) consecutivos crescente ou decrescente.
5. pontos
C.
A.
0,5 20-Ago 21-Ago 22-Ago 23-Ago 25-Ago 26-Ago 27-Ago 28-Ago 29-Ago 30-Ago 31-Ago 2-Se t 3-Se t 4-Se t 20-Ago 21-Ago 22-Ago 23-Ago 25-Ago 26-Ago 27-Ago 28-Ago 29-Ago 30-Ago 31-Ago 2-Se t 3-Se t 4-Se t
1,5 1
2,5 2
5 4,5
5,5
0,50
1,00
1,50
2,00
2,50
3,00
3,50
4,00
23-Ago 25-Ago 26-Ago 27-Ago 28-Ago 29-Ago 30-Ago 31-Ago 2-Se t 3-Se t 4-Se t
Mdia
%O2
LIC
LSC
Mdia
%O2
D.
B.
0,00
0,50
1,00
1,50
2,50
20-Ago 21-Ago 22-Ago
0,5
1,5
2,5
3,5
4,5
23-Ago 25-Ago 26-Ago 27-Ago 28-Ago 29-Ago 30-Ago 31-Ago 2-Se t 3-Se t 4-Se t
LIC
LSC
Mdia
%O2
Exerccio: construir as cartas x e R para os dados: variaes na dimenso de uma pea, em mm.
Hora
Amostras
8:00 -2 -2 0 0 -2
8:30 +1 0 -1 -1 +1
9:00 +3 +1 -3 +1 0
9:30 +2 +3 +5 +2 +2
10:00 -4 -3 0 +1 +3
10:30 0 0 -1 +1 -4
11:00 -1 +1 +2 -1 +3
11:30 -3 +2 -2 +1 +1
12:00 -6 +2 0 +4 +4
12:30 +2 -1 0 +1 +1
1 2 3 4 5
R
eR
D4
3.267 2.575 2.282 2.115 2.004 1.777 1.653 1.585 1.541
c4
0.798 0.886 0.921 0.940 0.952 0.973 0.982 0.987 0.990
d2
1.128 1.693 2.059 2.326 2.534 3.078 3.472 3.735 3.931
d3
0.853 0.888 0.88 0.864 0.848 0.797 0.756 0.729 0.708
A2
1.880 1.023 0.729 0.577 0.483 0.308 0.223 0.180 0.153
A3
2.659 1.954 1.628 1.427 1.287 0.975 0.789 0.680 0.606
B3
0 0 0 0 0.030 0.248 0.428 0.510 0.565
B4
3.267 2.568 2.266 2.089 1.970 1.716 1.572 1.490 1.435
D3
0 0 0 0 0 0.223 0.347 0.415 0.459
Exerccio: construir as cartas x e R para os dados: variaes na dimenso de uma pea, em mm. SOLUO
Hora
Amostras
8:00 -2 -2 0 0 -2 -1,2
8:30 +1 0 -1 -1 +1 0,0 2
9:00 +3 +1 -3 +1 0
9:30 +2 +3 +5 +2 +2
10:00 -4 -3 0 +1 +3
10:30 0 0 -1 +1 -4 -0,8 5
11:00 -1 +1 +2 -1 +3 +0,8 4
11:30 -3 +2 -2 +1 +1 -0,2 5
12:00 -6 +2 0 +4 +4 +0,8 10
12:30 +2 -1 0 +1 +1 +0,6 3
1 2 3 4 5
R
Carta x
08 :0 0 08 :3 0 09 :0 0 09 :3 0 10 :0 0 10 :3 0 11 :0 0 11 :3 0 12 :0 0 12 :3 0
LCS
Mdias
Soluo
= 9,936 =0
mm 10 12 0 2 4 6 8
hora Mdia R
carta R
08 :0 0 08 :3 0 09 :0 0 09 :3 0 10 :0 0 10 :3 0 11 :0 0 11 :3 0 12 :0 0 12 :3 0
LIC
LSC
Amplitudes
Exemplo
Uma indstria fabricante de produtos cermicos decidiu construir um grfico de controle p para a linha de produo de um dos tipos de peas que ela fabrica. Com este objetivo, foram coletadas 20 amostras de tamanho n=100. O nmero de peas defeituosas em cada amostra apresentada na tabela. As amostras foram numeradas de acordo com a seqncia de produo.
eR
D4
3.267 2.575 2.282 2.115 2.004 1.777 1.653 1.585 1.541
c4
0.798 0.886 0.921 0.940 0.952 0.973 0.982 0.987 0.990
d2
1.128 1.693 2.059 2.326 2.534 3.078 3.472 3.735 3.931
d3
0.853 0.888 0.88 0.864 0.848 0.797 0.756 0.729 0.708
A2
1.880 1.023 0.729 0.577 0.483 0.308 0.223 0.180 0.153
A3
2.659 1.954 1.628 1.427 1.287 0.975 0.789 0.680 0.606
B3
0 0 0 0 0.030 0.248 0.428 0.510 0.565
B4
3.267 2.568 2.266 2.089 1.970 1.716 1.572 1.490 1.435
D3
0 0 0 0 0 0.223 0.347 0.415 0.459
Soluo
= 405/(20x100)= 0,2025=20,25% = 0,3230
= 0,0819
Soluo
Carta de controle por atributo
0,35 Defeituosos (%) 0,3 0,25 0,2 0,15 0,1 0,05 0 11 13 15 17 Lotes 19 1 3 5 7 9 mdia p LSC LIC Mdia
1.)
Um processo CAPAZ quando ele atende s ESPECIFICAES; Medir a capacidade do processo compar-lo aos LIMITES DE ESPECIFICAO; Um processo pode estar sob CONTROLE e no ser CAPAZ? Resposta: SIM !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!
2.)
3.)
1.
4,5 4 3,5 3 2,5 2 1,5 1 0,5 0
1-Se t
3-Se t
4-Se t
6-Se t
7-Se t
22-Ago
23-Ago
25-Ago
26-Ago
27-Ago
29-Ago
29-Ago
Indicadores CP = 1,58809
CPs= CPi= 1,526555 1,649625
CPK =
1,52656
30-Ago
9-Se t
Indicadores CP = 1,51573
CPs= CPi= 1,438347 1,593119
CPK =
1,43835
Situao de alerta. O processo est bom agora, mas no est estvel. Deve-se fazer grficos para estabelecer o controle.
4 .
6 5 4 3 2 1 0
1-Se t
3-Se t
4-Se t
6-Se t
7-Se t
22-A g o
23-A g o
25-A g o
26-A g o
27-A g o
29-A g o
29-A g o
Indicadores CP = 0,93694
CPs= CPi= 0,697462 1,176421
Indicadores CP = 0,81888
CPs= CPi= 0,675005 0,962747
CPK =
0,69746
CPK =
0,67501
Situao pssima. Mudanas drsticas so necessrias, alm da eliminao das causas especiais.
30-A g o
9-Se t
Cp: Capacidade potencial do processo, ou seja mede o potencial do processo atender s especificaes. Cp = Faixa de Tolerncia da Especificaes Faixa de Tolerncia Natural do Processo
Processo confivel tem Cp maior ou igual a 1,33 Exemplos: Se Cp = 2,0 A faixa de especificao duas vezes mais ampla que a faixa de disperso do processo Se Cp = 1,0 A faixa de especificao a mesma que a faixa de disperso do processo
Onde:
= mdia das amplitudes nos subgrupos = valor tabelado e baseado no tamanho da amostra do subgrupo
Porm, o parmetro Cp no indica se a mdia do processo est centrada. Logo, Cp indica somente o potencial do processo. Os ndices de capabilidade do processo Cpi e Cps (para limites unilaterais de especificao) e Cpk (para limites bilaterais da especificao) no s medem a variao do processo como tambm consideram a posio mdia do processo.
Ento, o Cpk considerado como uma medida da capabilidade do processo e utiliza o menor dos ndices Cpi e Cps.
Atacando as falhas
Priorizar: atacar de primeiro as falhas com maiores potenciais de impacto na Operao. Buscar as causas-razes das falhas: utilizar para isso as ferramentas da qualidade. Identificar aes de melhoramento. Planejar, programar e executar as aes de melhoramento: centrar as aes na preveno. Estabelecer indicadores e formalizar procedimentos. Registrar e acompanhar os resultados. Corrigir aes e procedimentos, se necessrio.
Exerccio
Exerccio: Considere os dados apresentados abaixo como os valores de resistncia flexo relativa de barras metlicas. A especificao de 15 +/- 8. aCalcule os limites de controle (n=4), construa as cartas x e R e verifique se o processo est sob controle estatstico. bConclua sobre a capabilidade do processo. cConstrua o histograma considerando os intervalos de classe (5-8, 9-12, 13-16, 17-20, 21-24). dIndique a % de peas fora da especificao.
Lo te
x1
x2
x3
x4
1 2 3 4 5
13 21 15 17 19
18 10 16 17 20
20 12 21 13 15
21 21 09 20 20
6 7 8 9 10
22 22 16 18 20
21 19 19 14 16
20 16 20 14 21
21 19 12 21 15
11 12 13 14 15
17 13 20 17 13
21 12 18 16 14
18 18 16 18 21
18 21 14 20 15
16 17 18 19 20
11 19 19 17 21
20 16 14 12 20
12 14 20 18 20
21 19 12 13 21